一、讀寫均衡失效引發(fā)的核心問(wèn)題 讀寫均衡(磨損均衡,Wear Leveling)是SD卡固件通過(guò)算法將數(shù)據(jù)均勻分配到閃存芯片各單元,避免局部單元過(guò)度擦寫的關(guān)鍵機(jī)制。瀚海微SD卡出現(xiàn)讀寫均衡失效后,會(huì)
2025-12-29 15:08:07
98 
今天結(jié)合電子整流器的核心原理,帶大家拆解整流器內(nèi)部器件,從結(jié)構(gòu)、失效原因到檢測(cè)方法逐一講透,文末還附上實(shí)操修復(fù)案例,新手也能看懂。
2025-12-28 15:24:43
997 
發(fā)光二極管(LED)作為現(xiàn)代照明和顯示技術(shù)的核心元件,其可靠性直接關(guān)系到最終產(chǎn)品的性能與壽命。與所有半導(dǎo)體器件相似,LED在早期使用階段可能出現(xiàn)失效現(xiàn)象,對(duì)這些失效案例進(jìn)行科學(xué)分析,不僅能夠定位
2025-12-24 11:59:35
172 
在城市亮化和道路照明工程中,隧道燈、路燈、庭院燈等戶外燈具長(zhǎng)期暴露在風(fēng)雨、高溫、低溫、濕氣環(huán)境中,一旦密封不良,極易導(dǎo)致進(jìn)水、結(jié)露、電路短路甚至燈具失效。然而,很多廠家仍依賴“噴水測(cè)試”或“人工目檢
2025-12-15 14:58:19
138 
聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束(FocusedIonBeam,FIB)技術(shù)作為現(xiàn)代半導(dǎo)體失效分析的核心手段之一,通常與掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM)集成
2025-12-04 14:09:25
368 
【博主簡(jiǎn)介】本人“ 愛(ài)在七夕時(shí) ”,系一名半導(dǎo)體行業(yè)質(zhì)量管理從業(yè)者,旨在業(yè)余時(shí)間不定期的分享半導(dǎo)體行業(yè)中的:產(chǎn)品質(zhì)量、失效分析、可靠性分析和產(chǎn)品基礎(chǔ)應(yīng)用等相關(guān)知識(shí)。常言:真知不問(wèn)出處,所分享的內(nèi)容
2025-12-03 08:35:54
482 
LED光效LED光效是衡量光源性能的關(guān)鍵指標(biāo),其定義為光通量(lm)與光源消耗功率(W)的比值,單位為lm/W。LED領(lǐng)域的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu),具備先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備和豐富的技術(shù)經(jīng)驗(yàn),能夠?yàn)榭蛻籼峁└哔|(zhì)量
2025-11-28 15:22:11
1500 
2025年11月,水晶光電失效分析與材料研究實(shí)驗(yàn)室憑硬核實(shí)力,順利通過(guò)中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)(CNAS)嚴(yán)苛審核,正式獲頒CNAS認(rèn)可證書。這標(biāo)志著實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)能力與服務(wù)質(zhì)量已接軌國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),彰顯了企業(yè)核心技術(shù)創(chuàng)新力與綜合競(jìng)爭(zhēng)力,為深耕國(guó)際市場(chǎng)筑牢品質(zhì)根基”。
2025-11-28 15:18:30
591 燈具(尤其是LED燈具)屬于歐盟重點(diǎn)監(jiān)管的電氣類產(chǎn)品,在進(jìn)入歐盟市場(chǎng)前必須滿足CE認(rèn)證要求。不同于單一證書,燈具的CE合規(guī)是多個(gè)指令與標(biāo)準(zhǔn)共同組成的體系。下面將所有關(guān)鍵要求一次性講清,幫助企業(yè)在出
2025-11-25 09:40:21
361 
澳大利亞SAA認(rèn)證是燈具產(chǎn)品進(jìn)入澳洲市場(chǎng)必須關(guān)注的重要要求,尤其涉及到電氣安全與合規(guī)準(zhǔn)入。很多企業(yè)在出口前最關(guān)心的就是:要花多少錢?需要多久?下面為你一次性講清楚。一、燈具為什么要做SAA認(rèn)證
2025-11-25 09:37:11
306 
隨著澳大利亞對(duì)節(jié)能照明產(chǎn)品的持續(xù)推廣,LED燈具成為出口熱門品類。然而,許多企業(yè)在申請(qǐng)所謂“SAA認(rèn)證”時(shí),僅關(guān)注基礎(chǔ)安規(guī)測(cè)試,忽視了結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、電磁兼容(EMC)及光電性能等關(guān)鍵環(huán)節(jié),導(dǎo)致測(cè)試失敗
2025-11-24 11:41:13
308 
