及下游應用場景持續(xù)拓展的多重驅動下,2025年全球機器視覺光源行業(yè)步入高質量發(fā)展階段,技術迭代加速、國產替代深化、應用場景多元化成為核心特征。行業(yè)產品以LED光源為主導,激光光源、紅外/紫外特種光源快速增長,應用領域
2025-12-30 09:40:09
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一、讀寫均衡失效引發(fā)的核心問題 讀寫均衡(磨損均衡,Wear Leveling)是SD卡固件通過算法將數據均勻分配到閃存芯片各單元,避免局部單元過度擦寫的關鍵機制。瀚海微SD卡出現讀寫均衡失效后,會
2025-12-29 15:08:07
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今天結合電子整流器的核心原理,帶大家拆解整流器內部器件,從結構、失效原因到檢測方法逐一講透,文末還附上實操修復案例,新手也能看懂。
2025-12-28 15:24:43
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在自動化檢測領域,合適的光源是確保檢測精度的關鍵因素。思奧特智能CRT憑借其豐富的產品線和深厚的技術積累,為各行業(yè)提供全面的機器視覺光源解決方案。 條形光源:精準識別的利器 思奧特智能條形光源提供
2025-12-26 09:44:44
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光源采用高密度LED精密陣列設計,支持紅、綠、藍、白四種光色可選,其中白色為默認配置。產品具備92%-98%的均勻光照度,支持0-100%無級調光,尺寸可根據客戶需求靈活定制,充分滿足不同工業(yè)環(huán)境的檢測要求。 這款視覺光源廣泛應用
2025-12-24 15:35:41
104 發(fā)光二極管(LED)作為現代照明和顯示技術的核心元件,其可靠性直接關系到最終產品的性能與壽命。與所有半導體器件相似,LED在早期使用階段可能出現失效現象,對這些失效案例進行科學分析,不僅能夠定位
2025-12-24 11:59:35
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聚焦離子束技術聚焦離子束(FocusedIonBeam,FIB)技術作為現代半導體失效分析的核心手段之一,通常與掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM)集成
2025-12-04 14:09:25
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【博主簡介】本人“ 愛在七夕時 ”,系一名半導體行業(yè)質量管理從業(yè)者,旨在業(yè)余時間不定期的分享半導體行業(yè)中的:產品質量、失效分析、可靠性分析和產品基礎應用等相關知識。常言:真知不問出處,所分享的內容
2025-12-03 08:35:54
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2025年11月,水晶光電失效分析與材料研究實驗室憑硬核實力,順利通過中國合格評定國家認可委員會(CNAS)嚴苛審核,正式獲頒CNAS認可證書。這標志著實驗室檢測能力與服務質量已接軌國際標準,彰顯了企業(yè)核心技術創(chuàng)新力與綜合競爭力,為深耕國際市場筑牢品質根基”。
2025-11-28 15:18:30
591 在攝影攝像領域,光線條件往往復雜多變,優(yōu)質的光源對于捕捉清晰、色彩還原準確的畫面至關重要。億光閃光燈LED憑借高亮度與高顯色性的攝影光源技術突破,在該領域占據了重要地位。高亮度確保在低光環(huán)境下也能
2025-10-28 14:25:21
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電子元器件封裝中的引線鍵合工藝,是實現芯片與外部世界連接的關鍵技術。其中,金鋁鍵合因其應用廣泛、工藝簡單和成本低廉等優(yōu)勢,成為集成電路產品中常見的鍵合形式。金鋁鍵合失效這種現象雖不為人所熟知,卻是
2025-10-24 12:20:57
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個微小的鍵合點失效,就可能導致整個模塊功能異常甚至徹底報廢。因此,對鍵合點進行精準的強度測試,是半導體封裝與失效分析領域中不可或缺的一環(huán)。 本文科準測控小編將圍繞Alpha W260推拉力測試機這一核心設備,深入淺出地
2025-10-21 17:52:43
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電子元器件失效可能導致電路功能異常,甚至整機損毀,耗費大量調試時間。部分半導體器件存在外表完好但性能劣化的“軟失效”,進一步增加了問題定位的難度。電阻器失效1.開路失效:最常見故障。由過電流沖擊導致
