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onsemi碳化硅MOSFET NVBG160N120SC1深度解析

lhl545545 ? 2026-05-07 16:10 ? 次閱讀
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onsemi碳化硅MOSFET NVBG160N120SC1深度解析

電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中,功率半導(dǎo)體器件的選擇至關(guān)重要,直接影響著電路的性能和穩(wěn)定性。今天,我將為大家詳細(xì)介紹 onsemi 推出的一款碳化硅(SiC)MOSFET——NVBG160N120SC1,希望能為大家在相關(guān)設(shè)計(jì)中提供有價(jià)值的參考。

文件下載:NVBG160N120SC1-D.PDF

一、產(chǎn)品特性

1. 低導(dǎo)通電阻

典型的 (R_{DS(on)}) 為 160 mΩ,這一特性使得該 MOSFET 在導(dǎo)通狀態(tài)下的功率損耗較低,能夠有效提高電路的效率。在實(shí)際應(yīng)用中,低導(dǎo)通電阻可以減少發(fā)熱,延長器件的使用壽命,同時(shí)也有助于降低系統(tǒng)的整體功耗。

2. 超低柵極電荷

典型的 (Q_{G(tot)} = 33.8 nC),超低的柵極電荷意味著在開關(guān)過程中,對柵極驅(qū)動(dòng)電路的要求較低,能夠更快地完成開關(guān)動(dòng)作,從而降低開關(guān)損耗。這對于高頻應(yīng)用場景尤為重要,可以提高系統(tǒng)的開關(guān)頻率,減小濾波器等外圍元件的尺寸。

3. 低有效輸出電容

典型的 (C_{oss} = 50.7 pF),低輸出電容可以減少開關(guān)過程中的能量損耗,提高開關(guān)速度,降低電磁干擾(EMI)。在設(shè)計(jì)中,這有助于優(yōu)化電路的性能,減少對其他元件的干擾。

4. 可靠性高

該器件經(jīng)過 100% 雪崩測試,具備較高的可靠性。同時(shí),它通過了 AEC - Q101 認(rèn)證,適用于汽車等對可靠性要求較高的應(yīng)用場景,并且具備生產(chǎn)件批準(zhǔn)程序(PPAP)能力。此外,該器件為無鹵產(chǎn)品,符合 RoHS 指令豁免條款 7a,二級互連采用無鉛 2LI 工藝。

二、典型應(yīng)用

1. 汽車車載充電器

在汽車車載充電器中,NVBG160N120SC1 的低導(dǎo)通電阻和低開關(guān)損耗特性可以提高充電器的效率,減少發(fā)熱,從而提高整個(gè)充電系統(tǒng)的性能和可靠性。同時(shí),其高可靠性和符合汽車級標(biāo)準(zhǔn)的特性,能夠滿足汽車應(yīng)用的嚴(yán)格要求。

2. 電動(dòng)汽車/混合動(dòng)力汽車的 DC - DC 轉(zhuǎn)換器

在電動(dòng)汽車和混合動(dòng)力汽車的 DC - DC 轉(zhuǎn)換器中,該 MOSFET 可以有效地實(shí)現(xiàn)電壓轉(zhuǎn)換,提高能量轉(zhuǎn)換效率,延長電池的續(xù)航里程。其快速的開關(guān)速度和低損耗特性,有助于提高轉(zhuǎn)換器的性能和穩(wěn)定性。

三、最大額定值

該 MOSFET 的最大額定值在 (T{J} = 25^{circ}C) 時(shí)給出,包括漏源電壓 (V{DS}) 為 1200 V,柵源電壓 (V_{GS}) 為 - 15 / + 25 V 等。需要注意的是,超過最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。同時(shí),整個(gè)應(yīng)用環(huán)境會(huì)影響熱阻等參數(shù),這些參數(shù)并非常數(shù),僅在特定條件下有效。

四、熱特性

1. 熱阻

熱阻是衡量器件散熱能力的重要參數(shù)。該 MOSFET 的結(jié)到殼熱阻 (R{θJC}) 最大為 1.1 °C/W,結(jié)到環(huán)境熱阻 (R{θJA}) 最大為 40 °C/W。在設(shè)計(jì)散熱系統(tǒng)時(shí),需要根據(jù)這些熱阻參數(shù)來選擇合適的散熱方式和散熱器件,以確保器件在正常工作溫度范圍內(nèi)。

五、電氣特性

1. 關(guān)斷特性

漏源擊穿電壓 (V{(BR)DSS}) 在 (V{GS} = 0 V),(I_{D} = 1 mA) 時(shí)為 1200 V,其溫度系數(shù)為 0.7 V/°C。零柵壓漏電流 (IDSS) 在不同溫度下有不同的值,(TJ = 25°C) 時(shí)為 100 μA,(TJ = 175°C) 時(shí)為 1 mA。

2. 導(dǎo)通特性

柵極閾值電壓 (V{GS(TH)}) 在 (V{GS} = V{DS}),(I{D} = 2.5 mA) 時(shí),典型值為 4.3 V。導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)}) 在不同條件下有不同的值,如 (V{GS} = 20 V),(I{D} = 12 A),(T{J} = 175^{circ}C) 時(shí)也有相應(yīng)的參數(shù)。

3. 電荷、電容及柵極電阻特性

輸入電容 (C{iss}) 典型值為 678 pF,輸出電容和反向傳輸電容等也有相應(yīng)的參數(shù)。柵源電荷 (Q{GS}) 典型值為 11.6 nC。

4. 開關(guān)特性

開關(guān)特性包括上升時(shí)間、關(guān)斷延遲時(shí)間、下降時(shí)間等,以及開通和關(guān)斷的開關(guān)損耗。這些特性對于評估器件在開關(guān)過程中的性能非常重要,在高頻應(yīng)用中需要特別關(guān)注。

5. 漏源二極管特性

連續(xù)漏源二極管正向電流 (I{SD}) 在 (V{GS} = - 5 V),(T{J} = 25^{circ}C) 時(shí)典型值為 13.6 A,脈沖漏源二極管正向電流 (I{SDM}) 典型值為 78 A。正向二極管電壓 (V{SD}) 在 (V{GS} = - 5 V),(I{SD} = 6 A),(T{J} = 25^{circ}C) 時(shí)典型值為 3.9 V。

六、典型特性曲線

文檔中給出了一系列典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻與柵源電壓的關(guān)系、傳輸特性、二極管正向電壓與電流的關(guān)系等。這些曲線可以幫助工程師更好地理解器件的性能,在設(shè)計(jì)中根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行合理的選擇和優(yōu)化。

七、機(jī)械封裝及尺寸

該 MOSFET 采用 D2PAK - 7L 封裝(CASE 418BJ),文檔中給出了詳細(xì)的封裝尺寸信息。在 PCB 設(shè)計(jì)時(shí),需要根據(jù)這些尺寸信息來合理布局器件,確保引腳的連接和散熱等問題得到妥善處理。

在實(shí)際設(shè)計(jì)中,大家是否遇到過因功率器件選擇不當(dāng)而導(dǎo)致的問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。同時(shí),希望大家在使用這款 MOSFET 時(shí),充分考慮其特性和參數(shù),結(jié)合實(shí)際應(yīng)用場景進(jìn)行合理設(shè)計(jì),以達(dá)到最佳的性能和可靠性。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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