LED燈具的核心LED燈具最核心的是芯片,直接決定了燈具的性能。然而某些不良商家利用客戶的不專業(yè),從成本上面考慮,使用工藝不夠穩(wěn)定的廠家的芯片,然后號(hào)稱Cree、歐司朗、日亞或晶元的芯片,使客戶用高
2025-11-12 14:35:26
311 
節(jié)能認(rèn)證不僅體現(xiàn)產(chǎn)品的節(jié)能性能,也可作為政府、工程采購(gòu)及市場(chǎng)準(zhǔn)入的重要依據(jù)。二、燈具為什么要做CQC節(jié)能認(rèn)證燈具(尤其是LED燈、熒光燈、道路照明燈等)屬于能耗產(chǎn)
2025-11-08 15:52:33
477 
固定式燈具”。這是一個(gè)非常廣泛的類別,但核心在于“安裝后位置固定不變”。以下是關(guān)于固定式燈具的詳細(xì)指南,涵蓋其定義、分類、選購(gòu)要點(diǎn)、安裝和維護(hù)。一、 什么是固定式燈具?定義:指那些通過(guò)螺絲、螺栓
2025-11-01 16:56:19
電子元器件封裝中的引線鍵合工藝,是實(shí)現(xiàn)芯片與外部世界連接的關(guān)鍵技術(shù)。其中,金鋁鍵合因其應(yīng)用廣泛、工藝簡(jiǎn)單和成本低廉等優(yōu)勢(shì),成為集成電路產(chǎn)品中常見(jiàn)的鍵合形式。金鋁鍵合失效這種現(xiàn)象雖不為人所熟知,卻是
2025-10-24 12:20:57
444 
個(gè)微小的鍵合點(diǎn)失效,就可能導(dǎo)致整個(gè)模塊功能異常甚至徹底報(bào)廢。因此,對(duì)鍵合點(diǎn)進(jìn)行精準(zhǔn)的強(qiáng)度測(cè)試,是半導(dǎo)體封裝與失效分析領(lǐng)域中不可或缺的一環(huán)。 本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將圍繞Alpha W260推拉力測(cè)試機(jī)這一核心設(shè)備,深入淺出地
2025-10-21 17:52:43
701 
電子元器件失效可能導(dǎo)致電路功能異常,甚至整機(jī)損毀,耗費(fèi)大量調(diào)試時(shí)間。部分半導(dǎo)體器件存在外表完好但性能劣化的“軟失效”,進(jìn)一步增加了問(wèn)題定位的難度。電阻器失效1.開(kāi)路失效:最常見(jiàn)故障。由過(guò)電流沖擊導(dǎo)致
2025-10-17 17:38:52
900 
一、燈具質(zhì)檢報(bào)告的定義與作用燈具質(zhì)檢報(bào)告是由國(guó)家認(rèn)可的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)出具的產(chǎn)品檢測(cè)文件,用于驗(yàn)證燈具產(chǎn)品是否符合國(guó)家或國(guó)際安全、性能及節(jié)能標(biāo)準(zhǔn)。該報(bào)告不僅是產(chǎn)品在國(guó)內(nèi)銷售、電商上架、工程驗(yàn)收、投標(biāo)
2025-10-17 16:00:57
267 
于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu),能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">LED進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè),致力于為客戶提供高質(zhì)量的測(cè)試服務(wù),為LED在各個(gè)領(lǐng)域的可靠應(yīng)用提供堅(jiān)實(shí)的質(zhì)量保障。以金鑒接觸的失效分析大數(shù)據(jù)顯示,LED死燈的原因可能過(guò)百種
2025-10-16 14:56:40
442 
失效和封裝失效的原因,并分析其背后的物理機(jī)制。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為一家專注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu),致力于改善LED品質(zhì),服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個(gè)環(huán)節(jié),使LED產(chǎn)業(yè)健康
2025-10-14 12:09:44
242 
在現(xiàn)代照明領(lǐng)域,LED燈具以其高效節(jié)能、長(zhǎng)壽命等優(yōu)勢(shì)占據(jù)了重要地位。然而,即使是最先進(jìn)的產(chǎn)品,也需經(jīng)歷嚴(yán)格的環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試,其中恒定濕熱試驗(yàn)便是評(píng)估LED燈具可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。這項(xiàng)測(cè)試模擬高溫高
2025-10-10 14:58:02
349 
燈珠是LED燈具最核心的原物料,直接決定了燈具的性能和可靠性。大多LED照明廠商出于投資回報(bào)比的考量,并未采購(gòu)專業(yè)的微觀結(jié)構(gòu)檢測(cè)設(shè)備,也缺乏材料學(xué)科的專業(yè)技術(shù)人員。LED燈珠來(lái)料檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)1.來(lái)料
