chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

電子發(fā)燒友App

硬聲App

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

電子發(fā)燒友網(wǎng)>電源/新能源>MOS管損壞的五種原因

MOS管損壞的五種原因

收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴

評論

查看更多

相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦

功率MOS損壞機(jī)理介紹

功率MOS損壞機(jī)理介紹 此文主要參考renasus功率二極應(yīng)用說明,考慮大部分人比較懶,有針對性的分成幾個部分,第一個部分是介紹,就是本文,以后會把對策
2009-11-21 10:48:583175

mos損壞現(xiàn)象及原因

主要有因在柵極和源極之間如果存在電壓浪涌和靜電而引起的破壞,即柵極過電壓破壞和由上電狀態(tài)中靜電在GS兩端(包括安裝和和測定設(shè)備的帶電)而導(dǎo)致的柵極破壞
2023-04-04 10:43:2711862

MOS參數(shù)解讀

極限參數(shù)也叫絕對最大額定參數(shù),MOS在使用過程當(dāng)中,任何情況下都不能超過下圖的這些極限參數(shù),否則MOS管有可能損壞
2023-09-24 11:47:4714965

MOS損壞原因及解決方案

MOS在控制器電路中的工作狀態(tài):開通過程(由截止到導(dǎo)通的過渡過程)、導(dǎo)通狀態(tài)、關(guān)斷過程(由導(dǎo)通到截止的過渡過程)、截止?fàn)顟B(tài)。
2024-02-26 11:40:049722

電子元件分析:MOS擊穿的原因

MOS被擊穿的原因及解決方案,電子元件及產(chǎn)品在什么情況下會遭受靜電破壞呢?可以這么說:電子產(chǎn)品從生產(chǎn)到使用的全過程都遭受靜電破壞的威脅
2012-03-26 16:25:429121

MOS/場效應(yīng)損壞原因及檢查

  造成損壞原因可能有幾個:  1.缺少保護(hù)電路。一般來說電路中應(yīng)適當(dāng)設(shè)置保護(hù)電路。以吸收電路中的瞬間高壓。浪涌電壓。保護(hù)關(guān)鍵元件?! ?.參數(shù)選取不合理。沒有余地。效應(yīng)的耐壓。電流都應(yīng)該流有
2020-06-30 14:41:49

MOS損壞

請較大家,MOSDS擊穿在什么情況易發(fā)生,最近一產(chǎn)品在家里面用從來沒有壞過!但是拿出去用很容易損壞!條件沒什么特殊的
2012-09-17 13:42:15

MOS使用問題

有誰用過IRLML6401,接法如下圖,但是mos不能導(dǎo)通是什么原因
2015-12-18 11:19:37

MOS發(fā)熱的原因,它的原理是什么?

管工作在線性的工作狀態(tài),而不是在開關(guān)狀態(tài)。這也是導(dǎo)致MOS發(fā)熱的一個原因。如果N-MOS做開關(guān),G級電壓要比電源高幾V,才能完全導(dǎo)通,P-MOS則相反。沒有完全打開而壓降過大造成功率消耗,等效直流
2018-10-31 13:59:26

MOS的測試

DS間加電容,測試兩種差不多的MOS,發(fā)現(xiàn)MOS里面芯片大的反而沖擊電流小,這是為什么,兩級別差不多的MOS,里面的芯片DIE大的反而沖擊電流???,這是什么原因,耐沖擊電流與MOS的DIE大小有關(guān)系嗎
2018-01-19 09:54:42

Mos驅(qū)動產(chǎn)品發(fā)燙是什么原因

最近在做一個Mos驅(qū)動產(chǎn)品,發(fā)現(xiàn)發(fā)燙得厲害,然后參考了其他競品發(fā)現(xiàn)都有增加這么一個二極,依樣增加上去后就不燙了,這就是是什么原因呢?在網(wǎng)上找到了原因,如下:再看MOS本身DS極間也有個二極
2021-09-14 07:49:42

mos發(fā)熱原因

1.電路設(shè)計的問題,就是讓MOS管工作在線性的工作狀態(tài),而不是在開關(guān)狀態(tài)。這也是導(dǎo)致MOS發(fā)熱的一個原因。如果N-MOS做開關(guān),G級電壓要比電源高幾V,才能完全導(dǎo)通,P-MOS則相反。沒有完全
2020-10-10 11:21:32

