動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-07-10 16:01

  利用透射電子顯微鏡（TEM）能夠觀察到什么？

  

  超高分辨率形貌與結(jié)構(gòu)信息1.微觀形貌TEM能夠直接觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)，包括顆粒的形狀、大小、分布、表面特征、孔洞以及缺陷（如位錯(cuò)、層錯(cuò)、晶界、相界等）。這些信息對(duì)于理解材料的基本性質(zhì)和性能至關(guān)重要。例如，在納米材料的研究中，顆粒的形狀和大小直接影響其催化活性、光學(xué)性質(zhì)和電學(xué)性質(zhì)。通過(guò)TEM觀察，可以清晰地看到納米顆粒的均勻性、團(tuán)聚情況以及表面修飾的效果，從而

  TEM 電子顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-07-09 15:14

  EBSD在織構(gòu)分析中的作用

  

  微觀結(jié)構(gòu)的重要性組織結(jié)構(gòu)是指構(gòu)成材料的微觀結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)包括但不限于晶粒的大小、形狀、分布以及晶粒的取向等。這些微觀特征直接影響材料的宏觀性能，如強(qiáng)度、韌性、導(dǎo)電性、熱導(dǎo)率等。因此，深入理解材料的組織結(jié)構(gòu)對(duì)于材料的設(shè)計(jì)、加工和應(yīng)用至關(guān)重要。晶體取向晶體取向是組織結(jié)構(gòu)研究中的一個(gè)核心概念。晶體取向描述的是晶體中晶胞的特定方向與空間坐標(biāo)軸之間的相對(duì)位置關(guān)系。晶胞

  材料 結(jié)構(gòu)

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• 發(fā)布了文章 2025-07-09 15:09

  PCB表面處理工藝詳解

  

  在PCB（印刷電路板）制造過(guò)程中，銅箔因長(zhǎng)期暴露在空氣中極易氧化，這會(huì)嚴(yán)重影響PCB的可焊性與電性能。因此，表面處理工藝在PCB生產(chǎn)中扮演著至關(guān)重要的角色。下面將詳細(xì)介紹幾種常見(jiàn)的PCB表面處理工藝，幫助讀者深入了解每種工藝的特點(diǎn)與適用場(chǎng)景。噴錫（HotAirSolderLeveling，HASL）噴錫是將熔融的錫鉛焊料覆蓋在PCB表面，并通過(guò)熱風(fēng)整平形成保

  pcb PCB 印刷電路板 表面處理

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• 發(fā)布了文章 2025-07-08 15:33

  聚焦離子束技術(shù)：微納米制造與分析的利器

  

  聚焦離子束技術(shù)概述聚焦離子束（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）技術(shù)是微納米尺度制造與分析領(lǐng)域的一項(xiàng)關(guān)鍵核心技術(shù)。其原理是利用靜電透鏡將離子源匯聚成極為精細(xì)的束斑，束斑直徑可精細(xì)至約5納米。當(dāng)這束高能離子束轟擊材料表面時(shí)，能夠在納米尺度上對(duì)材料實(shí)施剝離、沉積、注入、切割和改性等一系列操作。FIB/SEM雙束系統(tǒng)加工過(guò)程FIB/SEM雙束系統(tǒng)是聚焦離子束技

  fib 離子束 聚焦

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• 發(fā)布了文章 2025-07-08 15:29

  LED失效的典型機(jī)理分析

  

  一、芯片缺陷在LED器件的失效案例中，芯片缺陷是一個(gè)不容忽視的因素。失效的LED器件表現(xiàn)出正向壓降（Vf）增大的現(xiàn)象，在電測(cè)過(guò)程中，隨著正向電壓的增加，樣品仍能發(fā)光，這暗示著LED內(nèi)部可能存在電連接不良的問(wèn)題。LED芯片和負(fù)極金屬域開(kāi)裂的形貌經(jīng)過(guò)固封、研磨等處理后，通過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM）觀察發(fā)現(xiàn)，金屬化層從LED芯片上開(kāi)裂，而非鍵合絲與金屬化層之間開(kāi)裂

  led LED器件 失效

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• 發(fā)布了文章 2025-07-08 15:27

  電子產(chǎn)品概述及有害物質(zhì)限制使用管理

  

