Texas Instruments TPS376XEVM窗口監(jiān)控器評(píng)估模塊 (EVM) 設(shè)計(jì)用于評(píng)估TPS3762/TPS3762-Q1電壓監(jiān)控器。該系列是汽車級(jí)設(shè)備，支持欠壓和過壓監(jiān)控器以及內(nèi)置自檢功能。TPS376XEVM預(yù)裝TPS3762D02OVDDFRQ1設(shè)備，但是可與任何TPS3762-Q1型號(hào)搭配使用。Texas Instruments TPS376XEVM提供與所有輸入和輸出引腳的連接。測(cè)試點(diǎn)可為用戶提供額外連接，用于示波器或萬用表測(cè)量。

數(shù)據(jù)手冊(cè)：*附件：Texas Instruments TPS376XEVM窗口監(jiān)控器評(píng)估模塊數(shù)據(jù)手冊(cè).pdf

特性

支持所有引腳和可調(diào)型號(hào)
測(cè)試點(diǎn)便于輸入/輸出訪問
可定制重置延遲

板布局

TPS376XEVM窗口監(jiān)控器評(píng)估模塊技術(shù)解析與應(yīng)用指南

一、產(chǎn)品概述

Texas Instruments推出的TPS376XEVM是一款專為TPS3762-Q1系列電壓監(jiān)控器設(shè)計(jì)的評(píng)估模塊，主要用于功能安全應(yīng)用中的欠壓和過壓監(jiān)控場(chǎng)景。該評(píng)估模塊通過提供完整的測(cè)試接口和測(cè)量點(diǎn)，幫助工程師快速驗(yàn)證TPS3762-Q1系列器件的性能特性。

核心特性

?寬電壓工作范圍?：支持2.7V至65V的輸入電壓監(jiān)控
?功能安全合規(guī)?：滿足汽車電子功能安全應(yīng)用要求
? 內(nèi)置自檢功能(BIST) ?：可檢測(cè)內(nèi)部器件故障
?可配置復(fù)位輸出?：支持復(fù)位鎖存功能
?靈活的延時(shí)設(shè)置?：通過外部電容可調(diào)感應(yīng)和復(fù)位延時(shí)

二、硬件設(shè)計(jì)解析

1. 模塊布局與接口

TPS376XEVM評(píng)估板預(yù)裝了TPS3762D02OVDDFRQ1器件，提供全面的測(cè)試接入點(diǎn)：

?電源輸入?：通過TP1接入VDD（2.7-65V）
?感應(yīng)電壓輸入?：通過TP9接入VSENSE（0-65V）
?復(fù)位輸出?：通過TP8監(jiān)測(cè)RESET信號(hào)
?自檢接口?：TP3(BIST)和TP4(BIST_EN/LATCH_CLR)

2. 關(guān)鍵跳線配置

評(píng)估板提供7組關(guān)鍵跳線用于功能配置：

? J4(CTS) ?：配置感應(yīng)時(shí)間延遲電容連接
- 默認(rèn)閉合引腳3-4連接C4
- 可切換連接C3/C5/C6調(diào)整感應(yīng)延時(shí)
? J5(CTR) ?：配置復(fù)位時(shí)間延遲電容連接
- 默認(rèn)閉合引腳3-4連接C8
- 可切換連接C7/C9/C10調(diào)整復(fù)位延時(shí)
? J11(BIST控制) ?：配置自檢功能上拉電壓
- 默認(rèn)閉合引腳3-4連接TP11
- 可切換連接VDD或懸空

3. 測(cè)試點(diǎn)功能說明

評(píng)估板提供11個(gè)測(cè)試點(diǎn)用于性能驗(yàn)證：

?TP1?：主電源VDD監(jiān)測(cè)點(diǎn)
?TP2/TP9?：感應(yīng)電壓監(jiān)測(cè)點(diǎn)
?TP3?：BIST自檢輸出監(jiān)測(cè)
?TP4?：BIST_EN/LATCH_CLR控制監(jiān)測(cè)
?TP8?：RESET輸出監(jiān)測(cè)
?TP10/TP11?：外部上拉電壓接入點(diǎn)

三、典型應(yīng)用場(chǎng)景

1. 汽車電子電源監(jiān)控

利用TPS376XEVM可快速驗(yàn)證：

蓄電池電壓異常檢測(cè)（欠壓/過壓）
ECU電源監(jiān)控與故障處理
安全相關(guān)系統(tǒng)的電源完整性檢查

2. 工業(yè)控制系統(tǒng)

適用于：

PLC電源監(jiān)控
電機(jī)驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路驗(yàn)證
關(guān)鍵設(shè)備電源故障預(yù)警系統(tǒng)

3. 功能安全系統(tǒng)開發(fā)

通過內(nèi)置自檢功能：

驗(yàn)證監(jiān)控電路自身可靠性
開發(fā)故障檢測(cè)與恢復(fù)機(jī)制
構(gòu)建符合ISO 26262的安全架構(gòu)

四、使用指南與設(shè)計(jì)建議

1. 基本操作流程

?硬件連接?：
- 通過TP1接入2.7-65V測(cè)試電源
- 通過TP9接入待監(jiān)控電壓
- 連接示波器至相關(guān)測(cè)試點(diǎn)
?功能配置?：
- 通過跳線設(shè)置所需延時(shí)參數(shù)
- 配置BIST_EN/LATCH_CLR工作模式
- 設(shè)置RESET輸出特性（鎖存/非鎖存）
?性能驗(yàn)證?：
- 逐步改變VSENSE電壓，觀察RESET響應(yīng)
- 觸發(fā)BIST功能，驗(yàn)證自檢機(jī)制
- 測(cè)試不同溫度條件下的監(jiān)控精度

2. 設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)

?電源噪聲抑制?：建議在VDD輸入端增加0.1μF去耦電容（評(píng)估板已集成C1）
?溫度影響?：工作結(jié)溫范圍為-40°C至125°C，高溫環(huán)境下需考慮降額使用
?布局優(yōu)化?：監(jiān)控信號(hào)走線應(yīng)遠(yuǎn)離高頻噪聲源
?ESD防護(hù)?：操作時(shí)需采取防靜電措施

五、性能評(píng)估結(jié)果

根據(jù)數(shù)據(jù)手冊(cè)提供的測(cè)試數(shù)據(jù)：

?BIST功能波形?：
- BIST恢復(fù)時(shí)間(tBIST_recover)：典型值10μs
- BIST檢測(cè)時(shí)間(tBIST)：典型值1ms
?過壓響應(yīng)特性?：
- 感應(yīng)閾值精度：±1.5%（典型值）
- 響應(yīng)時(shí)間：可配置為1ms-10s（通過CTS電容）
?復(fù)位延時(shí)特性?：
- 復(fù)位釋放延時(shí)：可配置為1ms-10s（通過CTR電容）
- 復(fù)位信號(hào)下降時(shí)間：<100ns

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