兩種方法: 時域和頻域測試,如下:
?方法1. ATE time measurement unit ( TMU)測試。(時域,需要額外的TMU license,因此常不采用。)
實施步驟:ATE 構(gòu)造TMU TASK。TMU可以非常高精度地根據(jù)task設(shè)置trigger到上升沿的時刻,因此可以通過兩個上升沿的差值計算出頻率,支持多次采樣,如下圖所示:
?方法2. 構(gòu)造采樣向量,離散傅里葉公式計算頻譜,頻譜的最大和第2大頻率轉(zhuǎn)換即為待測信號頻率。(頻域)
?a)預(yù)先構(gòu)造一條全L的向量,假設(shè)叫做PLL_sample.
?b) 運行DFT PLL向量的測試項。運行后, 不復(fù)位的情況下DUT此時穩(wěn)定輸出時鐘信號。
?c) 運行預(yù)先構(gòu)造好的向量PLL_sample,收集fail cycle,也就是ATE的error
map。獲得一串0/1組成的一維序列,如下圖(點擊可放大):
?d)。對獲得一維序列進行漢明窗口卷積后,使用快速離散傅立葉變換獲得頻譜。通過頻譜可以相當高精度的獲得輸出的頻率,通過spec進行分bin。
實際步驟:首先應(yīng)用DSP_FFT與漢明窗口。然后搜索頻譜第一大主頻kmax 和第二大頻,(kmax-1 或者kmax+1)。如圖所示,第1大和第2大頻率成為關(guān)鍵參數(shù)。
核心為兩個公式:
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測試
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IC
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pll
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ATE
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