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有哪些常見(jiàn)的AI算法可以用于裝置數(shù)據(jù)的異常檢測(cè)?

朱正陽(yáng) ? 來(lái)源:jf_05103171 ? 作者:jf_05103171 ? 2025-09-18 09:27 ? 次閱讀
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在裝置數(shù)據(jù)(如工業(yè)設(shè)備傳感器數(shù)據(jù)、電子裝置運(yùn)行參數(shù)、化工裝置工況數(shù)據(jù)等)的異常檢測(cè)中,AI 算法的選擇需結(jié)合數(shù)據(jù)特點(diǎn)(如時(shí)序性、維度、標(biāo)注情況)、檢測(cè)目標(biāo)(如實(shí)時(shí)性、精度、可解釋性)及部署環(huán)境(如邊緣 / 云端)。以下按算法類(lèi)型分類(lèi),詳細(xì)介紹常見(jiàn) AI 算法的原理、適用場(chǎng)景、優(yōu)缺點(diǎn)及裝置數(shù)據(jù)適配性:

一、無(wú)監(jiān)督式異常檢測(cè)算法(主流選擇)

裝置數(shù)據(jù)多為無(wú)標(biāo)注數(shù)據(jù)(僅記錄運(yùn)行參數(shù),缺乏 “正常 / 異?!?標(biāo)簽),且通常以 “正常數(shù)據(jù)為主、異常數(shù)據(jù)稀疏” 為特征,無(wú)監(jiān)督算法是此類(lèi)場(chǎng)景的核心選擇。

1. 統(tǒng)計(jì)類(lèi)算法(單變量 / 低維數(shù)據(jù)首選)

核心思想:基于正常數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分布(如正態(tài)分布、泊松分布),偏離分布范圍的視為異常,適合處理裝置的單變量傳感器數(shù)據(jù)(如溫度、壓力、轉(zhuǎn)速)。

常見(jiàn)算法

Z-score(標(biāo)準(zhǔn)差法):計(jì)算數(shù)據(jù)與均值的偏差倍數(shù)(Z 值),超過(guò)閾值(如 | Z|>3)即為異常。

IQR(四分位距法):通過(guò)數(shù)據(jù)的 25% 分位數(shù)(Q1)和 75% 分位數(shù)(Q3)確定正常范圍(Q1-1.5IQR ~ Q3+1.5IQR),超出范圍為異常。

適用場(chǎng)景:裝置中單一指標(biāo)的異常檢測(cè)(如電機(jī)軸承溫度、管道壓力),數(shù)據(jù)近似符合正態(tài)分布或無(wú)明顯非線(xiàn)性關(guān)聯(lián)。

優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):計(jì)算簡(jiǎn)單、推理速度快,適合邊緣設(shè)備實(shí)時(shí)部署;無(wú)需數(shù)據(jù)標(biāo)注。

缺點(diǎn):僅適用于低維 / 單變量數(shù)據(jù),無(wú)法處理多變量耦合異常(如化工裝置中 “溫度 + 流量” 共同異常);對(duì)數(shù)據(jù)分布假設(shè)敏感,對(duì)噪聲魯棒性差。

2. 聚類(lèi)類(lèi)算法(空間分布型異常)

核心思想:通過(guò)聚類(lèi)將正常數(shù)據(jù)聚為密集簇,孤立于簇外或低密度區(qū)域的數(shù)據(jù)視為異常,適合處理裝置的多變量空間分布數(shù)據(jù)(如多個(gè)傳感器的聯(lián)合工況)。

常見(jiàn)算法

DBSCAN(密度聚類(lèi)):基于 “數(shù)據(jù)點(diǎn)周?chē)芏取?劃分簇,低密度區(qū)域的點(diǎn)(噪聲點(diǎn))即為異常。

K-means(均值聚類(lèi)):先將數(shù)據(jù)聚為 K 個(gè)正常簇,計(jì)算每個(gè)數(shù)據(jù)到所屬簇中心的距離,距離超過(guò)閾值視為異常(需先確定 K 值,通常對(duì)應(yīng)裝置的正常工況數(shù))。

適用場(chǎng)景:裝置有明確正常工況聚類(lèi)的場(chǎng)景(如機(jī)床的 “怠速、低速切削、高速切削”3 種正常工況),需檢測(cè)偏離正常工況的異常。

