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標(biāo)簽 > sem
搜索引擎營銷:英文Search Engine Marketing ,我們通常簡稱為“SEM”。簡單來說,搜索引擎營銷就是基于搜索引擎平臺的網(wǎng)絡(luò)營銷,利用人們對搜索引擎的依賴和使用習(xí)慣,在人們檢索信息的時候?qū)⑿畔鬟f給目標(biāo)用戶。
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制備用于掃描電子顯微鏡(SEM)分析的氬離子拋光和化學(xué)拋光(CP)截面樣品
氬離子束拋光技術(shù)(ArgonIonBeamPolishing,AIBP),一種先進的材料表面處理工藝,它通過精確控制的氬離子束對樣品表面進行加工,以實現(xiàn)...
FIB-SEM 雙束技術(shù)簡介及其部分應(yīng)用介紹
摘要結(jié)合聚焦離子束(FIB)技術(shù)和掃描電子顯微鏡(SEM)的FIB-SEM雙束系統(tǒng),通過整合氣體注入系統(tǒng)、納米操控器、多種探測器以及可控樣品臺等附件,已...
聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)的應(yīng)用領(lǐng)域
聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)作為一種前沿的微觀分析與加工工具,將聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)深度融合,兼具高分辨率成像和精密...
案例展示||FIB-SEM在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用
聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)憑借其高分辨率成像與精準(zhǔn)微加工能力,已成為科學(xué)研究和工程領(lǐng)域不可或缺的工具。它將聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡...
氬離子拋光結(jié)合SEM電鏡:鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu)
氬離子拋光技術(shù)氬離子束拋光技術(shù),亦稱為CP(ChemicalPolishing)截面拋光技術(shù),是一種先進的樣品表面處理手段。該技術(shù)通過氬離子束對樣品進行...
FIB-SEM雙束系統(tǒng):多領(lǐng)域應(yīng)用的前沿技術(shù)
系統(tǒng)構(gòu)成與工作原理FIB-SEM雙束系統(tǒng)是一種集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體的綜合型分析與表征設(shè)備。其基本構(gòu)成是將單束聚焦離子束系統(tǒng)與掃描電子顯微鏡...
氬離子拋光儀:在石油地質(zhì)行業(yè)的應(yīng)用
在石油地質(zhì)SEM中的應(yīng)用掃描電子顯微鏡(SEM)作為石油地質(zhì)領(lǐng)域不可或缺的研究利器,憑借其精準(zhǔn)的微觀觀測能力,對沉積巖中的有機質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石...
一文讀懂!掃描電鏡mapping圖如何助力靜電紡絲纖維結(jié)構(gòu)觀察
在微觀世界的探索中,材料的宏觀性能究竟由其微觀世界中哪些區(qū)域的哪些元素所決定?掃描電鏡mapping圖為我們深入了解材料的微觀結(jié)構(gòu)和成分分布提供了獨特視...
FIB - SEM 技術(shù)在半導(dǎo)體芯片領(lǐng)域的實踐應(yīng)用
在半導(dǎo)體芯片的研發(fā)與失效分析環(huán)節(jié),聚焦離子束雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)憑借其獨特的功能,逐漸成為該領(lǐng)域的核心技術(shù)工具。簡而言之,這一系統(tǒng)將聚焦離子束(F...
2025-08-14 標(biāo)簽:SEMfib半導(dǎo)體芯片 501 0
氬離子拋光儀技術(shù)在石油地質(zhì)的應(yīng)用
解鎖石油勘探掃描電子顯微鏡(SEM)作為石油地質(zhì)領(lǐng)域不可或缺的研究利器,憑借其精準(zhǔn)的微觀觀測能力,對沉積巖中的有機質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石以及儲集巖等...
氬離子截面技術(shù)與SEM在陶瓷電阻分析中的應(yīng)用
SEM技術(shù)及其在陶瓷電阻分析中的作用掃描電子顯微鏡(SEM)是一種強大的微觀分析工具,能夠提供高分辨率的表面形貌圖像。通過SEM測試,可以清晰地觀察到陶...
掃描電鏡:打開微觀世界的“超維相機”,科學(xué)家如何用它破解納米謎題?
傳統(tǒng)顯微鏡受限于可見光波長,放大極限止步于200納米。而掃描電鏡利用高能電子束作為"探針",通過電磁透鏡操控電子軌跡,突破衍射極限,...
DualBeamFIB-SEM技術(shù)在現(xiàn)代材料科學(xué)的探索中,微觀世界的洞察力是推動技術(shù)進步的關(guān)鍵。隨著科技的不斷進步,分析儀器也在不斷升級,以滿足日益復(fù)雜...
在芯片設(shè)計完成后,樣品功能性測試、可靠性測試以及失效分析除錯等環(huán)節(jié)開展之前,樣品備制前處理是不可或缺的關(guān)鍵步驟。其中,芯片切片方式用于斷面/橫截面觀察,...
FIB-SEM雙束系統(tǒng)的工作原理與應(yīng)用
聚焦離子束(Focusionbeam,F(xiàn)IB)結(jié)合掃描電子顯微鏡(Scanningelectronmicroscopy,SEM)結(jié)合形成的雙束系統(tǒng),是現(xiàn)...
FIB與SEM/TEM聯(lián)用:實現(xiàn)材料微觀結(jié)構(gòu)與成分的精準(zhǔn)解析
為深入解析材料的“結(jié)構(gòu)-組成-性能”之間復(fù)雜關(guān)聯(lián),精準(zhǔn)高效的樣品制備已成為微納尺度表征的關(guān)鍵。聚焦離子束(FocusedIonBeam,FIB)作為一種...
氬離子拋光技術(shù)在石油地質(zhì)的應(yīng)用
石油勘探掃描電子顯微鏡(SEM)作為石油地質(zhì)領(lǐng)域不可或缺的研究利器,憑借其精準(zhǔn)的微觀觀測能力,對沉積巖中的有機質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石以及儲集巖等開展...
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