2025-09-30 15:37:25
815 
實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中,LED器件常常面臨高溫、高濕、電壓波動(dòng)等復(fù)雜工況,這些因素會(huì)放大材料缺陷,加速器件老化,導(dǎo)致實(shí)際使用壽命遠(yuǎn)低于理論值。本文通過(guò)系統(tǒng)分析LED器件的
2025-09-29 22:23:35
461 
選購(gòu)LED燈具或LED顯示產(chǎn)品時(shí),“亮度夠不夠”往往是人們考量的重要因素。
2025-09-23 17:42:32
1769 隨著封裝技術(shù)向小型化、薄型化、輕量化演進(jìn),封裝缺陷對(duì)可靠性的影響愈發(fā)凸顯,為提升封裝質(zhì)量需深入探究失效機(jī)理與分析方法。
2025-09-22 10:52:43
807 
各類直流 DC220V 燈具,包括燈管、筒燈、面板燈、投光燈、工礦燈等,下面我們就來(lái)詳細(xì)了解一下。?燈管?直流 DC220V 燈管采用先進(jìn)的 LED 技術(shù),發(fā)光效率
2025-09-22 10:32:14
分享一個(gè)在熱發(fā)射顯微鏡下(Thermal EMMI) 芯片失效分析案例,展示我們?nèi)绾瓮ㄟ^(guò) IV測(cè)試 與 紅外熱點(diǎn)成像,快速鎖定 IGBT 模組的失效點(diǎn)。
2025-09-19 14:33:02
2288 
泛光燈和投光燈是兩種最常見(jiàn)的大功率戶外照明燈具,很多人容易混淆它們。其實(shí),它們的核心區(qū)別就在于 “光的形狀和控制方式”。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō):泛光燈(Flood Light):像潑水,追求光的廣度和均勻度,照亮
2025-09-17 16:38:49
們來(lái)全面了解一下“SZSW7130LED平臺(tái)燈”。這是一種專為工業(yè)、商業(yè)及大型戶外空間提供大面積、高效率照明的固定式LED照明燈具。一、什么是LED平臺(tái)燈?LED平臺(tái)燈,顧名思義,是主要安裝在平臺(tái)
2025-09-17 16:28:36
近年來(lái),隨著LED照明市場(chǎng)的快速擴(kuò)張,越來(lái)越多的企業(yè)加入LED研發(fā)制造行列。然而行業(yè)繁榮的背后,卻隱藏著一個(gè)令人擔(dān)憂的現(xiàn)象:由于從業(yè)企業(yè)技術(shù)實(shí)力參差不齊,LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量差異巨大,導(dǎo)致燈具失效事故
2025-09-16 16:14:52
829 
在智能家居與物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)深度融合的今天,燈具已從單一照明工具演變?yōu)榫邆洵h(huán)境感知與智能交互能力的終端設(shè)備。霍爾開(kāi)關(guān)作為實(shí)現(xiàn)非接觸式感應(yīng)的核心元件,憑借其高可靠性、低功耗和長(zhǎng)壽命等優(yōu)勢(shì),成為燈具智能化升級(jí)
2025-09-12 16:50:59
573 LED壽命雖被標(biāo)稱5萬(wàn)小時(shí),但那只是25℃下的理論值。高溫、高濕、粉塵、電流沖擊等現(xiàn)場(chǎng)條件會(huì)迅速放大缺陷,使產(chǎn)品提前失效。統(tǒng)計(jì)表明,現(xiàn)場(chǎng)失效多集中在投運(yùn)前三年,且呈批次性,直接推高售后成本。把常見(jiàn)
2025-09-12 14:36:55
641 
安全通訊中的失效率量化評(píng)估寫在前面:在評(píng)估硬件隨機(jī)失效對(duì)安全目標(biāo)的違反分析過(guò)程中,功能安全的分析通常集中于各個(gè)ECU子系統(tǒng)的PMHF(安全目標(biāo)違反的潛在失效概率)計(jì)算。通過(guò)對(duì)ECU所有子系統(tǒng)
2025-09-05 16:19:13
5719 
戶外燈具種類繁多,結(jié)構(gòu)各異,從簡(jiǎn)單的路燈到復(fù)雜的景觀燈組,其外形、尺寸和密封方式各不相同。氣密性檢測(cè)儀通過(guò)多種技術(shù)手段靈活適應(yīng)這些差異化的測(cè)試需求。對(duì)于帶有測(cè)試孔或透氣閥的標(biāo)準(zhǔn)化燈具,可采用直接檢測(cè)
2025-09-05 10:16:41
359 
SZSW7290固定式LED照明燈具作為一種強(qiáng)光、大范圍的照明工具,其核心特點(diǎn)是照射角度廣、亮度高、射程遠(yuǎn)。這使得它在眾多需要大面積、均勻照明的場(chǎng)景中成為理想之選。以下是泛光燈的主要適用場(chǎng)景,分為
2025-09-03 16:24:59
SZSW7260固定式LED照明燈具泛光燈(Flood Light)通常安裝在戶外,暴露在風(fēng)雨、灰塵、紫外線和高低溫變化中,因此定期保養(yǎng)對(duì)其壽命和性能至關(guān)重要。固定式LED照明燈具遵循“清潔、檢查