優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):可處理多變量數(shù)據(jù),無(wú)需標(biāo)注;DBSCAN 對(duì)非球形簇適配性好(如裝置工況的不規(guī)則分布)。

缺點(diǎn):K-means 對(duì) K 值敏感,且對(duì)異常數(shù)據(jù)本身敏感(異??赡苡绊懘刂行挠?jì)算);DBSCAN 在高維數(shù)據(jù)中密度計(jì)算效率低。

3. 孤立類(lèi)算法(高維數(shù)據(jù)高效檢測(cè))

核心思想:利用 “異常數(shù)據(jù)更易被孤立” 的特性,通過(guò)隨機(jī)劃分快速隔離異常,適合裝置的高維數(shù)據(jù)(如 10 + 個(gè)傳感器的聯(lián)合監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù))。

代表算法:孤立森林(Isolation Forest)

原理:構(gòu)建多棵 “隨機(jī)決策樹(shù)”,每棵樹(shù)通過(guò)隨機(jī)選擇特征和閾值分割數(shù)據(jù);異常數(shù)據(jù)因特征獨(dú)特,會(huì)更快被分割到葉子節(jié)點(diǎn)(路徑長(zhǎng)度短),通過(guò)路徑長(zhǎng)度均值判斷是否為異常。

適用場(chǎng)景:工業(yè)裝置的高維傳感器數(shù)據(jù)(如風(fēng)電設(shè)備的 “風(fēng)速、轉(zhuǎn)速、扭矩、油溫” 等 10 + 指標(biāo)),需快速檢測(cè)異常。

優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):高維數(shù)據(jù)中效率遠(yuǎn)高于聚類(lèi)算法(時(shí)間復(fù)雜度 O (nlogn));無(wú)需假設(shè)數(shù)據(jù)分布,對(duì)噪聲魯棒性強(qiáng);適合邊緣設(shè)備部署(推理速度快)。

缺點(diǎn):對(duì) “密集型異常”(如多個(gè)異常數(shù)據(jù)聚成小簇)檢測(cè)靈敏度低;對(duì)極少量數(shù)據(jù)(n<1000)效果差。

4. 重構(gòu)類(lèi)算法(基于正常模式學(xué)習(xí))

核心思想:通過(guò)模型學(xué)習(xí)正常數(shù)據(jù)的特征,對(duì)輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行重構(gòu),重構(gòu)誤差大的視為異常,適合裝置的時(shí)序 / 高維數(shù)據(jù)。

代表算法:自編碼器(Autoencoder, AE)

原理:由 “編碼器(壓縮正常數(shù)據(jù)特征)” 和 “解碼器(重構(gòu)數(shù)據(jù))” 組成;模型僅用正常數(shù)據(jù)訓(xùn)練,使其能精準(zhǔn)重構(gòu)正常數(shù)據(jù);若輸入為異常數(shù)據(jù),重構(gòu)后與原數(shù)據(jù)偏差(如 MSE)超過(guò)閾值則判定為異常。

適用場(chǎng)景:裝置數(shù)據(jù)存在復(fù)雜非線(xiàn)性關(guān)聯(lián)的場(chǎng)景(如化工反應(yīng)釜的 “溫度、壓力、進(jìn)料量” 的耦合關(guān)系),或需提取隱性正常模式的場(chǎng)景。

優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):可挖掘數(shù)據(jù)的隱性特征(如裝置運(yùn)行的潛在規(guī)律);對(duì)多變量、非線(xiàn)性數(shù)據(jù)適配性好。

缺點(diǎn):訓(xùn)練需大量正常數(shù)據(jù);重構(gòu)誤差閾值需人工調(diào)優(yōu),對(duì)閾值敏感;解釋性差(難以定位異常源于哪個(gè)參數(shù))。

二、監(jiān)督式異常檢測(cè)算法(有標(biāo)注數(shù)據(jù)場(chǎng)景)

若裝置有歷史故障記錄(即 “正常 / 異?!?標(biāo)注數(shù)據(jù),如設(shè)備故障時(shí)的傳感器數(shù)據(jù)標(biāo)簽),可使用監(jiān)督算法構(gòu)建精準(zhǔn)分類(lèi)模型。

