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標(biāo)簽 > 失效分析

失效分析

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失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。本章就機(jī)械失效分析,失效分析實(shí)驗(yàn)室
失效分析流程,涂層失效分析,軸承失效分析。

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失效分析資訊

電子元器件焊點(diǎn)開裂/上錫不良失效分析案例

其目的是對(duì)問題點(diǎn)位置進(jìn)行表面分析,檢測鍍層表面是否存在異常,是否存在金面污染,(具體元素污染項(xiàng)對(duì)應(yīng)),從SEM&ED分析結(jié)果來看,斷裂面上元素有...

2021-09-10 標(biāo)簽:檢測參數(shù)失效分析 4168 0

什么是失效分析

失效分析是指研究產(chǎn)品潛在的或顯在的失效機(jī)理,失效概率及失效的影響等,為確定產(chǎn)品的改進(jìn)措施進(jìn)行系統(tǒng)的調(diào)查研究工作,是可靠性設(shè)計(jì)的重要組成部分。失效

2009-07-03 標(biāo)簽:失效分析 3997 0

LED常見失效案例及分析

LED(Light emitting diodes)產(chǎn)品在生產(chǎn)與使用過程中,往往容易因各種應(yīng)力或環(huán)境等因素的影響,導(dǎo)致失效不良的產(chǎn)生,即發(fā)生LED失效。...

2022-07-19 標(biāo)簽:led銀膠失效分析 3808 0

DPA分析-高階封裝的剖面制樣

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在集成電路發(fā)展的數(shù)十年里,封裝形式從最典型的DIP、QFP發(fā)展到系統(tǒng)級(jí)SiP封裝和PoP封裝(Package on Package),再到如今的2.5D...

2023-09-08 標(biāo)簽:元器件封裝DPA 3704 0

ESD與EOS失效案例分享

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ESD過電應(yīng)力 目前,在電子元器件失效分析領(lǐng)域,我們發(fā)現(xiàn)ESDEOS的關(guān)注與日俱增。 上一期的分享,ESD與EOS知識(shí)速遞我們著重介紹了ESD與EOS的...

2023-03-13 標(biāo)簽:ESD失效分析EOS 3614 0

先進(jìn)制程芯片分析能力介紹-微區(qū)分析技術(shù)TEM

先進(jìn)制程芯片分析能力介紹-微區(qū)分析技術(shù)TEM

TEM在半導(dǎo)體領(lǐng)域具有非常廣泛的用途,如晶圓制造工藝分析、芯片失效分析、芯片逆向分析、鍍膜及刻蝕等半導(dǎo)體工藝分析等等,客戶群體遍布晶圓廠、封裝廠、芯片設(shè)...

2023-08-21 標(biāo)簽:半導(dǎo)體失效分析TEM 3595 0

《失效分析150》這本書中的兩個(gè)典型的案例

查找生產(chǎn)作業(yè),發(fā)現(xiàn)當(dāng)初螺栓擰緊裝配時(shí),實(shí)際擰緊力矩遠(yuǎn)大于設(shè)計(jì)規(guī)定的力矩。為對(duì)比分析,取9枚螺栓實(shí)物(8枚已使用無問題的螺栓,1枚未使用螺栓),進(jìn)行強(qiáng)斷拉...

2020-06-30 標(biāo)簽:失效分析螺栓 3568 0

金鑒實(shí)驗(yàn)室:LED芯片來料檢驗(yàn)、失效分析

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芯片是LED最關(guān)鍵的原物料,其質(zhì)量的好壞,直接決定了LED的性能。特別是用于汽車或固態(tài)照明設(shè)備的高端LED,絕對(duì)不容許出現(xiàn)缺陷,也就是說此類設(shè)備的可靠性...

2021-11-22 標(biāo)簽:led失效分析 3498 0

金鑒實(shí)驗(yàn)室:導(dǎo)電銀膠來料檢驗(yàn)、失效分析

導(dǎo)電銀膠是由銀粉填充入基體樹脂形成的具有導(dǎo)熱、導(dǎo)電及粘結(jié)性能的復(fù)合材料?;w樹脂固化后作為導(dǎo)電膠的分子骨架,決定了導(dǎo)電銀膠的力學(xué)性能和粘接性能。銀粉在基...

