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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專(zhuān)用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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如何快速搭建一個(gè)MQTT協(xié)議的測(cè)試環(huán)境
大家好,我是麥?zhǔn)?,之前有小伙伴建議出一期如何快速搭建一個(gè)MQTT協(xié)議的測(cè)試環(huán)境,因?yàn)樽约簩?xiě)的mqtt測(cè)試工具總是有這樣那樣的問(wèn)題。
如何使用AP525測(cè)試泰凌硬件的音頻指標(biāo)(一)—基本音頻參數(shù)簡(jiǎn)介
音頻的位深決定了所能表示的動(dòng)態(tài)范圍,比如16位ADC動(dòng)態(tài)范圍=20*lg(2^16/1)≈96dB,24位ADC動(dòng)態(tài)范圍=20*lg(2^24/1)=1...
Fluke 725S多功能過(guò)程校驗(yàn)儀的主要特性和功能應(yīng)用分析
Fluke 725S多功能過(guò)程校驗(yàn)儀測(cè)試和校準(zhǔn)幾乎所有的過(guò)程參數(shù)。
為英特爾xdk安裝的windows adb驅(qū)動(dòng)程序
Installing the Windows Android ADB driver for use with the Intel XDK Debug tab.
2018-10-17 標(biāo)簽:測(cè)試英特爾驅(qū)動(dòng)程序 2722 0
泰克示波器新頻譜分析功能Spectrum View的特點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景
前兩篇文章主要介紹了Spectrum View的功能特點(diǎn)及相關(guān)理論知識(shí),與示波器傳統(tǒng)的FFT測(cè)試頻譜方法相比,Spectrum View具有獨(dú)到的優(yōu)勢(shì),...
示波器+相控陣測(cè)量選件破解干擾機(jī)測(cè)量難題
而欺騙性雷達(dá)干擾,是模擬目標(biāo)的回波特性,使雷達(dá)獲得虛假目標(biāo)信息,作出錯(cuò)誤判斷或增大雷達(dá)自動(dòng)跟蹤系統(tǒng)的誤差。
數(shù)據(jù)測(cè)試:UI測(cè)試常見(jiàn)BUG
數(shù)據(jù)測(cè)試:UI測(cè)試常見(jiàn)BUG
小功率電子負(fù)載實(shí)現(xiàn)快速負(fù)載瞬態(tài)測(cè)試
負(fù)載瞬態(tài)通常使用電子負(fù)載(E-Load)進(jìn)行測(cè)試,前面提到,負(fù)載的跳變斜率(Slew Rate)將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生關(guān)鍵影響,然而受設(shè)備內(nèi)部電路限制,常規(guī)電...
2023-02-03 標(biāo)簽:測(cè)試轉(zhuǎn)換器MOSFET 2692 0
工藝性方面主要考慮ICT自動(dòng)測(cè)試的定位精度、基板大小、探針類(lèi)型等影響探測(cè)可靠性的因素。
連接器測(cè)試項(xiàng)目有哪些 測(cè)試項(xiàng)目介紹
連接器是一種廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備中的元器件,主要用于連接電路和傳輸信號(hào)。連接器的性能直接影響到電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。因此,對(duì)連接器進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試是非常...
如何通過(guò)腳本方案實(shí)現(xiàn)對(duì)ECU進(jìn)行固件升級(jí)
由于使用圖形化的配置方式,QzTitan相比于使用硬編碼具有更強(qiáng)的靈活性,使得非軟件開(kāi)發(fā)人員也能輕松使用。
示波器如何測(cè)試特定的脈沖信號(hào)?還在一個(gè)個(gè)數(shù)?
有個(gè)客戶在使用示波器時(shí)遇到了這樣一個(gè)問(wèn)題,他測(cè)試的信號(hào)每間隔一段時(shí)間就會(huì)發(fā)出40-70個(gè)脈沖,但他就想看第21個(gè)脈沖,問(wèn)如何設(shè)置?我說(shuō)可以利用示波器的單...
DAB Announcement高效測(cè)試方案及應(yīng)用分析
本文檔主要講解了基于ETI測(cè)試流、基于IQ采集的數(shù)據(jù)流、基于專(zhuān)業(yè)射頻測(cè)試儀表三種DAB Announcement測(cè)試方案,以及這三種測(cè)試方案的總結(jié)比較和...
基于CodeTest嵌入式測(cè)試工具實(shí)現(xiàn)DCS分布式系統(tǒng)的測(cè)試方案
對(duì)于這個(gè)簡(jiǎn)單的系統(tǒng),其測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)不算簡(jiǎn)單,而對(duì)于總共有60多個(gè)工程,至少有20個(gè)以上的進(jìn)程同時(shí)運(yùn)行的DCS綜合自動(dòng)化控制系統(tǒng),其測(cè)試方案圖就更復(fù)雜了,...
電源如何進(jìn)行效率測(cè)試 注意事項(xiàng)有哪些
效率是電源測(cè)試中十分常見(jiàn)的測(cè)試項(xiàng),高效的電源表現(xiàn)是眾多廠家一直追求的目標(biāo)。在芯片的規(guī)格書(shū)中,一般會(huì)提供幾種常見(jiàn)輸入輸出應(yīng)用下的效率曲線。當(dāng)我們實(shí)際的應(yīng)用...
如何測(cè)試信號(hào)完整性,有哪些實(shí)現(xiàn)方法
信號(hào)完整性測(cè)試的手段有很多,主要的一些手段有波形測(cè)試、眼圖測(cè)試、抖動(dòng)測(cè)試等,目前應(yīng)用比較廣泛的信號(hào)完整性測(cè)試手段應(yīng)該是波形測(cè)試,即使用示波器測(cè)試波形幅度...
EN50332—媒體播放器(含耳機(jī))輸出音量安全規(guī)范測(cè)試方案
本方案是北京度緯科技有限公司針對(duì)EN50332標(biāo)準(zhǔn),推出的完全符合該標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方案,可以滿足各個(gè)場(chǎng)景標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的需求。
功率計(jì)的測(cè)試方法_功率計(jì)校準(zhǔn)步驟
功率計(jì)的方法主要包括以下幾個(gè)步驟: 一、準(zhǔn)備工作 設(shè)備檢查:確保功率計(jì)和被測(cè)電路或設(shè)備處于正常工作狀態(tài)。檢查電源和連接線路是否良好,...
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