1. 傳統(tǒng)分類(lèi)算法(中小規(guī)模標(biāo)注數(shù)據(jù))

常見(jiàn)算法

邏輯回歸(Logistic Regression):線(xiàn)性模型,適合二分類(lèi)(正常 / 異常),可輸出異常概率,適合裝置的低維標(biāo)注數(shù)據(jù)(如僅 2-3 個(gè)關(guān)鍵故障指標(biāo))。

支持向量機(jī)(SVM):通過(guò)尋找最優(yōu)超平面分割正常 / 異常數(shù)據(jù),核函數(shù)(如 RBF)可處理非線(xiàn)性數(shù)據(jù),適合中小規(guī)模標(biāo)注數(shù)據(jù)(n<10000)。

樹(shù)集成模型(隨機(jī)森林、XGBoost/LightGBM):基于多棵決策樹(shù)投票分類(lèi),可輸出特征重要性(如 “溫度異常對(duì)故障貢獻(xiàn)最大”),適合裝置的多變量標(biāo)注數(shù)據(jù),且對(duì)噪聲魯棒。

適用場(chǎng)景:裝置有明確故障歷史(如電機(jī)過(guò)去 5 年的故障記錄及對(duì)應(yīng)傳感器數(shù)據(jù)),需精準(zhǔn)定位異常并分析原因(如通過(guò) XGBoost 的特征重要性判斷 “振動(dòng)頻率” 是異常主因)。

優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):精度高,可解釋性強(qiáng)(樹(shù)模型);能處理非線(xiàn)性數(shù)據(jù)(SVM、XGBoost)。

缺點(diǎn):依賴(lài)大量標(biāo)注數(shù)據(jù)(裝置故障數(shù)據(jù)通常稀疏,難以滿(mǎn)足);對(duì)類(lèi)別不平衡敏感(正常數(shù)據(jù)遠(yuǎn)多于異常,易偏向正常預(yù)測(cè))。

2. 單類(lèi)分類(lèi)算法(僅正常數(shù)據(jù)標(biāo)注)

核心思想:僅用正常數(shù)據(jù)訓(xùn)練模型,學(xué)習(xí)正常數(shù)據(jù)的邊界,超出邊界的視為異常(介于監(jiān)督與無(wú)監(jiān)督之間,本質(zhì)是 “監(jiān)督式邊界學(xué)習(xí)”)。

代表算法:One-Class SVM

原理:在特征空間中學(xué)習(xí)一個(gè) “最小超球”,將所有正常數(shù)據(jù)包裹在內(nèi);新數(shù)據(jù)若在超球外,則判定為異常。

適用場(chǎng)景:裝置僅有正常數(shù)據(jù)標(biāo)注(無(wú)異常數(shù)據(jù)),但需精準(zhǔn)定義正常邊界(如精密儀器的出廠(chǎng)正常參數(shù)范圍)。

優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):無(wú)需異常數(shù)據(jù),邊界精度高;可處理非線(xiàn)性數(shù)據(jù)(RBF 核)。

缺點(diǎn):高維數(shù)據(jù)中計(jì)算復(fù)雜度高(不適合 10 + 維數(shù)據(jù));對(duì)參數(shù)(如核函數(shù)、懲罰系數(shù))調(diào)優(yōu)敏感。

三、深度學(xué)習(xí)異常檢測(cè)算法(時(shí)序 / 大規(guī)模數(shù)據(jù))

裝置數(shù)據(jù)多為時(shí)序數(shù)據(jù)(如傳感器每秒采集的時(shí)間序列),深度學(xué)習(xí)算法(尤其循環(huán)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、Transformer)能捕捉時(shí)序依賴(lài)關(guān)系,適合大規(guī)模、高動(dòng)態(tài)的裝置監(jiān)測(cè)。

1. 時(shí)序預(yù)測(cè)類(lèi)算法(基于預(yù)測(cè)偏差檢測(cè))

核心思想:模型學(xué)習(xí)正常時(shí)序的變化規(guī)律,預(yù)測(cè)未來(lái)時(shí)刻的數(shù)據(jù);若實(shí)際值與預(yù)測(cè)值偏差過(guò)大,則判定為異常。

