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用基本的物理原理理解IGBT—并聯(lián)均流不簡單

454398 ? 來源:alpha007 ? 作者:alpha007 ? 2022-11-15 17:18 ? 次閱讀
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來源:羅姆半導(dǎo)體社區(qū)

1、因為并聯(lián),所以精彩

IGBT與FRD、晶閘管等無元胞器件相比,天生就是并聯(lián)的。模塊封裝中更是需要多芯片并聯(lián)。正是因為并聯(lián),才使得IGBT器件的功率容量得以擴(kuò)展??梢哉f,沒有并聯(lián),就不是IGBT。

但是這里面就牽扯到并聯(lián)均流問題。

2、芯片越大越好?

有些人感覺把IGBT芯片做大一點,一顆頂兩顆,這樣就可以減少封裝中的并聯(lián)均流問題了。事實顯然沒有那么簡單。 首先,IGBT芯片是很多個元胞組成的,按15um的元胞寬度,方形元胞估算,1平方厘米的芯片上大約有40萬個元胞。這些元胞之間本身就是并聯(lián)的,也存在均流問題。芯片面積增大后,芯片內(nèi)部的均流問題也需要考慮。某個元胞的熱電正反饋是芯片損壞的開始。 如果芯片內(nèi)部總是均流的,IGBT的電流能力將遠(yuǎn)超額定電流。做過仿真的應(yīng)該注意過,對單個元胞進(jìn)行仿真,隨便你提高關(guān)斷電壓、寄生電感,元胞都是不會損壞的,而且隨便一個設(shè)計都可以實現(xiàn)SSCM。對,就是ABB提出的那個開關(guān)自鉗位模式。電壓過沖達(dá)到一定值后,關(guān)斷電流di/dt將因動態(tài)雪崩而下降,使VCE被鉗位。 這就是均流的力量?,F(xiàn)實中的IGBT,幾乎一切與大電流相關(guān)的損壞都來自于均流問題。所以,芯片內(nèi)部的均流也是非常重要的。 此外,芯片制造過程中總有缺陷,有良率問題。不管大芯片還是小芯片,都是一個致命缺陷就會失效。單芯片面積越大,良率自然越低。晶圓加工中剩余的邊角料也會浪費(fèi)更多。

所以,增大芯片面積,既有均流設(shè)計問題,也要考慮生產(chǎn)線的工藝能力和成本。

3、柵電阻的等效

實際模塊設(shè)計中,每個模塊中可能有多個襯板,每個襯板上一般都會有一個襯板電阻。比如某1200A的模塊有6個襯板,每個襯板上電阻為6歐。根據(jù)并聯(lián)電阻的規(guī)律,這6個6歐的電阻,相當(dāng)于模塊外部接一個1歐的電阻。

事實上這兩種處理是等效的嗎?當(dāng)然不是。因為模塊布局中一定會有寄生參數(shù),導(dǎo)致不同襯板與信號源之間的總阻抗不一樣。引入襯板電阻后,可以減小不同襯板之間這方面的差異,改善均流問題。

同理,芯片的片上電阻與襯板電阻也是不能完全等效的。

那么芯片內(nèi)部不同區(qū)塊的均流問題,是不是要考慮呢?怎么處理呢?這個相信答案已經(jīng)很清晰了。

均流問題包含的范疇實在太大,靜態(tài)的,動態(tài)的,短路的。相對容易處理的是寄生參數(shù)導(dǎo)致的不均流的抑制,相對難的是芯片制造工藝的控制,還有一些從器件設(shè)計上需要考慮的。這些恐怕十篇也寫不清楚。本身這個系列也是列舉一些典型的點,剩下的留給有心的自己去思考了。

審核編輯 黃昊宇

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