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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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基于DWC_ether_qos的以太網(wǎng)驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)-RTOS環(huán)境移植LWIP與性能測(cè)試
本文轉(zhuǎn)自公眾號(hào),歡迎關(guān)注 基于DWC_ether_qos的以太網(wǎng)驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)-RTOS環(huán)境移植LWIP與性能測(cè)試 (qq.com) https://mp.w...
低功耗設(shè)備休眠電流只有納安和微安級(jí),工作時(shí)電流可達(dá)到毫安和安培級(jí)別,并且電流會(huì)在瞬間變化,怎么測(cè)試和評(píng)估這種設(shè)備的平均功耗,本文分享幾種方案。
Xilinx 4x100G轉(zhuǎn)發(fā)器的參考設(shè)計(jì)介紹
了解在VC730 OTN測(cè)試開(kāi)發(fā)平臺(tái)上運(yùn)行的Xilinx 4x100G轉(zhuǎn)發(fā)器參考設(shè)計(jì)。 (簡(jiǎn)明版)
2018-11-30 標(biāo)簽:測(cè)試賽靈思轉(zhuǎn)發(fā)器 3202 0
VCSEL常見(jiàn)測(cè)試參數(shù)特性分析VCSEL器件廣泛應(yīng)用于3D人臉識(shí)別和距離傳感。當(dāng)VCSEL陣列用于TOF模組,特別是激光雷達(dá)一類的dTOF系統(tǒng)時(shí),VCS...
鋰離子電池隔膜性能的優(yōu)劣決定著鋰離子電池的容量、循環(huán)性能、充放電電流密度等關(guān)鍵特性,要求隔膜具有合適的厚度、離子透過(guò)率、孔徑和孔隙率及足夠的化學(xué)穩(wěn)定性、...
匹配試驗(yàn)項(xiàng)目負(fù)性阻抗負(fù)性阻抗-R也稱為發(fā)振余裕度,用于評(píng)價(jià)晶振在發(fā)振回路上的發(fā)振能力。發(fā)振余裕度不足時(shí),會(huì)導(dǎo)致振蕩電路振蕩不穩(wěn)定甚至啟動(dòng)失效等問(wèn)題。負(fù)性...
鈣鈦礦太陽(yáng)能電池是以鈣鈦礦型晶體為主要吸光材料的太陽(yáng)能電池,具有高光電轉(zhuǎn)換效率、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、制備工藝多樣化、成本低等優(yōu)點(diǎn)。目前,單結(jié)鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的理論...
2024-03-23 標(biāo)簽:太陽(yáng)能電池測(cè)試 3140 0
ADI公司所擁有的模塊設(shè)計(jì)和生產(chǎn)能力介紹
這個(gè)簡(jiǎn)短視頻將介紹ADI公司所擁有的全面獨(dú)特的制造和測(cè)試能力的設(shè)備,該設(shè)備位于馬薩諸塞州切姆斯福德,已獲得ISO 9001和AS9100認(rèn)證。
2018-06-05 標(biāo)簽:測(cè)試adi模塊設(shè)計(jì) 3135 0
黑盒測(cè)試(Black-box Testing,又稱為功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試)是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測(cè)試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí),需要測(cè)試軟件產(chǎn)品的...
采用串行通信方式實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)中自動(dòng)測(cè)試設(shè)備和被測(cè)單元的通信設(shè)計(jì)
在某測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)中,需要用數(shù)據(jù)總線來(lái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment,簡(jiǎn)稱,ATE)和被測(cè)單元(Unit Under...
2020-04-09 標(biāo)簽:測(cè)試串行通信信號(hào)發(fā)生器 3108 0
如今,全球已經(jīng)進(jìn)入信息時(shí)代,包羅萬(wàn)象的信息網(wǎng)是由一個(gè)個(gè)光纖鏈路組合而成,光纖網(wǎng)絡(luò)為實(shí)現(xiàn)5G的萬(wàn)物互聯(lián)奠定基礎(chǔ)。未來(lái)信息技術(shù)的前景依賴光網(wǎng)絡(luò)的穩(wěn)定,無(wú)論在...
Java開(kāi)發(fā)員應(yīng)該知道的十種測(cè)試框架庫(kù)
測(cè)試能力可謂是鑒別專業(yè)開(kāi)發(fā)人員與業(yè)余新手的利器。它不僅體現(xiàn)在是否能遵循TDD(Test-Driven Development,測(cè)試驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā))、BDD(B...
我們知道,如果一個(gè)公司提供涉及藍(lán)牙技術(shù)或使用任何藍(lán)牙商標(biāo)(包括“藍(lán)牙”字詞)的產(chǎn)品,則它首先必須成為 Bluetooth SIG 的成員并將產(chǎn)品完成藍(lán)牙...
在電子產(chǎn)品的可靠性驗(yàn)證測(cè)試中,模板測(cè)試非常實(shí)用,長(zhǎng)時(shí)間監(jiān)控波形的故障率,并根據(jù)故障波形定位原因是保證品控質(zhì)量的重要手段,本文將對(duì)示波器的模板測(cè)試功能做詳...
EEMBC 的 CoreMark? 評(píng)分是一種比較通用的基準(zhǔn)測(cè)試方式,用于測(cè)量嵌入式系統(tǒng)中使用的微控制器(MCU)和中央處理單元(CPU)的性能,可以幫...
2023-10-09 標(biāo)簽:測(cè)試基準(zhǔn)測(cè)試編譯 3074 0
二極管是一種允許電流單向流動(dòng)的半導(dǎo)體器件,正常工作時(shí)正向壓降通常在0.3V至0.8V之間。數(shù)字萬(wàn)用表通過(guò)測(cè)量并比較二極管正反向電壓降來(lái)判斷其好壞。在測(cè)試...
2024-09-10 標(biāo)簽:二極管測(cè)試數(shù)字萬(wàn)用表 3071 0
IT8700P系列多路輸入可編程直流電子負(fù)載的測(cè)試應(yīng)用
IT8700P系列多路輸入可編程直流電子負(fù)載在IT8700的基礎(chǔ)上進(jìn)行了改良并升級(jí),繼承了原有可抽換式模塊化的設(shè)計(jì),單機(jī)框可達(dá)8個(gè)通道,擴(kuò)展機(jī)框可達(dá)16...
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