文章
-
硅襯底的清洗步驟一覽2025-09-03 10:05
-
從襯底到外延:碳化硅材料的層級躍遷與功能分化2025-09-03 10:01
-
濕法刻蝕的工藝指標有哪些2025-09-02 11:49
-
濕法腐蝕工藝處理硅片的原理介紹2025-09-02 11:45
-
濕法清洗尾片效應是什么原理2025-09-01 11:30
-
潔凈工作臺塵埃粒子標準是多少2025-08-26 13:42
-
標準清洗液sc1成分是什么2025-08-26 13:34
-
半導體清洗選型原則是什么2025-08-25 16:43
半導體清洗設備的選型是一個復雜的過程,需綜合考慮多方面因素以確保清洗效果、效率與兼容性。以下是關鍵原則及實施要點:污染物特性適配性污染物類型識別:根據目標污染物的種類(如顆粒物、有機物、金屬離子或氧化層)選擇對應的清洗方式。例如,RCA法中的SC-1溶液擅長去除顆粒和有機殘留,而稀HF則用于精確蝕刻二氧化硅層。對于頑固碳沉積物,可能需要采用高溫Piranha清洗設備 372瀏覽量 -
如何選擇合適的濕法清洗設備2025-08-25 16:40