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onsemi碳化硅MOSFET NVBG020N120SC1:高性能解決方案

lhl545545 ? 2026-05-07 16:55 ? 次閱讀
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onsemi碳化硅MOSFET NVBG020N120SC1:高性能解決方案

電子工程師的日常設(shè)計(jì)中,選擇合適的功率器件至關(guān)重要。今天,我們來(lái)深入了解一下安森美(onsemi)的碳化硅(SiC)MOSFET——NVBG020N120SC1,看看它能為我們的設(shè)計(jì)帶來(lái)哪些優(yōu)勢(shì)。

文件下載:NVBG020N120SC1-D.PDF

關(guān)鍵參數(shù)與特性

基本參數(shù)

NVBG020N120SC1具有出色的電氣性能。其漏源擊穿電壓(V(BR)DSS)高達(dá)1200V,最大漏源導(dǎo)通電阻(RDS(ON) MAX)在20V時(shí)為28mΩ,典型值為20mΩ,最大連續(xù)漏極電流(ID MAX)可達(dá)98A。這些參數(shù)使得該MOSFET能夠在高電壓、大電流的應(yīng)用場(chǎng)景中穩(wěn)定工作。

特性亮點(diǎn)

  • 超低柵極電荷:典型的總柵極電荷(QG(tot))僅為220nC,這意味著在開(kāi)關(guān)過(guò)程中能夠減少柵極驅(qū)動(dòng)損耗,提高開(kāi)關(guān)速度。
  • 低有效輸出電容:典型的輸出電容(Coss)為258pF,有助于降低開(kāi)關(guān)損耗,提高效率。
  • 100%雪崩測(cè)試:經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的雪崩測(cè)試,保證了器件在雪崩狀態(tài)下的可靠性和穩(wěn)定性。
  • AEC - Q101認(rèn)證:符合汽車級(jí)標(biāo)準(zhǔn),適用于汽車電子等對(duì)可靠性要求極高的應(yīng)用場(chǎng)景。
  • 無(wú)鹵且符合RoHS標(biāo)準(zhǔn):環(huán)保特性使得該器件在綠色電子設(shè)計(jì)中具有優(yōu)勢(shì)。

典型應(yīng)用場(chǎng)景

汽車車載充電器

在汽車車載充電器的設(shè)計(jì)中,需要高效、可靠的功率器件來(lái)實(shí)現(xiàn)電能的轉(zhuǎn)換。NVBG020N120SC1的高電壓、低導(dǎo)通電阻和低開(kāi)關(guān)損耗特性,能夠有效提高充電器的效率和功率密度,減少發(fā)熱,延長(zhǎng)充電器的使用壽命。

電動(dòng)汽車/混合動(dòng)力汽車的DC - DC轉(zhuǎn)換器

對(duì)于電動(dòng)汽車和混合動(dòng)力汽車的DC - DC轉(zhuǎn)換器,需要能夠承受高電壓和大電流的器件。該MOSFET的高耐壓和大電流能力,以及出色的開(kāi)關(guān)性能,能夠滿足DC - DC轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)要求,為汽車的電氣系統(tǒng)提供穩(wěn)定的電源。

最大額定值與熱阻

最大額定值

該器件的最大額定值涵蓋了多個(gè)方面,包括電壓、電流、功率和溫度等。例如,漏源電壓(VDSS)最大為1200V,柵源電壓(VGS)的范圍為 - 15V至 + 25V,推薦的柵源電壓(VGSop)在Tc < 175°C時(shí)為 - 5V至 + 20V。連續(xù)漏極電流(ID)在不同條件下有不同的值,在Tc = 25°C的穩(wěn)態(tài)下為98A,在Ta = 25°C時(shí)為8.6A。功率耗散(PD)在不同條件下也有所不同,這些參數(shù)為工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí)提供了重要的參考。

熱阻

熱阻是衡量器件散熱性能的重要指標(biāo)。該MOSFET的結(jié)到殼的穩(wěn)態(tài)熱阻(ReUC)為0.32°C/W,結(jié)到環(huán)境的穩(wěn)態(tài)熱阻(RUA)為41°C/W。了解熱阻特性有助于工程師合理設(shè)計(jì)散熱方案,確保器件在正常工作溫度范圍內(nèi)運(yùn)行。

