ic芯片怎么看型號(hào)

IC（集成電路）型號(hào)各部分的意義如下：

1、第0部分

c表示中國(guó)制造

2、第1部分

T：TTL電路、H：HTL電路、E：ECL電路、C：CMOS電路

M：存儲(chǔ)器、μ：微型機(jī)電路、F：線性放大器、

W：穩(wěn)定器、B：非線性電路、J：接口電路、AD：A/D轉(zhuǎn)換器、

DA：D/A轉(zhuǎn)換器、D：音響、電視電路、SC：通信專用電路、

SS：敏感電路、SW：鐘表電路

3、第2部分

用數(shù)字表示器件的系列代號(hào)

4、第3部分

C：0~70℃、G：‐25~70℃、L：‐24~85℃、E：-40~85℃、

R：‐55~85℃、M：‐55~125℃

5、第4部分

F：多層陶瓷扁平、B：塑料扁平、H：黑瓷扁平、D：多層陶瓷雙列直插、

J：黑瓷雙列直插、P：塑料雙列直插、S：塑料單列直插、K：金屬菱形、

T：金屬圓形、C：陶瓷芯片載體、E：塑料芯片載體、G：網(wǎng)絡(luò)針柵陳列

ic芯片的作用

1、ic芯片用途-減少元器件的使用

集成電路的誕生，小規(guī)模的集成電路使內(nèi)容元器件的數(shù)量減少，在零散元器件上有了很大的技術(shù)提高。

2、ic芯片用途-產(chǎn)品性能得到有效提高

將元器件都集合到了一起，不僅減少了外電信號(hào)的干擾，也在電路設(shè)計(jì)方面有了很大的提升，提高了運(yùn)行速度。

3、ic芯片用途-更加方便應(yīng)用

一種功能對(duì)應(yīng)一種電路，將一種功能集中成一個(gè)集成電路，如此一來(lái)，在以后應(yīng)用中，要什么功能就可以應(yīng)用相應(yīng)的集成電路，從而大大方便了應(yīng)用。

集成電路是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個(gè)電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上，然后封裝在一個(gè)管殼內(nèi)，成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)；其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個(gè)整體，使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進(jìn)了一大步。它的英文（integrated circuit）用字母“IC”表示。集成電路技術(shù)包括芯片制造技術(shù)與設(shè)計(jì)技術(shù)，主要體現(xiàn)在加工設(shè)備，加工工藝，封裝測(cè)試，批量生產(chǎn)及設(shè)計(jì)創(chuàng)新的能力上。

如何判斷ic芯片的好壞

一、不在路檢測(cè)

這種方法是在ic未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用萬(wàn)用表測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ic進(jìn)行比較。

二、在路檢測(cè)

這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測(cè)IC各引腳在路（IC在電路中）直流電阻、對(duì)地交直流電壓以及總工作電流的檢測(cè)方法。這種方法克服了代換試驗(yàn)法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩，是檢測(cè)IC最常用和實(shí)用的方法。

直流工作電壓測(cè)量

這是一種在通電情況下，用萬(wàn)用表直流電壓擋對(duì)直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測(cè)量；檢測(cè)IC各引腳對(duì)地直流電壓值，并與正常值相比較，進(jìn)而壓縮故障范圍， 出損壞的元件。測(cè)量時(shí)要注意以下8點(diǎn)：

（1）萬(wàn)用表要有足夠大的內(nèi)阻， 少要大于被測(cè)電路電阻的10倍以上，以免造成較大的測(cè)量誤差。

（2）通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機(jī)，信號(hào)源要采用標(biāo)準(zhǔn)彩條信號(hào)發(fā)生器。

（3）表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC?？刹扇∪缦路椒ǚ乐贡砉P滑動(dòng)：取一段自行車用氣門芯套在表筆尖上，并長(zhǎng)出表筆尖約0.5mm左右，這既能使表筆尖良好地與被測(cè)試點(diǎn)接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點(diǎn)也不會(huì)短路。

（4）當(dāng)測(cè)得某一引腳電壓與正常值不符時(shí)，應(yīng)根據(jù)該引腳電壓對(duì)ic正常工作有無(wú)重要影響以及其他引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析， 能判斷ic的好壞。

（5）ic引腳電壓會(huì)受外圍元器件影響。當(dāng)外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開(kāi)路或變值時(shí)，或外圍電路連接的是一個(gè)阻值可變的電位器，則電位器滑動(dòng)臂所處的位置不同，都會(huì)使引腳電壓發(fā)生變化。

（6）若ic各引腳電壓正常，則一般認(rèn)為ic正常；若ic部分引腳電壓異常，則應(yīng)從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無(wú)故障，若無(wú)故障，則ic很可能損壞。

（7）對(duì)于動(dòng)態(tài)接收裝置，如電視機(jī)，在有無(wú)信號(hào)時(shí)，ic各引腳電壓是不同的。如發(fā)現(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號(hào)大小和可調(diào)元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ic損壞。

（8）對(duì)于多種工作方式的裝置，如錄像機(jī)，在不同工作方式下，ic各引腳電壓也是不同的。

交流工作電壓測(cè)量法

為了掌握ic交流信號(hào)的變化情況，可以用帶有ｄｂ插孔的萬(wàn)用表對(duì)ic的交流工作電壓進(jìn)行近似測(cè)量。檢測(cè)時(shí)萬(wàn)用表置于交流電壓擋，正表筆插入ｄｂ插孔；對(duì)于無(wú)ｄｂ插孔的萬(wàn)用表，需要在正表筆串接一只0.1～0.5μｆ隔直電容。該法適用于工作頻率較低的ic，如電視機(jī)的視頻放大級(jí)、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測(cè)的數(shù)據(jù)是近似值，只能供參考。

總電流測(cè)量法

該法是通過(guò)檢測(cè)IC電源進(jìn)線的總電流，來(lái)判IC好壞的一種方法。由于IC內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合，IC損壞時(shí)（如某一個(gè)pn結(jié)擊穿或開(kāi)路）會(huì)引起后級(jí)飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過(guò)測(cè)量總電流的方法可以判IC的好壞。也可用測(cè)量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計(jì)算出總電流值。