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標(biāo)簽 > ate
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫(xiě),于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動(dòng)測(cè)試機(jī),用于檢測(cè)集成電路功能之完整性, 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程, 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
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測(cè)試向量及其生成 測(cè)試向量(Test Vector)的一個(gè)基本定義是:測(cè)試向量是每個(gè)時(shí)鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測(cè)試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。 這一...
ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介
ATE/ATS:自動(dòng)測(cè)試設(shè)備/自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),也稱測(cè)試機(jī)是測(cè)試工程師在IC測(cè)試中必須使用的工具,本文主要從技術(shù)層面對(duì)ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...
IT8500G+升級(jí)版可編程直流電子負(fù)載解決方案
傳統(tǒng)電源測(cè)試,需要工程師手動(dòng)設(shè)置直流電子負(fù)載的參數(shù)進(jìn)行拉載測(cè)試,人工記錄電源在不同負(fù)載狀態(tài)下的輸出參數(shù),再由操作者根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判斷電源是否合格,測(cè)試效率極其...
基于新型MEMS開(kāi)關(guān)提高SoC測(cè)試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出
本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開(kāi)關(guān)如何助力一次性通過(guò)單插入測(cè)試,以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試,從而降低測(cè)試成本,簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片...
2023-07-10 標(biāo)簽:ATEMEMS開(kāi)關(guān)寬帶寬 800 0
ATE引腳電子器件的電平設(shè)置DAC校準(zhǔn)
本文提供一種校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法,專用于引腳電子器件驅(qū)動(dòng)器、比較器、負(fù)載、PMU和DPS。
本文詳細(xì)介紹一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法,該方法能為設(shè)備電源(DPS)提供正負(fù)電壓軌,并且只需要一個(gè)雙向電源。傳統(tǒng)的設(shè)備電源供電方法使用兩個(gè)雙向(拉電流和...
2023-07-14 標(biāo)簽:輸出電壓ATE機(jī)械設(shè)備 1004 0
什么是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備?是如何工作的?
在改進(jìn)功能的同時(shí)提供高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的需求促使制造商轉(zhuǎn)向可靠且保證可重復(fù)性的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)。ATE可幫助制造商執(zhí)行多項(xiàng)準(zhǔn)確的測(cè)試并減少故障和錯(cuò)誤的發(fā)生...
2023-06-29 標(biāo)簽:ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 1598 0
以更低的成本實(shí)現(xiàn)更高的半導(dǎo)體測(cè)試吞吐量
在這種環(huán)境下,ATE設(shè)計(jì)人員努力增加每一代通道的數(shù)量并不少見(jiàn)。提高測(cè)試能力意味著主板(具有大量引腳驅(qū)動(dòng)器電子元件的驅(qū)動(dòng)板)將需要大量功率才能運(yùn)行。當(dāng)然,...
2023-06-28 標(biāo)簽:驅(qū)動(dòng)器ATEDUT 661 0
預(yù)算有限的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
電子設(shè)備測(cè)試的復(fù)雜性差異很大,從最簡(jiǎn)單的類型(手動(dòng)測(cè)試)到最復(fù)雜的大型自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)。在簡(jiǎn)單的手動(dòng)測(cè)試和大規(guī)模ATE之間,是低預(yù)算和中等規(guī)模的測(cè)...
基于特征點(diǎn)法的視覺(jué)SLAM系統(tǒng)很難應(yīng)用于稠密建圖,且容易丟失動(dòng)態(tài)對(duì)象。而基于直接法的SLAM系統(tǒng)會(huì)跟蹤圖像幀之間的所有像素,因此在動(dòng)態(tài)稠密建圖方面可以取...