2025-09-03 16:06:49
SZSW7125固定式LED燈具的安裝是一個(gè)需要仔細(xì)規(guī)劃和安全操作的過(guò)程。以下是詳細(xì)的安裝步驟、注意事項(xiàng)和不同安裝方式的說(shuō)明。核心安裝步驟1. 安裝前準(zhǔn)備a. 安全第一!斷電操作: 確保安裝區(qū)域
2025-08-28 13:42:27
1. 工業(yè)/作業(yè)平臺(tái)燈 (最常見(jiàn)含義)SZSW7150這是“平臺(tái)燈”最原始和最常見(jiàn)的含義。它指專門為工廠、車間、倉(cāng)庫(kù)、維修平臺(tái)、設(shè)備操作平臺(tái)等工業(yè)環(huán)境設(shè)計(jì)的高強(qiáng)度照明燈具。特點(diǎn):高亮度與照度: 需要
2025-08-28 11:34:02
,系統(tǒng)分析風(fēng)華貼片電感的典型失效模式,并提出針對(duì)性預(yù)防措施。 ?一、典型失效模式分析 1.? 磁路破損類失效 磁路破損是貼片電感的核心失效模式之一,具體表現(xiàn)為磁芯裂紋、磁導(dǎo)率偏差及結(jié)構(gòu)斷裂。此類失效通常源于以下原
2025-08-27 16:38:26
658 電子元器件失效是指其在規(guī)定工作條件下,喪失預(yù)期功能或性能參數(shù)超出允許范圍的現(xiàn)象。失效可能發(fā)生于生命周期中的任一階段,不僅影響設(shè)備正常運(yùn)行,還可能引發(fā)系統(tǒng)級(jí)故障。導(dǎo)致失效的因素復(fù)雜多樣,可系統(tǒng)性地歸納
2025-08-21 14:09:32
983 
短路失效網(wǎng)上已經(jīng)有很多很詳細(xì)的解釋和分類了,但就具體工作中而言,我經(jīng)常遇到的失效情況主要還是發(fā)生在脈沖階段和關(guān)斷階段以及關(guān)斷完畢之后的,失效的模式主要為熱失效和動(dòng)態(tài)雪崩失效以及電場(chǎng)尖峰過(guò)高失效(電流分布不均勻)。理論上還有其他的一些失效情況,但我工作中基本不怎么遇到了。
2025-08-21 11:08:54
4039 
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,電氣過(guò)應(yīng)力(EOS)和靜電放電(ESD)是導(dǎo)致芯片失效的兩大主要因素,約占現(xiàn)場(chǎng)失效器件總數(shù)的50%。它們不僅直接造成器件損壞,還會(huì)引發(fā)長(zhǎng)期性能衰退和可靠性問(wèn)題,對(duì)生產(chǎn)效率與產(chǎn)品質(zhì)量構(gòu)成嚴(yán)重威脅。
2025-08-21 09:23:05
1497 LED燈具因其節(jié)能、環(huán)保、壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)而被廣泛應(yīng)用。然而,隨著使用時(shí)間的增加,LED燈具的亮度往往會(huì)逐漸降低,這種現(xiàn)象被稱為“光衰”。本文將探討導(dǎo)致LED燈具變暗的主要原因,并分析其對(duì)照明效果
2025-08-19 21:35:02
2482 
有限元仿真技術(shù),建立了CBGA焊點(diǎn)失效分析的完整方法體系。通過(guò)系統(tǒng)的力學(xué)性能測(cè)試與多物理場(chǎng)耦合仿真,揭示了溫度循環(huán)載荷下CBGA焊點(diǎn)的失效演化規(guī)律,為高可靠性電子封裝設(shè)計(jì)與工藝優(yōu)化提供了理論依據(jù)和技術(shù)支持。 一、CBGA焊點(diǎn)失效原理 1、 失效機(jī)理 CBGA焊
2025-08-15 15:14:14
576 
在半導(dǎo)體器件研發(fā)與制造領(lǐng)域,失效分析已成為不可或缺的環(huán)節(jié),F(xiàn)IB(聚焦離子束)截面分析,作為失效分析的利器,在微觀世界里大顯身手。它運(yùn)用離子束精準(zhǔn)切割樣品,巧妙結(jié)合電子束成像技術(shù),實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)
2025-08-15 14:03:37
865 
限制,PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用中常出現(xiàn)失效,引發(fā)質(zhì)量糾紛。為查明原因、解決問(wèn)題并明確責(zé)任,失效分析成為必不可少的環(huán)節(jié)。失效分析流程1.失效定位失效分析的首要任務(wù)是基于失效
2025-08-15 13:59:15
630 
雨夜中,街燈突然熄滅,行人在黑暗中摸索前行。這不是電影場(chǎng)景,而是防水失效的真實(shí)后果。生活中隨處可見(jiàn)的戶外LED路燈戶外燈具的防水測(cè)試,長(zhǎng)期以來(lái)都是一個(gè)在「模擬真實(shí)」與「生產(chǎn)效率」之間尋求平衡的難題
2025-08-12 14:42:09
446 