2025-10-17 17:38:52
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于LED產業(yè)的科研檢測機構,能夠對LED進行嚴格的檢測,致力于為客戶提供高質量的測試服務,為LED在各個領域的可靠應用提供堅實的質量保障。以金鑒接觸的失效分析大數據顯示,LED死燈的原因可能過百種
2025-10-16 14:56:40
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失效和封裝失效的原因,并分析其背后的物理機制。金鑒實驗室作為一家專注于LED產業(yè)的科研檢測機構,致力于改善LED品質,服務LED產業(yè)鏈中各個環(huán)節(jié),使LED產業(yè)健康
2025-10-14 12:09:44
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LED技術作為第四代照明光源,憑借其高效節(jié)能、環(huán)保長壽命的特點,在全球照明領域占據了重要地位。理論上,LED光源在25℃環(huán)境溫度下的使用壽命可達5萬小時以上,這一數據成為產品宣傳的重要亮點。然而,在
2025-09-29 22:23:35
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隨著封裝技術向小型化、薄型化、輕量化演進,封裝缺陷對可靠性的影響愈發(fā)凸顯,為提升封裝質量需深入探究失效機理與分析方法。
2025-09-22 10:52:43
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ZQA-260 是專為機器視覺行業(yè)研制的高亮頻閃
LED光源,他體積小,重量輕,內部采用200W高亮
LED,最高頻率可達2000Hz。主要特點亮度高,是其他常亮
光源亮度的4-6倍。外部信號頻率最大為2000Hz。點亮時間設置為15us-2000us??傉伎毡?/div>
2025-09-18 16:20:18
近年來,隨著LED照明市場的快速擴張,越來越多的企業(yè)加入LED研發(fā)制造行列。然而行業(yè)繁榮的背后,卻隱藏著一個令人擔憂的現象:由于從業(yè)企業(yè)技術實力參差不齊,LED驅動電路質量差異巨大,導致燈具失效事故
2025-09-16 16:14:52
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LED壽命雖被標稱5萬小時,但那只是25℃下的理論值。高溫、高濕、粉塵、電流沖擊等現場條件會迅速放大缺陷,使產品提前失效。統計表明,現場失效多集中在投運前三年,且呈批次性,直接推高售后成本。把常見
2025-09-12 14:36:55
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,使用壽命較短,并且容易發(fā)生故障。隨著科技的進步,LED光源應運而生,以其高效節(jié)能、光線柔和、使用壽命長等優(yōu)勢,逐漸取代了白熾燈,成為現代照明的主流選擇。光源就是
2025-09-08 15:12:19
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安全通訊中的失效率量化評估寫在前面:在評估硬件隨機失效對安全目標的違反分析過程中,功能安全的分析通常集中于各個ECU子系統的PMHF(安全目標違反的潛在失效概率)計算。通過對ECU所有子系統
2025-09-05 16:19:13
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,系統分析風華貼片電感的典型失效模式,并提出針對性預防措施。 ?一、典型失效模式分析 1.? 磁路破損類失效 磁路破損是貼片電感的核心失效模式之一,具體表現為磁芯裂紋、磁導率偏差及結構斷裂。此類失效通常源于以下原
2025-08-27 16:38:26
658 電子元器件失效是指其在規(guī)定工作條件下,喪失預期功能或性能參數超出允許范圍的現象。失效可能發(fā)生于生命周期中的任一階段,不僅影響設備正常運行,還可能引發(fā)系統級故障。導致失效的因素復雜多樣,可系統性地歸納
2025-08-21 14:09:32
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短路失效網上已經有很多很詳細的解釋和分類了,但就具體工作中而言,我經常遇到的失效情況主要還是發(fā)生在脈沖階段和關斷階段以及關斷完畢之后的,失效的模式主要為熱失效和動態(tài)雪崩失效以及電場尖峰過高失效(電流分布不均勻)。理論上還有其他的一些失效情況,但我工作中基本不怎么遇到了。
