、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細(xì)撿漏、ESD 測試（2）常?失效模式分析：靜電損傷、過電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的，也是特性參數(shù)測試無法評估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計量擁有業(yè)界領(lǐng)先的專家團(tuán)隊及先進(jìn)
2024-03-13 16:26:07
MOS管瞬態(tài)熱阻測試（DVDS）失效品分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因，有什么好的建議和思路
2024-03-12 11:46:57
【設(shè)備應(yīng)用】
SEM是掃描電子顯微鏡，用二次電子成像的原理來觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對應(yīng)的電子能不同，來鑒別元素，通常與SEM結(jié)合使用，也就是說在SEM上安裝EDS附件，在
2024-03-01 18:59:58
掃描電鏡按構(gòu)造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細(xì)物質(zhì)構(gòu)造，次要用于察看固體外表的形貌，也能與
2024-02-01 18:22:15
603 ; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測項目試驗類型試驗項??損分析X 射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數(shù)測試、IV&a
2024-01-29 22:40:29
掃描電子顯微鏡是金屬科研工作中應(yīng)用最廣泛的“神器”。可以說，幾乎每一個研究生都把自己最重要的科研經(jīng)歷花在了身上。今天的我們就來介紹一下掃描電鏡的原理和應(yīng)用。 電子顯微鏡利用電子產(chǎn)生圖像，類似于光學(xué)
2024-01-17 09:39:56146 數(shù)字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298 
矩陣LED掃描頻率是指LED矩陣在單位時間內(nèi)刷新顯示的次數(shù)。LED矩陣是由多個發(fā)光二極管（LED）組成的顯示設(shè)備，通過掃描控制來實現(xiàn)各個LED的亮滅，從而顯示出不同的圖像或信息。調(diào)整矩陣LED掃描
2024-01-02 17:30:24361 切割對于芯片膜厚層為幾十納米的，可以選擇用聚焦離子束FIB-SEM來做芯片截面形貌觀察，SEM-EDS對于芯片的結(jié)構(gòu)成分分析 做線性方向元素分析掃描，面掃描MAPPING來表征芯片結(jié)構(gòu)的元素分析。
FIB剪
2024-01-02 17:08:51
掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計量和過程控制的研究和先進(jìn)制造中，我們在對半導(dǎo)體材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀測時，常常會遇到充電效應(yīng)，本文討論了與樣品充電相關(guān)的一些問題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12462 
在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會很容易地找到市場失效的原因了呢？答案是否定的。不管是對收集到的市場失效信息還是對故障解析報告的解讀、分析都需要相應(yīng)的專業(yè)技能作為背景，對整機(jī)進(jìn)行的測試也需要相應(yīng)的測試技能。
2023-12-27 15:41:37278 
如何使用頻譜分析儀來觀察和分析雜散信號？ 頻譜分析儀是一種廣泛應(yīng)用于電子領(lǐng)域的儀器，用于觀察和分析信號的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測和排除信號中的雜散信號，確保設(shè)備的正常工作和無干擾的信號傳輸
2023-12-21 15:37:16592 蔡司代理三本精密儀器小編獲悉，近期蔡司對中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)龔明教授進(jìn)行了采訪，談了對于蔡司場發(fā)射掃描電鏡在工作研究中的使用感受：中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程與材料科學(xué)實驗中心副主任，材料顯微分析實驗室
2023-12-20 15:04:37226 
▼關(guān)注公眾號：工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產(chǎn)業(yè)鏈，復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會面臨各種失效風(fēng)險，筆者平時也會參與到失效分析中，這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04530 
? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)，是材料相關(guān)工作者和學(xué)者研究的有力工具之一。其應(yīng)用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域。本文將對掃描電子顯微鏡
