標題:芯片失效分析方法及步驟目錄:失效分析方法失效分析步驟失效分析案例失效分析實驗室介紹
2020-04-14 15:08:52
?! ?b class="flag-6" style="color: red">失效分析技術 光學顯微鏡 光學顯微鏡主要用于PCB的外觀檢查,尋找失效的部位和相關的物證,初步判斷PCB的失效模式。外觀檢查主要檢查PCB的污染、腐蝕、爆板的位置、電路布線以及失效的規(guī)律性、如是批次
2018-09-20 10:59:15
瑕疵原因之分析服務C/P , F/T ,PCBA 等流程后之樣品分析服關于宜特:iST宜特始創(chuàng)于1994年的***,主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、失效分析、材料分析、無線認證等技術服務。2002年進駐上海,全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務據(jù)點,目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。
2018-08-16 10:42:46
FMEA失效模式公析表:被分析的項目或操作 潛能失效模態(tài) 潛在的失效效應 嚴重度 失敗的潛能因素/機制 發(fā)生度 現(xiàn)在的設計或制程控制 難檢度 風險數(shù) 
2009-08-17 08:09:17
30 概述了滾動軸承失效分析的基本概念及意義;著重論述了失效的基本模式、影響軸承失效的因素、軸承失效分析的工作思路及方法;對軸承失效預測預防的前景也做了一些探討。
2009-12-18 11:21:45
50 失效分析中的模式思維方法:對事故模式和失效模式的歸納總結,從中引伸出預防事故或失效的新認識或新概念.關健詞:失效模式;失效分析;安全性工程
2009-12-18 11:28:10
34 內(nèi)容提要• FMEA之歷史• FMEA之應用• FMEA之定義• FMEA使用時機• FMEA分類• FMEA分析流程• 失效模式及效應分析窗體格式• 設計 FMEA
2010-06-13 08:49:32
68 LED失效分析方法簡介
和半導體器件一樣,發(fā)光二極管(LED)早期失效原因分析是可靠性工作的重要部分,是提高LED可靠性的積極主動的
2009-11-20 09:43:53
1357 PTC的失效模式分析
●衡量PTC熱敏電阻器可靠性有兩個主要指標:
A.耐電壓能力----超過規(guī)定的電壓可導致PTC熱敏電阻器短路擊穿,施加高電壓可淘汰耐壓低的產(chǎn)
2009-11-28 09:12:45
3468 目前,雖然LED的理論壽命可以達到50kh,然而在實際使用中,因為受到種種因素的制約,LED往往達不到這么高的理論壽命,出現(xiàn)了過早失效現(xiàn)象,這大大阻礙了LED作為新型節(jié)能型產(chǎn)品的前
2011-09-21 16:41:46
3819 
半導體器件芯片焊接失效模式分析與解決探討 半導體器件芯片焊接失效模式分析與解決探討 芯片到封裝體的焊接(粘貼)方法很多,可概括為金屬合金焊接法(或稱為低熔點焊接法)和樹脂
2011-11-08 16:55:50
60 通過剖析一晶體管的失效機理, 給出了對此類晶體管失效分析的方法和思路。討論了晶體管存在異物、芯片粘結失效和熱應力失效等失效模式。
2012-03-15 14:18:08
30 判斷失效的模式, 查找失效原因和機理, 提出預防再失效的對策的技術活動和管理活動稱為失效分析。
2012-03-15 14:21:36
121 一個LED產(chǎn)品的失效,起因可能來自于該產(chǎn)品的任何一個部份,故必須抽絲剝繭方能找到真正的失效原因。針對失效來自LED燈粒而言,因完整的LED燈粒中,LED chip本身很強壯,但包復chip的
2012-11-23 10:22:57
6955 型、阻漏型、功能型失效模式和其他失效模式。在此針對系統(tǒng)中導致電機驅動系統(tǒng)失效,影響整車正常運行的元件或部件失效進行分析。
2017-03-09 01:43:23
1760 。如何提高LED照明產(chǎn)品可靠性問題也一直是企業(yè)需要解決的問題。 LED照明產(chǎn)品失效模式一般可分為:芯片失效、封裝失效、電應力失效、熱應力失效、裝配失效。通過對這些失效現(xiàn)象的分析和改進,可對我們設計和生產(chǎn)高可靠性的LED照明產(chǎn)品提供幫助。 本文介紹了
2017-10-19 09:29:00
22 談到LED失效,人們首先會想到正常電流驅動下出現(xiàn)的死燈不亮現(xiàn)象,或者僅僅發(fā)出微弱光線。事實上,這已是失效類型達到最嚴重的程度,稱為災難失效。相反,如果LED產(chǎn)品在平時使用中,一些關鍵參數(shù)特性
