第五屆RISC-V中國(guó)峰會(huì)

2025 RISC-V

2025年，全球開(kāi)源芯片技術(shù)的盛會(huì)——第五屆RISC-V中國(guó)峰會(huì)將于7月16日至19日上海張江科學(xué)會(huì)堂盛大召開(kāi)。本屆中國(guó)峰會(huì)將聚焦人工智能、高性能計(jì)算、汽車(chē)電子、軟件與生態(tài)系統(tǒng)、教育與人才培養(yǎng)、前沿技術(shù)創(chuàng)新、EDA、投資與并購(gòu)等八大熱門(mén)話(huà)題，采用“主論壇+專(zhuān)題研討+生態(tài)展覽+開(kāi)發(fā)者活動(dòng)”的多元形式，匯聚全球頂尖專(zhuān)家、企業(yè)領(lǐng)袖及開(kāi)發(fā)者，共同探索RISC-V技術(shù)的前沿進(jìn)展與產(chǎn)業(yè)落地。

作為中國(guó)RISC-V領(lǐng)域最具影響力的行業(yè)峰會(huì)，RISC-V中國(guó)峰會(huì)已連續(xù)五年推動(dòng)開(kāi)源芯片生態(tài)的繁榮發(fā)展。2025年，峰會(huì)規(guī)模進(jìn)一步升級(jí)，預(yù)計(jì)將多場(chǎng)技術(shù)分論壇及同期活動(dòng)，其中，作為本屆RISC-V中國(guó)峰會(huì)的同期活動(dòng)的主辦方，達(dá)坦科技將于7月19日下午一點(diǎn)至四點(diǎn)，舉辦第四屆“敏捷硬件開(kāi)發(fā)與驗(yàn)證方法學(xué)”研討會(huì)。

敏捷硬件開(kāi)發(fā)研學(xué)會(huì)

在數(shù)字化轉(zhuǎn)型浪潮的持續(xù)推動(dòng)下，數(shù)字芯片作為信息技術(shù)的核心基石，其設(shè)計(jì)與驗(yàn)證的復(fù)雜度持續(xù)攀升，市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)也日趨白熱化。如何有效提升芯片開(kāi)發(fā)與驗(yàn)證效率，已成為整個(gè)行業(yè)亟待突破的關(guān)鍵問(wèn)題。

盡管以 Verilog、SystemVerilog、VHDL 和 UVM 為代表的傳統(tǒng)方法在工業(yè)界應(yīng)用廣泛，體系成熟，但面對(duì)日益增長(zhǎng)的復(fù)雜性與敏捷開(kāi)發(fā)的需求，其局限性也逐步顯現(xiàn)。與此同時(shí)，以 Chisel、SpinalHDL 為代表的新一代硬件描述語(yǔ)言，以及 Cocotb、pyuvm 等驗(yàn)證框架迅速崛起，在語(yǔ)法簡(jiǎn)潔性、錯(cuò)誤定位、代碼可重用性等方面展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢(shì)，為硬件的敏捷開(kāi)發(fā)與驗(yàn)證開(kāi)辟了全新路徑。

在此背景下，本次研討會(huì)將圍繞“敏捷芯片開(kāi)發(fā)”的核心主題，聚焦新一代工具鏈與開(kāi)源生態(tài)的融合應(yīng)用，邀請(qǐng)來(lái)自學(xué)術(shù)界與產(chǎn)業(yè)前沿的多位專(zhuān)家展開(kāi)深入交流。

演講主題包括：

1.

標(biāo)題：《基于LLM的敏捷芯片設(shè)計(jì)》

演講者：賴(lài)曉錚華南理工大學(xué)，計(jì)算機(jī)學(xué)院副教授

簡(jiǎn)介：探索大語(yǔ)言模型（LLM）如何賦能芯片設(shè)計(jì)流程，重構(gòu)開(kāi)發(fā)范式，實(shí)現(xiàn)從代碼生成到設(shè)計(jì)驗(yàn)證的全流程智能化。

2.

標(biāo)題：《構(gòu)建“香山”開(kāi)源芯片研發(fā)的基礎(chǔ)設(shè)施》

演講者：徐易難中國(guó)科學(xué)院計(jì)算技術(shù)研究所特別研究助理

簡(jiǎn)介：聚焦國(guó)產(chǎn)自主研發(fā)“香山”芯片背后的支撐平臺(tái)建設(shè)，探討開(kāi)源芯片如何走向規(guī)?；瘏f(xié)作與工程落地。

3.

標(biāo)題：《SpinalHDL與Vivado協(xié)同開(kāi)發(fā)方法初探》

演講者：肖寅東電子科技大學(xué)，自動(dòng)化工程學(xué)院教授

簡(jiǎn)介：介紹如何在傳統(tǒng)EDA工具（如Vivado）環(huán)境下，靈活運(yùn)用SpinalHDL實(shí)現(xiàn)高效協(xié)同設(shè)計(jì)，提升生產(chǎn)力與驗(yàn)證效率。

4.

標(biāo)題：《萬(wàn)眾一芯之UCAgent驗(yàn)證助手在RISC-V芯片驗(yàn)證中的探索與實(shí)踐》

演講者：姚治成中國(guó)科學(xué)院計(jì)算技術(shù)研究所工程師

演講者：分享RISC-V芯片開(kāi)發(fā)過(guò)程中的驗(yàn)證挑戰(zhàn)，及UCAgent在構(gòu)建靈活驗(yàn)證環(huán)境中的應(yīng)用與思考。

本次研討會(huì)旨在推動(dòng)從語(yǔ)言工具、驗(yàn)證框架到開(kāi)源生態(tài)的全面對(duì)話(huà)，激發(fā)技術(shù)交流與協(xié)作創(chuàng)新，共同探索芯片設(shè)計(jì)與驗(yàn)證的新路徑、新方法、新范式。