XTR111輸出電流開路時,VG引腳輸出電壓會超過MOS的VGS,會導(dǎo)致MOS損壞

30V供電,輸出電流開路時,VG引腳輸出電壓會超過MOS的VGS,會導(dǎo)致MOS損壞?是不是電源電壓不能超過mos的VGS?
2024-08-07 07:30:29

 MOS損壞無非這三原因,你知道嘛

時產(chǎn)生的回掃電壓,或者由漏磁電感產(chǎn)生的尖峰電壓超出功率MOS的漏極額定耐壓并進(jìn)入擊穿區(qū)而導(dǎo)致破壞的模式會引起雪崩破壞?! 〉湫碗娐罚骸 《?、器件發(fā)熱損壞  由超出安全區(qū)域引起發(fā)熱而導(dǎo)致的。發(fā)熱的原因
2018-10-29 14:07:49

一個NPN+P-mos開關(guān)電路中MOS容易壞的原因

一個簡單的NPN+P_MOS開關(guān)控制,負(fù)載是850nm激光二極,驅(qū)動MCU是STC15F2?,F(xiàn)在出現(xiàn)mos容易損壞的情況,本人菜鳥不知道是什么原因造成的,還望各位大神能指點(diǎn)一二
2018-08-29 18:06:20

為什么總是損壞MOSFET Q8212?同一片主板上用料

本帖最后由 XSJ7755 于 2017-4-18 19:54 編輯 我在工作中遇到的一個案例,客戶端總是燒一個MOS 的問題。參考附圖!為什么總是損壞MOSFETQ8212?同一片主板上用料顆,請高手分析下原因
2017-04-18 19:56:14

分析MOS發(fā)熱的主要原因

管工作在線性的工作狀態(tài),而不是在開關(guān)狀態(tài)。這也是導(dǎo)致MOS發(fā)熱的一個原因。如果N-MOS做開關(guān),G級電壓要比電源高幾V,才能完全導(dǎo)通,P-MOS則相反。沒有完全打開而壓降過大造成功率消耗,等效直流
2018-10-25 14:40:18

功率MOS燒毀的原因

,截止損耗(漏電流引起的,這個忽略不計),還有雪崩能量損耗。只要把這些損耗控制在mos承受規(guī)格之內(nèi),mos即會正常工作,超出承受范圍,即發(fā)生損壞。而開關(guān)損耗往往大于導(dǎo)通狀態(tài)損耗(不同mos這個差距可能很大。Mos損壞主要原因:過流----------持續(xù)大電流或瞬間超大電流引起的結(jié)溫過高而燒毀;過壓
2021-07-05 07:19:31

原元件損壞,選擇的新MOS該如何提高產(chǎn)品效能!

還是換上原來一樣型號的才解決問題。檢測到MOS損壞后,更換時其周邊的灌流電路的元件也必須全部更換,因為該MOS損壞也可能是灌流電路元件的欠佳引起MOS損壞。即便是MOS本身原因損壞,在MOS
2019-02-23 16:23:40

反激變換器MOS的耐壓性能的問題

關(guān)于怎樣確定MOS是否會擊穿的問題。在網(wǎng)上有看到大概兩說法:1.計算雪崩能量然后進(jìn)行判斷MOS是否會損壞;2.計算MOS結(jié)溫然后查出對應(yīng)的擊穿電壓。第一不知道是要測所有的能量還是只是大于
2018-12-21 10:46:27

平衡電路MOS損壞

哪位大神能幫忙分析下這個電路,安裝電池的過程中MOS會有20%的損壞。除開靜電的損壞,還有有其他可能沒有呢?
2018-09-11 13:36:23

挖掘MOS被擊穿的原因及解決方案

`<p> 挖掘mos被擊穿的原因及解決方案  一、MOS本身的輸入電阻很高,而柵源極間電容又非常小,所以極易受外界電磁場或靜電的感應(yīng)而帶電,而少量電荷就可在極間電容上
2018-11-05 14:26:45

揭秘MOSMOS驅(qū)動電路之間的聯(lián)系

?! ≈劣跒槭裁床贿m用號耗盡型的MOS,不建議刨根問底。  對于這兩增強(qiáng)型MOS,比較常用的是NMOS。原因是導(dǎo)通電阻小,且容易制造。所以開關(guān)電源和馬達(dá)驅(qū)動的應(yīng)用中,一般都用NMOS,下面的介紹中,也
2018-12-03 14:43:36

整流二極損壞原因是什么

整流二極損壞原因整流二極的檢查方法整流二極的代換
2021-04-02 06:17:32

是什么原因導(dǎo)致了MOS發(fā)熱?

