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電子發(fā)燒友網(wǎng)>模擬技術(shù)>IGBT雙脈沖測(cè)試的意義和原理

IGBT雙脈沖測(cè)試的意義和原理

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2025-06-25 17:17:021543

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2020-12-21 14:25:4510373

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2022-04-17 09:16:307931

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2022-10-12 15:32:583082

脈沖測(cè)試平臺(tái)的架構(gòu)及搭建方案

脈沖測(cè)試是表征功率半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)特性的重要手段,適用于各類功率器件,包括MOSFET、IGBT、Diode、SiC MOSFET、GaN HEMTs。同時(shí),這項(xiàng)測(cè)試發(fā)生在器件研發(fā)、器件生產(chǎn)、系統(tǒng)
2022-10-12 15:31:133901

IGBT損耗和溫度估算

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2023-03-06 15:02:514187

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2023-04-19 09:27:111891

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2023-11-24 16:52:102667

泰克科技功率器件脈沖測(cè)試解決方案

在當(dāng)今快速發(fā)展的電力電子技術(shù)領(lǐng)域,功率半導(dǎo)體器件的性能優(yōu)化至關(guān)重要。脈沖測(cè)試(DPT)作為一種關(guān)鍵的測(cè)試方法,為功率器件的動(dòng)態(tài)行為評(píng)估提供了精準(zhǔn)的手段。本文將深入解析脈沖測(cè)試的原理、應(yīng)用及泰克科技在這一領(lǐng)域的先進(jìn)解決方案,并介紹泰克專家高遠(yuǎn)新書的相關(guān)內(nèi)容。
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2021-09-23 14:43:319641

IGBT脈沖測(cè)試原理解析

有些是不能直接拿來使用的。因此可以通過脈沖測(cè)試,對(duì)IGBT的性能進(jìn)行更為準(zhǔn)確的評(píng)估。脈沖測(cè)試的主要功能如下:1、測(cè)量IGBT的各項(xiàng)動(dòng)態(tài)參數(shù)(td>r、Eon、td off、tf、Eoff 等
2019-09-11 09:49:33

IGBT脈沖測(cè)試疑問

各位好,想請(qǐng)教下脈沖測(cè)試的幾個(gè)參數(shù)問題。項(xiàng)目所用IGBT是1200V 75A的單管,開關(guān)頻率4kHz。初次接觸脈沖測(cè)試,有幾個(gè)疑問:(1)測(cè)試時(shí)的最大電流是按額定75A來,還是150A
2019-11-06 20:47:30

IGBT脈沖測(cè)試過程中,第一個(gè)脈沖關(guān)斷時(shí)候出現(xiàn)電壓抬高的現(xiàn)象,導(dǎo)致炸管了 ,怎么辦

有沒有大佬幫忙分析下,做脈沖測(cè)試的時(shí)候,第一個(gè)脈沖在關(guān)斷的時(shí)候,馬上要關(guān)完了,結(jié)果驅(qū)動(dòng)出現(xiàn)了震蕩,導(dǎo)致管子立馬又開了,然后電流激增,直接就炸管了,這是什么問題啊,圖上是波形和驅(qū)動(dòng)電路,求指導(dǎo)
2025-03-06 16:45:31

IGBT多并聯(lián)脈沖測(cè)試方法

https://mp.weixin.qq.com/s/hR16FxSCcmrGDgItNhLDPw上述視頻包含以下三方面內(nèi)容:— IGBT并聯(lián)均流的影響因素— 六并聯(lián)測(cè)試脈沖測(cè)試步驟— 六并聯(lián)短路測(cè)試講師PPT見附件。
2020-06-28 11:21:33

IGBT短路測(cè)試方法

https://mp.weixin.qq.com/s/5zWSxhNFF19kqCKUh7B4zg上述視頻鏈接包含了以下四個(gè)方面內(nèi)容:— 脈沖測(cè)試要點(diǎn)回顧— 短路的分類與安全工作區(qū)— 短路測(cè)試方法— 測(cè)試注意事項(xiàng)講師PPT見附件。
2020-06-28 10:48:45

