廣立微（Semitronix）與國(guó)內(nèi)領(lǐng)先的汽車電子及安全芯片供應(yīng)商紫光同芯，在良率管理領(lǐng)域已開(kāi)展近兩年深度合作。期間，廣立微DE-YMS系統(tǒng)憑借其快速、精準(zhǔn)的良率損失根因定位能力，有效應(yīng)對(duì)了日益復(fù)雜的芯片制造良率挑戰(zhàn)，顯著提升了紫光同芯的良率管理效率與水平。

DE-YMS全流程Map匯總

依托DE-YMS統(tǒng)一的數(shù)據(jù)底座，Map Analysis模塊高效整合了紫光同芯各類數(shù)據(jù)，最終能夠在Dashboard上直觀展示各類Map的數(shù)據(jù)對(duì)比，顯著提升了紫光同芯工程師查看各類Map的分析效率。

01多道Testtype的Map對(duì)比查看分析

02跨數(shù)據(jù)類型的Map之間的疊圖驗(yàn)證

DE-YMS快速定位客退數(shù)據(jù)

RMA（客退）根因分析長(zhǎng)期面臨數(shù)據(jù)分散、定位效率低（傳統(tǒng)人工追溯耗時(shí)過(guò)長(zhǎng)）等痛點(diǎn)。紫光同芯工程師通過(guò)DE-YMS的RMA模塊，實(shí)現(xiàn)失效芯片的UID一鍵溯源至Map圖，并靈活結(jié)合CP/FT的SP數(shù)據(jù)開(kāi)展多維根因分析，持續(xù)提升改進(jìn)效率。

01UID批量關(guān)聯(lián)定位

02SP參數(shù)分布查看

用戶反饋

DE-YMS系統(tǒng)有效解決了我們長(zhǎng)期依賴數(shù)據(jù)來(lái)源多元、格式不統(tǒng)一的問(wèn)題。過(guò)去需人工整合多源數(shù)據(jù)，如今系統(tǒng)自動(dòng)化接入大幅提升查詢效率。其Dashboard具備強(qiáng)交互性，Map與數(shù)據(jù)的動(dòng)態(tài)聯(lián)動(dòng)結(jié)合上Drill-down靈活鉆取分析，完全能夠滿足分析需求，為數(shù)據(jù)對(duì)比提供了更直觀的驗(yàn)證手段?！瞎馔举|(zhì)量部總監(jiān)

關(guān)于紫光同芯

紫光同芯微電子有限公司（簡(jiǎn)稱“紫光同芯“）是新紫光集團(tuán)汽車電子與智能芯片板塊的核心企業(yè)，于2001年由清華大學(xué)微電子所國(guó)家二代居民身份證芯片研發(fā)團(tuán)隊(duì)“帶土移植”成立。公司承擔(dān)了包括二代證芯片、2008年奧運(yùn)會(huì)電子門票芯片、大容量高安全雙界面金融芯片、汽車域控MCU芯片等多項(xiàng)產(chǎn)業(yè)化項(xiàng)目，專注于汽車電子與安全芯片領(lǐng)域，累計(jì)出貨超過(guò)250億顆，為亞洲、歐洲、美洲、非洲的二十多個(gè)國(guó)家和地區(qū)提供產(chǎn)品和服務(wù)。

歷經(jīng)23年的持續(xù)創(chuàng)新和不斷突破，紫光同芯積累了業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的芯片研發(fā)技術(shù)和晶圓測(cè)試能力，榮獲國(guó)家科技進(jìn)步一等獎(jiǎng)、CC EAL6+、GSMA SAS-UP、AEC-Q100 Grade1、ISO 26262 ASIL D等多項(xiàng)權(quán)威獎(jiǎng)項(xiàng)和認(rèn)證，已發(fā)展成為業(yè)界領(lǐng)先的芯片及解決方案提供商。

關(guān)于我們

杭州廣立微電子股份有限公司（股票代碼：301095）是領(lǐng)先的集成電路EDA軟件與晶圓級(jí)電性測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商，公司專注于芯片成品率提升和電性測(cè)試快速監(jiān)控技術(shù)，是國(guó)內(nèi)外多家大型集成電路制造與設(shè)計(jì)企業(yè)的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、大數(shù)據(jù)分析軟件、電路IP、WAT電性測(cè)試設(shè)備以及與芯片成品率提升技術(shù)相結(jié)合的整套解決方案，在集成電路設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的整個(gè)產(chǎn)品周期內(nèi)實(shí)現(xiàn)芯片性能、成品率、穩(wěn)定性的提升，成功案例覆蓋多個(gè)集成電路工藝節(jié)點(diǎn)。