安裝SZSW7460LED高頂燈(通常用于卡車、貨車、工程車輛或倉(cāng)庫(kù)等高頂環(huán)境)需要根據(jù)具體場(chǎng)景和燈具類型進(jìn)行操作。以下是詳細(xì)的安裝步驟及注意事項(xiàng):一、安裝前準(zhǔn)備確認(rèn)燈具規(guī)格電壓匹配(常見(jiàn)12V
2025-07-31 12:23:51
LED技術(shù)因其高效率和長(zhǎng)壽命在現(xiàn)代照明領(lǐng)域扮演著關(guān)鍵角色。然而,LED封裝的失效問(wèn)題可能影響其性能,甚至導(dǎo)致整個(gè)照明系統(tǒng)的故障。以下是一些常見(jiàn)的問(wèn)題原因及其預(yù)防措施:1.固晶膠老化和芯片脫落:LED
2025-07-29 15:31:37
452 
評(píng)價(jià)鋁基板質(zhì)量的重中之重。市面上鋁基板的導(dǎo)熱系數(shù)標(biāo)稱值有1.0,1.5,2.0,然而很多出現(xiàn)問(wèn)題的燈具廠商對(duì)燈具進(jìn)行失效分析后,發(fā)現(xiàn)鋁基板導(dǎo)熱系數(shù)并沒(méi)有標(biāo)稱值所示,
2025-07-25 13:24:40
438 
燈珠是LED燈具最核心的原物料,直接決定了燈具的性能和可靠性。大多LED照明廠商出于投資回報(bào)比的考量,并未采購(gòu)專業(yè)的微觀結(jié)構(gòu)檢測(cè)設(shè)備,也缺乏材料學(xué)科的專業(yè)技術(shù)人員。LED燈珠來(lái)料檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)1.來(lái)料
2025-07-24 11:30:29
1789 
燈具產(chǎn)品申請(qǐng)RCM認(rèn)證時(shí),必須滿足澳大利亞/新西蘭針對(duì)電氣安全和電磁兼容性(EMC)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。RCM是對(duì)電氣產(chǎn)品在電氣安全、EMC電磁兼容和無(wú)線通信(如有)等多個(gè)維度的合規(guī)性要求進(jìn)行標(biāo)識(shí)。一
2025-07-21 17:29:59
697 
,則熱阻相當(dāng)于電阻。通常,LED器件在應(yīng)用中,結(jié)構(gòu)熱阻分布為芯片襯底、襯底與LED支架的粘結(jié)層、LED支架、LED器件外掛散熱體及自由空間的熱阻,熱阻通道成串聯(lián)關(guān)系
2025-07-17 16:04:39
479 
芯片失效分析的主要步驟芯片開(kāi)封:去除IC封膠,同時(shí)保持芯片功能的完整無(wú)損,保持die,bondpads,bondwires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實(shí)驗(yàn)做準(zhǔn)備。SEM
2025-07-11 10:01:15
2706 
,為了弄清楚各類異常所導(dǎo)致的失效根本原因,IC失效分析也同樣在行業(yè)內(nèi)扮演著越來(lái)越重要的角色。一塊芯片上集成的器件可達(dá)幾千萬(wàn),因此進(jìn)行集成電路失效分析必須具備先進(jìn)、準(zhǔn)確的技術(shù)和設(shè)備,并由具有相關(guān)專業(yè)知識(shí)的半導(dǎo)體分析人員開(kāi)展分析工作。
2025-07-10 11:14:34
591 
在電子封裝領(lǐng)域,各類材料因特性與應(yīng)用場(chǎng)景不同,失效模式和分析檢測(cè)方法也各有差異。
2025-07-09 09:40:52
999 一、芯片缺陷在LED器件的失效案例中,芯片缺陷是一個(gè)不容忽視的因素。失效的LED器件表現(xiàn)出正向壓降(Vf)增大的現(xiàn)象,在電測(cè)過(guò)程中,隨著正向電壓的增加,樣品仍能發(fā)光,這暗示著LED內(nèi)部可能存在電連接
2025-07-08 15:29:13
561 
芯片失效和封裝失效的原因,并分析其背后的物理機(jī)制。金鑒實(shí)驗(yàn)室是一家專注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu),致力于改善LED品質(zhì),服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個(gè)環(huán)節(jié),使LED產(chǎn)業(yè)健康
2025-07-07 15:53:25
765 
引線鍵合是LED封裝制造工藝中的主要工序,其作用是實(shí)現(xiàn)LED芯片電極與外部引腳的電路連接。熱超聲引線鍵合是利用金屬絲將芯片I/O端與對(duì)應(yīng)的封裝引腳或者基板上布線焊區(qū)互連,在熱、力和超聲能量的作用下
2025-07-01 11:56:31
383 
連接器失效可能由電氣、機(jī)械、環(huán)境、材料、設(shè)計(jì)、使用不當(dāng)或壽命到期等多種原因引起。通過(guò)電氣、機(jī)械、外觀和功能測(cè)試,可以判斷連接器是否失效。如遇到失效的情況需要及時(shí)更新,保證工序的正常進(jìn)行。
2025-06-27 17:00:56
