動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-05-14 14:37

  深入剖析典型潮敏元器件分層問題

  

  潮敏物料主要是指非密封封裝的IC，受潮后主要失效模式為內(nèi)部分層。在電子組裝領(lǐng)域，潮敏元器件一直是影響產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵因素之一。這些元器件受潮后容易出現(xiàn)各種失效問題，給生產(chǎn)過程帶來了諸多挑戰(zhàn)。潮敏元器件失效現(xiàn)象描述1.QFN元器件內(nèi)部分層QFN（無引腳四方扁平封裝）元器件是一種常見的潮敏元器件。在某次生產(chǎn)中，發(fā)現(xiàn)某單板上的QFN元器件出現(xiàn)內(nèi)部分層現(xiàn)象。該

  IC 元器件

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• 發(fā)布了文章 2025-05-13 17:55

  電子元器件的定義、選用與控制要點解析

  

  電子元器件的定義在信息技術(shù)飛速發(fā)展的當(dāng)下，電子元器件的定義和內(nèi)涵也在持續(xù)拓展與深化。電子元器件在電子設(shè)備中扮演著至關(guān)重要的角色，其選用與控制的合理性直接關(guān)系到產(chǎn)品的性能、可靠性和使用壽命。美國軍標(biāo)MIL-STD-1547A《航天器與運載器用電子元器件、材料和工藝》將電子元器件廣義地定義為包含電氣、電磁、機電和光電元器件的范疇。這些元器件與計算機、電源、導(dǎo)航儀

  電子元器件 航天器

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• 發(fā)布了文章 2025-05-13 17:54

  詳細解析AEC-Q102認證

  

  AEC-Q102是由汽車電子委員會（AEC）制定的車用光電器件可靠性標(biāo)準(zhǔn)，于2017年首次發(fā)布，并在2020年更新至RevA版本。該標(biāo)準(zhǔn)的核心目標(biāo)是驗證LED、激光二極管、光耦等光電器件在極端汽車環(huán)境（如溫度、濕度、振動）下的長期穩(wěn)定性和安全性，確保這些器件能夠滿足車載環(huán)境15年的使用壽命要求。AEC-Q102認證已成為汽車供應(yīng)鏈的準(zhǔn)入門檻，通過該認證的產(chǎn)品

  AEC 汽車電子 認證

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• 發(fā)布了文章 2025-05-12 15:44

  RoHS與ELV有什么差異？

  

  RoHS的標(biāo)準(zhǔn)RoHS（RestrictionofHazardousSubstances）是一項由歐盟立法制定的強制性標(biāo)準(zhǔn)，全稱為《關(guān)于限制在電子電氣設(shè)備中使用某些有害成分的指令》。該標(biāo)準(zhǔn)的核心目標(biāo)是限制在電子電氣產(chǎn)品制造過程中使用特定的有害物質(zhì)，以減少對環(huán)境和人類健康的潛在危害。RoHS標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用范圍RoHS指令涵蓋了廣泛的產(chǎn)品類別，包括但不限于大型家用電

  RoHS 電子電子

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• 發(fā)布了文章 2025-05-09 16:51

  案例解析||照明LED的失效模式問題及改善措施

  

  LED是一種直接將電能轉(zhuǎn)換為可見光和輻射能的發(fā)光器件，具有耗電量小、發(fā)光效率高、體積小等優(yōu)點，目前已經(jīng)逐漸成為了一種新型高效節(jié)能產(chǎn)品，并且被廣泛應(yīng)用于顯示、照明、背光等諸多領(lǐng)域。近年來，隨著LED技術(shù)的不斷進步，其發(fā)光效率也有了顯著的提升，現(xiàn)有的藍光LED系統(tǒng)效率可以達到60%，而白光LED的光效已經(jīng)超過150lm/W，這些特點都使得LED受到越來越多的關(guān)注

  led 發(fā)光器件 失效模式

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• 發(fā)布了文章 2025-05-09 16:49

  AEC-Q102之推拉力測試

  

  在汽車智能化與電動化的浪潮中，光電半導(dǎo)體器件（如LED、激光雷達、光傳感器等）的可靠性直接決定了車輛的安全性與性能。AEC-Q102作為汽車電子領(lǐng)域針對分立光電半導(dǎo)體的核心測試標(biāo)準(zhǔn)，其推拉力測試是評估器件機械強度的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。推拉力測試的技術(shù)原理與標(biāo)準(zhǔn)要求推拉力測試旨在評估半導(dǎo)體器件內(nèi)部連接結(jié)構(gòu)（如鍵合線、焊點、端子）的機械強度，防止因振動、沖擊或組裝應(yīng)力導(dǎo)致

  AEC 推拉力測試機 汽車電子

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• 發(fā)布了文章 2025-05-09 16:47

  透射電子顯微鏡（TEM）與聚焦離子束技術(shù)（FIB）在材料分析中的應(yīng)用

  

  什么是透射電子顯微鏡（TEM）透射電子顯微鏡（TEM）是一種功能強大的分析工具，可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的化學(xué)信息：能量色散X射線分析（EDX）、電子能量損失光譜（EELS）和高角度環(huán)形暗場成像（HAADF）。金鑒實驗室配備先進的TEM設(shè)備，擁有經(jīng)驗豐富的操作團隊，可為客戶提供專業(yè)的材料分析服務(wù)。1.能量色散X射

  TEM 材料 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-05-08 14:30

  元器件失效分析有哪些方法？

  

  失效分析的定義與目標(biāo)失效分析是對失效電子元器件進行診斷的過程。其核心目標(biāo)是確定失效模式和失效機理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式，例如開路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等；而失效機理則是指導(dǎo)致失效的物理或化學(xué)過程，如疲勞、腐蝕、過應(yīng)力等。通過失效分析，我們能夠提出有效的糾正措施，防止同類問題再次出現(xiàn)，從而提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。失效分析的程序1.收集

  元器件 失效分析

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• 發(fā)布了文章 2025-05-08 14:26

  聚焦離子束技術(shù)：原理、應(yīng)用與展望

  

  聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam，簡稱FIB）作為一種前沿的微觀加工與分析技術(shù)，近年來在眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。金鑒實驗室憑借其專業(yè)的檢測技術(shù)和服務(wù)，成為了眾多企業(yè)在半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域的首選合作伙伴。FIB技術(shù)的基本原理聚焦離子束技術(shù)的核心在于將特定元素（如鎵元素）的離子化為帶正電的離子（Ga+），并通過電場加速使其獲得高能量。隨后，借助靜電透鏡系統(tǒng)

  fib 檢測 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-05-07 14:11

  AEC-Q102認證之器件可焊性

  

  可焊性測試在汽車電子中的關(guān)鍵地位在汽車電子行業(yè)，AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)為分立光電半導(dǎo)體元件的可靠性測試提供了全面而嚴(yán)格的規(guī)范。其中，可焊性測試作為核心環(huán)節(jié)之一，對于保障產(chǎn)品質(zhì)量和性能發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。汽車電子設(shè)備在運行過程中需要面對復(fù)雜多變的工作環(huán)境，如高溫、高濕、振動等，而良好的可焊性是確保光電半導(dǎo)體器件與電路板之間實現(xiàn)可靠電氣連接和機械固定的基礎(chǔ)。只有

  AEC 汽車電子 認證

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