是什么原因導(dǎo)致了MOS發(fā)熱?
2021-06-07 06:21:08

淺析功率型MOS損壞模式

時產(chǎn)生的回掃電壓,或者由漏磁電感產(chǎn)生的尖峰電壓超出功率MOS的漏極額定耐壓并進(jìn)入擊穿區(qū)而導(dǎo)致破壞的模式會引起雪崩破壞?! 〉湫碗娐?  二、器件發(fā)熱損壞  由超出安全區(qū)域弓|起發(fā)熱而導(dǎo)致的。發(fā)熱的原因
2018-11-21 13:52:55

淺析設(shè)備MOS損壞?MOS代理商告訴你這6點(diǎn)可以簡易判斷!

MOS,而不會使用以前的三極。但是性能再優(yōu)越,也會出現(xiàn)損壞的情況,那作為廠家來說應(yīng)該怎么檢測MOS是否損壞呢?  電路中,如何判斷MOS的完好或失效,與單獨(dú)鑒別MOS好壞不完全相同,電路中完好
2018-12-27 13:49:40

淺談mos擊穿的原因。

本帖最后由 gk320830 于 2015-3-7 11:36 編輯 MOS被擊穿的原因及解決方案如下:  第一、MOS本身的輸入電阻很高,而柵-源極間電容又非常小,所以極易受外界電磁場或
2012-07-14 15:34:14

電源開關(guān)損壞的主要原因有以下13

電源開關(guān)損壞的主要原因有以下13:1.軟啟動電路失效2.開關(guān)集成電路板反峰吸收電路失效3.正反饋過強(qiáng)4.定時電容失效漏電5.穩(wěn)壓電路中的去耦電容失效6.穩(wěn)壓電路的負(fù)反饋開環(huán)7.開關(guān)發(fā)射極
2011-08-09 11:51:44

簡單電路的mos異常損壞,求助

9V的電壓。更換下方MOS,恢復(fù)正常。器件型號,TVS PESD24S1UB;PMOS DMP510DL。由于問題故障率太大,不能進(jìn)行生產(chǎn)。請各位大大幫忙看看到底為什么會導(dǎo)致MOS損壞。怎么解決?謝謝`
2019-12-30 10:30:50

設(shè)計了一個緩啟動電路,總是燒MOS,請問是什么原因?

電路是這樣,輸入電壓110V,緩啟動后面接了兩個220uf電容。以前同樣的電路實驗沒有問題,后來幾年后也是同樣的電路拿出來用,結(jié)果燒MOS。我猜測原因如下,不知道對不對,請各位大神指教。電源上電
2020-04-26 14:17:30

詳細(xì)分析功率MOS損壞原因

的回掃電壓,或者由漏磁電感產(chǎn)生的尖峰電壓超出功率MOSFET的漏極額定耐壓并進(jìn)入擊穿區(qū)而導(dǎo)致破壞的模式會引起雪崩破壞。典型電路:第二:器件發(fā)熱損壞由超出安全區(qū)域引起發(fā)熱而導(dǎo)致的。發(fā)熱的原因分為直流功率
2021-11-10 07:00:00

詳述MOS驅(qū)動電路的大要點(diǎn)

的P溝道MOS,所以通常提到NMOS,或者PMOS指的就是這兩?! τ谶@兩增強(qiáng)型MOS,比較常用的是NMOS。原因是導(dǎo)通電阻小,且容易制造。所以開關(guān)電源和馬達(dá)驅(qū)動的應(yīng)用中,一般都用NMOS
2018-11-27 13:44:26

請問緩啟動電路總是燒MOS是什么原因?

