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標(biāo)簽 > 失效分析
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。本章就機(jī)械失效分析,失效分析實(shí)驗(yàn)室
失效分析流程,涂層失效分析,軸承失效分析。
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對(duì)于應(yīng)用工程師來說,芯片失效分析是最棘手的問題之一。之所以棘手,很無奈的一點(diǎn)便是:芯片失效問題通常是在量產(chǎn)階段,甚至是出貨后才開始被真正意識(shí)到,此時(shí)可能...
1.案例背景 某車載中控屏,在終端客戶運(yùn)行半年左右發(fā)生無顯示以及黑屏異常。新陽檢測(cè)中心(下稱“本中心”)通過對(duì)中控屏主板的應(yīng)力分析(對(duì)殼體、核心電子元器...
有一批現(xiàn)場(chǎng)儀表在某化工廠使用一年后,儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了,甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察,可以發(fā)...
對(duì)于失效分析實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用質(zhì)量4.0的設(shè)想詳解
伴隨著“工業(yè)4.0”的實(shí)踐發(fā)展,質(zhì)量管理也在逐步進(jìn)階到“質(zhì)量4.0”(Quality 4.0) 階段,這些推動(dòng)“工業(yè)4.0”發(fā)展的大量新工具和技術(shù)方法,...
2021-03-31 標(biāo)簽:質(zhì)量失效分析深度學(xué)習(xí) 2471 0
外觀檢查就是目測(cè)或利用一些簡(jiǎn)單儀器,如立體顯微鏡、金相顯微鏡甚至放大鏡等工具檢查PCB的外觀,尋找失效的部位和相關(guān)的物證,主要的作用就是失效定位和初步判...
No.1 案例背景 當(dāng)芯片底部出現(xiàn)焊接不良的問題時(shí),我們可以怎么進(jìn)行失效分析呢? 本篇案例運(yùn)用X-ray檢測(cè)——斷面檢測(cè)——焊錫高度檢測(cè)——SEM檢測(cè)的...
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)出現(xiàn)于20世紀(jì)80年代末,經(jīng)過十多年的發(fā)展已成為顯微組織與晶體學(xué)分析相結(jié)合的一種新的圖像分析技術(shù)。因其成像依賴于晶體的取向...
LED燈具的壽命和質(zhì)量與溫度密切關(guān)聯(lián),燈珠溫度、外殼溫度、散熱溫度將關(guān)系到LED燈具的光照均勻、人身安全和質(zhì)量壽命,本文主要介紹使用紅外熱像儀檢測(cè)LED...
LED芯片是LED照明的核心部件,芯片溫度過高會(huì)嚴(yán)重影響LED壽命和發(fā)光質(zhì)量;散熱片作為芯片的唯一散熱手段,在設(shè)計(jì)中必須關(guān)注溫度的分布狀態(tài);本文主要介紹...
隨著電子設(shè)計(jì)朝輕薄方向發(fā)展,PCB制造工藝中的高密度集成(HDI)技術(shù)使終端產(chǎn)品設(shè)計(jì)更加小型化,同時(shí)滿足電子性能和效率的要求。HDI目前廣泛應(yīng)用于手機(jī)、...
引 言 電阻失效發(fā)生的機(jī)理是多方面的,環(huán)境或工作條件若發(fā)生變化都有可能造成電阻的失效。其中,因外部水汽或其它腐蝕性氣體等造成電阻膜腐蝕,進(jìn)而導(dǎo)致電阻開路...
器件一旦壞了,千萬不要敬而遠(yuǎn)之,而應(yīng)該如獲至寶。開車的人都知道,哪里最能練出駕駛水平?高速公路不行,只有鬧市和不良路況才能提高水平。社會(huì)的發(fā)展就是一個(gè)發(fā)...
2021-06-26 標(biāo)簽:失效分析 1991 0
在集成電路封裝行業(yè)中,引線鍵合工藝的應(yīng)用產(chǎn)品超過90%。引線鍵合是指在一定的環(huán)境下,采用超聲加壓的方式,將引線兩端分別焊接在芯片焊盤上和引線框架上,從而...
BGA焊點(diǎn)失效分析——冷焊與葡萄球效應(yīng)
BGA(Ball Grid Array)是一種高密度的表面貼裝封裝技術(shù),它將芯片的引腳用焊球代替,并以網(wǎng)格狀排列在芯片的底部,通過回流焊與印刷電路板(P...
2023-12-27 標(biāo)簽:BGA焊點(diǎn)失效分析 1952 0
芯片開封decap簡(jiǎn)介及芯片開封在失效分析中應(yīng)用案例分析
DECAP:即開封,業(yè)內(nèi)也稱開蓋,開帽。是指將完整封裝的IC做局部腐蝕,使得IC可以暴露出來 ,同時(shí)保持芯片功能的完整無損,為下一步芯片失效分析實(shí)驗(yàn)做準(zhǔn)...
客戶報(bào)告的故障文檔對(duì)于高效的FA非常重要。所有客戶都必須提交一份 客戶退貨信息表格,該表格由FA分析師保留以供審查。它包括設(shè)備歷史記錄,使用情況,故障...
失效分析和可靠性測(cè)試:為什么SAM現(xiàn)在是必不可少的設(shè)備
來源:《半導(dǎo)體芯科技》雜志 掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM,Scanning Acoustic Microscopy)已成為半導(dǎo)體供應(yīng)鏈完整性、在線制造、研發(fā)、...
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