chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

容易制作、可靠性好的交流固體繼電器電路,Solid State Relay

454398 ? 2018-09-20 18:21 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

容易制作、可靠性好的交流固體繼電器電路,Solid State Relay

關(guān)鍵字:容易制作、可靠性好的交流固體繼電器電路,固態(tài)繼電器

容易制作、可靠性好的交流固體繼電器電路
交流固體繼電器(AC·SSR)亦稱交流無觸點(diǎn)開關(guān),在計算機(jī)控制等邏輯控制電器中可達(dá)到以弱控強(qiáng)和弱強(qiáng)隔離的目的。本文向讀者推薦一種簡單好用、性能穩(wěn)定、便于自制的交流固體繼電器。由于它對元器件指標(biāo)要求不高,從而降低了成本。
下圖是本交流固體繼電器的電路圖,其中DIAC是雙向二極管,用以保證雙向可控硅SCR的可靠導(dǎo)通;在雙向可控硅導(dǎo)通后,DIAC用來保護(hù)光敏三極管免于擊穿;又利用DIAC的導(dǎo)通穩(wěn)壓特性和電容C1的移相作用,使觸發(fā)支路的功率降低。由于使用了DIAC,使得許多在其它電路中不易觸發(fā)而被篩選掉的可控硅能夠重新使用,并穩(wěn)定地工作。
圖中R*一般選100~150Ω,主要考慮是使光電耦合器OPC工作可靠;D1為保護(hù)光電耦合器而設(shè)。交流經(jīng)R1與C1構(gòu)成的阻容支路由D2~D5整流作為觸發(fā)回路的激勵源,R2與C2為阻容吸收網(wǎng)絡(luò),防止感性負(fù)載下的誤觸發(fā);C3用于抑制高頻干擾。
雙向二極管選北京椿樹整流器廠生產(chǎn)的DIAC,轉(zhuǎn)折電壓VBO≥20V,曲復(fù)電壓≥5V即可(峰值輸出電流一般都滿足觸發(fā)要求);光電耦合選北京光電器件廠的GD310~315中任一種均可;雙向可控硅沒有嚴(yán)格要求,只要是好管子,一般都能用。
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    集成電路可靠性介紹

    required functions under stated conditions for a specific period of time)。所謂規(guī)定的時間一般稱為壽命(lifetime),基本上集成電路產(chǎn)品的壽命需要達(dá)到10年。如果產(chǎn)品各個部分的壽命都可以達(dá)到一定的標(biāo)準(zhǔn),那產(chǎn)品的
    的頭像 發(fā)表于 12-04 09:08 ?710次閱讀
    集成<b class='flag-5'>電路</b><b class='flag-5'>可靠性</b>介紹

    可靠性設(shè)計的十個重點(diǎn)

    專注于光電半導(dǎo)體芯片與器件可靠性領(lǐng)域的科研檢測機(jī)構(gòu),能夠?qū)ED、激光器、功率器件等關(guān)鍵部件進(jìn)行嚴(yán)格的檢測,致力于為客戶提供高質(zhì)量的測試服務(wù),為光電產(chǎn)品在各種高可靠性場景中的穩(wěn)定應(yīng)用提供堅實(shí)的質(zhì)量
    的頭像 發(fā)表于 08-01 22:55 ?941次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計的十個重點(diǎn)

    干簧繼電器在RF信號衰減中的應(yīng)用與優(yōu)勢

    不同的分貝(dB)級別。然而,傳統(tǒng)的開關(guān)裝置,如機(jī)電繼電器,存在一些明顯的局限性。首先,機(jī)電繼電器的機(jī)械壽命通常較短,一般不超過一百萬次操作。這意味著在高頻使用場景下,它們的可靠性會迅速下降。其次,機(jī)電
    發(fā)表于 07-29 15:02

    如何提高電路板組件環(huán)境可靠性

    電路板組件PCBA(Printed Circuit Board Assembly)的可靠性特別是多水汽、多粉塵、有化學(xué)污染物的室外工作環(huán)境的可靠性,直接決定了電子產(chǎn)品的品質(zhì)或應(yīng)用范圍。
    的頭像 發(fā)表于 06-18 15:22 ?903次閱讀

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升,可靠性要求與測試成本及時間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力,實(shí)現(xiàn)快速
    發(fā)表于 05-07 20:34

