onsemi NVBG095N65S3F MOSFET:高性能解決方案
在電子工程領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率器件,其性能直接影響著各種電力系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。今天,我們來深入了解一下安森美(onsemi)的NVBG095N65S3F這款N溝道、D2PAK - 7L封裝的650V MOSFET。
文件下載:onsemi NVBG095N65S3F N溝道SUPERFET? III MOSFET.pdf
產(chǎn)品概述
NVBG095N65S3F屬于安森美全新的SUPERFET? III MOSFET系列,該系列采用了先進的電荷平衡技術(shù),具有低導通電阻和低柵極電荷的出色性能。這種先進技術(shù)不僅能有效降低傳導損耗,還能提供卓越的開關(guān)性能,并能承受極高的dv/dt速率。因此,SUPERFET III MOSFET非常適合用于各種需要小型化和高效率的電力系統(tǒng)。
此外,該系列的FRFET? MOSFET優(yōu)化了體二極管的反向恢復性能,能夠減少額外的組件,提高系統(tǒng)的可靠性。而D2PAK 7引腳封裝提供了Kelvin檢測功能,允許更高的開關(guān)速度,還能幫助設(shè)計師減小整體應(yīng)用的尺寸。

關(guān)鍵特性
電氣性能
- 耐壓與電流承載能力:在TJ = 150°C時,耐壓可達700V;最大漏源擊穿電壓(V(BR)DSS)為650V,連續(xù)漏極電流(ID)在Tc = 25°C時為36A ,Tc = 100°C時為22.8A ,脈沖漏極電流(IDM)可達90A。
- 低導通電阻:典型的靜態(tài)漏源導通電阻(RDS(on))為78mΩ ,最大為95mΩ(在VGS = 10V,ID = 18A的條件下),低導通電阻有助于降低功率損耗。
- 低柵極電荷:典型的總柵極電荷(Qg(tot))在10V時為66nC,這使得器件在開關(guān)過程中所需的驅(qū)動功率較小,能夠?qū)崿F(xiàn)快速開關(guān)。
- 低輸出電容:典型的有效輸出電容(Coss(eff.))為597pF,低輸出電容可以減少開關(guān)過程中的能量損耗。
可靠性與兼容性
- 雪崩測試:經(jīng)過100%雪崩測試,確保了器件在雪崩狀態(tài)下的可靠性。
- 汽車級認證:符合AEC - Q101標準,具備PPAP能力,適用于汽車電子等對可靠性要求較高的應(yīng)用場景。
- 環(huán)保標準:該器件無鉛且符合RoHS標準,滿足環(huán)保要求。
典型應(yīng)用
NVBG095N65S3F適用于多種汽車電子應(yīng)用,如汽車車載充電器和電動汽車的DC/DC轉(zhuǎn)換器。在這些應(yīng)用中,其高性能和高可靠性能夠滿足系統(tǒng)對效率、尺寸和穩(wěn)定性的嚴格要求。
電氣與熱特性
絕對最大額定值
在使用該器件時,需要注意其絕對最大額定值。例如,漏源電壓(Voss)最大為650V,柵源電壓(VGss)在DC和AC(f > 1Hz)條件下最大為±30V。超過這些額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。
熱特性
熱阻是衡量器件散熱性能的重要指標。該器件的結(jié)到外殼的最大熱阻(ReJc)為0.46°C/W,結(jié)到環(huán)境的最大熱阻(ROJA)為40°C/W。在設(shè)計散熱系統(tǒng)時,需要根據(jù)這些參數(shù)來確保器件在正常工作溫度范圍內(nèi)。
電氣特性
文檔中詳細列出了該器件在不同條件下的電氣特性,包括關(guān)斷特性、導通特性、動態(tài)特性、開關(guān)特性和源 - 漏二極管特性等。例如,在關(guān)斷特性中,漏源擊穿電壓(BVDss)在VGS = 0V,ID = 1mA,TJ = 25°C時為650V;在導通特性中,柵極閾值電壓(VGs(th))在VS = VDs,I = 0.86mA時為3.0 - 5.0V。
典型特性曲線
文檔中還提供了一系列典型特性曲線,如導通區(qū)域特性、傳輸特性、導通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化等。這些曲線能夠幫助工程師更好地理解器件的性能,進行更精確的電路設(shè)計。
封裝與訂購信息
該器件采用D2PAK - 7L封裝,訂購時每盤有800個。對于封裝尺寸,文檔中給出了詳細的參數(shù),包括各個引腳和封裝外形的尺寸范圍。
總結(jié)
安森美(onsemi)的NVBG095N65S3F MOSFET憑借其先進的技術(shù)、出色的性能和高可靠性,為汽車電子等領(lǐng)域的功率系統(tǒng)設(shè)計提供了一個優(yōu)秀的解決方案。作為電子工程師,在選擇MOSFET時,需要綜合考慮其電氣性能、熱特性、封裝形式等因素,以確保設(shè)計出的系統(tǒng)能夠滿足實際應(yīng)用的需求。大家在實際使用過程中,有沒有遇到過類似高性能MOSFET的應(yīng)用挑戰(zhàn)呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和見解。
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