常見(jiàn)算法

LSTM/GRU(循環(huán)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)):通過(guò) “門(mén)控機(jī)制” 捕捉時(shí)序長(zhǎng)依賴(lài)(如裝置溫度的小時(shí)級(jí)變化趨勢(shì)),適合中短期時(shí)序(如 100-1000 個(gè)時(shí)間步)。

Transformer(注意力機(jī)制):通過(guò)自注意力捕捉時(shí)序中任意時(shí)刻的關(guān)聯(lián)(如風(fēng)電設(shè)備風(fēng)速與扭矩的長(zhǎng)周期關(guān)聯(lián)),適合長(zhǎng)期時(shí)序(如 1000 + 個(gè)時(shí)間步)。

適用場(chǎng)景:裝置的實(shí)時(shí)時(shí)序監(jiān)測(cè)(如光伏逆變器電流 / 電壓時(shí)序、水泵的流量時(shí)序),需檢測(cè)突發(fā)異常(如電流驟升)或漸變異常(如流量緩慢下降)。

優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):能捕捉時(shí)序動(dòng)態(tài)規(guī)律,對(duì)時(shí)序異常靈敏度高;Transformer 可處理長(zhǎng)時(shí)序,適配裝置的長(zhǎng)期運(yùn)行監(jiān)測(cè)。

缺點(diǎn):需大量時(shí)序數(shù)據(jù)訓(xùn)練(通常需數(shù)萬(wàn) + 時(shí)間步);計(jì)算資源要求高(訓(xùn)練需 GPU,邊緣部署需高性能硬件);解釋性差(難以說(shuō)明 “為何預(yù)測(cè)偏差是異?!保?。

2. 生成式算法(基于正常數(shù)據(jù)生成)

核心思想:模型學(xué)習(xí)正常數(shù)據(jù)的分布,生成 “類(lèi)正常數(shù)據(jù)”;若新數(shù)據(jù)與生成的正常數(shù)據(jù)差異大,則視為異常。

常見(jiàn)算法

VAE(變分自編碼器):在 AE 基礎(chǔ)上引入概率分布,學(xué)習(xí)正常數(shù)據(jù)的潛在分布,可生成帶隨機(jī)性的正常數(shù)據(jù),通過(guò) “真實(shí)數(shù)據(jù)與生成數(shù)據(jù)的 KL 散度” 判斷異常。

GAN(生成對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)):由 “生成器(生成正常數(shù)據(jù))” 和 “判別器(區(qū)分真實(shí) / 生成數(shù)據(jù))” 對(duì)抗訓(xùn)練;訓(xùn)練完成后,判別器對(duì)異常數(shù)據(jù)的 “真實(shí)度評(píng)分” 低,以此檢測(cè)異常。

適用場(chǎng)景:裝置數(shù)據(jù)分布復(fù)雜(如化工反應(yīng)的非線(xiàn)性時(shí)序),或需生成模擬正常數(shù)據(jù)以擴(kuò)充訓(xùn)練集的場(chǎng)景(如裝置正常數(shù)據(jù)稀缺)。

優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):能學(xué)習(xí)復(fù)雜數(shù)據(jù)分布,對(duì)隱性異常(如參數(shù)緩慢漂移)檢測(cè)能力強(qiáng);VAE 可量化異常程度(KL 散度)。

缺點(diǎn):訓(xùn)練不穩(wěn)定(GAN 易模式崩潰);計(jì)算成本高,不適合邊緣實(shí)時(shí)部署;解釋性差。

四、算法選擇決策指南(結(jié)合裝置數(shù)據(jù)場(chǎng)景)

裝置數(shù)據(jù)特點(diǎn) 推薦算法 部署場(chǎng)景 核心目標(biāo)
單變量、低維、無(wú)標(biāo)注 Z-score、IQR 邊緣設(shè)備 快速實(shí)時(shí)檢測(cè)
高維、無(wú)標(biāo)注、追求效率 孤立森林 邊緣 / 邊緣云 高維數(shù)據(jù)高效檢測(cè)
多變量、有正常工況聚類(lèi) DBSCAN、K-means 云端 / 邊緣云 工況偏離檢測(cè)
時(shí)序數(shù)據(jù)、中短期依賴(lài) LSTM/GRU 邊緣云 / 云端 時(shí)序動(dòng)態(tài)異常檢測(cè)
時(shí)序數(shù)據(jù)、長(zhǎng)期依賴(lài) Transformer 云端 長(zhǎng)周期時(shí)序異常檢測(cè)
有少量標(biāo)注數(shù)據(jù)、需定位原因 隨機(jī)森林、XGBoost 云端 高精度 + 可解釋性
僅正常數(shù)據(jù)標(biāo)注、需精準(zhǔn)邊界 One-Class SVM 云端 正常邊界精準(zhǔn)定義