654 LED燈具的可靠性試驗(yàn),與傳統(tǒng)燈具有顯著區(qū)別。作為新一代光源,LED燈具正在逐漸取代傳統(tǒng)節(jié)能燈的市場(chǎng),因此無(wú)法簡(jiǎn)單地沿用傳統(tǒng)燈具的測(cè)試方法。那么,LED燈具需要進(jìn)行哪些可靠性試驗(yàn)?zāi)???biāo)準(zhǔn)名稱:LED
2025-06-18 14:48:15
798 
中圖儀器SEM掃描電鏡斷裂失效分析采用鎢燈絲電子槍,其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高,使得鎢燈絲臺(tái)式掃描電鏡能夠在較短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像,從而提高了檢測(cè)效率
2025-06-17 15:02:09
在現(xiàn)代照明領(lǐng)域,防水燈具的應(yīng)用越來(lái)越廣泛,無(wú)論是戶外景觀照明,還是水下特殊環(huán)境照明,都離不開(kāi)防水燈具的支持。然而,防水燈具的氣密性直接關(guān)系到其防水性能、使用壽命和安全性,水下燈具氣密性檢測(cè)儀則成為
2025-06-14 15:09:26
345 
在LED封裝領(lǐng)域,焊線工藝是確保器件性能與可靠性的核心環(huán)節(jié)。而瓷嘴,作為焊線工藝中一個(gè)看似微小卻極為關(guān)鍵的部件,其對(duì)引線鍵合品質(zhì)的影響不容忽視。大量失效分析案例證明,LED封裝器件的死燈失效絕大多數(shù)
2025-06-12 14:03:06
670 
途皆可以在FRED 進(jìn)行LED 的模擬與分析。
(三)燈具的開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)
在FRED 之中,你可以模擬任何的照明系統(tǒng),而照明系統(tǒng)中的燈具的開(kāi)放也是極為重要的一環(huán),所以如下所示,為一日光燈燈具的一個(gè)設(shè)計(jì)分析
2025-06-06 08:53:09
隨著LED業(yè)內(nèi)競(jìng)爭(zhēng)的不斷加劇,LED品質(zhì)受到了前所未有的重視。LED在制造、運(yùn)輸、裝配及使用過(guò)程中,生產(chǎn)設(shè)備、材料和操作者都有可能給LED帶來(lái)靜電(ESD)損傷,導(dǎo)致LED過(guò)早出現(xiàn)漏電流增大,光衰
2025-05-28 18:08:32
608 
燈具諧波方面的新要求,適合燈具方面的設(shè)計(jì)
2025-05-28 14:11:24
0 LED電源里原物料當(dāng)LED硫化現(xiàn)象發(fā)生后,照明廠首先排查的是燈具的生產(chǎn)、儲(chǔ)存、通電老化環(huán)境,卻忽視了燈具的內(nèi)置電源。LED電源里面有三四十種原物料,這些物料里面也可能含有硫、氯和溴元素。在密閉、高溫
2025-05-22 17:29:45
601 
在電子系統(tǒng)中,MDD穩(wěn)壓二極管(ZenerDiode)憑借其在反向擊穿區(qū)域的穩(wěn)定電壓特性,被廣泛應(yīng)用于電壓參考、過(guò)壓保護(hù)和穩(wěn)壓電路中。然而在實(shí)際應(yīng)用中,穩(wěn)壓管并非“永不失手”。其失效往往會(huì)直接影響
2025-05-16 09:56:08
1095 
芯片失效分析中對(duì)芯片的截面進(jìn)行觀察,需要對(duì)樣品進(jìn)行截面研磨達(dá)到要觀察的位置,而后再采用光學(xué)顯微鏡(OM Optical Microscopy)或者掃描電子顯微(SEM Scanning Electron Microscopy)進(jìn)行形貌觀察。
2025-05-15 13:59:00
1657 
途皆可以在FRED 進(jìn)行LED 的模擬與分析。
(三)燈具的開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)
在FRED 之中,你可以模擬任何的照明系統(tǒng),而照明系統(tǒng)中的燈具的開(kāi)放也是極為重要的一環(huán),所以如下所示,為一日光燈燈具的一個(gè)設(shè)計(jì)分析
2025-05-14 08:51:48
LED是一種直接將電能轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光和輻射能的發(fā)光器件,具有耗電量小、發(fā)光效率高、體積小等優(yōu)點(diǎn),目前已經(jīng)逐漸成為了一種新型高效節(jié)能產(chǎn)品,并且被廣泛應(yīng)用于顯示、照明、背光等諸多領(lǐng)域。近年來(lái),隨著LED
2025-05-09 16:51:23
690 
失效分析的定義與目標(biāo)失效分析是對(duì)失效電子元器件進(jìn)行診斷的過(guò)程。其核心目標(biāo)是確定失效模式和失效機(jī)理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式,例如開(kāi)路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等;而失效機(jī)理則是指導(dǎo)
2025-05-08 14:30:23
910 
:建議添加RC濾波器(R=1kΩ,C=100nF)