2025-08-21 11:08:54
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隨著科技的不斷進步和社會的發(fā)展,汽車已經成為人們生活中必不可少的交通工具。而作為汽車的重要組成部分之一,車燈的設計和優(yōu)化對于駕駛安全和舒適性起著至關重要的作用。近年來,基于LED光源的汽車車燈逐漸
2025-08-20 15:44:35
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有限元仿真技術,建立了CBGA焊點失效分析的完整方法體系。通過系統的力學性能測試與多物理場耦合仿真,揭示了溫度循環(huán)載荷下CBGA焊點的失效演化規(guī)律,為高可靠性電子封裝設計與工藝優(yōu)化提供了理論依據和技術支持。 一、CBGA焊點失效原理 1、 失效機理 CBGA焊
2025-08-15 15:14:14
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在半導體器件研發(fā)與制造領域,失效分析已成為不可或缺的環(huán)節(jié),FIB(聚焦離子束)截面分析,作為失效分析的利器,在微觀世界里大顯身手。它運用離子束精準切割樣品,巧妙結合電子束成像技術,實現對樣品內部結構
2025-08-15 14:03:37
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限制,PCB在生產和應用中常出現失效,引發(fā)質量糾紛。為查明原因、解決問題并明確責任,失效分析成為必不可少的環(huán)節(jié)。失效分析流程1.失效定位失效分析的首要任務是基于失效
2025-08-15 13:59:15
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深圳市銀月光科技推出655nm VCSEL+460nm LED二合一光源,融合高效光束與殺菌抑炎功能,助力高端生發(fā)設備,提升產品競爭力。
2025-08-05 18:12:24
839 采用高光效LED燈管的電費節(jié)約量分析高光效LED燈管作為節(jié)能照明的核心產品,其電費節(jié)約能力與傳統光源相比優(yōu)勢顯著,具體節(jié)約量需結合功率差異、使用時長、電價等因素綜合計算,以下從實際場景出發(fā)解析其節(jié)能
2025-08-04 21:19:23
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LED技術因其高效率和長壽命在現代照明領域扮演著關鍵角色。然而,LED封裝的失效問題可能影響其性能,甚至導致整個照明系統的故障。以下是一些常見的問題原因及其預防措施:1.固晶膠老化和芯片脫落:LED
2025-07-29 15:31:37
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關鍵字:測徑儀光源控制器,藍鵬測控,藍鵬測控光源,測寬儀光源控制器,光源控制器
1、恒定電流輸出,保證光源亮度穩(wěn)定,有效延長LED使用壽命。
2、亮度調節(jié)均勻、線性,無閃爍。
3、亮度可調,范圍
2025-07-29 14:58:41
在現代能源研究與產業(yè)應用領域,太陽光模擬器是評估太陽光電池性能的關鍵設備。傳統的氙閃燈或短弧燈作為光源,存在壽命短、重新加載時間長和校準程序繁瑣等問題,如今,隨著高功率LED技術的不斷進步,一款新型
2025-07-24 11:31:48
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光熱材料在界面太陽能蒸汽生成、海水淡化等領域的應用需長期穩(wěn)定性測試,這對太陽能模擬器的光譜匹配、空間均勻性和時間穩(wěn)定性提出嚴苛要求。傳統光源難以兼顧長壽命、低成本與高精度模擬。本文聚焦LED-鹵素
2025-07-24 11:28:59
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在光伏器件測試領域,太陽光模擬器作為復現標準太陽光照條件的核心設備,其光源校準精度直接決定光伏電池及組件電性能測試的準確性。本文將系統分析太陽光模擬器光源校準的技術框架、常見故障及優(yōu)化策略,結合
2025-07-24 11:28:18
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內容提要本書以LED光源及其驅動技術為主線,全面系統地介紹了LED的特性、LED驅動電路及其相關技術,并結合實例介紹了各種LED驅動電路的詳細設計方法,加深讀者對LED驅動電源設計過程的理解。本書
2025-07-18 15:26:51