高精度寬帶寬電流測(cè)量信號(hào)鏈的實(shí)例介紹
為數(shù)據(jù)處理、網(wǎng)絡(luò)、便攜式、可穿戴和其他計(jì)算應(yīng)用設(shè)計(jì)并優(yōu)化電源解決方案,需要對(duì)電壓和電流進(jìn)行精確、寬帶、高動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量。
2023-02-23 標(biāo)簽:濾波器MSPS數(shù)字信號(hào)電平 1334 0
半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)的相關(guān)術(shù)語(yǔ)
ATE = Automatic Test Equipment. 是自動(dòng)化測(cè)試設(shè)的縮寫(xiě),于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動(dòng)測(cè)試機(jī), 用于檢測(cè)集成電路功能...
2022-11-01 標(biāo)簽:半導(dǎo)體ATE測(cè)試設(shè)備 5305 0
一種動(dòng)態(tài)環(huán)境下的直接視覺(jué)里程計(jì)
其一是實(shí)際環(huán)境中的動(dòng)態(tài)物體不一定被預(yù)訓(xùn)練,另一是算法無(wú)法區(qū)分"動(dòng)態(tài)物體"和"靜止但可能移動(dòng)的物體"。
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中選擇器件電源(DPS)IC的指南
器件電源(DPS) IC具有靈活的電壓驅(qū)動(dòng)和電流驅(qū)動(dòng)容量,能夠?yàn)樽詣?dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)提供動(dòng)態(tài)測(cè)試能力。當(dāng)負(fù)載電流介于兩個(gè)設(shè)定限流值之間時(shí),DPS IC...
如何校準(zhǔn)ATE引腳電子設(shè)備的電平設(shè)置DAC
以下是如何通過(guò)增益和偏移調(diào)整了解其功能、誤差和校準(zhǔn)來(lái)校準(zhǔn) ATE 引腳電子器件的電平設(shè)置 DAC。
2022-08-10 標(biāo)簽:dac數(shù)模轉(zhuǎn)換器ATE 1669 0
ATE系統(tǒng)助力多維度打造穩(wěn)定高效的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
多維度入手打造穩(wěn)定高效的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,迎接集成電路融合時(shí)代的機(jī)遇與挑戰(zhàn) 5G、人工智能、新能源等新技術(shù)的成熟驅(qū)動(dòng)各行業(yè)加速數(shù)字化轉(zhuǎn)型落地,從而持續(xù)推動(dòng)全...
2022-07-04 標(biāo)簽:集成電路自動(dòng)測(cè)試ATE 2442 1
如何獲取除了數(shù)據(jù)手冊(cè)以外的ADC芯片數(shù)據(jù)
設(shè)計(jì)中選擇高分辨率ADC時(shí),經(jīng)常需要了解一些數(shù)據(jù)手冊(cè)中通??赡懿粫?huì)公布的特性數(shù)據(jù),例如,全部代碼范圍內(nèi)的轉(zhuǎn)換器噪聲性能。在數(shù)據(jù)手冊(cè)中,您不一定能找到這一...
對(duì)于ATE測(cè)試儀器儀表,典型測(cè)試設(shè)備系統(tǒng)設(shè)計(jì)
由于待測(cè)器件(DUT)的復(fù)雜性提高,通道/引腳數(shù)量和功能增加,因而測(cè)試類型和所需測(cè)試數(shù)量也隨之增加。并且每個(gè)器件評(píng)估需要進(jìn)行數(shù)百項(xiàng)測(cè)試,特別是在自動(dòng)測(cè)試...
2018-07-16 標(biāo)簽:測(cè)試測(cè)量adiMEMS 1.6萬(wàn) 0
ATEstar通用測(cè)試平臺(tái)管理系統(tǒng)
采用通用性和多線程的設(shè)計(jì)思想,研制一種通用測(cè)試平臺(tái)管理系統(tǒng),具體實(shí)現(xiàn)分為配置和運(yùn)行兩大部分。配置包括數(shù)據(jù)輸入定義和顯示存儲(chǔ)定義等功能。運(yùn)行根據(jù)配置參數(shù)按...
2018-05-23 標(biāo)簽:ate 2651 0
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