2017-11-06 09:24:32
9282 
電容器的常見
失效模式有:――擊穿短路;致命
失效――開路;致命
失效――電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等;部分功能
失效――漏液;部分功能
失效――引線腐蝕或斷裂;致命
失效――絕緣子破裂;致命
失效――絕緣子表面飛?。?/div>
2018-03-15 11:00:10
26173 
本文通過大量的歷史資料調研和失效信息收集等方法,針對不同環(huán)境應力條件下的MEMS慣性器件典型失效模式及失效機理進行了深入探討和分析。
2018-05-21 16:23:45
6951 
電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個非常麻煩的事情,比如某個半導體器件外表完好但實際上已經(jīng)半失效
2018-06-07 15:18:13
7239 LED燈珠是一個由多個模塊組成的系統(tǒng)。每個組成部分的失效都會引起LED燈珠失效。
2020-03-22 23:13:00
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隨著LED產(chǎn)品制造技術的逐漸成熟,成本越來越低,性價比越來越高。目前小功率LED產(chǎn)品在大屏幕戶外顯示等商用領域有很大的應用范圍,如何增加使用壽命,減少維護成本也是業(yè)界關注的要點所在。解決高成本問題的一個積極態(tài)度,就是要分析其失效機理,彌補技術缺陷,以提高LED產(chǎn)品的可靠性,提高LED的性價比。
2020-06-14 09:07:46
1111 失效分析 根據(jù)過程步驟,導出失效并從功能分析中創(chuàng)建失效鏈(即失效結構/失效樹/失效網(wǎng))[詳情見過程FMEA步驟三:功能分析] 失效結構的關注要素被稱為失效模式,失效模式存在相應的失效影響和失效起因
2020-07-01 10:18:00
5061 
注1在分析中可以省略沒有顯著增加違反安全目標概率的失效元素,其失效模式可歸類為安全失效,例如。硬件元件,其失效只導致多點失效的順序n,與n>2,被認為是安全失效,除非顯示與技術安全概念相關。
2020-08-25 15:35:55
2885 
FMEA一般指失效模式與影響分析。失效模式與影響分析即“潛在失效模式及后果分析”,或簡稱為FMEA。FMEA是在產(chǎn)品設計階段和過程設計階段,對構成產(chǎn)品的子系統(tǒng)、零件,對構成過程的各個工序逐一
2021-05-21 16:09:53
38712 研究動力電池系統(tǒng)的失效模式對提高電池壽命、電動車輛的安全性和可靠性、降低電動車使用成本有至關重要的意義。本文從動力電池系統(tǒng)外在表現(xiàn)失效模式探索和后果進行分析并提出相應處理措施。在動力電池系統(tǒng)設計時
2021-07-26 11:26:13
3381 使得LED燈具經(jīng)常出現(xiàn)大批量的LED失效現(xiàn)象。 LED失效分析: LED燈具失效,一是來源于電源和散熱的LED失效,二是來源于LED器件本身的失效,若需要充分分析這類失效,牽涉到光學、化學、材料學、電子物理學等領域的專業(yè)知識,并搭配精密的儀器與豐富的
2021-11-04 10:15:32
560 哲學上有句話說:找到了真正的問題,也就成功了一半。 LED在生產(chǎn)和使用過程中往往受到各種應力和環(huán)境因素的影響,達不到預期的壽命或功能,即發(fā)生失效現(xiàn)象。失效分析是一門新興發(fā)展中的學科,在提高產(chǎn)品質量
2021-11-04 10:13:37
571 不當使用都可能會損傷芯片,使得芯片在使用過程中出現(xiàn)失效。芯片失效涉及的分析非常復雜、需要的技術方法較多。 ? 金鑒實驗室擁有一支經(jīng)驗豐富的LED失效分析技術團隊,針對LED芯片失效分析,金鑒實驗室首先會明確分析對象的背景,確認
2021-11-01 11:14:41
1728 相對于LED光源來說,LED驅動電源的結構更復雜,需要權衡的地方會更多,使得LED驅動電源往往比LED光源先失效。據(jù)統(tǒng)計,整燈失效中超過80%的原因是電源出現(xiàn)了故障。經(jīng)過金鑒實驗室長期的實證分析
2021-11-01 15:16:32
1862 、濕度相關的可靠性試驗,對失效的產(chǎn)品進行部件或者材料更換,直到通過測試則選用。雖然此模式可以簡單的完成產(chǎn)品的設計,然而未對失效的產(chǎn)品的失效根本原因進行分析,對此后的技術發(fā)展有很大的阻礙作用。 ? 失效分析工作不僅僅在
