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高加速溫度和濕度應(yīng)力測(cè)試(強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn))BHAST通過對(duì)芯片施加嚴(yán)苛的溫度、濕度和偏置條件來加速水汽穿透外部保護(hù)材料(灌封或密封)或外部保護(hù)材料和...
2024-01-02 標(biāo)簽:DUT 1.3萬 0
小電流單相接地:單相接地故障一般是指高壓交流電三相中的其中任意相由于絕緣層損傷方式的短路故障,主要是高壓弧光電弧放電擊穿絕緣保護(hù)層引起的故障。 我國配電...
有一種篤定叫我有操作手冊(cè)。遇見對(duì)的,就讓自己的一顆心,從此安定下來! MPI TS200操作手冊(cè) 第一步: 準(zhǔn)備本次測(cè)試的 DUT 和相應(yīng)的探針與電纜,...
半導(dǎo)體晶圓級(jí)探針臺(tái)操作手冊(cè)
有一種幸福叫我有操作手冊(cè)。一個(gè)人的好都在細(xì)節(jié)里! TS200SE探針臺(tái)操作手冊(cè) 第一步: 準(zhǔn)備本次測(cè)試的DUT和相應(yīng)的探針與電纜,將相應(yīng)的探針擺放完畢,...
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了基于燈具尺寸的積分球尺寸,但MIKO?AJPRZYBY?A解釋說,對(duì)于許多產(chǎn)品開發(fā)和測(cè)試目的,較小的球體可以提供可接受的測(cè)量精度。
給大家分享一些模擬和矢量信號(hào)源進(jìn)階使用技巧
通常射頻信號(hào)源的簡單應(yīng)用通常只是輸入頻率、功率,加上一些模擬、數(shù)字調(diào)制,然而要充分挖掘出信號(hào)源的潛力和性能需要更多的技巧。本應(yīng)用指南會(huì)告訴您可以通過更多...
2021-06-18 標(biāo)簽:發(fā)射機(jī)衰減器GaAs 8.7k 0
CAN節(jié)點(diǎn)一致性測(cè)試究竟有多重要
CAN一致性測(cè)試在于縮小CAN總線節(jié)點(diǎn)間的差異,提高總線抗干擾能力,從而保障設(shè)備CAN網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)的穩(wěn)定。因此,CAN節(jié)點(diǎn)一致性測(cè)試就顯得尤為重要,本文將重...
考慮到理想方法存在的問題,在臺(tái)架測(cè)試環(huán)境中通常選擇的方法是將 DUT 置于圖一 所示的反相增益配置中。這種方法的優(yōu)勢(shì)在于 DUT 穩(wěn)定且通常無需額外補(bǔ)償...
2022-09-20 標(biāo)簽:放大器運(yùn)算放大器VOS 5.6k 0
一、準(zhǔn)備本次測(cè)試的DUT和相應(yīng)的探針與電纜,將相應(yīng)的探針擺放完畢,佩戴相應(yīng)的手套、防靜電手環(huán)等。 二、確認(rèn)打開壓縮空氣、真空、電源等廠務(wù)后,按下白色電源...
S參數(shù)去嵌:在高速電路設(shè)計(jì)與測(cè)試中的精確化探索
在高速電路設(shè)計(jì)與測(cè)試領(lǐng)域,S參數(shù)(散射參數(shù))扮演著至關(guān)重要的角色。
在未來幾個(gè)月中,半導(dǎo)體短缺將成為影響各行各業(yè)乃至全球經(jīng)濟(jì)的主要挑戰(zhàn)之一。受新冠疫情影響,“智能辦公”成為新常態(tài),而這推動(dòng)了智能手機(jī)、PC 和其他電子設(shè)備...
羅德與施瓦茨推出新的低成本多DUT同時(shí)測(cè)試方案
? 用戶在測(cè)試5G FR1介質(zhì)濾波器、隔離器這類無源器件的S參數(shù)時(shí),由于產(chǎn)品自身物理特性的限制,通常每個(gè)器件都需要調(diào)試。 測(cè)試挑戰(zhàn) 元器件生產(chǎn)調(diào)試時(shí)間長...
R&S?ESW-B1000寬帶擴(kuò)展選件提高EMI測(cè)試速度和可靠性
在EMI認(rèn)證測(cè)試中,EMI接收機(jī)是最重要的測(cè)試測(cè)量設(shè)備,在CISPR 16-1-1(對(duì)應(yīng)國標(biāo)GB6113.101)標(biāo)準(zhǔn)中,對(duì)認(rèn)證級(jí)接收機(jī)的性能進(jìn)行了要求。
醫(yī)用電氣設(shè)備安規(guī)測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)IEC60601解讀(2)
醫(yī)用電氣設(shè)備安規(guī)測(cè)試通用標(biāo)準(zhǔn)IEC60601解讀(2)綜合醫(yī)療電氣安規(guī)測(cè)試儀SECULIFE ST PRO可提供10個(gè)患者應(yīng)用部分接口,可方便進(jìn)行患者泄...
在流片前驗(yàn)證中如何測(cè)量功耗 執(zhí)行功耗分析的步驟是什么
一般來說,功耗測(cè)量是在門級(jí)進(jìn)行,通過由回歸向量組成的驗(yàn)證平臺(tái)執(zhí)行 DUT,然后跟蹤 DUT 的開關(guān)活動(dòng)來完成。該方法有兩個(gè)問題。
Timer測(cè)試方案 Timer測(cè)試平臺(tái)實(shí)現(xiàn) 測(cè)試平臺(tái)debug注意事項(xiàng)
IC驗(yàn)證,一般也稱“功能驗(yàn)證”,我們今天要講的,不是這個(gè),是它的簡化版:模塊測(cè)試,是設(shè)計(jì)工程師完成代碼設(shè)計(jì)后,需要自己做的這部分驗(yàn)證工作。IC驗(yàn)證,我們...
2023-07-14 標(biāo)簽:寄存器IC設(shè)計(jì)VHDL語言 1.7k 0
LitePoint宣布其IQgig-UWB和IQgig-UWB+測(cè)試平臺(tái)通過FiRa聯(lián)盟驗(yàn)證
IQgig 測(cè)試儀系列可為超寬帶無線設(shè)備實(shí)現(xiàn)互操作性和加速批量制造
羅德與施瓦茨聯(lián)合IHP率先驗(yàn)證了D波段6G和汽車?yán)走_(dá)無線測(cè)試裝置
這套測(cè)試裝置包括R&S ATS1000天線測(cè)試系統(tǒng)、R&S ZNA43矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和R&S AMS32天線測(cè)量軟件。
2021-01-30 標(biāo)簽:雷達(dá)芯片羅德與施瓦茨汽車?yán)走_(dá) 1.6k 0
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