動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-10-22 14:33

  半導體器件的靜電放電（ESD）失效機理與防護設計

  

  靜電在自然界中無處不在。從芯片制造、封裝測試、運輸存儲到組裝使用，靜電可能在任一環(huán)節(jié)對芯片造成不可逆損。半導體ESD失效的四大特征1.隱蔽性（1）人體通常需2~3KV靜電才能感知，而現(xiàn)代半導體器件可能僅需不到20V即會受損。（2）在無塵室中，技術人員身著防靜電服時，仍可能攜帶足以損傷芯片的靜電。2.潛在性（1）部分受損元器件外觀完好，初始功能正常，卻已留下“

  ESD 半導體器件 靜電

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• 發(fā)布了文章 2025-10-20 15:33

  什么是溫度沖擊試驗

  

  在當今科技飛速發(fā)展的時代，各類產品面臨著日益復雜的使用環(huán)境。其中，溫度急劇變化對產品質量和壽命構成了嚴峻挑戰(zhàn)。溫度沖擊試驗，作為一項重要的環(huán)境可靠性測試，正成為眾多行業(yè)不可或缺的檢測環(huán)節(jié)。溫度沖擊試驗概述溫度沖擊試驗，又稱為熱沖擊試驗或溫度循環(huán)試驗，廣泛應用于科研機構、高等院校、工業(yè)生產單位及軍工領域。這項測試主要評估各種工業(yè)產品在快速溫度變化環(huán)境下的適應能

  沖擊試驗 測試 溫度測試

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• 發(fā)布了文章 2025-10-20 15:31

  聚焦離子束（FIB）技術在電池材料研究中的應用

  

  橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束（FIB）技術對電池材料進行精確切割，能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內部不同層次的結構特征，從而獲取材料在特定平面上的微觀信息。例如，通過橫截面分析可以清晰地觀察到不同成分的分布情況，了解各成分在材料內部的相對位置和分布范圍；同時，還能觀察到相界面的形態(tài)，確定不同相之間的接觸關系

  fib TEM 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-10-20 15:29

  MSD失效的“爆米花”效應

  

  在電子制造領域，潮濕敏感器件（MSD）的失效已成為影響產品最終質量與長期可靠性的關鍵挑戰(zhàn)之一。隨著電子產品不斷向輕薄化、高密度化方向發(fā)展，MSD在使用與存儲過程中因吸濕導致的界面剝離、裂紋擴展乃至功能失效等問題日益突出，成為導致產品故障的重要因素。什么是潮濕敏感器件潮濕敏感器件，簡稱MSD，特指那些對環(huán)境中水分極為敏感的電子元器件，尤其是采用塑料封裝的表面貼

  MSD 敏感器件 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2025-10-17 17:38

  常見的電子元器件失效分析匯總

  

  電子元器件失效可能導致電路功能異常，甚至整機損毀，耗費大量調試時間。部分半導體器件存在外表完好但性能劣化的“軟失效”，進一步增加了問題定位的難度。電阻器失效1.開路失效：最常見故障。由過電流沖擊導致，具體表現(xiàn)為電阻膜燒毀或脫落、基體斷裂、引線帽與電阻體脫離。2.阻值漂移：隱蔽性失效。源于電阻膜缺陷或退化、基體中可動離子影響、保護涂層不良，導致阻值超出規(guī)范，電

  失效分析 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2025-10-16 15:00

  高低溫循環(huán)測試對電子元件壽命有什么影響

  

  在電子產品無處不在的今天，微小元件的可靠性直接關系整個系統(tǒng)的成敗。小到手機，大到汽車、醫(yī)療及工業(yè)設備，任何元件的失效都可能造成設備癱瘓。要預知元件壽命，高低溫循環(huán)測試是關鍵所在。什么是高低溫循環(huán)測試？高低溫循環(huán)測試是一種環(huán)境可靠性測試方法，通過讓電子元件在設定的高溫和低溫極端值之間循環(huán)變化，模擬產品在運輸、存儲和使用過程中可能遇到的溫度變化環(huán)境。金鑒實驗室擁

  循環(huán)測試 電子產品 電子元件

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• 發(fā)布了文章 2025-10-16 14:58

  聚焦離子束（FIB）技術：原理、應用與制樣全解析

  

  在微觀世界的探索中，科學家們需要極其精密的工具來觀察和分析材料的內部結構與成分。聚焦離子束（FIB）技術就是這樣一把打開微觀世界大門的鑰匙，它通過將離子束聚焦到納米尺度，實現(xiàn)對材料的精確加工和分析。原理與簡介聚焦離子束系統(tǒng)利用電透鏡將離子束聚焦成非常小的尺寸，目前商用系統(tǒng)通常采用液相金屬離子源（LMIS），其金屬材質為鎵（Ga）。為什么選擇鎵呢？這是因為它具

  fib 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-10-16 14:56

  LED死燈原因到底有多少種?

  

  于LED產業(yè)的科研檢測機構，能夠對LED進行嚴格的檢測，致力于為客戶提供高質量的測試服務，為LED在各個領域的可靠應用提供堅實的質量保障。以金鑒接觸的失效分析大數據顯示，LED死燈的原因可能過百種，我們僅以LED光源為例，從LED光源的五大原物料（芯片、支架、熒光粉、固晶膠、封裝膠和金線）的入手，介紹部分可能導致死燈的原因。芯片1.芯片抗靜電能力差LED燈珠

  led 死燈

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• 發(fā)布了文章 2025-10-15 16:26

  基于振動與沖擊試驗的機械結構疲勞可靠性評估

  

  振動環(huán)境堪稱機械結構面臨的終極考驗之一。從噴氣式發(fā)動機的持續(xù)高頻振動，到高速列車與軌道接觸產生的復雜激勵，再到工業(yè)生產線設備永不停歇的運轉，這些動態(tài)載荷無時無刻不在考驗著工程結構的耐久極限。在長期振動作用下，即使是最堅固的材料也會逐漸積累損傷，最終導致災難性失效。因此，通過科學的試驗手段，在產品設計驗證階段精準評估其抗振與抗沖擊能力，是確保產品可靠性、安全性

  沖擊試驗 振動 機械

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• 發(fā)布了文章 2025-10-15 16:25

  熱沖擊試驗對車燈有什么影響？

  

  什么是熱沖擊試驗？車輛外部照明和光信號裝置的熱沖擊試驗，是一項針對車燈環(huán)境可靠性的關鍵測試。它通過模擬車輛在日常使用中可能遭遇的急劇溫度變化，將車燈樣品交替暴露于極端高溫和低溫環(huán)境中，進行多次循環(huán)測試。該測試的主要目的是檢驗車燈在快速溫度變化條件下能否保持結構完整性及功能穩(wěn)定性。測試能夠識別出材料開裂、變形、密封失效、光學性能異常以及電路故障等潛在問題，從而

  沖擊試驗 車燈

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