芯片失效分析的主要步驟芯片開封:去除IC封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持die,bondpads,bondwires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實驗做準備。SEM
2025-07-11 10:01:15
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,為了弄清楚各類異常所導致的失效根本原因,IC失效分析也同樣在行業(yè)內扮演著越來越重要的角色。一塊芯片上集成的器件可達幾千萬,因此進行集成電路失效分析必須具備先進、準確的技術和設備,并由具有相關專業(yè)知識的半導體分析人員開展分析工作。
2025-07-10 11:14:34
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在電子封裝領域,各類材料因特性與應用場景不同,失效模式和分析檢測方法也各有差異。
2025-07-09 09:40:52
999 一、芯片缺陷在LED器件的失效案例中,芯片缺陷是一個不容忽視的因素。失效的LED器件表現出正向壓降(Vf)增大的現象,在電測過程中,隨著正向電壓的增加,樣品仍能發(fā)光,這暗示著LED內部可能存在電連接
2025-07-08 15:29:13
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芯片失效和封裝失效的原因,并分析其背后的物理機制。金鑒實驗室是一家專注于LED產業(yè)的科研檢測機構,致力于改善LED品質,服務LED產業(yè)鏈中各個環(huán)節(jié),使LED產業(yè)健康
2025-07-07 15:53:25
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引線鍵合是LED封裝制造工藝中的主要工序,其作用是實現LED芯片電極與外部引腳的電路連接。熱超聲引線鍵合是利用金屬絲將芯片I/O端與對應的封裝引腳或者基板上布線焊區(qū)互連,在熱、力和超聲能量的作用下
2025-07-01 11:56:31
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紅光生發(fā)設備利用低強度激光治療,如VCSEL、EEL、LED光源,波長650-670nm,功率5-10mW,效率30%-40%,壽命2-5萬小時。
2025-06-30 17:24:29
1333 連接器失效可能由電氣、機械、環(huán)境、材料、設計、使用不當或壽命到期等多種原因引起。通過電氣、機械、外觀和功能測試,可以判斷連接器是否失效。如遇到失效的情況需要及時更新,保證工序的正常進行。
2025-06-27 17:00:56
654 中圖儀器SEM掃描電鏡斷裂失效分析采用鎢燈絲電子槍,其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對真空度要求不高,使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像,從而提高了檢測效率
2025-06-17 15:02:09
由鍍銀層氧化導致發(fā)黑的LED光源LED光源鍍銀層發(fā)黑跡象明顯,這使我們不得不做出氧化的結論。但EDS能譜分析等純元素分析檢測手段都不易判定氧化,因為存在于空氣環(huán)境、樣品表面吸附以及封裝膠等有機物中
2025-06-13 10:40:24
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LED的任何一種特性,包括光譜,能量和發(fā)射角特性。外加 FRED的性能通過簡單設定在每一方向數目和間隔實現LEDs陣列,這使得FRED成為一款完美的可以分析系統中每一顆LED性能的產品。
RGB 三
2025-06-06 08:54:18
,可以隨你所需要而更改顏色,使你更容易的區(qū)別出光線的信息。
(二)LED 的應用及模擬
在FRED 你可以設計或分析LED 光源,可分析LED 的視角,照度圖、色座標,及LED 的應用如混光、照明等等之用
2025-06-06 08:53:09
LED支架的鍍銀層質量非常關鍵,關系到LED光源的壽命。電鍍銀層太薄,電鍍質量差,容易使支架金屬件生銹,抗硫化能力差,從而使LED光源失效。即使封裝了的LED光源也會因鍍銀層太薄,附著力不強,導致
2025-05-29 16:13:33
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1. 建模任務
1.1. 模擬條件
?光源: EML Emitter (Unit source)
?偶極子方向: Polarization
?Ex=Ey=1/Phase=-90?, 90
2025-05-29 08:45:55