輸入電壓110V,緩啟動后面接了兩個220uf電容。以前同樣的電路實驗沒有問題,后來幾年后也是同樣的電路拿出來用,結(jié)果燒mos。我猜測原因如下,不知道對不對,請各位大神指教。電源上電的時候
2020-05-20 10:06:20

請問這個MOS的失效原因是什么

12V;;;請問各位大佬MOS的這種損壞屬于什么損壞,是什么導(dǎo)致的,感覺GS有2M應(yīng)該是沒事的,這個管子以前遇到的損壞都是GS直接短路了,這個現(xiàn)象不一樣
2021-05-25 08:21:12

請問造成MOSFET損壞有哪些原因?

小弟是電子初學(xué)者,經(jīng)常在設(shè)計電路時MOSFET出現(xiàn)損壞,請問造成MOSFET損壞有哪些原因
2019-02-19 10:15:25

行輸出損壞原因與維修

行輸出損壞是彩電最常見的故障,造成行輸出損壞原因不外乎以下幾種原因. 1.過壓擊穿:行輸出
2006-04-17 22:19:162695

晶閘管損壞原因判別

晶閘管損壞原因判別 ....當(dāng)晶閘管損壞后需要檢查分析其原因時,可把管芯從冷卻套中取出,打開芯盒再取出芯片,觀察其損壞后的痕跡,以判斷是
2009-07-28 08:15:261914

整流二極損壞原因和檢查方法

整流二極損壞原因和檢查方法 整流管損壞原因 (1)防雷、過電壓保護(hù)措施不力。整流裝置末設(shè)置
2010-02-27 10:21:475673

如何判別晶閘管損壞原因

如何判別晶閘管損壞原因 ....當(dāng)晶閘管損壞后需要檢查分析其原因時,可把管芯從冷卻套中取出,打開芯盒再取出芯片,觀察其損壞
2010-03-08 09:47:31897

電源開關(guān)損壞原因分析

 電源開關(guān)管工作在開關(guān)狀態(tài),其損壞原因,除了過流過壓之外,還應(yīng)考慮到占空比,即飽和導(dǎo)通時間與截止時間之比。大體上說,電源開關(guān)損壞的主要原因
2010-11-27 11:10:2418591

MOS常見的六失效原因#電路知識 #電工 #電路原理 #科普 #mos

MOS電工
微碧半導(dǎo)體VBsemi發(fā)布于 2024-01-10 16:47:41

MOS損毀原因總結(jié)

MOS損毀原因總結(jié)
2017-06-19 14:22:3226

mos開關(guān)電路_pwm驅(qū)動mos開關(guān)電路圖分享

MOS開關(guān)電路是利用一電路,是利用MOS柵極(g)控制MOS源極(s)和漏極(d)通斷的原理構(gòu)造的電路。MOS分為N溝道與P溝道,所以開關(guān)電路也主要分為兩。本文為大家?guī)砣?b class="flag-6" style="color: red">種pwm驅(qū)動mos開關(guān)電路解析。
2018-01-04 13:41:1462683

詳細(xì)分析功率MOS損壞模式詳解

的回掃電壓,或者由漏磁電感產(chǎn)生的尖峰電壓超出功率MOSFET的漏極額定耐壓并進(jìn)入擊穿區(qū)而導(dǎo)致破壞的模式會引起雪崩破壞。典型電路:第二:器件發(fā)熱損壞由超出安全區(qū)域引起發(fā)熱而導(dǎo)致的。發(fā)熱的原因分為直流功率
2018-11-09 15:00:27384

MOS被擊穿的原因及解決方案

MOS為什么會被靜電擊穿?靜電擊穿是指擊穿MOSG極的那層絕緣層嗎?擊穿就一定短路了嗎?JFET靜電擊穿又是怎么回事?
2019-05-20 17:21:0036881

簡易mos開關(guān)電路圖

MOS原理圖上可以看到,漏極和源極之間有一個寄生二極。這個叫體二極,在驅(qū)動感性負(fù)載(如馬達(dá)),這個二極很重要??梢栽?b class="flag-6" style="color: red">MOS關(guān)斷時為感性負(fù)載的電動勢提供擊穿通路從而避免MOS被擊穿損壞。
2019-06-19 10:01:31154550