IGBT頻率

`如圖請(qǐng)問英飛凌IGBT參數(shù)頻率參數(shù)里最大最小值分別是什么意義`
2017-08-30 13:05:50

脈沖測(cè)試基本原理及意義

視頻講解脈沖基本原理及意義,點(diǎn)擊下方鏈接在線觀看https://mp.weixin.qq.com/s/8BZ8b-Y6yDbRn6uQASV9iA
2020-06-24 14:18:57

NPC I 型三電平脈沖測(cè)試方法

https://mp.weixin.qq.com/s/C2PfLBXd7n2YDJ0ht9loow上述視頻講述了以下四方面內(nèi)容。- NPC I型三電平2種應(yīng)用方式- NPC I型三電平拓?fù)溥\(yùn)行狀態(tài)- NPC I型三電平脈沖測(cè)試方法- NPC I型三電平短路測(cè)試方法講師PPT見附件
2020-06-28 10:40:04

T-NPC三電平電路的脈沖與短路測(cè)試

... 1 T-NPC三電平電路的換流方式與脈沖測(cè)試方法 由于技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用的需要,T型三電平應(yīng)用越來越廣,我們開發(fā)了IGBT7 1200V 62mm共發(fā)射極模塊,最大規(guī)格電流為800A
2024-05-08 23:11:59

T型三電平脈沖測(cè)試方法

https://mp.weixin.qq.com/s/iYQy1ayfMAz7JKcHgS3kgQ上述為視頻鏈接,主要講一下四個(gè)問題。講師PPT見附件?!?T型三電平拓?fù)涞乃姆N結(jié)構(gòu)— T型三電平拓?fù)溥\(yùn)行狀態(tài)— T型三電平脈沖測(cè)試方法— T型三電平短路測(cè)試
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pspice中怎么得到脈沖測(cè)試信號(hào)?可否通過軟件自帶的信號(hào)源得到?
2015-05-27 23:02:05

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泰克示波器在功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)/脈沖測(cè)試的應(yīng)用

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特性,嚴(yán)重制約了其推廣應(yīng)用。從壓接式IGBT的封裝結(jié)構(gòu)和電氣特性出發(fā),基于脈沖測(cè)試原理,設(shè)計(jì)并搭建壓接式IGBT模塊的動(dòng)態(tài)開關(guān)特性測(cè)試平臺(tái)。采用Ansoft Q3D軟件對(duì)測(cè)試平臺(tái)的雜散參數(shù)進(jìn)行仿真,分析雜散參數(shù)的分布特征、影響與提取方法,
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2019-06-29 09:40:5357600

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1.對(duì)比不同的IGBT的參數(shù),例如同一品牌的不同系列的產(chǎn)品的參數(shù),或者是不同品牌的IGBT的性能。
2020-01-08 08:00:0048

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2020-11-16 10:17:415556

脈沖測(cè)試到底是什么

通過脈沖測(cè)試評(píng)估 MOSFET 的反向恢復(fù)特性我們開設(shè)了 Si 功率元器件的新篇章——“評(píng)估篇”。在“通過脈沖測(cè)試評(píng)估 MOSFET 的反向恢復(fù)特性”中,我們將通過脈沖測(cè)試來評(píng)估 MOSFET 體二極管的反向恢復(fù)特性,并確認(rèn) MOSFET 損耗情況。
2020-12-28 06:00:0024

脈沖測(cè)試是否能夠反映器件在真實(shí)換流中的各種電應(yīng)力

大家好,前段時(shí)間在知乎上看到有個(gè)網(wǎng)友問:“在大功率變頻器應(yīng)用中,我們常用脈沖測(cè)試評(píng)估器件的動(dòng)態(tài)特征,在實(shí)際中有可比性嗎?”感覺這個(gè)問題提的比較好,也是作者想和大家討論的一個(gè)話題,那我們這期就來聊聊脈沖測(cè)試是否能夠反映器件在真實(shí)換流中的各種電應(yīng)力。
2022-04-15 09:15:025559

IGBT脈沖測(cè)試方法詳解

對(duì)脈沖測(cè)試的原理、參數(shù)解析、注意事項(xiàng)、測(cè)試意義等進(jìn)行詳細(xì)介紹分析
2022-05-05 16:34:0936