關(guān)鍵補(bǔ)充:裝置數(shù)據(jù)適配的算法優(yōu)化技巧

數(shù)據(jù)預(yù)處理優(yōu)先:裝置數(shù)據(jù)常含噪聲(如傳感器干擾),需先做平滑(如移動(dòng)平均)、缺失值填充(如線(xiàn)性插值),避免噪聲被誤判為異常。

時(shí)序特征工程:對(duì)時(shí)序數(shù)據(jù),需提取統(tǒng)計(jì)特征(如滑動(dòng)窗口內(nèi)的均值、方差、峰值),降低模型輸入維度(如 LSTM 輸入從 “原始時(shí)序” 改為 “窗口特征”,提升推理速度)。

閾值動(dòng)態(tài)調(diào)整:裝置工況可能隨時(shí)間變化(如設(shè)備老化導(dǎo)致正常參數(shù)漂移),需用 “滑動(dòng)窗口更新閾值”(如每周用最新正常數(shù)據(jù)重新計(jì)算 Z-score 閾值),避免誤報(bào)。

輕量化部署:邊緣設(shè)備算力有限,對(duì)深度學(xué)習(xí)模型(如 LSTM)需做量化(如 INT8 量化)、剪枝,或選擇輕量級(jí)模型(如 TinyLSTM),平衡精度與速度。

審核編輯 黃宇

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    的頭像 發(fā)表于 10-22 14:26 ?124次閱讀

    電能質(zhì)量在線(xiàn)監(jiān)測(cè)裝置時(shí)鐘模塊自動(dòng)同步異常常見(jiàn)類(lèi)型哪些?

    : 一、PTP 同步(IEEE 1588)常見(jiàn)異常類(lèi)型(適配 A 級(jí)裝置) PTP 同步依賴(lài)高精度鏈路與主從時(shí)鐘協(xié)同,異常多源于 “鏈路中斷、主時(shí)鐘失效或參數(shù)不匹配”,典型類(lèi)型如下:
    的頭像 發(fā)表于 10-22 14:15 ?180次閱讀

    電能質(zhì)量在線(xiàn)監(jiān)測(cè)裝置異常數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)修復(fù)嗎?

    電能質(zhì)量在線(xiàn)監(jiān)測(cè)裝置對(duì)異常數(shù)據(jù)的處理能力取決于具體技術(shù)方案和異常類(lèi)型。現(xiàn)代高端裝置通常具備有限的自動(dòng)修復(fù)能力,但需結(jié)合人工審核和硬件維護(hù),形成 “自動(dòng)修復(fù) + 人工干預(yù)” 的閉環(huán)管理體
    的頭像 發(fā)表于 10-15 16:07 ?135次閱讀

    電能質(zhì)量在線(xiàn)監(jiān)測(cè)裝置能自動(dòng)修復(fù)采樣異常數(shù)據(jù)嗎?

    展開(kāi)分析: 一、數(shù)據(jù)異常類(lèi)型與自動(dòng)修復(fù)技術(shù)實(shí)現(xiàn) 1. 常見(jiàn)異常類(lèi)型及自動(dòng)處理機(jī)制 瞬時(shí)干擾數(shù)據(jù)由電磁脈沖、信號(hào)毛刺等偶發(fā)因素導(dǎo)致的
    的頭像 發(fā)表于 09-26 09:22 ?242次閱讀
    電能質(zhì)量在線(xiàn)監(jiān)測(cè)<b class='flag-5'>裝置</b>能自動(dòng)修復(fù)采樣<b class='flag-5'>異常數(shù)據(jù)</b>嗎?

    哪些工具可以用于復(fù)核裝置數(shù)據(jù)?

