在芯片微觀加工與分析領域，F(xiàn)IB（Focused Ion Beam，聚焦離子束）作為一種前沿的微觀加工與分析技術，近年來在眾多領域得到了廣泛應用。

要深入了解 FIB 聚焦離子束，首先要從其工作原理入手，進而明晰其在芯片制造、檢測等多個環(huán)節(jié)中發(fā)揮的關鍵作用。

FIB 的工作原理

FIB 是將液態(tài)金屬離子源（以鎵Ga作為離子源材料較為普遍）產生的離子束經過加速，以極高的精度聚焦到樣品表面；通過控制電場和磁場，可以使離子束在樣品表面上精準移動，產生二次電子信號獲取電子像，或用強電流離子束對表面原子進行剝離，以完成微、納米級表面形貌加工。

FIB的應用

在半導體制造行業(yè)，F(xiàn)IB 是故障分析、電路修改和封測優(yōu)化的重要工具。

1. 截面分析

FIB 能對芯片進行截面切割和高分辨率成像，以納米級的精度確認內部的失效區(qū)域。結合能譜分析（EDS）或二次離子質譜（SIMS）等，還可分析失效區(qū)域的元素組成和分布，確定失效機理，為改進設計和制造工藝提供關鍵信息，縮短產品研發(fā)周期，降低研發(fā)成本。

2. 芯片的電路編輯與缺陷修復

FIB 能對納米級線路缺陷進行修復，離子束誘導沉積技術在特定位置沉積金屬或絕緣材料，填補電路缺口、修復斷路。

3. 封裝結構檢測與優(yōu)化

在芯片封裝階段，通過對封裝后的芯片進行截面切割，利用二次電子成像觀察封裝層與芯片的界面結合情況，檢測是否存在空洞、裂紋等缺陷，為優(yōu)化封裝工藝提供依據(jù)。

4.透射電子顯微鏡（TEM）樣品制備

在材料分析領域，F(xiàn)IB 技術還被廣泛應用于透射電子顯微鏡（TEM）樣品的制備。傳統(tǒng)的 TEM 樣品制備方法往往需要大量的時間和經驗，且對操作人員的技能要求較高。而 FIB 技術可以精確地從樣品中制備出厚度僅為幾十納米的超薄樣品，大大降低了對人員經驗的依賴，提高了樣品制備的效率和質量。通過金鑒實驗室FIB制備的 TEM 樣品能夠提供更清晰、更準確的微觀結構信息，為材料的微觀分析提供了更有力的工具。

聚焦離子束技術（FIB）作為一種強大的微觀加工與分析工具，在微電子、材料科學、生物醫(yī)學等多個領域展現(xiàn)出了廣泛的應用前景。其獨特的原理和多功能性使其能夠在故障分析、電路修改和封測優(yōu)化等方面發(fā)揮重要作用。