電氣特性

關(guān)斷特性

在關(guān)斷狀態(tài)下,漏源擊穿電壓(V(BR)DSS)在VGS = 0V、ID = 1mA時(shí)為1200V,其溫度系數(shù)(V(BR)DSS/TJ)為0.5V/°C。零柵壓漏極電流(IDSS)在TJ = 25°C、VDS = 1200V時(shí)為100μA,在TJ = 175°C時(shí)為1mA。柵源泄漏電流(IGSS)在VGS = + 25/ - 15V、VDS = 0V時(shí)為±1μA。

導(dǎo)通特性

柵極閾值電壓(VGS(th))在VGS = VDS、ID = 20mA時(shí)為1.8V至4.3V,推薦的柵極電壓為 - 5V至 + 20V。漏源導(dǎo)通電阻(RDS(ON))在VGS = 20V、ID = 60A、TJ = 25°C時(shí)典型值為20mΩ,最大值為28mΩ;在TJ = 175°C時(shí),典型值為35mΩ,最大值為50mΩ。正向跨導(dǎo)(gfs)在VDS = 20V、ID = 60A時(shí)典型值為34S。

電荷、電容與柵極電阻

輸入電容(Ciss)在VGS = 0V、f = 1MHz、VDS = 800V時(shí)為2943pF,輸出電容(Coss)為258pF,反向傳輸電容(CRSS)為24pF??倴艠O電荷(QG(TOT))在VGS = - 5/20V、VDS = 600V、ID = 80A時(shí)為220nC,閾值柵極電荷(QG(TH))為33nC,柵源電荷(QGS)為66nC,柵漏電荷(QGD)為63nC。柵極電阻(RG)在f = 1MHz時(shí)為1.6Ω至2Ω。

開(kāi)關(guān)特性

該MOSFET的開(kāi)關(guān)特性表現(xiàn)出色。開(kāi)啟延遲時(shí)間(td(ON))為22ns至35ns,上升時(shí)間(tr)為20ns至32ns,關(guān)斷延遲時(shí)間(td(OFF))為42ns至67ns,下降時(shí)間(tf)為9ns至18ns。開(kāi)啟開(kāi)關(guān)損耗(EON)為461μJ,關(guān)斷開(kāi)關(guān)損耗(EOFF)為400μJ,總開(kāi)關(guān)損耗(Etot)為861μJ。

漏源二極管特性

連續(xù)漏源二極管正向電流(ISD)在VGS = - 5V、TJ = 25°C時(shí)為46A,脈沖漏源二極管正向電流(ISDM)為392A。正向二極管電壓(VSD)在VGS = - 5V、ISD = 30A、TJ = 25°C時(shí)為3.7V,反向恢復(fù)時(shí)間(trr)為31ns,反向恢復(fù)電荷(Qrr)為228nC。

封裝與訂購(gòu)信息

NVBG020N120SC1采用D2PAK - 7L封裝,這種封裝具有良好的散熱性能和機(jī)械穩(wěn)定性。訂購(gòu)時(shí),每盤800個(gè),采用帶盤包裝。如果需要了解帶盤規(guī)格的詳細(xì)信息,可以參考安森美的Tape and Reel Packaging Specifications Brochure,BRD8011/D。

總結(jié)

安森美(onsemi)的碳化硅MOSFET NVBG020N120SC1憑借其出色的電氣性能、豐富的特性和廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景,為電子工程師在設(shè)計(jì)高電壓、大電流的電路時(shí)提供了一個(gè)優(yōu)秀的選擇。在實(shí)際應(yīng)用中,工程師需要根據(jù)具體的設(shè)計(jì)要求,合理選擇器件,并結(jié)合其最大額定值、熱阻和電氣特性等參數(shù),進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì),以確保電路的性能和可靠性。你在設(shè)計(jì)中是否使用過(guò)類似的碳化硅MOSFET呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見(jiàn)解。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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