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測(cè)試

測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專(zhuān)用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。

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測(cè)試技術(shù)

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Fluke 725S多功能過(guò)程校驗(yàn)儀的主要特性和功能應(yīng)用分析

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泰克示波器新頻譜分析功能Spectrum View的特點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景

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2020-09-19 標(biāo)簽:測(cè)試示波器asic 2719 0

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而欺騙性雷達(dá)干擾,是模擬目標(biāo)的回波特性,使雷達(dá)獲得虛假目標(biāo)信息,作出錯(cuò)誤判斷或增大雷達(dá)自動(dòng)跟蹤系統(tǒng)的誤差。

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數(shù)據(jù)測(cè)試:UI測(cè)試常見(jiàn)BUG

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小功率電子負(fù)載實(shí)現(xiàn)快速負(fù)載瞬態(tài)測(cè)試

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負(fù)載瞬態(tài)通常使用電子負(fù)載(E-Load)進(jìn)行測(cè)試,前面提到,負(fù)載的跳變斜率(Slew Rate)將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生關(guān)鍵影響,然而受設(shè)備內(nèi)部電路限制,常規(guī)電...

2023-02-03 標(biāo)簽:測(cè)試轉(zhuǎn)換器MOSFET 2692 0

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工藝性方面主要考慮ICT自動(dòng)測(cè)試的定位精度、基板大小、探針類(lèi)型等影響探測(cè)可靠性的因素。

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2024-01-04 標(biāo)簽:測(cè)試測(cè)試儀連接器 2685 0

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2019-12-10 標(biāo)簽:測(cè)試軟件編碼 2678 0

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對(duì)于這個(gè)簡(jiǎn)單的系統(tǒng),其測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)不算簡(jiǎn)單,而對(duì)于總共有60多個(gè)工程,至少有20個(gè)以上的進(jìn)程同時(shí)運(yùn)行的DCS綜合自動(dòng)化控制系統(tǒng),其測(cè)試方案圖就更復(fù)雜了,...

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2022-07-14 標(biāo)簽:測(cè)試電源效率demo板 2597 0

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2020-09-24 標(biāo)簽:測(cè)試示波器存儲(chǔ)器 2594 0

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本方案是北京度緯科技有限公司針對(duì)EN50332標(biāo)準(zhǔn),推出的完全符合該標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方案,可以滿足各個(gè)場(chǎng)景標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的需求。

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2024-10-03 標(biāo)簽:測(cè)試功率計(jì) 2593 0

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