脈沖測(cè)試的基本原理、基本實(shí)驗(yàn)以及波形

一般,我們是通過閱讀器件廠商提供的datasheet來了解一個(gè)器件的參數(shù)特性,但是datasheet中所描述的參數(shù)是在特定的外部參數(shù)條件測(cè)試得來的,因此這些參數(shù)不能都可以直接拿來使用的。因此可以通過脈沖測(cè)試,通過給定兩個(gè)脈沖測(cè)試IGBT的開關(guān)特性,進(jìn)而對(duì)器件性能進(jìn)行更準(zhǔn)確的評(píng)估。
2022-06-17 17:33:0135778

脈沖測(cè)試基礎(chǔ)系列:基本原理和應(yīng)用

脈沖是分析功率開關(guān)器件動(dòng)態(tài)特性的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)方法,貫穿器件的研發(fā),應(yīng)用和驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路的設(shè)計(jì)。合理采用脈沖測(cè)試平臺(tái),你可以在系統(tǒng)設(shè)計(jì)中從容的調(diào)試驅(qū)動(dòng)電路,優(yōu)化動(dòng)態(tài)過程,驗(yàn)證短路保護(hù)。 脈沖測(cè)試基礎(chǔ)系列文章包括基本原理和應(yīng)用,對(duì)電壓電流探頭要求和影響測(cè)試結(jié)果的因素等。
2022-08-01 09:08:1114800

5分鐘帶你全面了解功率開關(guān)器件脈沖測(cè)試

脈沖測(cè)試(Double Pulse Test)是分析功率開關(guān)器件動(dòng)態(tài)特性的常用測(cè)試,通過脈沖測(cè)試可以便捷的評(píng)估功率器件的性能,獲得穩(wěn)態(tài)和動(dòng)態(tài)過程中的主要參數(shù),更好的評(píng)估器件性能,優(yōu)化驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)等等。
2022-11-04 14:06:275433

通過脈沖測(cè)試評(píng)估MOSFET的反向恢復(fù)特性-什么是脈沖測(cè)試?

我們開設(shè)了Si功率元器件的新篇章——“評(píng)估篇”。在“通過脈沖測(cè)試評(píng)估MOSFET的反向恢復(fù)特性”中,我們將通過脈沖測(cè)試來評(píng)估MOSFET體二極管的反向恢復(fù)特性,并確認(rèn)MOSFET損耗情況。
2023-02-10 09:41:084173

IGBT測(cè)試

一、脈沖測(cè)試脈沖測(cè)試硬件的基本框圖如上圖所示。 高壓源通過疊層母排與電容池連接,并給電容池充電。 低壓源給驅(qū)動(dòng)板供電,信號(hào)發(fā)生器給驅(qū)動(dòng)板發(fā)脈沖。 若發(fā)脈沖IGBT模塊下管,則上管截止
2023-02-22 15:16:184

IGBT脈沖測(cè)試的原理

(一)IGBT脈沖測(cè)試意義 對(duì)比不同IGBT的參數(shù)及性能; 獲取IGBT開通和關(guān)斷過程的參數(shù); 評(píng)估驅(qū)動(dòng)電阻是否合適; 開通和關(guān)斷過程是否有不合適的震蕩; 評(píng)估二極管的反向恢復(fù)行為和安全裕量
2023-02-22 15:07:1519

IGBT脈沖測(cè)試原理

開通特性測(cè)試采用脈沖測(cè)試法。由計(jì)算機(jī)設(shè)定并控制輸出漏極電壓VDD值到被測(cè)器件的測(cè)試要求值(一般為被測(cè)器件額定電壓的1/2),設(shè)定±VGS到測(cè)試要求值,計(jì)算機(jī)控制接通開關(guān)S1,并控制輸出被 測(cè)
2023-02-22 14:43:331

IGBT脈沖測(cè)試實(shí)驗(yàn)

用的,只能當(dāng)做參考使用。 描述IGBT主要參數(shù)包括:ton,toff,Eon,Eoff,Isc,Irr,二極管的di/dt等。 要觀測(cè)這些參數(shù),最有效的方法就是‘脈沖測(cè)試法’。
2023-02-22 14:25:005