功率MOS損壞的主要原因

mos在控制器電路中的工作狀態(tài):開通過程(由截止到導(dǎo)通的過渡過程)、導(dǎo)通狀態(tài)、關(guān)斷過程(由導(dǎo)通到截止的過渡過程)、截止?fàn)顟B(tài)。
2019-07-27 08:08:008449

什么是MOS?MOS損壞原因有哪些

什么是MOS?它有什么特點(diǎn)?在常見的控制器電路中,MOS管有幾個工作狀態(tài),而MOS 主要損耗也對應(yīng)這幾個狀態(tài),本文就來探討一下MOS的這些狀態(tài)的原理。MOS的工作狀態(tài)分為:開通過程(由截止到導(dǎo)通的過渡過程)、導(dǎo)通狀態(tài)、關(guān)斷過程(由導(dǎo)通到截止的過渡過程)、截止?fàn)顟B(tài)。
2020-08-09 14:15:007139

Mos在控制器電路中的工作狀態(tài)以及Mos損壞的主要原因

,截止損耗(漏電流引起的,這個忽略不計),還有雪崩能量損耗。只要把這些損耗控制在Mos承受規(guī)格之內(nèi),Mos即會正常工作,超出承受范圍,即發(fā)生損壞。而開關(guān)損耗往往大于導(dǎo)通狀態(tài)損耗,不同Mos這個差距可能很大。 Mos損壞主要原因
2020-08-14 10:14:094053

變頻器損壞原因及維修常識

 變頻器損壞原因很多,最為常見的主要有以下類:
2020-09-10 09:32:2017297

MOS燒了,什么原因把這個AO3401損壞了呢?資料下載

電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供MOS燒了,什么原因把這個AO3401損壞了呢?資料下載的電子資料下載,更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計、用戶指南、解決方案等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-04-10 08:52:2820

MOS封裝說明

電位。MOS的作用是什么MOS對于整個供電系統(tǒng)而言起著穩(wěn)壓的作用。目前板卡上所采用的MOS并不是太多,一般有10個左右,主要原因是大部分MOS被整合到IC芯片中去
2021-09-23 09:32:0466

MOS開關(guān)設(shè)計知識-(MOS開關(guān)電路圖方式)

在使用MOS設(shè)計開關(guān)電源或者馬達(dá)驅(qū)動電路的時候,大部分人都會考慮MOS的導(dǎo)通電阻,最大電壓等,最大電流等,也有很多人僅僅考慮這些因素。這樣的電路也許是可以工作的,但并不是優(yōu)秀的,作為正式的產(chǎn)品設(shè)計
2021-10-21 17:21:0879

詳述MOS驅(qū)動電路的大要點(diǎn)

正式的產(chǎn)品設(shè)計也是不允許的。? ? ? ??  1、MOS種類和結(jié)構(gòu)  MOSFET是FET的一(另一是JFET),可以被制造成增強(qiáng)型或耗盡型,P溝道或N溝道共4類型,但實際應(yīng)用的只有...
2021-11-07 12:50:5916

針對mos損壞原因做簡單的說明介紹

mos損壞主要圍繞雪崩損壞、器件發(fā)熱損壞、內(nèi)置二極破壞、由寄生振蕩導(dǎo)致的破壞、柵極電涌、靜電破壞這大方面。接下來就由小編針對mos損壞原因做以下簡明介紹。
2022-03-11 11:20:173957

功率MOS損壞模式詳解

時產(chǎn)生的回掃電壓,或者由漏磁電感產(chǎn)生的尖峰電壓超出功率MOSFET的漏極額定耐壓并進(jìn)入擊穿區(qū)而導(dǎo)致破壞的模式會引起雪崩破壞。 典型電路: 第二:器件發(fā)熱損壞 由超出安全區(qū)域引起發(fā)熱而導(dǎo)致的。...
2022-02-11 10:53:296

MOS損壞大主要原因

MOS是電壓驅(qū)動型器件,只要柵極和源級間給一個適當(dāng)電壓,源級和漏級間通路就形成。這個電流通路的電阻被成為MOS內(nèi)阻,就是導(dǎo)通電阻。這個內(nèi)阻大小基本決定了MOS芯片能承受的最大導(dǎo)通電流(當(dāng)然和其它因素有關(guān),最有關(guān)的是熱阻),內(nèi)阻越小承受電流越大(因為發(fā)熱?。?。
2022-04-14 08:34:1522918