  產(chǎn)品與電氣產(chǎn)品分類電子產(chǎn)品是以電能為工作基礎(chǔ)的相關(guān)產(chǎn)品，涵蓋了眾多品類，包括手表、智能手機(jī)、電話、電視機(jī)、影碟機(jī)（VCD、SVCD、DVD）、錄像機(jī)、攝錄機(jī)、收音機(jī)、收錄機(jī)、組合音箱、激光唱機(jī)（CD）、電腦、游戲機(jī)、移動(dòng)通信產(chǎn)品等。電氣產(chǎn)品則包括過(guò)電壓保護(hù)器、電流互感器二次開(kāi)路保護(hù)器、凝露控制器、智能溫濕度控制器、開(kāi)關(guān)柜智能操控裝置、干變溫控器、各類數(shù)顯電測(cè)

  電子產(chǎn)品 電氣

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• 發(fā)布了文章 2025-07-07 15:55

  透射電子顯微鏡(TEM)的工作原理

  

  什么是透射電子顯微鏡？透射電子顯微鏡（TEM）的原理根基在于電子與物質(zhì)的相互作用。電子槍發(fā)射出的電子束，經(jīng)由電磁透鏡系統(tǒng)聚焦與加速，達(dá)到高能量水平（80KeV到300keV），隨后精準(zhǔn)地照射到超薄樣品之上。電子束穿透樣品后，部分電子繼續(xù)前行，穿過(guò)物鏡、成像透鏡等一系列透鏡系統(tǒng)，最終在熒光屏、感光膠片或CCD相機(jī)等設(shè)備上形成可供記錄的圖像。電子波長(zhǎng)極短，遠(yuǎn)小于

  TEM 電子顯微鏡 透射電子顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-07-07 15:53

  LED芯片失效和封裝失效的原因分析

  

  一隨著LED技術(shù)的迅猛發(fā)展，其在照明領(lǐng)域的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，LED以其高效、節(jié)能、環(huán)保等優(yōu)勢(shì)被視為傳統(tǒng)照明技術(shù)的替代品。然而，LED產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中仍然面臨諸多挑戰(zhàn)，尤其是穩(wěn)定性和可靠性問(wèn)題。LED芯片失效和封裝失效的原因，并分析其背后的物理機(jī)制。金鑒實(shí)驗(yàn)室是一家專注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu)，致力于改善LED品質(zhì)，服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個(gè)環(huán)節(jié)，使LED產(chǎn)業(yè)健康

  led 封裝 芯片失效分析

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• 發(fā)布了文章 2025-07-04 11:42

  壓敏電阻與氣體放電管的特性及工作原理

  

  壓敏電阻的特性及工作原理壓敏電阻（MOV）是一種典型的鉗位型過(guò)壓器件，其工作原理基于其非線性特性。當(dāng)過(guò)電壓出現(xiàn)在壓敏電阻的兩端時(shí)，壓敏電阻能夠?qū)㈦妷恒Q位到一個(gè)相對(duì)固定的電壓值，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)后級(jí)電路的保護(hù)。壓敏電阻的主要參數(shù)1.壓敏電壓（U1mA）指在壓敏電阻上通過(guò)1mA直流電流時(shí)所對(duì)應(yīng)的電壓值。當(dāng)電壓達(dá)到或超過(guò)這個(gè)值時(shí)，壓敏電阻由高阻態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)榈妥钁B(tài)，開(kāi)始發(fā)揮其

  壓敏電阻 氣體放電管 電壓

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• 發(fā)布了文章 2025-07-03 21:29

  汽車LED燈珠光強(qiáng)測(cè)試

  

  在現(xiàn)代汽車照明系統(tǒng)中，LED燈珠憑借其高效、節(jié)能、壽命長(zhǎng)等諸多優(yōu)勢(shì)，已然成為主流選擇。然而，LED燈珠的光強(qiáng)性能對(duì)于汽車照明的安全性、可靠性和用戶體驗(yàn)起著決定性作用。光強(qiáng)測(cè)試作為衡量LED燈珠性能的核心環(huán)節(jié)，其重要性不言而喻，它直接關(guān)乎汽車照明系統(tǒng)的整體質(zhì)量與性能表現(xiàn)。LED燈珠光強(qiáng)測(cè)試的重要性1.確保照明效果和安全性汽車照明系統(tǒng)肩負(fù)著為駕駛員提供清晰視野的

  led 汽車

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