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氮化鎵(GaN)技術(shù) | 電源領(lǐng)域的革命性突破

向欣電子 ? 2025-08-21 06:40 ? 次閱讀
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氮化鎵(GaN) 技術(shù)為電源行業(yè)提供了進(jìn)一步改進(jìn)電源轉(zhuǎn)換的機(jī)會(huì),從而能夠減小電源的整體尺寸。

70 多年來,硅基半導(dǎo)體一直主導(dǎo)著電子行業(yè)。它的成本效益、豐富性和電氣特性已得到充分了解,使其成為電子行業(yè)的首選材料。 半導(dǎo)體 元件,如晶體管、集成電路 (IC) 和二極管,通常在其成分中使用硅 (Si) 材料來執(zhí)行其設(shè)計(jì)功能。

在電子產(chǎn)品主導(dǎo)的世界中,消費(fèi)者越來越尋求更小、更輕的設(shè)備。電源也不例外,通常是任何系統(tǒng)中最大的“組件”。功率密度是一個(gè)持續(xù)討論的話題,因?yàn)樵O(shè)計(jì)人員努力將最大的功率封裝到盡可能小的封裝中。

氮化鎵(GaN)技術(shù)為電源行業(yè)提供了進(jìn)一步改進(jìn)電源轉(zhuǎn)換的機(jī)會(huì),從而能夠減小電源的整體尺寸。

什么是氮化鎵(GaN)?

氮化鎵(GaN)是一種寬帶隙半導(dǎo)體材料,這意味著與傳統(tǒng)硅相比,其價(jià)帶和導(dǎo)帶之間的能隙大約大 3 倍。從歷史上看,它不如硅具有成本效益或廣泛使用;然而,近年來,它的價(jià)格已達(dá)到具有競爭力,尤其是在低功耗應(yīng)用中。此外,與硅基元件相比,GaN 具有卓越的電子遷移率和熱特性,是實(shí)現(xiàn)最佳效率的完美配方,并為電子行業(yè)開辟了新的機(jī)會(huì),尤其是在開關(guān)模式電源 (SMPS) 領(lǐng)域。

在功率轉(zhuǎn)換領(lǐng)域,氮化鎵(GaN)并不是一項(xiàng)新技術(shù)。它的首次應(yīng)用可以追溯到 1970 年代,當(dāng)時(shí)它摻雜了鎂,創(chuàng)造了第一個(gè)能夠發(fā)出藍(lán)光的 LED。在 2000 年代初期,采用 GaN 的高電子遷移率晶體管 (HEMT) 被引入射頻RF) 應(yīng)用。然而,GaN 技術(shù)是低功率 AC-DC 行業(yè)相對較新的進(jìn)入者,其驅(qū)動(dòng)力是可用性的提高,因此大批量材料成本的降低。在 2010 年代,基于 GaN 的場效應(yīng)晶體管 (FET) 在消費(fèi)市場中得到了更廣泛的應(yīng)用,尤其是對于更高功率的應(yīng)用。

使用氮化鎵(GaN)的主要優(yōu)勢

在頂層,SMPS 使用 FET 作為快速開關(guān)器件,以有效地為負(fù)載供電。FET 開關(guān)由柵極驅(qū)動(dòng) IC 控制,這些 IC 通過監(jiān)控電源輸出的控制電路來響應(yīng)負(fù)載變化。盡管傳統(tǒng)的硅基金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管 (MOSFET) 通常用于 SMPS 應(yīng)用,但這些設(shè)計(jì)仍然存在重大損耗。造成這些損耗的主要因素是導(dǎo)通、開關(guān)和反向恢復(fù)。憑借其卓越的電子遷移率和熱特性,GaN 技術(shù)為工程師提供了新的機(jī)會(huì),可以提高電源設(shè)計(jì)的效率,同時(shí)減小整體尺寸。

更低的導(dǎo)通損耗

GaN FET 的工作原理與 MOSFET 類似。然而,它們的熱特性和高電子遷移率路徑使這些損失最小化。GaN FET 最顯著的特性之一是其顯著降低的漏源電阻 (RDS(on))。當(dāng) FET 處于飽和模式時(shí),功率以熱量的形式消散。以下方程描述了這種關(guān)系:

因此,使用 GaN FET,當(dāng)它們處于飽和模式時(shí),以熱量形式損失的功率更少。順便說一句,GaN 器件的導(dǎo)通損耗類似于雙極結(jié)型晶體管 (BJT) 器件的導(dǎo)通損耗。

開關(guān)損耗

功率損耗也是 FET 開關(guān)過程的結(jié)果。這些損耗是由于輸入電容 (Ciss) 和打開和關(guān)閉 FET 所需的電荷量(也稱為柵極電荷 (Qg))以及柵極和源極端子之間的電壓 (VGS) 造成的。以下公式與這些參數(shù)相關(guān):


當(dāng) FET 的柵極充電和放電時(shí),開關(guān)功率損耗 (Psw) 以熱量的形式發(fā)生。該公式可以近似于此:

GaN FET 具有較小的輸入電容,因此柵極電荷較少。高開關(guān)頻率 (fsw) 降低了開關(guān)損耗,有助于提高整體效率(見圖 1)。

反向恢復(fù)損失

GaN FET 的反向恢復(fù)損耗為零。在硅基 MOSFET 中,由于體二極管位于 P 或 N 溝道結(jié)點(diǎn),因此會(huì)產(chǎn)生反向恢復(fù)損耗。當(dāng) MOSFET 從正向偏置(導(dǎo)通)轉(zhuǎn)換為反向偏置(非導(dǎo)通)時(shí),會(huì)產(chǎn)生損耗。這是每個(gè)二極管的寄生特性,是二極管中狀態(tài)之間存儲(chǔ)電荷的結(jié)果。由于 GaN FET 沒有體二極管,因此消除了這些損耗。

總體而言,GaN 提供了 MOSFET 和 BJT 技術(shù)的最佳優(yōu)勢,將 MOSFET 的易于驅(qū)動(dòng)與 BJT 的低導(dǎo)通損耗相結(jié)合。結(jié)果是更高的運(yùn)行效率,從而減少了電源中的功率損耗。

減少占地面積

GaN 的材料特性不僅使 FET 比硅基 FET 更小,而且功率損耗更小,需要的散熱技術(shù)更少。這意味著電源設(shè)計(jì)人員可以使用更小的散熱元件節(jié)省更多空間,從而進(jìn)一步縮小占用空間。

此外,sw基于 GaN 的 FET 的 f sw 更快,允許減小傳統(tǒng)上較大的無源元件,例如通常用于 Si 基 FET 的變壓器和電感器。這種尺寸的減小還有助于減少 SMPS 的整體占用空間。

TT Electronics TEAM 和 TEAD GaN 系列交流桌面電源適配器可提供 45W 至 420W 的功率,專注于高功率密度(圖 2)。這些新型電源適配器比公司現(xiàn)有的 ITE 和醫(yī)療認(rèn)證臺(tái)式機(jī) PEAM 和 PEAD 系列輕 30%,小 40%。通過使用 GaN 技術(shù)實(shí)現(xiàn)的尺寸和重量的減小,使時(shí)尚的外形滿足了醫(yī)療和工業(yè)電子行業(yè)的需求。

氮化鎵(GaN)技術(shù)已成為電源設(shè)計(jì)領(lǐng)域的變革力量,與傳統(tǒng)的硅基半導(dǎo)體相比,它具有許多優(yōu)勢。憑借其卓越的電子遷移率、熱特性和在更高頻率下工作的能力,GaN 使工程師能夠制造出不僅效率更高,而且尺寸更小的電源。

氮化鎵(GaN)的主要優(yōu)勢,例如減少導(dǎo)通、開關(guān)和反向恢復(fù)損耗,轉(zhuǎn)化為電源性能的切實(shí)改進(jìn)。這些改進(jìn)包括更高的運(yùn)行效率,這反過來又導(dǎo)致散熱要求降低。因此,這允許減小無源元件的尺寸,最終實(shí)現(xiàn)更緊湊的電源占用空間。隨著氮化鎵(GaN)技術(shù)的不斷成熟和更具成本效益,它有望徹底改變電源行業(yè),滿足對更高效、更節(jié)省空間的電子設(shè)備不斷增長的需求。

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