可應(yīng)用在電子行業(yè)內(nèi)的缺陷檢測(cè)，例如可穿戴產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)、平板電腦Logo缺陷檢測(cè)等，同時(shí)也可應(yīng)用在醫(yī)療器械等高亮度、鏡面缺陷檢測(cè)。

目前，主流的產(chǎn)品logo都是噴印在產(chǎn)品上的，但由于工藝的原因，印制的logo通常都存在一定的印刷不良，如印刷錯(cuò)位、漏印、錯(cuò)印等，這嚴(yán)重影響了產(chǎn)品的外觀及品牌的整體形象, 針對(duì)此類問(wèn)題，很多企業(yè)采用人工檢測(cè)的方式來(lái)檢測(cè)印制品的質(zhì)量，但是由于人檢測(cè)過(guò)程中不可避免的失誤，會(huì)導(dǎo)致大量漏檢、錯(cuò)檢和人工損傷，愈來(lái)愈高的人力成本也成為生產(chǎn)廠家規(guī)模擴(kuò)張的一大制約因素。
在工業(yè)中使用高光面材質(zhì)加工一些平整度較高，且表面要求較高的工件，如手機(jī)logo，軍用設(shè)備中的導(dǎo)光板等產(chǎn)品, 如蘋果LOGO瑕疵檢測(cè)。
此類型的工樣品本身是屬于鏡面反光，工件本身平整度高，且易粘黏油污、手印等。

難點(diǎn)，問(wèn)題點(diǎn)：
反光問(wèn)題：由于材質(zhì)表面光潔度很高，已經(jīng)形成一個(gè)高光鏡面，光源即使在很弱的狀態(tài)下，表面的反光也會(huì)有非常強(qiáng)的對(duì)比度，這種對(duì)比度會(huì)把表面本身的雜質(zhì)、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋，使得視覺(jué)拍照無(wú)法檢測(cè)出零件表面缺陷。
倒影問(wèn)題：由于材質(zhì)表面已經(jīng)形成一個(gè)鏡面，一般的光學(xué)鏡頭和視覺(jué)光源的燈珠等都會(huì)在材質(zhì)表面形成倒影，這個(gè)倒影會(huì)成像在最后的檢測(cè)畫面上,會(huì)嚴(yán)重影響材質(zhì)表面的成像效果，造成檢測(cè)無(wú)法進(jìn)行。
朗銳智科根據(jù)多年機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn)，總結(jié)出的成熟系統(tǒng)解決方案，主要用來(lái)解決電子產(chǎn)品表面Logo缺陷檢測(cè)，目前主要應(yīng)用在國(guó)內(nèi)產(chǎn)品Logo和手機(jī)外殼Logo表面缺陷檢測(cè)。

碰傷、擊傷、缺口瑕疵檢測(cè)
刮傷瑕疵檢測(cè)
壓傷、凹痕瑕疵檢測(cè)
針孔瑕疵檢測(cè)
腐蝕點(diǎn)、白點(diǎn)、麻點(diǎn)瑕疵檢測(cè)
臟污瑕疵檢測(cè)
研磨痕瑕疵檢測(cè)
料線、料紋瑕疵檢測(cè)
凸包瑕疵檢測(cè)等
可應(yīng)用在電子行業(yè)內(nèi)的缺陷檢測(cè)，例如可穿戴產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)、平板電腦Logo缺陷檢測(cè)等，同時(shí)也可應(yīng)用在醫(yī)療器械等高亮度、鏡面缺陷檢測(cè)。