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MEMS制造中的臺階測量:原理、技術(shù)及其在工藝監(jiān)控中的關(guān)鍵作用

Flexfilm ? 2025-12-10 18:04 ? 次閱讀
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隨著微機電系統(tǒng)(MEMS器件向微型化、高深寬比發(fā)展,其內(nèi)部微細(xì)臺階結(jié)構(gòu)的精確測量成為保障器件性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。然而,現(xiàn)有測量手段面臨兩難選擇:非接觸式方法(如光學(xué)干涉、原子力顯微鏡)往往設(shè)備昂貴、操作復(fù)雜或?qū)悠酚刑囟ㄏ拗?;而傳統(tǒng)接觸式臺階儀雖簡單可靠,但其探針測量力較大,易劃傷MEMS中常見的軟質(zhì)材料(如硅片),Flexfilm探針式臺階儀可以實現(xiàn)表面微觀特征的精準(zhǔn)表征關(guān)鍵參數(shù)的定量測量,精確測定樣品的表面臺階高度與膜厚,為材料質(zhì)量把控和生產(chǎn)效率提升提供數(shù)據(jù)支撐。

本研究提出并實現(xiàn)了一套經(jīng)濟實用的解決方案。核心在于設(shè)計了一種基于變截面薄片簧回轉(zhuǎn)支撐的新型微力電感測頭,從根源上實現(xiàn)了無摩擦、小測量力(約0.5mN)的接觸式探測。圍繞此測頭,通過仿真驗證設(shè)計,系統(tǒng)測試確認(rèn)其優(yōu)異靜態(tài)性能(線性度約0.16%,分辨率約0.005μm),并構(gòu)建了完整的測量系統(tǒng)。針對系統(tǒng)集成中步進電機引發(fā)的振動與偏心力干擾,提出了有效的軟硬件抑制措施,最終通過標(biāo)準(zhǔn)樣塊與實際硅片測試,驗證了該系統(tǒng)在實現(xiàn)高精度測量的同時,能有效保護工件表面,滿足了當(dāng)前微細(xì)臺階結(jié)構(gòu)的測量需求。

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微機電臺階儀測頭設(shè)計

flexfilm

電感傳感器工作原理

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螺管型

重點研究了螺管型電感傳感器,對比了單線圈與差動式結(jié)構(gòu)。差動式結(jié)構(gòu)在靈敏度、線性度及抗干擾能力方面更優(yōu),故被選用。

電感測頭理論設(shè)計

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左:測頭結(jié)構(gòu)示意圖;右:變截面薄片簧結(jié)構(gòu)示意圖

核心創(chuàng)新在于采用變截面薄片簧作為測桿機構(gòu)的回轉(zhuǎn)支撐,替代傳統(tǒng)摩擦副,實現(xiàn)無磨損和微測量力。

方案與材料:設(shè)計了水平布局測頭,片簧選用Ni42CrTi恒彈性合金。

片簧設(shè)計:基于柔性鉸鏈理論計算,確定了片簧幾何參數(shù)(長1 mm,中心厚0.05 mm,寬2 mm),并進行了強度校核。

測桿機構(gòu)設(shè)計:建立了機構(gòu)運動方程,計算了系統(tǒng)固有頻率(33.01 Hz)和測量力變化率(1.42 N/m)。

壓簧設(shè)計:設(shè)計了鉸青銅壓簧,確保觸針接觸并控制測量力變化。

測桿機構(gòu)的仿真分析

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測桿機構(gòu)受力示意圖

利用ANSYS進行有限元分析,仿真得到的測量力-位移關(guān)系線性良好,測量力變化率為1.33 N/m,一階固有頻率為34.634 Hz,與理論值吻合,驗證了設(shè)計正確性。

