探索 onsemi NTBG023N065M3S SiC MOSFET 的卓越性能
在電子工程師的設(shè)計工具箱中,功率半導(dǎo)體器件的選擇至關(guān)重要。今天,我們將深入探討 onsemi 的 NTBG023N065M3S 碳化硅(SiC)MOSFET,這款器件以其出色的性能和廣泛的應(yīng)用前景,成為眾多電源設(shè)計的理想之選。
文件下載:onsemi NTBG023N065M3S 23 mΩ EliteSiC MOSFET.pdf
器件概述
NTBG023N065M3S 是一款 N 溝道 MOSFET,采用 D2PAK - 7L 封裝。它具有 650V 的漏源擊穿電壓(V(BR)DSS)和典型值為 23mΩ(VGS = 18V 時)的導(dǎo)通電阻(RDS(ON)),最大連續(xù)漏極電流(ID MAX)可達(dá) 40A。這些參數(shù)使得它在高效功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用中表現(xiàn)出色。
尺寸圖

關(guān)鍵特性剖析
低導(dǎo)通電阻與低柵極電荷
典型的 RDS(ON) 僅為 23mΩ(VGS = 18V),這意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,器件的功率損耗極低,能夠有效提高系統(tǒng)效率。同時,超低的柵極總電荷(QG(tot) = 69nC),使得開關(guān)過程中的驅(qū)動損耗大幅降低,有助于實現(xiàn)高速開關(guān)。
高速開關(guān)與低電容
該 MOSFET 具有低電容特性,如輸出電容 Coss = 153pF,這使得它能夠?qū)崿F(xiàn)高速開關(guān),減少開關(guān)損耗,提高系統(tǒng)的工作頻率和效率。在高頻應(yīng)用中,這種特性尤為重要。
雪崩測試認(rèn)證
經(jīng)過 100% 雪崩測試,確保了器件在雪崩擊穿時的可靠性和穩(wěn)定性。這對于應(yīng)對電路中的瞬態(tài)過壓和過流情況非常關(guān)鍵,能夠有效保護(hù)器件和整個系統(tǒng)。
應(yīng)用領(lǐng)域廣泛
NTBG023N065M3S 的特性使其適用于多種應(yīng)用場景,包括開關(guān)模式電源(SMPS)、太陽能逆變器、不間斷電源(UPS)、能量存儲系統(tǒng)以及電動汽車充電基礎(chǔ)設(shè)施等。在這些應(yīng)用中,它能夠幫助提高系統(tǒng)效率、減小體積和重量,降低成本。
電氣特性詳解
最大額定值
器件的最大額定值規(guī)定了其正常工作的邊界條件。例如,漏源電壓(VDss)最大為 650V,柵源電壓(VGs)范圍為 - 8V 至 +22V。連續(xù)漏極電流在不同的結(jié)溫(TJ)和殼溫(Tc)條件下有不同的限制,需要根據(jù)實際應(yīng)用進(jìn)行合理選擇。
熱特性
熱阻是衡量器件散熱能力的重要指標(biāo)。NTBG023N065M3S 的結(jié)到殼熱阻(ReJc)為 0.57℃/W,結(jié)到環(huán)境熱阻(ReJA)為 40℃/W。在設(shè)計散熱系統(tǒng)時,需要考慮這些參數(shù),以確保器件在正常工作溫度范圍內(nèi)。
推薦工作條件
推薦的柵源電壓(VGSop)范圍為 - 5.3V 至 +18V。在這個范圍內(nèi)工作,能夠保證器件的性能和可靠性。超出推薦范圍的長時間工作可能會影響器件的壽命和性能。
電氣特性參數(shù)
在不同的測試條件下,器件的各項電氣特性參數(shù)會有所變化。例如,導(dǎo)通電阻(RDS(ON))會隨著柵源電壓、漏極電流和結(jié)溫的變化而變化。了解這些參數(shù)的變化規(guī)律,有助于工程師在設(shè)計中進(jìn)行合理的參數(shù)選擇和優(yōu)化。
典型特性曲線分析
文檔中提供了一系列典型特性曲線,如輸出特性曲線、轉(zhuǎn)移特性曲線、導(dǎo)通電阻與柵極電壓、漏極電流和結(jié)溫的關(guān)系曲線等。這些曲線直觀地展示了器件在不同工作條件下的性能表現(xiàn),對于工程師進(jìn)行電路設(shè)計和性能評估非常有幫助。
封裝與機(jī)械尺寸
器件采用 D2PAK - 7L 封裝,文檔詳細(xì)給出了封裝的機(jī)械尺寸和引腳定義。在 PCB 設(shè)計時,需要根據(jù)這些尺寸進(jìn)行合理的布局和布線,確保器件的安裝和散熱。
總結(jié)與思考
NTBG023N065M3S SiC MOSFET 以其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、高速開關(guān)和高可靠性等優(yōu)點,為電子工程師在功率轉(zhuǎn)換設(shè)計中提供了一個強(qiáng)大的工具。然而,在實際應(yīng)用中,我們還需要考慮器件的成本、散熱設(shè)計、驅(qū)動電路設(shè)計等因素。例如,如何根據(jù)實際應(yīng)用場景選擇合適的散熱方式?如何設(shè)計高效的驅(qū)動電路以充分發(fā)揮器件的性能?這些都是我們在設(shè)計過程中需要深入思考和解決的問題。
希望通過本文的介紹,能夠幫助電子工程師更好地了解和應(yīng)用 NTBG023N065M3S 這款優(yōu)秀的 SiC MOSFET 器件。在未來的設(shè)計中,讓我們充分發(fā)揮其優(yōu)勢,創(chuàng)造出更加高效、可靠的電子系統(tǒng)。
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