脈沖測(cè)試之開關(guān)特性參數(shù)講解

功率開關(guān)器件的規(guī)格書上有著多種多樣的數(shù)據(jù),如靜態(tài)特性參數(shù),動(dòng)態(tài)特性參數(shù),開關(guān)特性參數(shù)等等。其中靜態(tài)特性參數(shù)大多數(shù)可以通過靜態(tài)參數(shù)一體化測(cè)試機(jī)或者源表等設(shè)備直接測(cè)出,動(dòng)態(tài)特性參數(shù)則可以通過電容測(cè)試平臺(tái)描繪出,最后開關(guān)特性參數(shù)則需要用到脈沖測(cè)試才能準(zhǔn)確測(cè)得。
2023-02-22 14:40:208815

IGBT器件靜態(tài)測(cè)試需要哪些儀器

,輸出及測(cè)量電流0~100mA。支持恒壓恒流工作模式,同時(shí)支持豐富的I-V掃描模式。 用于IGBT擊穿電壓測(cè)試,IGBT動(dòng)態(tài)測(cè)試母線電容充電電源、IGBT老化電源,防雷二極管耐壓測(cè)試,壓敏電阻耐壓測(cè)試等場(chǎng)合。其 恒流模式對(duì)于快速測(cè)量擊穿點(diǎn)具有重大意義。
2023-02-23 10:00:200

脈沖測(cè)試IGBT驅(qū)動(dòng)電阻和驅(qū)動(dòng)電容的研究

??在LTspice中沒有脈沖波形發(fā)生器,要做一個(gè)脈沖的波形只能用電壓源來進(jìn)行特殊設(shè)置,不是很方便,為此我寫了一個(gè)脈沖波形發(fā)生器,有需要的可以下載。 脈沖波形發(fā)生器?! ∪缦?,該元器件可以
2023-02-23 15:47:208

IGBT脈沖脈沖測(cè)試波形信號(hào)發(fā)生器

該信號(hào)發(fā)生器主要用于IGBT脈沖、脈沖、短路測(cè)試發(fā)波控制,使用單USB口連接,集成供電、發(fā)波控制、程序升級(jí)于一體, 上位機(jī)串口發(fā)波控制,可靈活控制發(fā)送1~200uS波形,最小精度1uS,同時(shí)提供+5V和+15V兩種電平方便匹配不同驅(qū)動(dòng)板,上位機(jī) 控制方便易上手配置簡(jiǎn)單。
2023-02-23 15:30:085

IGBT脈沖測(cè)試matlab仿真模型

IGBT脈沖測(cè)試matlab仿真模型,電機(jī)控制器驅(qū)動(dòng)測(cè)試驗(yàn)證,學(xué)習(xí)驗(yàn)證igbt開關(guān)特性.附贈(zèng)大廠資深工程師總結(jié)的脈沖測(cè)試驗(yàn)證資料,全部是實(shí)際項(xiàng)目總結(jié)。 鏈接:提取碼:fbif ? ? ?
2023-02-24 10:40:5731

IGBT脈沖測(cè)試方法介紹

1.對(duì)比不同的IGBT的參數(shù),例如同一品牌的不同系列的產(chǎn)品的參數(shù),或者是不同品牌的IGBT的性能。 2.獲取IGBT在開關(guān)過程的主要參數(shù),以評(píng)估Rgon及Rgoff的數(shù)值是否合適,評(píng)估是否需要配
2023-02-24 09:41:423

IGBT脈沖現(xiàn)象解讀

什么是窄脈沖現(xiàn)象IGBT作為一種功率開關(guān),從門級(jí)信號(hào)到器件開關(guān)過程需要一定反應(yīng)時(shí)間,就像生活中開關(guān)門太快容易擠壓手一樣,過短的開通脈沖可能會(huì)引起過高的電壓尖峰或者高頻震蕩問題。這種現(xiàn)象隨著IGBT
2022-05-26 09:52:273761

脈沖測(cè)試注意事項(xiàng)