隨著LED業(yè)內競爭的不斷加劇,LED品質受到了前所未有的重視。LED在制造、運輸、裝配及使用過程中,生產設備、材料和操作者都有可能給LED帶來靜電(ESD)損傷,導致LED過早出現漏電流增大,光衰
2025-05-28 18:08:32
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相對傳統光源,LED具有的技術優(yōu)點還包括長壽命、響應快、潛在高光效、體積小以及窄光譜等優(yōu)點。但究其本質,在這眾多的優(yōu)點中,潛在的高光效、體積小和窄光譜這三點最為關鍵,這使得LED有別于傳統光源,并
2025-05-23 07:19:50
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在電子系統中,MDD穩(wěn)壓二極管(ZenerDiode)憑借其在反向擊穿區(qū)域的穩(wěn)定電壓特性,被廣泛應用于電壓參考、過壓保護和穩(wěn)壓電路中。然而在實際應用中,穩(wěn)壓管并非“永不失手”。其失效往往會直接影響
2025-05-16 09:56:08
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超連續(xù)光譜光源是前沿光學創(chuàng)新產品,它運用激光在光纖內激發(fā)的非線性效應實現覆蓋1.1~2.4μm波長的近紅外光輸出,輸出方式為單模光纖或保偏光纖。與傳統寬帶光源相比,該產品具有光譜范圍極寬,光譜平坦
2025-05-15 16:16:18
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芯片失效分析中對芯片的截面進行觀察,需要對樣品進行截面研磨達到要觀察的位置,而后再采用光學顯微鏡(OM Optical Microscopy)或者掃描電子顯微(SEM Scanning Electron Microscopy)進行形貌觀察。
2025-05-15 13:59:00
1657 
,可以隨你所需要而更改顏色,使你更容易的區(qū)別出光線的信息。
(二)LED 的應用及模擬
在FRED 你可以設計或分析LED 光源,可分析LED 的視角,照度圖、色座標,及LED 的應用如混光、照明等等之用
2025-05-14 08:51:48
LED是一種直接將電能轉換為可見光和輻射能的發(fā)光器件,具有耗電量小、發(fā)光效率高、體積小等優(yōu)點,目前已經逐漸成為了一種新型高效節(jié)能產品,并且被廣泛應用于顯示、照明、背光等諸多領域。近年來,隨著LED
2025-05-09 16:51:23
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失效分析的定義與目標失效分析是對失效電子元器件進行診斷的過程。其核心目標是確定失效模式和失效機理。失效模式指的是我們觀察到的失效現象和形式,例如開路、短路、參數漂移、功能失效等;而失效機理則是指導
2025-05-08 14:30:23
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LED光源發(fā)黑現象LED光源以其高效、節(jié)能、環(huán)保的特性,在照明領域得到了廣泛應用。然而,LED光源在使用過程中出現的發(fā)黑現象,卻成為了影響其性能和壽命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED
2025-04-27 15:47:07
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分析方面面臨諸多挑戰(zhàn),尤其是在化學開封、X-Ray和聲掃等測試環(huán)節(jié),國內技術尚不成熟。基于此,廣電計量集成電路測試與分析研究所推出了先進封裝SiC功率模組失效分析技
2025-04-25 13:41:41
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使用環(huán)境導致失效,常見的失效模式主要包括過熱失效和短路失效。1.過熱失效及其規(guī)避措施過熱失效通常是由于功率損耗過大、散熱不良或工作環(huán)境溫度過高導致的。主要成因包括:正向
2025-04-11 09:52:17
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本資料共分兩篇,第一篇為基礎篇,主要介紹了電子元器件失效分析基本概念、程序、技術及儀器設備;第二篇為案例篇,主要介紹了九類元器件的失效特點、失效模式和失效機理以及有效的預防和控制措施,并給出九類
2025-04-10 17:43:54
半導體集成電路失效機理中除了與封裝有關的失效機理以外,還有與應用有關的失效機理。
2025-03-25 15:41:37
