掃描電子顯微鏡（SEM Scanning Electron Microscope）是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，在光電技術(shù)中起到重要作用。

其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。

新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm；放大倍數(shù)可以達到30萬倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大，?視野大，?成像立體效果好。

此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合，可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。

很多學(xué)科都離不開的重要大型科研儀器，掃描電子顯微鏡主要組成部件、基本工作原則、實用程序、表面成像和化學(xué)分析。

SEM工作介紹

掃描電子顯微鏡具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富，幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點。

掃描電子顯微鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究。這有一些比較特別的圖片。

SEM在光纖的開發(fā)中發(fā)揮了不可替代的作用。光纖的端面微結(jié)構(gòu)、瑕疵、成分分析等，都離不開SEM的功能。來分享幾個有意思的特種光纖端面圖：

懸掛芯光纖（參看：簡約但是不簡單-用于光纖預(yù)制棒制備的套管法）

雙芯懸掛光纖

帶隙型空芯光纖

還有很多有意思的特纖結(jié)構(gòu)。



審核編輯：劉清