ATECLOUD-IC在電源芯片測試領(lǐng)域具備以下顯著優(yōu)勢，有效提升測試效率、精度與管理能力。

1. 全流程自動化，降低人工成本

零代碼編程：通過圖形化界面拖拽模塊即可搭建測試流程，無需專業(yè)編程知識，大幅縮短測試方案開發(fā)周期。

多儀器協(xié)同：支持電源、負載、示波器等設(shè)備聯(lián)動控制，自動完成電壓設(shè)置、波形采集、數(shù)據(jù)記錄等操作，減少人工干預(yù)。

異常自動處理：測試中若出現(xiàn)過壓、過流等異常，系統(tǒng)自動觸發(fā)警報并終止測試，避免設(shè)備損壞。

零代碼搭建

2. 高精度數(shù)據(jù)采集與分析

多維度參數(shù)監(jiān)控：實時采集電源芯片的輸出電壓、電流、紋波、效率等關(guān)鍵參數(shù)，并生成波形圖、趨勢曲線等可視化報告。

云端數(shù)據(jù)存儲：所有測試數(shù)據(jù)自動同步至云端，支持長期存儲與快速檢索，便于追溯歷史測試結(jié)果。

AI 輔助分析：通過內(nèi)置算法自動識別測試數(shù)據(jù)中的異常點(如波形畸變)，并給出優(yōu)化建議。

數(shù)據(jù)報告導(dǎo)出采集

3. 靈活適配多場景測試需求

模塊化擴展：可根據(jù)電源芯片類型(AC/DC、DC/DC 等)靈活組合測試模塊，適配不同功能驗證需求。

動態(tài)負載模擬：通過電子負載模塊模擬真實場景中的負載變化(如突加 / 突卸負載)，驗證芯片的動態(tài)響應(yīng)能力。

環(huán)境變量控制：支持溫濕度箱等外部設(shè)備聯(lián)動，實現(xiàn)電源芯片在不同環(huán)境條件下的可靠性測試。

測試項目靈活搭建

4. 資源共享與遠程協(xié)作

設(shè)備集中管理：多臺測試設(shè)備統(tǒng)一接入云端，支持跨地域遠程調(diào)用，避免重復(fù)采購。

團隊協(xié)作平臺：測試方案、數(shù)據(jù)與報告可通過云端共享，不同角色(工程師、管理者)可實時查看測試進度與結(jié)果。

遠程調(diào)試功能：工程師可通過網(wǎng)頁遠程控制測試設(shè)備，解決異地調(diào)試難題。

系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

ATECLOUD-IC為電源芯片測試提供了高效、智能、安全的解決方案，尤其適合需要高頻測試、多場景驗證或跨團隊協(xié)作的企業(yè)。