MOS損壞之謎:原因

在介質(zhì)負(fù)載的開關(guān)運(yùn)行斷開時產(chǎn)生的回掃電壓,或者由漏磁電感產(chǎn)生的尖峰電壓超出功率MOSFET的漏極額定耐壓并進(jìn)入擊穿區(qū)而導(dǎo)致破壞的模式會引起雪崩破壞。
2022-06-17 10:30:036261

分析MOS發(fā)燙原因

MOS管有很多種類,也有很多作用,在作為電源或者驅(qū)動使用的情況下,發(fā)揮的當(dāng)然是用它的開關(guān)作用。但在半導(dǎo)體電子應(yīng)用過程中,MOS經(jīng)常會出現(xiàn)發(fā)燙嚴(yán)重的現(xiàn)象,那么是什么原因導(dǎo)致MOS發(fā)燙呢?
2022-08-15 16:14:4610140

功率Mos損壞主要原因

過快的充電會導(dǎo)致激烈的米勒震蕩,但過慢的充電雖減小了震蕩,但會延長開關(guān)從而增加開關(guān)損耗。Mos開通過程源級和漏級間等效電阻相當(dāng)于從無窮大電阻到阻值很小的導(dǎo)通內(nèi)阻(導(dǎo)通內(nèi)阻一般低壓mos只有幾毫歐姆)的一個轉(zhuǎn)變過程。
2022-08-17 14:37:411857

整流二極損壞原因有哪些

在我們工作中,經(jīng)常會遇到因為整流二極損壞,導(dǎo)致設(shè)備停止運(yùn)行,面對這樣的情況,不僅降低了效率,還提高了成本,那我們該如何處理這個問題呢?今天小編就來講一下整流二極損壞的6個原因,可以讓大家提前做好防護(hù),減少因整流二極損壞而增加的成本。
2022-08-18 14:22:132930

功率Mos損壞主要原因有哪些

Mos主要損耗也對應(yīng)這幾個狀態(tài),開關(guān)損耗(開通過程和關(guān)斷過程),導(dǎo)通損耗,截止損耗(漏電流引起的,這個忽略不計),還有雪崩能量損耗。只要把這些損耗控制在mos承受規(guī)格之內(nèi),mos即會正常工作,超出承受范圍,即發(fā)生損壞。
2023-01-30 10:48:261541

Mos開關(guān)原理 Mos損壞主要原因

Mos是電壓驅(qū)動型器件,只要柵極和源級間給一個適當(dāng)電壓,源級和漏級間通路就形成。這個電流通路的電阻被成為Mos內(nèi)阻,就是導(dǎo)通電阻。
2023-02-07 09:46:113624

什么原因導(dǎo)致小功率無刷直流電機(jī)的MOS被燒壞

什么原因導(dǎo)致控制小功率無刷直流電機(jī)的MOS被燒壞呢?若能夠提供詳細(xì)電路圖及各元器件的型號(比如MOS型號等)更好,由于沒電路圖,下面對這部分設(shè)計MOS燒壞常見的可能性故障進(jìn)行分析,自己核對一下是否有相應(yīng)的問題。
2023-02-15 11:20:432489

MOS燒毀的原因分析

今天給大家講一下關(guān)于MOS燒毀的原因,文字比較多點(diǎn),不容易讀,希望大家可以認(rèn)真看完。
2023-04-18 16:50:163742

mos小電流發(fā)熱的原因

電路設(shè)計的問題是讓MOS在線工作,而不是在開關(guān)狀態(tài)下工作。這也是MOS加熱的原因之一。如果N-MOS做開關(guān),G級電壓比電源高幾V,P-MOS就相反了。未完全打開,壓降過大,導(dǎo)致功耗大,等效DC阻抗大,壓降大,U*I大,損耗意味著加熱。這是設(shè)計電路中最禁忌的錯誤。
2023-06-18 14:46:071787

mos短路保護(hù)電路的原理和應(yīng)用

mos短路保護(hù)電路的原理和應(yīng)用? MOS,也叫金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng),是一常見的半導(dǎo)體器件,其主要作用是控制電路中的電流。但是,由于MOS在使用過程中會遭受各種不同的電壓和電流沖擊,如果
2023-08-25 15:11:2912206

電阻損壞原因有哪些?

