動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-05-06 15:06

  雪崩二極管：汽車電子系統(tǒng)中的關鍵光檢測元件

  

  雪崩二極管的原理與結構雪崩二極管（AvalanchePhotodiode，簡稱APD）是一種利用載流子雪崩倍增效應來放大光電信號的光檢測二極管。其核心原理是利用載流子雪崩倍增效應來放大光電信號。在高反向偏壓下工作時，光生載流子在強電場中獲得足夠的動能，與晶格碰撞產(chǎn)生新的電子-空穴對，從而實現(xiàn)載流子的雪崩倍增，顯著增加電流增益。這種倍增效應使得APD在低光強條

  二極管 汽車電子 雪崩二極管

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• 發(fā)布了文章 2025-05-06 15:03

  聚焦離子束技術在透射電子顯微鏡樣品制備中的應用

  

  聚焦離子束技術聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術是一種先進的微觀加工與分析手段，廣泛應用于材料科學、納米技術以及半導體研究等領域。FIB核心原理是利用離子源產(chǎn)生高能離子束，通常以鎵（Ga）離子為主，部分設備還配備氦（He）或氖（Ne）離子源。離子束在轟擊樣品時，會產(chǎn)生濺射現(xiàn)象，從而實現(xiàn)材料的精準去除，同時通過二次電子信號獲取樣品的形貌

  fib 電子顯微鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-04-30 15:20

  FIB 技術在電池材料研究中的相關應用

  

  橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束（FIB）技術對電池材料進行精確切割，能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部不同層次的結構特征，從而獲取材料在特定平面上的微觀信息。例如，通過橫截面分析可以清晰地觀察到不同成分的分布情況，了解各成分在材料內(nèi)部的相對位置和分布范圍；同時，還能觀察到相界面的形態(tài)，確定不同相之間的接觸關系

  fib TEM 電池材料

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• 發(fā)布了文章 2025-04-29 17:28

  AEC-Q102中WHTOL及H3TRB試驗的異同

  

  汽車電子行業(yè)中光電半導體的要求在汽車電子行業(yè)我們熟知的光電半導體器件可靠性是確保車輛安全和性能的關鍵因素之一。隨著汽車技術的進步，這些器件不僅要在各種氣候條件下穩(wěn)定工作，還要承受來自車輛內(nèi)部和外部的多種應力。AEC-Q102標準為這些器件提供了一套全面的測試和評估程序，以確保它們能夠滿足汽車行業(yè)的嚴格要求。WHTOL測試的重要性AEC-Q102標準中的一個重

  AEC 半導體 試驗

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• 發(fā)布了文章 2025-04-29 17:26

  元器件失效之推拉力測試

  

  元器件失效之推拉力測試在當代電子設備的生產(chǎn)與使用過程中，組件的故障不僅可能降低產(chǎn)品的性能，還可能導致產(chǎn)品徹底失效，給用戶帶來麻煩和經(jīng)濟損失，同時對制造商的聲譽和成本也會造成負面影響。為什么要做推拉力測試？在電子元件的焊接、運輸和使用過程中，它們經(jīng)常遭受到振動、沖擊以及彎曲等外部力量的干擾，這些力量可能在焊點或元件上產(chǎn)生機械應力，進而有可能導致焊點斷裂或元件損

  pcb PCB 元器件 推拉力測試機

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• 發(fā)布了文章 2025-04-28 20:18

  LED芯片質(zhì)量檢測技術之X-ray檢測

  

  X射線檢測在光電半導體領域，LED芯片作為核心技術，其質(zhì)量至關重要。隨著制造工藝的不斷進步，LED芯片的結構日益復雜，內(nèi)部潛在缺陷的風險也隨之增加。盡管在常規(guī)工作條件下，這些缺陷可能不會明顯影響芯片的性能，但在高電流、高溫等極端環(huán)境下，它們可能引發(fā)功能失效，甚至導致整個LED系統(tǒng)損壞。因此，在LED芯片制造和應用過程中，利用無損檢測技術對內(nèi)部結構進行詳細檢查

  LED芯片 x-ray 檢測技術

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• 發(fā)布了文章 2025-04-28 20:17

  鹵素檢測：PCB有鹵與無鹵的差異

  

  在當代電子產(chǎn)業(yè)中，印制電路板（PCB）是核心組件之一，其材料與工藝的革新對電子設備的性能與可持續(xù)性有著深遠影響。有鹵與無鹵PCB作為當前市場上的兩大類，各自有著獨特的特性與應用范圍。有鹵與無鹵PCB概述1.有鹵PCB有鹵PCB是指在生產(chǎn)過程中使用了含有鹵素（如氯、溴等）的阻燃劑。當電路板遭遇高溫或燃燒時，這些阻燃劑會釋放鹵素氣體，從而有效抑制火焰的蔓延，起到

  pcb PCB 鹵素 檢測

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• 發(fā)布了文章 2025-04-28 20:16

  AEC-Q之高壓蒸煮試驗（PCT）

  

  在現(xiàn)代電子技術飛速發(fā)展的背景下，電子元件的性能和可靠性直接決定了各類設備的穩(wěn)定性和使用壽命。高壓蒸煮試驗（PCT）作為一種關鍵的測試手段，為評估電子元件在極端環(huán)境下的表現(xiàn)提供了科學依據(jù)。模擬極端環(huán)境的關鍵技術PCT試驗的核心在于模擬電子元件在實際使用中可能遭遇的高濕、高溫和高壓環(huán)境。通過將待測元件置于100%相對濕度（R.H.）的飽和蒸汽環(huán)境中，并施加一定的

  PCT 模擬電子 環(huán)境測試

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• 發(fā)布了文章 2025-04-28 20:14

  聚焦離子束技術：納米加工與分析的利器

  

  聚焦離子束技術（FocusedIonBeam,FIB）作為一種前沿的納米加工與分析手段，憑借其獨特的優(yōu)勢在多個領域展現(xiàn)出強大的應用潛力。本文將從技術原理、應用領域、測試項目以及制樣流程等方面，對聚焦離子束技術進行全面剖析，以期為相關領域的研究人員和從業(yè)者提供有價值的參考。聚焦離子束技術核心聚焦離子束技術的核心在于利用電透鏡將離子束聚焦成極小尺寸的離子束，進而

  fib 離子束 聚焦

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• 發(fā)布了文章 2025-04-27 15:47

  LED燈珠變色發(fā)黑與失效原因分析

  

  LED光源發(fā)黑現(xiàn)象LED光源以其高效、節(jié)能、環(huán)保的特性，在照明領域得到了廣泛應用。然而，LED光源在使用過程中出現(xiàn)的發(fā)黑現(xiàn)象，卻成為了影響其性能和壽命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED光源黑化是各大LED公司經(jīng)常碰到的問題。然而光源黑化只是表象，硫化、氯化、溴化、氧化、碳化和化學不兼容化等原因均會導致LED光源發(fā)黑的現(xiàn)象。由于缺乏專業(yè)的檢測設備和

  led LED光源 LED燈珠

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