脈沖測(cè)試是一種用于測(cè)量電子設(shè)備的重要方法,其通過發(fā)送兩個(gè)相互獨(dú)立且短暫的脈沖信號(hào)來分析設(shè)備的性能和可靠性。在進(jìn)行脈沖測(cè)試時(shí),我們需要注意一些重要事項(xiàng),以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。 首先,進(jìn)行
2023-07-03 11:45:271807

脈沖平臺(tái)搭建的難題如何破解

脈沖測(cè)試是表征功率半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)特性的重要手段,適用于各類功率器件,包括MOSFET、IGBT、Diode、SiC MOSFET、GaN HEMTs。
2023-07-12 15:55:151336

進(jìn)行脈沖測(cè)試的主要目的

進(jìn)行脈沖測(cè)試的主要目的是獲得功率半導(dǎo)體的開關(guān)特性,可以說它伴隨著功率器件從研發(fā)制造到應(yīng)用的整個(gè)生命周期。
2023-07-12 16:09:105853

泰克示波器MSO58B在寬禁帶、脈沖測(cè)試中的解決方案

根據(jù)用戶在寬禁帶、脈沖測(cè)試遇到的種種問題,安泰配置齊全的儀器、軟件、探頭和服務(wù),加快有關(guān) SiC 和 GaN 功率器件與系統(tǒng)的驗(yàn)證。 通過以下方式幫助您提高系統(tǒng)性能: 符合 JEDEC 和 IEC
2023-07-07 18:08:361262

壓接型IGBT芯片動(dòng)態(tài)特性實(shí)驗(yàn)平臺(tái)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

重要意義。為了全面獲得電-熱-力綜合影響下壓接型 IGBT 芯片的動(dòng)態(tài)特性,該文結(jié)合脈沖測(cè)試 電路原理,研制出具備電-熱-力靈活調(diào)節(jié)的壓接型 IGBT 芯片動(dòng)態(tài)特性實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。通過對(duì)動(dòng)態(tài)特性 實(shí)驗(yàn)平臺(tái)關(guān)鍵問題進(jìn)行有限元仿真計(jì)算,實(shí)現(xiàn)平臺(tái)回路寄生電感、IGBT 芯片表面壓力分布
2023-08-08 09:58:281

IGBT動(dòng)態(tài)斬波脈沖測(cè)試實(shí)驗(yàn)及其注意事項(xiàng)

了性能各異的IGBT產(chǎn)品。為了優(yōu)化和驗(yàn)證組件性能以及對(duì)不同IGBT的性能驗(yàn)證,我們引入了脈沖測(cè)試方法,借此工具我們可以實(shí)現(xiàn)以下具體功能:
2023-09-15 10:09:322891

脈沖試驗(yàn)及注意事項(xiàng)

,不同的IGBT技術(shù)也造就了不同性能的IGBT產(chǎn)品。為了優(yōu)化和驗(yàn)證元器件的性能,驗(yàn)證不同IGBT的性能,我們引入了脈沖測(cè)試方法。通過這個(gè)工具,我們可以實(shí)現(xiàn)以下具體功能: 詳細(xì)了解IGBT參數(shù),如Eon、Eoff、Tdon、Tdoff、Tr、Tf、貼片開關(guān)特性等。本次測(cè)試意義在于
2023-10-13 10:34:334422

一種新的軟件時(shí)序偏差校準(zhǔn)方法,加速脈沖測(cè)試進(jìn)程!

點(diǎn)擊上方 “泰克科技” 關(guān)注我們! ■?? 脈沖測(cè)試? 脈沖測(cè)試中一個(gè)重要目標(biāo)是,準(zhǔn)確測(cè)量能量損耗。在示波器中進(jìn)行準(zhǔn)確的功率、能量測(cè)試,關(guān)鍵的一步是在電壓探頭和電流探頭之間進(jìn)行校準(zhǔn),消除時(shí)序偏差
2023-11-02 12:15:011316

什么是igbt短路測(cè)試?igbt短路測(cè)試平臺(tái)

什么是igbt短路測(cè)試?igbt短路測(cè)試平臺(tái)? IGBT短路測(cè)試是針對(duì)晶體管IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)進(jìn)行的一種測(cè)試方法。IGBT是一種高壓高功率
2023-11-09 09:18:293948

驅(qū)動(dòng)器源極引腳的效果:脈沖測(cè)試比較

驅(qū)動(dòng)器源極引腳的效果:脈沖測(cè)試比較
2023-12-05 16:20:07896

信號(hào)發(fā)生器如何設(shè)置脈沖同步輸出?