模擬調(diào)光:配置電壓跟隨器緩沖電路
混合調(diào)光模式:通過(guò)MCU實(shí)現(xiàn)光效曲線平滑過(guò)渡
四、市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力分析
典型客戶收益案例
某頭部燈具廠商采用
2025-05-06 15:52:47
水下燈具由于使用環(huán)境特殊,對(duì)其氣密性要求極高。使用水下燈具氣密性檢測(cè)儀能有效檢測(cè)燈具密封性,保證產(chǎn)品質(zhì)量。以下為您詳細(xì)介紹其使用方法。(一)前期準(zhǔn)備(1)環(huán)境檢查要確保水下燈具氣密性檢測(cè)儀放置在遠(yuǎn)離
2025-04-29 14:54:18
480 
LED光源發(fā)黑現(xiàn)象LED光源以其高效、節(jié)能、環(huán)保的特性,在照明領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。然而,LED光源在使用過(guò)程中出現(xiàn)的發(fā)黑現(xiàn)象,卻成為了影響其性能和壽命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED
2025-04-27 15:47:07
2224 
分析方面面臨諸多挑戰(zhàn),尤其是在化學(xué)開(kāi)封、X-Ray和聲掃等測(cè)試環(huán)節(jié),國(guó)內(nèi)技術(shù)尚不成熟?;诖?,廣電計(jì)量集成電路測(cè)試與分析研究所推出了先進(jìn)封裝SiC功率模組失效分析技
2025-04-25 13:41:41
746 
使用環(huán)境導(dǎo)致失效,常見(jiàn)的失效模式主要包括過(guò)熱失效和短路失效。1.過(guò)熱失效及其規(guī)避措施過(guò)熱失效通常是由于功率損耗過(guò)大、散熱不良或工作環(huán)境溫度過(guò)高導(dǎo)致的。主要成因包括:正向
2025-04-11 09:52:17
685 
本資料共分兩篇,第一篇為基礎(chǔ)篇,主要介紹了電子元器件失效分析基本概念、程序、技術(shù)及儀器設(shè)備;第二篇為案例篇,主要介紹了九類元器件的失效特點(diǎn)、失效模式和失效機(jī)理以及有效的預(yù)防和控制措施,并給出九類
2025-04-10 17:43:54
當(dāng)LED光效突破100lm/W,全球照明產(chǎn)業(yè)迎來(lái)高光時(shí)刻。然而,支撐這束光芒的電源系統(tǒng)卻暗流涌動(dòng)——23%的LED燈具失效源于MOS管過(guò)熱或電壓擊穿,在礦井、化工等極端場(chǎng)景,這一數(shù)字更飆升至58
2025-04-10 09:45:47
643 
在燈具的使用過(guò)程中,灰塵接觸是不可避免的現(xiàn)象?;覊m不僅會(huì)附著在燈具表面,還可能進(jìn)入燈具內(nèi)部,對(duì)其正常運(yùn)行造成潛在威脅。因此,對(duì)燈具進(jìn)行防塵試驗(yàn)至關(guān)重要。防塵試驗(yàn)?zāi)軌蛴行гu(píng)估燈具在灰塵環(huán)境中的防護(hù)能力
2025-04-01 18:01:14
594 
在建筑照明中使用可調(diào)LED燈具既能夠創(chuàng)造良好的照明環(huán)境,又能夠避免過(guò)度照明,還能達(dá)到節(jié)約能源的目的。Litestar 4D軟件支持可調(diào)LED燈具的通量調(diào)節(jié),要實(shí)現(xiàn)此功能首先需要燈具的OXL格式文件
2025-03-31 10:51:26
的盛會(huì)之一,來(lái)自全球數(shù)百家知名汽車主機(jī)廠、頂尖的汽車燈具公司以及車用LED企業(yè)齊聚一堂,共同分享智能車燈領(lǐng)域的前沿科技成果。集創(chuàng)北方(展位號(hào):T112)攜全系車規(guī)級(jí)顯示驅(qū)動(dòng)解決方案亮相。
2025-03-28 17:37:01
1711 LM80測(cè)試簡(jiǎn)介L(zhǎng)M80測(cè)試是由北美照明工程協(xié)會(huì)(IESNA)與美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)(ANSI)聯(lián)合發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn),主要用于評(píng)估LED器件的流明維持率和顏色維持性能。這一標(biāo)準(zhǔn)為LED產(chǎn)品的壽命和性能評(píng)估
2025-03-27 10:26:01
1493 
半導(dǎo)體集成電路失效機(jī)理中除了與封裝有關(guān)的失效機(jī)理以外,還有與應(yīng)用有關(guān)的失效機(jī)理。
2025-03-25 15:41:37
1791 
高密度互聯(lián)(HDI)板的激光盲孔技術(shù)是5G、AI芯片的關(guān)鍵工藝,但孔底開(kāi)路失效卻讓無(wú)數(shù)工程師頭疼!SGS微電子實(shí)驗(yàn)室憑借在失效分析領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn),總結(jié)了一些失效分析經(jīng)典案例,旨在為工程師提供更優(yōu)