電阻損壞原因有哪些? 電阻是電子元器件中最基礎(chǔ)、最常見的一元件,用于控制電路中的電流和電壓。但是,電阻也會出現(xiàn)損壞的情況。電阻損壞原因有以下幾點(diǎn): 1. 過載使用:過載是電阻損壞最常見的原因
2023-08-29 16:46:4411237

mos的箭頭表示什么?mos電流方向與箭頭

mos的箭頭表示什么?mos電流方向與箭頭 MOS(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)是一常用的半導(dǎo)體器件,它是在MOS結(jié)構(gòu)
2023-09-07 16:08:359073

寄生電容對MOS快速關(guān)斷的影響

寄生電容對MOS快速關(guān)斷的影響 MOS(Metal Oxide Semiconductor)是一晶體,它以其高性能和可靠性而廣泛應(yīng)用于許多電子設(shè)備,如功率放大器和開關(guān)電源。盡管MOS具有
2023-09-17 10:46:585125

高壓MOS和低壓MOS的區(qū)別

  MOS,全稱為金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體,或者稱是金屬-絕緣體-半導(dǎo)體,是一常見的半導(dǎo)體器件。根據(jù)其工作電壓的不同,MOS主要可分為高壓MOS和低壓MOS。
2023-10-16 17:21:518363

斷路器跳閘常見的原因盤點(diǎn)

斷路器跳閘,無外乎以下原因:過載、短路、漏電、欠壓和過壓。下面我們來詳細(xì)了解一下這五種原因以及如何判斷和解決故障。
2023-10-17 16:05:5317143

功率MOS為什么會燒?原因分析

功率MOS為什么會燒?原因分析? 功率MOS,作為半導(dǎo)體器件的一,被廣泛應(yīng)用于電源、變頻器、馬達(dá)驅(qū)動等領(lǐng)域。但在使用中,我們有時會發(fā)現(xiàn)功率MOS會出現(xiàn)燒毀的情況。那么,功率MOS為什么會燒
2023-10-29 16:23:503445

MOS晶體中各種類型的泄漏電流的原因

MOS晶體中各種類型的泄漏電流的原因? MOS晶體是一廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代電子技術(shù)中的晶體,它具有低功耗、小尺寸、高密度等優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于集成電路中。然而,MOS晶體中存在著多種不同類型的泄漏
2023-10-31 09:41:293439

光耦損壞故障原因有哪些 光耦怎么測好壞?

光耦損壞故障原因有哪些 光耦怎么測好壞? 光耦(Opto-Coupler)是一將光電設(shè)備和電子設(shè)備相互隔離或耦合的器件,它通常由發(fā)光二極(LED)和光敏三極(光電二極或光敏三極)組成。光耦
2023-11-20 16:16:2810137

igbt與mos的區(qū)別

Transistor)是兩常見的功率開關(guān)器件,用于電力電子應(yīng)用中的高電壓和高電流的控制。雖然它們都是晶體的一,但在結(jié)構(gòu)、特性和應(yīng)用方面有很大的區(qū)別。本文將詳細(xì)介紹IGBT和MOS的區(qū)別。 首先
2023-12-07 17:19:383219

mos損壞原因分析

Field-Effect Transistor,金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)是一常見的半導(dǎo)體器件,廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而,在實際應(yīng)用中,MOS可能會因為各種原因損壞。本文將對MOS損壞原因進(jìn)行分析。 過
2023-12-28 16:09:384956

MOS發(fā)熱的大關(guān)鍵技術(shù)

MOS作為一常見的功率器件,在電子設(shè)備中起著重要作用。其中,MOS發(fā)熱問題是設(shè)計過程中需要重點(diǎn)考慮的技術(shù)難題之一。下面將從以下個關(guān)鍵技術(shù)方面對MOS發(fā)熱問題進(jìn)行淺析: 1. 導(dǎo)熱
2024-03-19 13:28:481525

MOS中漏電流產(chǎn)生的主要六大原因

MOS中漏電流產(chǎn)生的主要六大原因? MOS(金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)是一重要的半導(dǎo)體器件,廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而,MOS中漏電流的產(chǎn)生是一個常見的問題,需要仔細(xì)研究和解
2024-03-27 15:33:168407