信號(hào)發(fā)生器如何設(shè)置脈沖同步輸出? 信號(hào)發(fā)生器是一種使用電子設(shè)備產(chǎn)生以下類型信號(hào)的儀器:連續(xù)波形、脈沖波形、調(diào)幅波形、調(diào)頻波形等。脈沖同步輸出是一種常見的需求,特別用于電子設(shè)備的測(cè)試和測(cè)量等
2023-12-21 14:13:312544

脈沖測(cè)試原理的介紹

、電氣工程等領(lǐng)域,對(duì)于新材料的研發(fā)和應(yīng)用具有重要意義。 一、脈沖測(cè)試原理的基本概念 脈沖電壓:脈沖電壓是指在一定時(shí)間范圍內(nèi),電壓由零迅速上升到最大值,然后緩慢下降到零的過程。脈沖電壓的形狀可以是方波、矩形波或三
2023-12-30 11:47:005602

脈沖試驗(yàn)及注意事項(xiàng)介紹

脈沖試驗(yàn)及注意事項(xiàng)介紹 脈沖試驗(yàn)是一種常用的電力系統(tǒng)測(cè)試方法,用于測(cè)量電力系統(tǒng)中的傳輸線路和設(shè)備的參數(shù)。這種試驗(yàn)方法通過施加兩個(gè)脈沖波形信號(hào),從而可以精確地測(cè)量電力系統(tǒng)的傳輸線路的特性參數(shù),包括
2024-01-05 15:08:031592

I-NPC三電平電路的脈沖及短路測(cè)試方法

脈沖測(cè)試(DPT)是一種被廣泛接受的評(píng)估功率器件動(dòng)態(tài)特性的方法。以IGBT在兩電平橋式電路中應(yīng)用為例,如下圖,通過調(diào)節(jié)直流母線電壓和第一個(gè)脈沖持續(xù)時(shí)間,可以在第一個(gè)脈沖結(jié)束和第二個(gè)脈沖開始時(shí)捕捉到
2024-01-18 08:13:437633

脈沖測(cè)試的基本原理?脈沖測(cè)試可以獲得器件哪些真實(shí)參數(shù)?

脈沖測(cè)試的基本原理是什么?脈沖測(cè)試可以獲得器件哪些真實(shí)參數(shù)? 脈沖測(cè)試是一種常用的測(cè)試方法,用于測(cè)量和評(píng)估各種器件的性能和特性。它基于一種簡(jiǎn)單而有效的原理,通過發(fā)送兩個(gè)脈沖信號(hào)并分析其響應(yīng)來
2024-02-18 09:29:233717

什么是脈沖測(cè)試技術(shù)

),并測(cè)量其響應(yīng)來工作。 脈沖測(cè)試是一種專門用于評(píng)估功率開關(guān)元件,如MOSFET和IGBT的開關(guān)特性及與之并聯(lián)的體二極管或快速恢復(fù)二極管(FRD)的反向恢復(fù)特性的測(cè)試方法。這種測(cè)試特別適用于分析在導(dǎo)通過程中由于反向恢復(fù)現(xiàn)象而產(chǎn)生損耗的電路。 通過施加兩連
2024-02-23 15:56:2710453

T-NPC三電平電路的脈沖與短路測(cè)試

上一篇我們分析了《I-NPC三電平電路的脈沖與短路測(cè)試方法》,對(duì)于T-NPC拓?fù)鋪碚f也是類似的,我們接著來看。1T-NPC三電平電路的換流方式與脈沖測(cè)試方法由于技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用的需要,T型三電平
2024-02-26 08:13:164233