2025-03-24 10:45:39
1271 
問(wèn)題。為了確保PCB的質(zhì)量和可靠性,失效分析技術(shù)顯得尤為重要。外觀檢查外觀檢查是失效分析的第一步,通過(guò)目測(cè)或借助簡(jiǎn)單儀器(如立體顯微鏡、金相顯微鏡或放大鏡)對(duì)PC
2025-03-17 16:30:54
935 
本文首先介紹了器件失效的定義、分類和失效機(jī)理的統(tǒng)計(jì),然后詳細(xì)介紹了封裝失效分析的流程、方法及設(shè)備。
2025-03-13 14:45:41
1819 
太誘電容的失效分析,特別是針對(duì)裂紋與短路問(wèn)題,需要從多個(gè)角度進(jìn)行深入探討。以下是對(duì)這兩個(gè)問(wèn)題的詳細(xì)分析: 一、裂紋問(wèn)題 裂紋成因 : 熱膨脹系數(shù)差異 :電容器的各個(gè)組成部分(如陶瓷介質(zhì)、端電極
2025-03-12 15:40:02
1222 
高密度封裝技術(shù)在近些年迅猛發(fā)展,同時(shí)也給失效分析過(guò)程帶來(lái)新的挑戰(zhàn)。常規(guī)的失效分析手段難以滿足結(jié)構(gòu)復(fù)雜、線寬微小的高密度封裝分析需求,需要針對(duì)具體分析對(duì)象對(duì)分析手法進(jìn)行調(diào)整和改進(jìn)。
2025-03-05 11:07:53
1289 
? 本文介紹了芯片失效分析的方法和流程,舉例了典型失效案例流程,總結(jié)了芯片失效分析關(guān)鍵技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)和對(duì)策,并總結(jié)了芯片失效分析的注意事項(xiàng)。 ? ? 芯片失效分析是一個(gè)系統(tǒng)性工程,需要結(jié)合電學(xué)測(cè)試
2025-02-19 09:44:16
2908 (Thermal Interface Material, TIM)作為熱量傳導(dǎo)的關(guān)鍵介質(zhì),其性能直接影響著整個(gè)熱管理系統(tǒng)的效率。 一、熱傳導(dǎo)路徑中的關(guān)鍵瓶頸 在典型的LED燈具結(jié)構(gòu)中,熱量需依次通過(guò)芯片基板→導(dǎo)熱
2025-02-08 13:50:08
PCB失效分析:步驟與技術(shù)作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~PCB(PrintedCircuitBoard,印刷電路板)已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定
2025-01-20 17:47:01
1696 
等。大功率LED路燈經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的跟蹤檢測(cè),部分LED燈具陸續(xù)出現(xiàn)故障。通過(guò)對(duì)故障的分析,我們發(fā)現(xiàn)LED驅(qū)動(dòng)電源損壞所占比例高達(dá)90%。雖然LED路燈理論使用壽命長(zhǎng)達(dá)5萬(wàn)小時(shí)(13.7年),但其驅(qū)動(dòng)電路
2025-01-20 14:54:47
在燈具制造業(yè)中,技術(shù)檢驗(yàn)是確保產(chǎn)品符合安全和質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的基石。本文將深入探討燈具產(chǎn)品在技術(shù)檢驗(yàn)中需遵循的各項(xiàng)測(cè)試要求和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),以保障其在市場(chǎng)上的可靠性和競(jìng)爭(zhēng)力。兩種規(guī)格的高壓測(cè)試1.UL/cUL普通
2025-01-15 15:34:34
2218 
整流二極管失效分析方法主要包括對(duì)失效原因的分析以及具體的檢測(cè)方法。 一、失效原因分析 防雷、過(guò)電壓保護(hù)措施不力 : 整流裝置未設(shè)置防雷、過(guò)電壓保護(hù)裝置,或保護(hù)裝置工作不可靠,可能因雷擊或過(guò)電壓而損壞
2025-01-15 09:16:58
1589 光熱分布檢測(cè)意義在LED失效分析領(lǐng)域,光熱分布檢測(cè)技術(shù)扮演著至關(guān)重要的角色。LED作為一種高效的照明技術(shù),其性能和壽命受到多種因素的影響,其中光和熱的分布情況尤為關(guān)鍵。光熱分布不均可能導(dǎo)致芯片界面
2025-01-14 12:01:24
738 
失效分析的重要性失效分析其核心任務(wù)是探究產(chǎn)品或構(gòu)件在服役過(guò)程中出現(xiàn)的各種失效形式。這些失效形式涵蓋了疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂、環(huán)境應(yīng)力開(kāi)裂引發(fā)的脆性斷裂等諸多類型。深入剖析失效機(jī)理,有助于工程師
2025-01-09 11:01:46
996 
評(píng)論