MOS尖峰產(chǎn)生的原因

MOS,作為現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的關(guān)鍵元件,廣泛應(yīng)用于各種電路設(shè)計中。然而,在MOS的工作過程中,有時會出現(xiàn)電壓或電流尖峰現(xiàn)象,這不僅可能影響電路的穩(wěn)定性和可靠性,還可能導(dǎo)致設(shè)備損壞。因此
2024-05-30 16:32:255529

MOS被擊穿的原因

問題。 一、MOS被擊穿的原因 1. 高輸入電阻與小電容 MOS的輸入電阻極高,而柵源極間的電容又非常小,這使得它們極易受到外界電磁場或靜電的影響。少量電荷就可以在極間電容上形成相當(dāng)高的電壓,從而損壞MOS。 2. 保護(hù)措施不足 盡管大多數(shù)
2024-10-04 16:44:005742

MOS擊穿原理分析、原因及解決方法

MOS(金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng))是一常用的電子元件,在電路中起著開關(guān)、放大等重要作用。然而,在某些情況下,MOS可能會發(fā)生擊穿現(xiàn)象,導(dǎo)致其失效。擊穿原理主要涉及電場強(qiáng)度、電荷積累、熱量等因素。
2024-10-09 11:54:3516912

為什么保護(hù)電路的TVS經(jīng)常損壞

保護(hù)電路的TVS(Transient Voltage Suppressor,瞬態(tài)抑制二極)經(jīng)常損壞是一個復(fù)雜的問題,涉及多個方面的因素。TVS是一用于保護(hù)電路免受過電壓沖擊的元件,其主要
2024-10-09 18:06:356757

MOS泄漏電流的類型和產(chǎn)生原因

MOS(金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)的泄漏電流是指在MOS關(guān)斷狀態(tài)下,從源極或漏極到襯底之間仍然存在的微弱電流。這些泄漏電流可能對電路的性能和穩(wěn)定性產(chǎn)生不利影響,因此需要深入了解其類型和產(chǎn)生原因
2024-10-10 15:11:126944

如何判斷MOS是否損壞

MOS(金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)是電子電路中常用的一功率放大器件,因其體積小、功耗低、驅(qū)動簡單等優(yōu)點(diǎn)而被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而,由于其結(jié)構(gòu)的特殊性,MOS在實際使用過程中也容易
2024-11-05 14:00:102933

如何優(yōu)化MOS散熱設(shè)計

1. 引言 MOS作為電子電路中的核心組件,其性能直接影響整個系統(tǒng)的工作狀態(tài)。在高功率或高頻工作條件下,MOS會產(chǎn)生大量熱量,若散熱不及時,可能導(dǎo)致器件性能下降甚至損壞。 2. MOS散熱
2024-11-05 14:05:014846

MOS的并聯(lián)使用:如何保證電流均流?

在功率電子電路中,為了滿足大電流需求,常常需要將多個MOS并聯(lián)使用。然而,由于MOS參數(shù)的離散性以及電路布局的影響,并聯(lián)的MOS之間可能會出現(xiàn)電流分配不均的問題,導(dǎo)致部分MOS管過載甚至損壞
2025-02-13 14:06:354244

功率MOS在電源管理場景下的發(fā)熱原因分析

。合科泰帶您深入理解功率MOS在電源管理場景下的發(fā)熱原因,助力工程師優(yōu)化電源設(shè)計、提高系統(tǒng)穩(wěn)定性。 發(fā)熱原理 電源管理應(yīng)用中,功率MOS主要在導(dǎo)通狀態(tài)和截止?fàn)顟B(tài)工作。在開關(guān)電源中,兩狀態(tài)之間快速切換,以實現(xiàn)電能的轉(zhuǎn)換和控制。
2025-06-25 17:38:41514

家國產(chǎn)MOS

在功率器件國產(chǎn)化浪潮之下,MOS(MOSFET)作為能量轉(zhuǎn)化的“核心開關(guān)”,其自主可控與性能提升尤為重要。隨著電動汽車、工業(yè)4.0、光伏儲能及高端消費(fèi)電子的飛速發(fā)展,市場對于高可靠性、高效率
2025-12-27 10:33:49476

已全部加載完成