電感測頭的測量力測試

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電感測頭整體設(shè)計圖

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測量力測量裝置

實測最大測量力約為0.5mN,測量力變化率為1.25N/m。實測值與理論值、仿真值的誤差較小,證明設(shè)計與仿真方法可靠。

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電感測頭的測試

flexfilm

搭建測試平臺,對測頭進行系統(tǒng)性能評估。

線性度:三個量程檔(±193μm, ±33μm, ±3.5μm)的線性度分別為0.16%、0.096%和0.10%。

靈敏度與分辨率:最高靈敏度達(dá)1428 mV/μm,系統(tǒng)實際分辨率約0.005μm。

穩(wěn)定性:60分鐘零點漂移小于0.081μm(中檔)。

重復(fù)精度:優(yōu)于0.12% F.S.。

標(biāo)定:使用高精度光柵長度計進行標(biāo)定,建立了電壓-位移的線性擬合關(guān)系。

測試表明,該測頭靜態(tài)性能良好,滿足精密測量要求。

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微機電臺階儀系統(tǒng)設(shè)計

flexfilm

測量原理與系統(tǒng)搭建

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臺階儀系統(tǒng)組成簡圖

系統(tǒng)基于接觸式掃描原理,硬件包括自制電感測頭、步進電機驅(qū)動的精密絲杠導(dǎo)軌平臺、信號處理電路、A/D采集卡、CCD觀測系統(tǒng)及PC控制主機。

振動問題分析與抑制

振動主要源于步進電機。采取的綜合抑制措施包括:選用混合式電機并采用細(xì)分驅(qū)動;測頭調(diào)零后使豎直電機斷電;水平電機與絲杠間用軟軸連接并加裝減振墊;電源加裝濾波器。措施實施后,測量噪聲從0.075μm顯著降低至0.02μm。

偏心力問題分析與抑制

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信號處理電路簡圖

偏心力源于傳動鏈的同軸度誤差,會導(dǎo)致測量曲線周期性失真。通過提高裝配精度、改進工作臺與滑塊的連接方式(采用銷連接并增設(shè)導(dǎo)塊和拉簧)、使用軟軸傳遞扭矩等措施,有效消除了偏心力對測量的影響。

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數(shù)據(jù)處理和系統(tǒng)測試軟件

flexfilm

數(shù)據(jù)處理與誤差分析

針對采樣數(shù)據(jù)中的隨機噪聲,對比了多種數(shù)字濾波算法,最終選用改進的中值平均濾波法(N=20,兩層),在有效濾噪的同時保證了系統(tǒng)響應(yīng)速度。

控制軟件設(shè)計

基于C++ Builder開發(fā)了集成化軟件,包含主控制模塊(量程選擇、電機控制、實時數(shù)據(jù)顯示與CCD觀測)、數(shù)據(jù)處理模塊(濾波、去趨勢、參數(shù)提?。┖?/span>標(biāo)定模塊,界面友好,操作便捷。

系統(tǒng)實物測試

對15 μm標(biāo)準(zhǔn)單刻線樣板和刻有1.2 μm槽的硅片進行實測,結(jié)果分別為15.105μm和1.205μm,測量準(zhǔn)確且未損傷硅片表面,驗證了系統(tǒng)實用性。

本研究成功研制了一套測量力小、精度可靠微機電臺階測量儀系統(tǒng)。主要貢獻在于:設(shè)計了基于變截面片簧的微力電感測頭;通過仿真與實驗驗證了設(shè)計;構(gòu)建了完整測量系統(tǒng)并有效解決了振動與偏心力干擾;開發(fā)了配套控制軟件。未來工作可圍繞以下方面展開:進一步優(yōu)化機械結(jié)構(gòu)以徹底隔離振動;改進CCD調(diào)焦機構(gòu);擴展平臺行程;增加位置反饋;拓展軟件功能(如表面粗糙度測量)。

Flexfilm探針式臺階儀

flexfilm

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半導(dǎo)體、光伏、LED、MEMS器件、材料等領(lǐng)域,表面臺階高度、膜厚的準(zhǔn)確測量具有十分重要的價值,尤其是臺階高度是一個重要的參數(shù),對各種薄膜臺階參數(shù)的精確、快速測定和控制,是保證材料質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率的重要手段。

  • 配備500W像素高分辨率彩色攝像機
  • 亞埃級分辨率,臺階高度重復(fù)性1nm
  • 360°旋轉(zhuǎn)θ平臺結(jié)合Z軸升降平臺
  • 超微力恒力傳感器保證無接觸損傷精準(zhǔn)測量

費曼儀器作為國內(nèi)領(lǐng)先的薄膜厚度測量技術(shù)解決方案提供商,Flexfilm探針式臺階儀可以對薄膜表面臺階高度、膜厚進行準(zhǔn)確測量,保證材料質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率。

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