2023-12-19 15:31:37507 
不斷變革創(chuàng)新，就會充滿青春活力;否則，就可能會變得僵化?！璧赂韶洉r間來了，關(guān)注小欣本期分享，我們一起來學(xué)習(xí)吧！連接器引腳上錫不良主要表現(xiàn)為引腳下表面與焊點(diǎn)相接不良或不相接，那么導(dǎo)致失效的原因究竟
2023-12-16 08:03:06493 
蔡司代理三本精密儀器小編介紹SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡是生命科學(xué)研究中的重要儀器，憑借其納米級分辨率，SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡極大地提升了我們對生物超微結(jié)構(gòu)的認(rèn)識，-些亞細(xì)胞結(jié)構(gòu)甚至是通過
2023-12-15 14:11:17142 
有一批現(xiàn)場儀表在某化工廠使用一年后，儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了，甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察，可以發(fā)現(xiàn)電阻電極邊緣出現(xiàn)了黑色結(jié)晶物質(zhì)，進(jìn)一步分析
2023-12-12 15:18:171020 
LED貼膜屏靜態(tài)掃描和動態(tài)掃描有何區(qū)別？ LED貼膜屏靜態(tài)掃描和動態(tài)掃描是兩種不同的驅(qū)動方式，它們在顯示效果、功耗、刷新率、圖像質(zhì)量等方面存在一些區(qū)別。下面我將詳細(xì)介紹這兩種掃描方式，幫助你了解它們
2023-12-11 14:25:56448 1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因為銅腐蝕。據(jù)此情況，對失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段，明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188 
大部分掃描電鏡實驗室對于納米尺寸的準(zhǔn)確測量，要求沒有那么嚴(yán)格，比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm，似乎不太重要
2023-12-09 17:36:52427 
無源電位襯度（Passive Voltage Contrast，PVC）定位基于導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的FIB或SEM圖像或多或少的亮度差異，可用于半導(dǎo)體電路的失效定位。
2023-12-01 16:18:08514 
常規(guī)的TEM使用固定的入射電子束，而SEM的電子束在兩個垂直的（X和Y）方向上水平掃描樣品。
2023-12-01 11:37:50686 
掃描電子顯微鏡（SEM簡稱掃描電鏡）是一個集電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計算機(jī)控制技術(shù)于一體的復(fù)雜系統(tǒng)
2023-11-24 15:39:53352 
差示掃描量熱法（DSC）是一種熱分析方法，在程序控制溫度下，輸入到試樣和參比物的功率差與溫度的關(guān)系。而差示掃描量熱儀是利用這種方法，來測量材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、熔點(diǎn)、比熱容和氧化誘導(dǎo)期，來對材料
2023-11-21 13:37:56374 
掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對無機(jī)材料和部分有機(jī)材料，迅速提供在統(tǒng)計學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:16:41235 
將詳細(xì)分析光耦失效的幾種常見原因。 首先，常見的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發(fā)光二極管的核心部件，它會發(fā)出光信號。常見的LED失效原因有兩種：老化和損壞。LED的使用壽命是有限的，長時間使用后會逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445 那么就要用到一些常用的失效分析技術(shù)。介于PCB的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)與失效的主要模式，其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術(shù)，一旦使用了這兩種技術(shù)，樣品就破壞了，且無法恢復(fù)；另外由于制樣的要求，可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115 EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù)，全稱電子背散射衍射。它通過測量反射電子的角度和相位差來確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比，EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率，可以獲得亞微米級的晶體學(xué)數(shù)據(jù)。
2023-11-16 13:31:48366 