2021-11-01 11:02:23
1239 
談談UV LED失效分析案子,金鑒實驗室提供 “UV LED失效分析檢測” 服務,找出的原因有哪些: ? 1. 發(fā)熱量大 ? 目前UV LED的發(fā)光效率偏低,不同的波段,其出光效率不太相同,波段
2021-11-02 17:27:19
633 使得LED燈具經(jīng)常出現(xiàn)大批量的LED失效現(xiàn)象。 LED失效分析: LED燈具失效,一是來源于電源和散熱的LED失效,二是來源于LED器件本身的失效,若需要充分分析這類失效,牽涉到光學、化學、材料學、電子物理學等領域的專業(yè)知識,并搭配精密的儀器與豐富的
2021-11-06 09:37:06
639 哲學上有句話說:找到了真正的問題,也就成功了一半。 LED在生產(chǎn)和使用過程中往往受到各種應力和環(huán)境因素的影響,達不到預期的壽命或功能,即發(fā)生失效現(xiàn)象。失效分析是一門新興發(fā)展中的學科,在提高產(chǎn)品質量
2021-11-06 09:35:14
538 、濕度相關的可靠性試驗,對失效的產(chǎn)品進行部件或者材料更換,直到通過測試則選用。雖然此模式可以簡單的完成產(chǎn)品的設計,然而未對失效的產(chǎn)品的失效根本原因進行分析,對此后的技術發(fā)展有很大的阻礙作用。 金鑒檢測在燈具可靠性檢
2021-11-13 11:57:04
724 電容器的常見失效模式有: ――擊穿短路;致命失效 ――開路;致命失效 ――電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等;部分功能失效 ――漏液;部分功能失效 ――引線腐蝕
2021-12-11 10:13:53
2688 失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
失效機理:是導致失效的物理、化學、熱力學或其他過程。
2022-02-10 09:49:06
18 LED(Light emitting diodes)產(chǎn)品在生產(chǎn)與使用過程中,往往容易因各種應力或環(huán)境等因素的影響,導致失效不良的產(chǎn)生,即發(fā)生LED失效。
針對LED產(chǎn)品發(fā)生的失效問題,主要
2022-07-19 09:33:05
2296 一起貼片陶瓷電容失效事件,失效模式為短路,電容表面有裂紋,對于這顆電容進行分析失效,經(jīng)過梳理,造成器件(MLCC)的失效各種可能性。
2022-09-08 15:17:19
3986 
摘要:常用電路保護器件的主要失效模式為短路,瞬變電壓抑制器(TvS)亦不例外。TvS 一旦發(fā)生短路失效,釋放出的高能量常常會將保護的電子設備損壞.這是 TvS 生產(chǎn)廠家和使用方都想極力減少或避免
2022-10-11 10:05:01
4603 失效分析是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:48
4175 PCB失效的機理,必須遵守基本的原則及分析流程。一般的基本流程是,首先必須基于失效現(xiàn)象,通過信息收集、功能測試、電性能測試以及簡單的外觀檢查,確定失效部位與失效模式,即失效定位或故障定位。
2022-11-09 14:35:48
691 、線路短路等,但最終的失效都可歸結為電擊穿和熱擊穿兩種,其中電擊穿失效的本質也是溫度過高的熱擊穿失效。目前對IGBT芯片失效的研究主要集中在對引起失效的各種外部因素,如過電壓、過電流、過溫等進行分析上,
2023-02-22 15:05:43
19 失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質量,技術開發(fā)
2023-04-18 09:11:21
1361 
失效率是可靠性最重要的評價標準,所以研究IGBT的失效模式和機理對提高IGBT的可靠性有指導作用。
2023-04-20 10:27:04
1117 
常用電路保護器件的主要失效模式為短路,瞬變電壓抑制器(TVS)亦不例外。TVS一旦發(fā)生短路失效,釋放出的高能量常常會將保護的電子設備損壞.這是TVS生產(chǎn)廠家和使用方都想極力減少或避免的情況
2023-05-12 17:25:48
3682 
有哪些呢?掌握了連接器的失效模式,對于用戶在選擇更加可靠的連接器產(chǎn)品,同時在使用時盡量規(guī)避不利因素影響等方面,具備很強的現(xiàn)實意義。連接器失效分析01連接器失效模式對于連接
2022-10-18 09:40:19
521 
失效模式與FMEDA-第88期-PART01失效模式首先,何謂失效?ISO26262中對“故障”、“錯誤”、“失效”的定義如下:故障(Fault):可引起要素或相關項失效的異常情況。錯誤(Error