    電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)可靠性分析

    針對性地研究提高電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)可靠性的途徑及技術(shù)措施:硬件上,方法包括合理選擇篩選元器件、選擇合適的電源、采用保護(hù)電路以及制作可靠的印制電路
    發(fā)表于 04-29 16:14

    IGBT的應(yīng)用可靠性與失效分析

    包括器件固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性問題包括安全工作區(qū)、閂鎖效應(yīng)、雪崩耐量、短路能力及功耗等,使用可靠性問題包括并聯(lián)均流、軟關(guān)斷、電磁干擾及散熱等。
    的頭像 發(fā)表于 04-25 09:38 ?2715次閱讀
    IGBT的應(yīng)用<b class='flag-5'>可靠性</b>與失效分析

    磁保持繼電器有什么作用

    保持當(dāng)前狀態(tài)。這一特性使其在節(jié)能、可靠性及特殊場景應(yīng)用中展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢。 一、工作原理 磁保持繼電器的核心創(chuàng)新在于將永磁體引入磁路系統(tǒng)。其內(nèi)部結(jié)構(gòu)通常包含線圈、永磁體、銜鐵和觸點(diǎn)組件。當(dāng)線圈通入正向脈沖電流
    的頭像 發(fā)表于 04-22 16:12 ?1117次閱讀

    干簧繼電器:芯片測試儀的“性能催化劑”

    在集成電路(IC)制造領(lǐng)域,測試環(huán)節(jié)是確保芯片性能和可靠性的重要步驟。然而,測試過程往往伴隨著高昂的成本和復(fù)雜的設(shè)備需求。本文將探討如何通過優(yōu)化接口電路板和干簧繼電器的使用,實(shí)現(xiàn)高效且
    發(fā)表于 04-07 16:40

    電路可靠性設(shè)計與工程計算技能概述

    電路可靠性設(shè)計與工程計算通過系統(tǒng)學(xué)習(xí)電路可靠性設(shè)計與工程計算,工程師不僅能提高電路可靠性和穩(wěn)定
    的頭像 發(fā)表于 03-26 17:08 ?683次閱讀
    <b class='flag-5'>電路</b><b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計與工程計算技能概述

    集成電路前段工藝的可靠性研究

    在之前的文章中我們已經(jīng)對集成電路工藝的可靠性進(jìn)行了簡單的概述,本文將進(jìn)一步探討集成電路前段工藝可靠性。
    的頭像 發(fā)表于 03-18 16:08 ?1801次閱讀
    集成<b class='flag-5'>電路</b>前段工藝的<b class='flag-5'>可靠性</b>研究

    干簧繼電器:功能PCB測試的關(guān)鍵部件

    測試相互干擾的問題。電磁繼電器在經(jīng)過 100萬次循環(huán)后變得不可靠。因此質(zhì)量和可靠性必須是首要考慮的問題,而干簧繼電器是最佳選擇, 且提供了一種技術(shù)精湛且低成本的解決方案。 由于干簧
    發(fā)表于 03-11 16:16

    施耐德Harmony Relay電磁式繼電器產(chǎn)品目錄

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《施耐德Harmony Relay電磁式繼電器產(chǎn)品目錄.pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 03-11 15:38 ?0次下載

    集成電路可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目匯總

    在現(xiàn)代電子產(chǎn)品的研發(fā)與生產(chǎn)過程中,可靠性測試是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。可靠性測試可靠性(Reliability)是衡量產(chǎn)品耐久力的重要指標(biāo),它反映了產(chǎn)品在規(guī)定條件下和規(guī)定時間內(nèi)完成規(guī)定功能
    的頭像 發(fā)表于 03-07 15:34 ?1267次閱讀
    集成<b class='flag-5'>電路</b><b class='flag-5'>可靠性</b>試驗(yàn)項(xiàng)目匯總

    半導(dǎo)體集成電路可靠性評價

    半導(dǎo)體集成電路可靠性評價是一個綜合的過程,涉及多個關(guān)鍵技術(shù)和層面,本文分述如下:可靠性評價技術(shù)概述、可靠性評價的技術(shù)特點(diǎn)、
    的頭像 發(fā)表于 03-04 09:17 ?1561次閱讀
    半導(dǎo)體集成<b class='flag-5'>電路</b>的<b class='flag-5'>可靠性</b>評價