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金鑒實驗室

金鑒實驗室是光電半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測機構(gòu)之一

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金鑒實驗室文章

  • 聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)的應(yīng)用領(lǐng)域2025-04-01 18:00

    聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)作為一種前沿的微觀分析與加工工具,將聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)深度融合,兼具高分辨率成像和精密微加工能力,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工業(yè)、生命科學(xué)及納米技術(shù)等領(lǐng)域,成為現(xiàn)代科研與工業(yè)不可或缺的重要設(shè)備。FIB-SEM其獨特的雙束系統(tǒng)設(shè)計,使SEM能夠?qū)崟r監(jiān)控FIB操作,實現(xiàn)了高分辨率電子束成像與精細離子
    fib SEM 顯微鏡 428瀏覽量
  • 最新!歐盟 RoHS 與 REACH 法規(guī)解讀2025-03-31 13:56

    RoHS指令:電子電氣產(chǎn)品的綠色標(biāo)尺RoHS指令,全稱為《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》,是歐盟為規(guī)范電子電氣產(chǎn)品而設(shè)立的重要環(huán)保法規(guī)。自2006年7月1日起,歐盟市場上的新電子電氣設(shè)備被明確禁止使用鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯(PBB)和多溴二苯醚(PBDE)等六種有害物質(zhì)。這些物質(zhì)在電子設(shè)備的生產(chǎn)過程中曾被廣泛使用,例如鉛用于鍍鉻、鉻酸
  • UL阻燃標(biāo)準常見誤區(qū)2025-03-31 13:53

    UL阻燃標(biāo)準的復(fù)雜性與誤解根源UL阻燃標(biāo)準作為國際上廣泛使用的材料阻燃性能評估體系,其重要性不言而喻。然而,由于該標(biāo)準源自美國,其專業(yè)術(shù)語和復(fù)雜的技術(shù)細節(jié)在翻譯和傳播過程中,容易引發(fā)理解上的偏差,每個廠家對“V0”級等關(guān)鍵指標(biāo)有著不同的定義和判定標(biāo)準。這種混亂的局面,不僅給上游原材料供應(yīng)商和下游產(chǎn)品制造商帶來了極大的溝通成本和質(zhì)量把控難題,也使得整個產(chǎn)業(yè)鏈在
    UL 阻燃 325瀏覽量
  • 焊接質(zhì)量檢測方法2025-03-28 12:19

    焊接作為一種關(guān)鍵的金屬連接工藝,其質(zhì)量直接決定了產(chǎn)品的整體性能和使用壽命。因此,準確檢測焊接質(zhì)量對于保障產(chǎn)品安全性和可靠性至關(guān)重要。目視檢查目視檢查是焊接質(zhì)量檢測的第一步,也是最為直觀和簡便的方法。通過肉眼觀察焊縫的外觀特征,可以初步判斷焊接工藝是否符合要求。拉伸試驗拉伸試驗是檢測焊接接頭力學(xué)性能的重要方法之一。通過將焊接試樣置于拉伸試驗機中,對其施加拉力,
    焊接 質(zhì)量檢測 638瀏覽量
  • FIB-SEM雙束系統(tǒng):多領(lǐng)域應(yīng)用的前沿技術(shù)2025-03-28 12:14

    系統(tǒng)構(gòu)成與工作原理FIB-SEM雙束系統(tǒng)是一種集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體的綜合型分析與表征設(shè)備。其基本構(gòu)成是將單束聚焦離子束系統(tǒng)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合而成。在常見的雙束設(shè)備中,電子束垂直安裝,離子束與電子束成一定夾角安裝,兩者的焦平面交點被稱為共心高度位置。當(dāng)樣品處于共心高度時,可同時實現(xiàn)電子束成像和離子束加工,并可通過樣品臺的傾轉(zhuǎn)使樣品表面
    fib SEM 電子束 376瀏覽量
  • 一文了解材料耐候老化測試2025-03-27 10:29

    高分子材料老化現(xiàn)象高分子材料在其整個生命周期,包括合成、貯存、加工以及最終應(yīng)用階段,都面臨著變質(zhì)的風(fēng)險,這種變質(zhì)表現(xiàn)為材料性能的惡化。具體而言,可能出現(xiàn)泛黃、相對分子質(zhì)量降低、制品表面龜裂、光澤喪失等問題,更為嚴重的是力學(xué)性能的大幅下降,如沖擊強度、撓曲強度、拉伸強度和伸長率等,從而影響制品的正常使用,這種現(xiàn)象被稱為塑料的化學(xué)老化,簡稱老化。從化學(xué)角度來看,
    材料 老化測試 381瀏覽量
  • LM-80測試:評估LED燈具的壽命與性能2025-03-27 10:26

    LM80測試簡介LM80測試是由北美照明工程協(xié)會(IESNA)與美國國家標(biāo)準學(xué)會(ANSI)聯(lián)合發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準,主要用于評估LED器件的流明維持率和顏色維持性能。這一標(biāo)準為LED產(chǎn)品的壽命和性能評估提供了科學(xué)且統(tǒng)一的方法,被行業(yè)內(nèi)公認為“黃金標(biāo)準”。對于LED制造商而言,LM80測試是產(chǎn)品性能的重要證明,也是申請能效認證(如能源之星、中國能效標(biāo)識)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)
    LED燈具 LM80 測試 687瀏覽量
  • 聚焦離子束技術(shù):原理、特性與應(yīng)用2025-03-27 10:24

    聚焦離子束(Focused-Ion-Beam,FIB)技術(shù)是一種先進的微納加工與分析手段。其基本原理是通過電場和磁場的作用,將離子束聚焦到亞微米甚至納米級別,并利用偏轉(zhuǎn)和加速系統(tǒng)控制離子束的掃描運動,實現(xiàn)微納圖形的監(jiān)測分析以及微納結(jié)構(gòu)的無掩模加工。FIB系統(tǒng)基本組成FIB系統(tǒng)由多個關(guān)鍵部分組成,如圖1所示。離子源是系統(tǒng)的核心,通常采用液態(tài)金屬離子源,如鎵離子
    fib 離子束 622瀏覽量
  • 紫外線對產(chǎn)品的影響及紫外老化試驗的重要性2025-03-26 15:34

    紫外線對產(chǎn)品的危害紫外線,作為電磁波譜中紫光之外的不可見光,其對產(chǎn)品的破壞性不容忽視。在眾多外界因素中,紫外線是導(dǎo)致材料性能劣變的關(guān)鍵因素之一。材料或產(chǎn)品在加工、貯存或使用過程中,會受到熱、光、氧、機械應(yīng)力、臭氧、有害金屬離子、輻射等多種外界因素的影響,從而發(fā)生物理或化學(xué)變化,逐漸失去使用價值。而紫外線造成的損傷類型多種多樣,包括褪色、光澤消失、粉化、龜裂、
    UV 紫外 紫外線 578瀏覽量
  • LED實用指南:常見導(dǎo)熱系數(shù)測試方法比較2025-03-26 15:32

    眾所周知,隨著溫度升高,電子器件可靠性和壽命將呈指數(shù)規(guī)律下降。對于LED產(chǎn)品和器件來說,選用導(dǎo)熱系數(shù)盡可能小的原材料是改善產(chǎn)品散熱狀況、提高產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。目前,導(dǎo)熱系數(shù)的測試方法多種多樣,各有優(yōu)勢與局限性。本文將深入剖析兩種主流的測試方法——激光閃射法(瞬態(tài)法)與穩(wěn)態(tài)熱流法,并提供科學(xué)合理的優(yōu)選策略,以助于研究人員和工程師在實際工作中做出明智的選