功率 MOSFET 特性脈沖測(cè)試簡(jiǎn)介

對(duì)于經(jīng)驗(yàn)豐富的專業(yè)人士來說,不言而喻的事情有時(shí)可能會(huì)給經(jīng)驗(yàn)不足的人帶來誤解。作為測(cè)試設(shè)備制造商,我們意識(shí)到用戶對(duì)脈沖測(cè)試有不同的看法。
2024-03-11 14:39:002371

脈沖測(cè)試(DPT)的方法解析

脈沖測(cè)試是電力變壓器和互感器的一種常見測(cè)試方法,其主要目的是評(píng)估設(shè)備的性能和準(zhǔn)確性,確保其符合設(shè)計(jì)要求和運(yùn)行標(biāo)準(zhǔn)。
2024-03-11 16:01:555996

T型三電平脈沖測(cè)試及拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)

脈沖測(cè)試系統(tǒng):該系統(tǒng)用于產(chǎn)生所需的脈沖信號(hào),以模擬實(shí)際工作中的開關(guān)動(dòng)作。它能夠精確地控制脈沖的寬度、幅度和頻率,以滿足測(cè)試需求。
2024-03-11 16:09:215204

脈沖測(cè)試中高壓差分探頭的使用問題解析

脈沖測(cè)試是一個(gè)用于測(cè)試高壓設(shè)備的重要方法,而高壓差分探頭在脈沖測(cè)試中扮演著重要的角色。它能夠測(cè)量高壓系統(tǒng)中的電位差,并幫助人們?cè)\斷系統(tǒng)中的問題。不過,在高壓差分探頭的使用過程中,也會(huì)遇到一些問題
2024-03-19 09:55:061170

功率半導(dǎo)體脈沖測(cè)試方案

寬禁帶半導(dǎo)體作為第三代半導(dǎo)體功率器件,在電源處理器中充當(dāng)了越來越重要的角色。其具有能量密度高、工作頻率高、操作溫度高等先天優(yōu)勢(shì),成為各種電源或電源模塊的首選。而其中功率半導(dǎo)體上下管脈沖測(cè)試,成為動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試的最經(jīng)典評(píng)估項(xiàng)目。
2024-08-06 17:30:502038

igbt功率管型號(hào)參數(shù)意義

IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor,絕緣柵極型晶體管)是一種功率半導(dǎo)體器件,廣泛應(yīng)用于電力電子領(lǐng)域。IGBT功率管型號(hào)參數(shù)意義是了解IGBT性能和選擇合適
2024-08-08 09:11:335022

寬帶隙功率半導(dǎo)體脈沖測(cè)試解決方案

圍繞 SiC 和 GaN MOSFET 構(gòu)建的新型電源轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)需要精心設(shè)計(jì)和測(cè)試以優(yōu)化性能。 脈沖測(cè)試 (DPT) 可有效測(cè)量開啟、關(guān)閉和反向恢復(fù)期間的一系列重要參數(shù)。設(shè)置和執(zhí)行這些測(cè)量可以手動(dòng)
2024-09-30 08:57:34951

RIGOL IGBT脈沖測(cè)試應(yīng)用案例介紹

)及全控型(IGBT、MOSFET 為主)。其中IGBT(絕緣柵雙極晶體管)被廣泛應(yīng)用于中、高電壓及大電流場(chǎng)合的功率半導(dǎo)體器件。它綜合了 MOSFET和雙極晶體管的優(yōu)點(diǎn),具有導(dǎo)通壓降低、開關(guān)速度快、電流和電壓定額高等特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于變頻
2024-11-24 15:02:121698

脈沖測(cè)試儀器的使用技巧

在電子工程領(lǐng)域,脈沖測(cè)試儀器是不可或缺的工具,它們幫助工程師評(píng)估和驗(yàn)證電子系統(tǒng)在各種脈沖條件下的性能。 1. 了解脈沖測(cè)試儀器的基本原理 在開始使用脈沖測(cè)試儀器之前,了解其工作原理是至關(guān)重要的。脈沖
2024-11-26 10:01:031737

