聊聊IC測試機（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？

自動測試設備 (ATE)對PLL（鎖相環(huán)）進行測試時，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級芯片（SoC）中的重要性。

2023-11-01 標簽：鎖相環(huán)DFTATE 4.5k 0

聊聊IC測試機（3）基于ATE的IC測試原理、方法及故障分析

本文以ATE為基礎，討論了 集成電路測試的基本原理和測試方法，并進行了故 障分析.

2023-11-01 標簽：濾波電容輸出電壓PSRR 3.4k 0

聊聊IC測試機（1）ATE/ATS內部結構簡介

ATE(Auto Test Equipment) 在測試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵信號，同時監(jiān)測芯片的輸出管腳，看其輸出信號是否是...

2023-11-01 標簽：控制器適配器DSP芯片 7k 0

ATE如何測試PLL

兩種方法： 時域和頻域測試，如下： ?方法1. ATE time measurement unit （ TMU）測試。（時域，需要額外的TMU lice...

2023-10-30 標簽：測試ICpll 2.3k 0

測試向量是什么意思

測試向量及其生成 測試向量（Test Vector）的一個基本定義是：測試向量是每個時鐘周期應用于器件管腳的用于測試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。 這一...

2023-10-30 標簽：測試IC測量 5.4k 0

ATE/ATS內部結構簡介

ATE/ATS：自動測試設備/自動測試系統(tǒng)，也稱測試機是測試工程師在IC測試中必須使用的工具，本文主要從技術層面對ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...

2023-10-30 標簽：測試IC儀器 2.9k 0

IT8500G+升級版可編程直流電子負載解決方案

傳統(tǒng)電源測試，需要工程師手動設置直流電子負載的參數(shù)進行拉載測試，人工記錄電源在不同負載狀態(tài)下的輸出參數(shù)，再由操作者根據(jù)標準判斷電源是否合格，測試效率極其...

2023-08-23 標簽：示波器電子負載電源測試 1.6k 0

基于新型MEMS開關提高SoC測試能力及系統(tǒng)產出

本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試，從而降低測試成本，簡化數(shù)字/RF片...

2023-07-10 標簽：ATEMEMS開關寬帶寬 1k 0

ATE引腳電子器件的電平設置DAC校準

本文提供一種校準數(shù)模轉換器(DAC)的方法，專用于引腳電子器件驅動器、比較器、負載、PMU和DPS。

2023-07-11 標簽：dac電子器件ATE 1.5k 0

一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法

本文詳細介紹一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法，該方法能為設備電源(DPS)提供正負電壓軌，并且只需要一個雙向電源。傳統(tǒng)的設備電源供電方法使用兩個雙向（拉電流和...

2023-07-14 標簽：輸出電壓ATE機械設備 1.5k 0

預算有限的自動測試設備

電子設備測試的復雜性差異很大，從最簡單的類型（手動測試）到最復雜的大型自動測試設備（ATE）。在簡單的手動測試和大規(guī)模ATE之間，是低預算和中等規(guī)模的測...

2023-03-28 標簽：電源隔離器ATE 2k 0

如何校準ATE引腳電子設備的電平設置DAC

以下是如何通過增益和偏移調整了解其功能、誤差和校準來校準 ATE 引腳電子器件的電平設置 DAC。

2022-08-10 標簽：dac數(shù)模轉換器ATE 2.1k 0

ATE系統(tǒng)助力多維度打造穩(wěn)定高效的自動測試設備

多維度入手打造穩(wěn)定高效的自動測試設備，迎接集成電路融合時代的機遇與挑戰(zhàn) 5G、人工智能、新能源等新技術的成熟驅動各行業(yè)加速數(shù)字化轉型落地，從而持續(xù)推動全...

2022-07-04 標簽：集成電路自動測試ATE 2.7k 1

基于Microchip的53100A相位噪聲分析儀

Microchip的53100A相位噪聲分析儀是一種非常高質量和高性能的工具（圖1），可以測量射頻源的幅度，相位和頻率穩(wěn)定性。它的測量范圍很寬，介于1 ...

2021-05-07 標簽：dsp振蕩器cpu 6.7k 0