2023-03-06 10:36:32
4332 
本文通過對典型案例的介紹,分析了鍵合工藝不當,以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析,以及對各種失效模式總結,闡述了鍵合工藝不當及封裝不良,造成鍵合本質失效的機理;并提出了控制有缺陷器件裝機使用的措施。
2023-07-26 11:23:15
931 芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術的發(fā)展,各種芯片被廣泛應用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而,在使用過程中,芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:11
2805 失效分析是一門發(fā)展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及,它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質量,技術開發(fā)、改進,產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。
2023-09-12 09:51:47
291 
那么就要用到一些常用的失效分析技術。介于PCB的結構特點與失效的主要模式,其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術,一旦使用了這兩種技術,樣品就破壞了,且無法恢復;另外由于制樣的要求,可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05
115 將詳細分析光耦失效的幾種常見原因。 首先,常見的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發(fā)光二極管的核心部件,它會發(fā)出光信號。常見的LED失效原因有兩種:老化和損壞。LED的使用壽命是有限的,長時間使用后會逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:44
1445 壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導致兩種IGBT器件的失效形式和失效機理的不同,如表1所示。本文針對兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機理進行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎,尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07
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1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現(xiàn)不良失效,初步判斷失效原因為銅腐蝕。據(jù)此情況,對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段,明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07
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▼關注公眾號:工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產(chǎn)業(yè)鏈,復雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應用都會面臨各種失效風險,筆者平時也會參與到失效分析中,這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04
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電容器失效模式有哪些?陶瓷電容失效的內(nèi)部因素與外部因素有哪些呢? 電容器失效模式主要分為內(nèi)部失效和外部失效兩大類。內(nèi)部失效是指電容器內(nèi)部元件本身發(fā)生故障導致失效,而外部失效是因外部因素引起的失效
2023-12-21 10:26:58
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