IGBT脈沖實(shí)驗(yàn)說明

IGBT脈沖實(shí)驗(yàn) 1.1 IGBT脈沖實(shí)驗(yàn)?zāi)康?1、通過實(shí)驗(yàn)獲取IGBT驅(qū)動(dòng)板及IGBT模塊的主要?jiǎng)討B(tài)參數(shù),如延時(shí)、上升、下降時(shí)間、開關(guān)損耗等; 2、通過實(shí)驗(yàn)獲得功率組件設(shè)計(jì)中濾波電容、吸收電容
2025-01-27 18:10:002623

IGBT脈沖測(cè)試原理和步驟

是否過關(guān),脈沖測(cè)試(Double Pulse Test)成為了一項(xiàng)重要的測(cè)試手段。本文將詳細(xì)介紹IGBT脈沖測(cè)試的原理、意義、實(shí)驗(yàn)設(shè)備、測(cè)試步驟以及數(shù)據(jù)分析,以期為相關(guān)技術(shù)人員提供參考。
2025-02-02 13:59:003196

IGBT脈沖測(cè)試方法的意義和原理

IGBT脈沖測(cè)試方法的意義和原理 IGBT脈沖測(cè)試方法的意義: 1.對(duì)比不同的IGBT的參數(shù); 2.評(píng)估IGBT驅(qū)動(dòng)板的功能和性能; 3.獲取IGBT在開通、關(guān)斷過程的主要參數(shù),以評(píng)估Rgon
2025-01-28 15:44:008855

EXR小故事 – 脈沖測(cè)試雙管齊下

,成為了眾多電源及電源模塊的首選材料。特別是在功率半導(dǎo)體中,上下管脈沖測(cè)試已經(jīng)成為評(píng)估動(dòng)態(tài)參數(shù)的經(jīng)典方法,對(duì)于推動(dòng)相關(guān)技術(shù)的發(fā)展具有重要意義。那么,何為脈沖測(cè)試
2025-04-11 15:00:14797

同軸分流器SC-CS10在功率器件(IGBT、MOSFET等)動(dòng)態(tài)脈沖測(cè)試中的應(yīng)用

1. 產(chǎn)品概述 產(chǎn)品簡(jiǎn)介 本同軸分流器SC-CS10是一種用于射頻/微波信號(hào)功率分配的無源器件,常用于功率器件(IGBT、MOSFET等)動(dòng)態(tài)脈沖測(cè)試,可將輸入信號(hào)按特定比例分流至多個(gè)輸出端口
2025-04-30 12:00:12762

細(xì)數(shù)IGBT測(cè)試指標(biāo)及應(yīng)對(duì)檢測(cè)方案

IGBT產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)較多,一般會(huì)包含如下幾種類型參數(shù):靜態(tài)參數(shù),動(dòng)態(tài)參數(shù),熱參數(shù)。動(dòng)態(tài)測(cè)試,主要是用于測(cè)試IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù),目前,主要采用脈沖測(cè)試方案。其測(cè)試主要方法是,加載脈沖電壓,用獲取IGBT在開啟,或者關(guān)閉瞬間的電壓,電流變化情況,并計(jì)算出相應(yīng)的參數(shù)
2025-06-26 16:26:161332

IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)

,還可以測(cè)量大功率二極管 、IGBT模塊,大功率 IGBT、大功率極型晶體管MOS管等器件的 V-I 特性測(cè)試,測(cè)試600A(可擴(kuò)展至2000A),5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用于軌道交通
2025-07-08 17:31:041892

傾佳電子DPT脈沖測(cè)試:從原理、應(yīng)用到SiC MOSFET功率器件在電力電子領(lǐng)域中的深層意義

傾佳電子旨在全面剖析脈沖測(cè)試(DPT)作為功率半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)性能評(píng)估黃金標(biāo)準(zhǔn)的核心價(jià)值。
2025-09-17 16:57:341114

光隔離探頭為什么在脈沖測(cè)試中不可或缺?

至關(guān)重要。特別是在脈沖測(cè)試中,光隔離探頭不僅確保了測(cè)試的安全性,還提高了測(cè)試測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性。本文將深入探討光隔離探頭在脈沖測(cè)試中不可或缺的原因。 脈沖測(cè)試的作用 脈沖測(cè)試(DPT)是一種用于評(píng)估電力電子器件如IGBT(絕緣柵
2025-11-14 16:46:063489

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