2021-11-22 標(biāo)簽:led失效分析 3447 0

技術(shù)干貨 | 失效分析:制樣技術(shù)介紹(一):離子研磨(CP)

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電子元器件失效分析經(jīng)常用到的檢查分析方法簡單可以歸類為無損分析、有損分析。本文重點(diǎn)介紹切片制樣技術(shù)常用到的先進(jìn)輔助設(shè)備:離子研磨(CP)。

2023-01-10 標(biāo)簽:芯片失效分析 3293 0

季豐電子可靠性試驗(yàn)和失效分析自研產(chǎn)品助力眾多實(shí)驗(yàn)室能力提升

季豐電子自2018年成功推出第一款自研產(chǎn)品后,如今已有10多款產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用于可靠性試驗(yàn)和失效分析測試,滿足季豐電子自己使用,同時(shí)也對(duì)外銷售,并獲得眾多...

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連接器端子上錫不良失效分析

連接器(connector)一般是指電連接器,即連接兩個(gè)有源器件的器件,傳輸電流或信號(hào)。端子連接器作為電氣連接的一種配件,在電路被阻斷或不通的地方充當(dāng)橋...

2022-08-23 標(biāo)簽:連接器端子失效分析 3200 0

失效的基礎(chǔ)知識(shí)

失效的基礎(chǔ)知識(shí)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB3187-82中定義:"失效(故障)"產(chǎn)品喪失規(guī)定的功能,對(duì)可修復(fù)的產(chǎn)品通常也稱為故障。規(guī)定的功能是指國家有關(guān)法規(guī)、質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)文件以及合...

2019-11-26 標(biāo)簽:失效分析電子光學(xué) 3161 0

一文帶你了解紅墨水實(shí)驗(yàn)!

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一、什么是紅墨水實(shí)驗(yàn)? 將焊點(diǎn)置于紅色墨水或染料中, 讓紅墨水或染料滲入焊點(diǎn)的裂紋之中,干燥后將焊點(diǎn)強(qiáng)行分離, 焊點(diǎn)一般會(huì)從薄弱的環(huán)節(jié)(裂紋處)開裂。 ...

2024-02-26 標(biāo)簽:PCBBGA焊盤 3149 0

LED靜電擊穿點(diǎn)觀察失效分析

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LED芯片漏電可能是芯片工藝不規(guī)范,或者金屬層氧化腐蝕,也有可能靜電擊穿。大的靜電擊穿點(diǎn)可以肉眼或者光學(xué)顯微鏡觀察,小的靜電擊穿點(diǎn)必須通過掃描電鏡觀測鑒...

2021-11-24 標(biāo)簽:led芯片失效分析 3135 0

TFT-LCD液晶顯示器構(gòu)造失效分析

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液晶顯示器的器件構(gòu)造 TFT掃描電鏡照片 CF 液晶成盒基板是由TFT基板與彩膜(CF)基板貼合在一起,并在中間填充液晶構(gòu)成的。其中陣列基板和彩膜基板之...

2021-12-16 標(biāo)簽:晶閘管液晶顯示器失效分析 2980 0

端子脫落失效分析

案例背景 Case background 某產(chǎn)品的端子在PCBA組裝完成后約24小時(shí),端子輕微受力后發(fā)生掉落,經(jīng)分析,判斷該種失效問題與端子鍍層合金化存...

2022-09-13 標(biāo)簽:焊接端子失效分析 2887 0

如何準(zhǔn)確地找到產(chǎn)品失效原因

失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的...

2021-08-26 標(biāo)簽:半導(dǎo)體機(jī)器失效分析 2883 0

陶瓷電容耐壓不良失效分析

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通過對(duì)NG樣品、OK樣品進(jìn)行了外觀光學(xué)檢查、金相切片分析、SEM/EDS分析及模擬試驗(yàn)分析,認(rèn)為造成陶瓷電容耐壓不良原因?yàn)槎伟饽K固化過程中及固化后...

2021-12-11 標(biāo)簽:電容器失效分析 2859 0

BGA焊接可靠性評(píng)價(jià)指引方案

BGA焊接可靠性評(píng)價(jià)指引方案

日常分析中,經(jīng)常出現(xiàn)由于BGA焊接可靠性導(dǎo)致的工程、市場失效問題,或檢出存在焊接可靠性風(fēng)險(xiǎn)的問題。鑒于BGA焊接的隱蔽性,造成失效對(duì)象品的風(fēng)險(xiǎn)較難預(yù)測,...

2022-06-13 標(biāo)簽:元器件BGA封裝失效分析 2715 0

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開關(guān)電源 步進(jìn)電機(jī) 無線充電 LabVIEW EMC PLC OLED 單片機(jī)
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