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高密度互聯(HDI)板的激光盲孔技術是5G、AI芯片的關鍵工藝,但孔底開路失效卻讓無數工程師頭疼!SGS微電子實驗室憑借在失效分析領域的豐富經驗,總結了一些失效分析經典案例,旨在為工程師提供更優(yōu)
2025-03-24 10:45:39
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檢測光源包括可見光,如紅光、藍光和綠光以及其他波長的光,如紫外和紅外波長,可以選擇與檢測對象物相應的波長。但由于能夠照射的波長較窄,例如受到同色異物混入或多個素材的材質分類等,可能需要使用可照射多種
2025-03-21 17:02:57
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LED光效LED光效是衡量光源性能的關鍵指標,其定義為光通量(lm)與光源消耗功率(W)的比值,單位為lm/W。瞬態(tài)光效是LED光源啟動瞬間的發(fā)光效率,也稱初始冷態(tài)光效。它主要反映了LED在短時間
2025-03-20 11:19:57
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問題。為了確保PCB的質量和可靠性,失效分析技術顯得尤為重要。外觀檢查外觀檢查是失效分析的第一步,通過目測或借助簡單儀器(如立體顯微鏡、金相顯微鏡或放大鏡)對PC
2025-03-17 16:30:54
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本文首先介紹了器件失效的定義、分類和失效機理的統計,然后詳細介紹了封裝失效分析的流程、方法及設備。
2025-03-13 14:45:41
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太誘電容的失效分析,特別是針對裂紋與短路問題,需要從多個角度進行深入探討。以下是對這兩個問題的詳細分析: 一、裂紋問題 裂紋成因 : 熱膨脹系數差異 :電容器的各個組成部分(如陶瓷介質、端電極
2025-03-12 15:40:02
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高密度封裝技術在近些年迅猛發(fā)展,同時也給失效分析過程帶來新的挑戰(zhàn)。常規(guī)的失效分析手段難以滿足結構復雜、線寬微小的高密度封裝分析需求,需要針對具體分析對象對分析手法進行調整和改進。
2025-03-05 11:07:53
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摘要
VirtualLab Fusion中的掃描源定義了一組理想平面波,被孔徑截斷并向不同方向輻射。方向配置為角度空間中的柵格。這種光源在許多不同領域都有應用:例如,在激光掃描系統中,分析不同掃描角
2025-03-05 08:53:24
這種先合光再分光的設計方案既使系統變得復雜,又使得光能利用率較低。
請問目前采用三基色激光投影顯示的光學系統設計方案都是這樣嗎?激光光源能否實現類似于下圖LED這樣的設計?激光器能否像LED一樣瞬時開關?
2025-02-28 07:11:17
dlp4500光源亮度不夠可以更換光源嗎?亮度測試不夠。
2025-02-28 06:55:37
DLP4710 LC套件,在使用的過程中,不需要內置的光源,如何去掉這三個光源? 目前去掉LED,就無法正確投影圖像。 是否可以通過在硬件上對PMIC管理芯片的反饋引腳做一定處理,如R595這個
2025-02-25 06:28:34
led光源的投影儀,在高亮模式下,綠色會閃屏的現象,請問這種情況怎么解決
2025-02-21 15:06:55
NU505恒流芯片應用場合:LED燈帶 一般LED照明 COB大功率光源 COB燈帶 UVC光源
電流檔位 10mA、15mA、20mA、……6mA,從10mA起每 增加5mA電流分一個檔位,至60mA。
2025-02-19 10:12:17
1041 
? 本文介紹了芯片失效分析的方法和流程,舉例了典型失效案例流程,總結了芯片失效分析關鍵技術面臨的挑戰(zhàn)和對策,并總結了芯片失效分析的注意事項。 ? ? 芯片失效分析是一個系統性工程,需要結合電學測試
2025-02-19 09:44:16
2908 數量為23997500個。產品概述AVAGO ASMY-CWG0-NX7B是一款高性能的LED光源,專為各種照明和顯示應用設計。該LED光源具有出色的亮度和色彩表現,能夠在多種環(huán)境中提供穩(wěn)定的光輸
2025-02-18 23:41:06
請問DLPA100可以單獨驅動LED光源么?不搭配專用的DLPC用。
2025-02-18 07:37:47
DLP029_LED_DRIVER_SCH_B,默認給LED的供電電壓是幾伏的?
2、如上面截圖的光源,可以直接接到5530Q1EVM的驅動板上是嗎?
