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標(biāo)簽 > 光譜
光譜(spectrum) :是復(fù)色光經(jīng)過色散系統(tǒng)(如棱鏡、光柵)分光后,被色散開的單色光按波長(或頻率)大小而依次排列的圖案,全稱為光學(xué)頻譜。
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Specim高光譜相機(jī)在微塑料檢測方面的應(yīng)用
1樣品描述本研究涵蓋了多種塑料材料(圖1)。我們提供了較大的顆粒,每個顆粒尺寸為幾毫米,作為基礎(chǔ)樣品,用于構(gòu)建光譜參考庫。這些顆粒由常用的聚合物組成,例...
應(yīng)用案例 | 玻璃廠酒瓶生產(chǎn)線質(zhì)控升級:深視智能光譜共焦位移傳感器破解高透明與高反光材質(zhì)厚度測量難題
01啤酒瓶身厚度測量難點(diǎn)啤酒瓶作為典型的高透明曲面容器,其厚度檢測長期受限于材料特性與工業(yè)環(huán)境的雙重制約,具體難點(diǎn)包括:表面光學(xué)干擾:玻璃的高透明度導(dǎo)致...
光譜橢偏術(shù)在等離子體光柵傳感中的應(yīng)用:參數(shù)優(yōu)化與亞皮米級測量精度
基于衍射的光學(xué)計量方法(如散射測量術(shù))因精度高、速度快,已成為周期性納米結(jié)構(gòu)表征的關(guān)鍵技術(shù)。在微電子與生物傳感等前沿領(lǐng)域,對高性能等離子體納米結(jié)構(gòu)(如金...
光譜橢偏儀SE和紫外光譜UV在瀝青膠結(jié)料性能表征及老化評估研究
瀝青路面是全球道路網(wǎng)絡(luò)的主要構(gòu)成部分,但其在使用過程中會持續(xù)受到交通荷載、溫度變化、氧化老化和紫外線輻射等多種環(huán)境與機(jī)械應(yīng)力的侵蝕。這些因素導(dǎo)致瀝青結(jié)合...
在掌握了太陽光模擬器的基礎(chǔ)概念與選型要點(diǎn)后,紫創(chuàng)測控Luminbox將進(jìn)一步探討其在實(shí)際應(yīng)用中的問題。本篇將聚焦于設(shè)備的應(yīng)用場景,詳解如何針對不同測試對...
寬波段大角度光譜橢偏技術(shù):面向多層膜表征的光柵-傅里葉系統(tǒng)
隨著半導(dǎo)體和光電子技術(shù)的快速發(fā)展,紫外至紅外波段的薄膜材料應(yīng)用日益廣泛,而薄膜厚度、折射率等參數(shù)的高精度測量對器件性能至關(guān)重要。然而,現(xiàn)有光譜橢偏技術(shù)難...
光子精密光譜共焦傳感器提升VR眼鏡偏振片工藝質(zhì)量與生產(chǎn)效率
為解決這一痛點(diǎn),光子精密專為VR,AR眼鏡等高端光學(xué)器件推出了高精度檢測方案,能非接觸、高精度地解決當(dāng)前偏振片、反射片、Pancake分光鏡厚度檢測面臨...
海伯森點(diǎn)光譜應(yīng)用案例之——不透明材質(zhì)鍍膜厚度檢測
測量膜厚是現(xiàn)代工業(yè)和科研中的一項(xiàng)關(guān)鍵質(zhì)量控制手段,它通過精確監(jiān)控涂層或薄膜的厚度,直接確保產(chǎn)品在光學(xué)、電學(xué)、機(jī)械防護(hù)等方面的預(yù)期性能(如手機(jī)屏幕透光性、...
光譜共焦技術(shù)在高精度尺寸與3D表面缺陷檢測中的工業(yè)應(yīng)用研究
摘要:隨著智能制造與精密工業(yè)的快速發(fā)展,對非接觸、高精度、高速度的在線檢測技術(shù)需求日益迫切。以海伯森技術(shù)推出的系列高端光學(xué)傳感器深入剖析其基于光譜共焦位...
臺階儀在納米薄膜工藝監(jiān)控:基于三臺階標(biāo)準(zhǔn)的高精度厚度與沉積速率測定
納米尺度測量通常依賴具有納米特征的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行儀器校準(zhǔn)。目前常見標(biāo)準(zhǔn)樣品多為單臺階結(jié)構(gòu),由于儀器非線性,需使用不同高度值進(jìn)行多次校準(zhǔn)。多臺階標(biāo)準(zhǔn)樣品可減...
光譜橢偏儀在二維材料光學(xué)表征中的應(yīng)用綜述
二維材料因其獨(dú)特的電子與光學(xué)性質(zhì)成為前沿研究熱點(diǎn)。準(zhǔn)確表征其光學(xué)響應(yīng),尤其是復(fù)介電函數(shù),對理解其物理機(jī)制與器件應(yīng)用至關(guān)重要。傳統(tǒng)光學(xué)方法受限于信號強(qiáng)度與...
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