相同點(diǎn)：都是電子槍即發(fā)射電子的裝置，都有陰極和陽極,陰極都是點(diǎn)源發(fā)射，陰極和陽極之間有直流高壓電場存在，高壓一般可調(diào)，用于控制電子的發(fā)射速度（能量），電子槍發(fā)射的電流強(qiáng)度很小，微安級別和納安級別，為防止氣體電離造成的大電流擊穿高壓電源，都需要高真空環(huán)境。電子槍陰極都屬于耗材系列。差異和優(yōu)劣:1、點(diǎn)源直徑不同及優(yōu)劣：鎢燈絲電子槍陰極使用0.1mm直徑的鎢絲制成
2023-11-10 18:43:39353 在電子主板生產(chǎn)的過程中，一般都會出現(xiàn)失效不良的主板，因為是因為各種各樣的原因所導(dǎo)致的，比如短路，開路，本身元件的問題或者是認(rèn)為操作不當(dāng)?shù)鹊人鸬摹?所以在電子故障的分析中，需要考慮這些因素，從而
2023-11-07 11:46:52386 什么是FIB？FIB有哪些應(yīng)用？如何修改線路做FIB？FIB怎么做失效分析？FIB還能生長PAD？FIB案例有些？ FIB是Focused Ion Beam（聚焦離子束）的縮寫，是一種利用離子束刻蝕
2023-11-07 10:35:041668 鎢絲掃描電子顯微鏡的總發(fā)射電流和光斑大，抗干擾能力和穩(wěn)定性好。可在低真空下不充電對非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像，并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)
2023-11-06 13:52:52176 
在會議期間重磅發(fā)布了自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X，標(biāo)志著國產(chǎn)高端電鏡發(fā)展進(jìn)入全新階段。顯微學(xué)人以振興電
2023-11-01 08:25:46523 
鎢絲掃描電子顯微鏡的發(fā)射電流和光斑都比較適中，抗干擾能力和穩(wěn)定性比較好?？稍诘驼婵障聦Ψ菍?dǎo)電樣品進(jìn)行成像，并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)
2023-10-31 15:17:52249 廣東全自動SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，通過掃描樣品表面并利用電子信號生成圖像。它與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，能夠提供更高的放大倍數(shù)和更好的表面細(xì)節(jié)。以下是廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
2023-10-31 15:12:41770 10月26日，2023年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會在東莞市召開。國儀量子在會議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X，開啟了國產(chǎn)高端電鏡
2023-10-29 08:25:471158 普通熱發(fā)射掃描電子顯微鏡相比，場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑，即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區(qū)形貌分析的首選。 2. 文書組成 場發(fā)射掃描電子顯微鏡由場發(fā)射電子槍、電子束推進(jìn)器、聚光透
2023-10-23 14:56:393838 
。 特點(diǎn) 制樣簡單、放大倍率可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實的三維效果等特點(diǎn)。對于導(dǎo)電材料，它們可以直接放入樣品室進(jìn)行分析。對于導(dǎo)電性差或絕緣性差的樣品，需噴涂導(dǎo)電層。 基本結(jié)構(gòu) 從結(jié)構(gòu)上看，掃描電鏡主
2023-10-19 15:38:30357 
不同型號掃描電鏡的操作步驟會有一些差異，各廠家的EBSD系統(tǒng)，特別是控制SEM的軟件都不一致。
2023-10-10 09:25:08609 CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻譯過來是：特征尺寸掃描電子顯微鏡。
2023-10-07 10:34:231434 
不同的波長λ對應(yīng)于不同的原子序數(shù)Z。根據(jù)這個特征能量， 即可知所分析的區(qū)域存在什么元素及各元素的含量。根據(jù)掃描的方式， EDS 可分為點(diǎn)分析、線掃描及面掃描三種：EDS 點(diǎn)分析是將電子束固定于樣品中某一點(diǎn)上，進(jìn)行定性或者定量的分析。
2023-09-28 15:54:341719 
NO.1 案例背景 某攝像頭模組，在生產(chǎn)測試過程中發(fā)生功能不良失效，經(jīng)過初步的分析，判斷可能是LGA封裝主芯片異常。 NO.2 分析過程 #1 X-ray分析 樣品#1 樣品#2 測試結(jié)果：兩個失效
2023-09-28 11:42:21399 
? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號和更豐富的細(xì)節(jié)信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時，快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44375 
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