3、套件如果不接光源,上電后給LED端的電源有沒有電壓輸出(即電源會不會保護)?
謝謝!
2025-02-18 07:23:50
我們都知道光源在機器視覺系統中起著重要作用,能夠影響成像效果,有些位置比較長,又需要光源輔助完成成像,今天我們來看看線光源,以下產品以CCS光源為例。采用獨創(chuàng)的光學設計,照射高輸出、高均勻性的光
2025-02-10 17:36:42
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PCB失效分析:步驟與技術作為各種元器件的載體與電路信號傳輸的樞紐PCB(PrintedCircuitBoard,印刷電路板)已經成為電子信息產品的最為重要而關鍵的部分,其質量的好壞與可靠性水平決定
2025-01-20 17:47:01
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為解決LED驅動電源故障率高、維護難等問題,通過對LED發(fā)光原理及電源需求分析,結合目前實際應用情況,我們嘗試在LED道路照明中采用低壓直流供電模式。通過直流供電不僅降低LED驅動電源故障率,還可
2025-01-20 14:54:47
光纖光源搭配燈箱后亮度遠高于常規(guī)LED,雜散分布可提升照明均勻性,非常適用于半導體檢測。
2025-01-17 17:23:47
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上無法與鹵素燈匹敵。實際上,通過精心挑選適當的色溫,LED大燈同樣能夠提升其光線的穿透力,同時避免光源過于蒼白。對于那些對此仍有所保留的車主,變色燈提供了一個靈活
2025-01-17 15:00:27
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| | 本應用說明介紹了兩種模擬LED的方法,強調了一些有用的分析工具。 FRED用于LED建模?CAD導入?FRED可以導入IGES和STEP格式CAD模型,允許光學和機械元件的快速集成。?一些
2025-01-17 09:59:17
emitting sources ),波長的光譜范圍從廠商數據表中利用數字化工具獲取數據。
此例子的布局包含3個任意的平面光源照射到一個接受屏。分析面附加于1)屏幕,計算色坐標值。2)光源,計算LED總功率
2025-01-17 09:39:55
整流二極管失效分析方法主要包括對失效原因的分析以及具體的檢測方法。 一、失效原因分析 防雷、過電壓保護措施不力 : 整流裝置未設置防雷、過電壓保護裝置,或保護裝置工作不可靠,可能因雷擊或過電壓而損壞
2025-01-15 09:16:58
1589 光熱分布檢測意義在LED失效分析領域,光熱分布檢測技術扮演著至關重要的角色。LED作為一種高效的照明技術,其性能和壽命受到多種因素的影響,其中光和熱的分布情況尤為關鍵。光熱分布不均可能導致芯片界面
2025-01-14 12:01:24
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LED點光源可作為遠心鏡頭等的光源,液晶或基板的對準用光源,尺寸測量用光源,點照射用光源等。
2025-01-14 11:32:56
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失效分析的重要性失效分析其核心任務是探究產品或構件在服役過程中出現的各種失效形式。這些失效形式涵蓋了疲勞斷裂、應力腐蝕開裂、環(huán)境應力開裂引發(fā)的脆性斷裂等諸多類型。深入剖析失效機理,有助于工程師
2025-01-09 11:01:46
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,可用于透過印刷圖案或液體的成像。紅外LED的優(yōu)點LED照射的紅外光僅擁有特定波長范圍的能量,與鹵素光源相比,照射熱極少。因此,對象物不易因熱能而受損。紅外光源成像
2025-01-07 17:28:11
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| | 本應用說明介紹了兩種模擬LED的方法,強調了一些有用的分析工具。 FRED用于LED建模?CAD導入?FRED可以導入IGES和STEP格式CAD模型,允許光學和機械元件的快速集成。?一些
2025-01-07 08:59:23
emitting sources ),波長的光譜范圍從廠商數據表中利用數字化工具獲取數據。
此例子的布局包含3個任意的平面光源照射到一個接受屏。分析面附加于1)屏幕,計算色坐標值。2)光源,計算LED總功率
2025-01-07 08:51:07
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