    復(fù)核裝置數(shù)據(jù)需根據(jù)裝置類(lèi)型(電氣、機(jī)械、工業(yè)自動(dòng)化等)和數(shù)據(jù)特性(實(shí)時(shí)性、精度要求)選擇工具,以下是覆蓋全場(chǎng)景的專(zhuān)業(yè)工具及應(yīng)用方法: 一、電氣參數(shù)復(fù)核工具 1. 基礎(chǔ)電氣測(cè)量工具 數(shù)字
    的頭像 發(fā)表于 09-25 14:03 ?360次閱讀
    <b class='flag-5'>有</b>哪些工具<b class='flag-5'>可以用于</b>復(fù)核<b class='flag-5'>裝置</b><b class='flag-5'>數(shù)據(jù)</b>?

    模板驅(qū)動(dòng) 無(wú)需訓(xùn)練數(shù)據(jù) SmartDP解決小樣本AI算法模型開(kāi)發(fā)難題

    算法作為軟實(shí)力,其水平直接影響著目標(biāo)檢測(cè)識(shí)別的能力。兩年前,慧視光電推出了零基礎(chǔ)的基于yolo系列算法架構(gòu)的AI算法開(kāi)發(fā)平臺(tái)SpeedDP,
    的頭像 發(fā)表于 09-09 17:57 ?1133次閱讀
    模板驅(qū)動(dòng)  無(wú)需訓(xùn)練<b class='flag-5'>數(shù)據(jù)</b>  SmartDP解決小樣本<b class='flag-5'>AI</b><b class='flag-5'>算法</b>模型開(kāi)發(fā)難題

    如何利用AI算法進(jìn)行裝置數(shù)據(jù)異常檢測(cè)?

    利用 AI 算法進(jìn)行裝置數(shù)據(jù)異常檢測(cè),需結(jié)合工業(yè)裝置
    的頭像 發(fā)表于 09-05 15:27 ?1066次閱讀
    如何利用<b class='flag-5'>AI</b><b class='flag-5'>算法</b>進(jìn)行<b class='flag-5'>裝置</b><b class='flag-5'>數(shù)據(jù)</b>的<b class='flag-5'>異常</b><b class='flag-5'>檢測(cè)</b>?

    關(guān)于NanoEdge AI用于n-Class的問(wèn)題求解

    我想請(qǐng)教一下關(guān)于NanoEdge AI用于n-Class的問(wèn)題。我使用NanoEdge AI的n-Class模式,訓(xùn)練好模型,設(shè)計(jì)了3個(gè)分類(lèi),使用PC端的模擬工具測(cè)試過(guò),模型可以正常對(duì)
    發(fā)表于 08-11 06:44

    機(jī)器學(xué)習(xí)異常檢測(cè)實(shí)戰(zhàn):用Isolation Forest快速構(gòu)建無(wú)標(biāo)簽異常檢測(cè)系統(tǒng)

    本文轉(zhuǎn)自:DeepHubIMBA無(wú)監(jiān)督異常檢測(cè)作為機(jī)器學(xué)習(xí)領(lǐng)域的重要分支,專(zhuān)門(mén)用于在缺乏標(biāo)記數(shù)據(jù)的環(huán)境中識(shí)別異常事件。本文深入探討
    的頭像 發(fā)表于 06-24 11:40 ?1183次閱讀
    機(jī)器學(xué)習(xí)<b class='flag-5'>異常</b><b class='flag-5'>檢測(cè)</b>實(shí)戰(zhàn):用Isolation Forest快速構(gòu)建無(wú)標(biāo)簽<b class='flag-5'>異常</b><b class='flag-5'>檢測(cè)</b>系統(tǒng)

    如何設(shè)計(jì)基于AI異常檢測(cè)解決方案

    汽車(chē)制造部門(mén)一直致力于在提高產(chǎn)品質(zhì)量和最小化運(yùn)營(yíng)費(fèi)用之間實(shí)現(xiàn)平衡?;?AI異常檢測(cè)是一種識(shí)別機(jī)器數(shù)據(jù)中的不規(guī)則模式以在潛在問(wèn)題發(fā)生前預(yù)測(cè)這些問(wèn)題的方法,它是對(duì)提高流程效率、減少停
    的頭像 發(fā)表于 03-20 15:26 ?1004次閱讀

    ADS1294/1292可以用于地震數(shù)據(jù)采集嗎?

    請(qǐng)問(wèn)這兩個(gè)ADC可以用于地震數(shù)據(jù)采集嗎?
    發(fā)表于 12-10 06:27