直流源表常見問題

直流源表的四象限，是如何工作？典型應用是哪些？

①、電源象限圖是指以電源輸出電壓為X軸、輸出電流為Y軸形成的象限圖。

直流源表的精度、噪聲等指標？

①、精確度：實際輸出信號與理想輸出之間的偏差。一般用增益誤差＋偏移誤差的方式表示。武漢普賽斯源表電壓及電流輸出和測量時精度均為0．1％，偏移誤差見規(guī)格書；

②、噪聲：直流電源輸出的交流雜散成分被稱為紋波和噪聲。輸出中的交流周期信號是紋波，噪聲是隨機的。噪聲一般用一定帶寬下的峰峰值或有效值表示。我司源表在10Hz～20MHz帶寬內(nèi)，有效值為2mV，峰峰值為20mV；

設備的可靠性情況？是如何保障的？

①、目前普賽斯儀表已有兩臺同時做了連續(xù)1個月的拷機運行測試，暫時沒有發(fā)現(xiàn)問題；

②、每臺出廠的機器我們普賽斯儀表均對其相關性能做了詳細測試；

有沒有雙通道直流源表呢？

臺式直流源表只有單通道的，年底會推出插卡式直流源表，通道數(shù)1～3可配置，通道數(shù)靈活；

插卡式源表的通信接口LVDS速率可以達到多少？與PCI、PCIE等有哪些優(yōu)缺點？為什么不使用PCIE？

①、插卡式源表設備內(nèi)部使用自定義的通信總線結構，物理層使用數(shù)據(jù)速率高達1Gbps的LVDS差分信號，總線內(nèi)部3對數(shù)據(jù)線，即物理鏈路數(shù)據(jù)速率3Gbps；使用自定義總線可以在成本較低、軟件開發(fā)難度適中的情況下快速實現(xiàn)整個系統(tǒng)。

②、PCI、PCIE等總線常見于X86處理器系統(tǒng)中，PCI由于比較老通信速率比較低，PCIE最高通信速率可達32 Gbps，PCIE速率非常高，但是X86控制器成本較高，主機價格貴，同時PCIE對驅動程序的穩(wěn)定性要求很高，做穩(wěn)定不易；

插卡式直流源表相比于現(xiàn)有臺式直流源表有什么不同？

①、插卡式直流源表擁有更豐富的觸發(fā)資源，多臺設備間相互觸發(fā)協(xié)同效率更高；

②、插卡式直流源表內(nèi)部通信總線速率更高，掃描速度更快；

直流源表最小輸出及可測量電壓、最小輸出及可測量電流是多少？

最小輸出及可測量電壓為300uV；最小輸出及可測量電流為100pA；

客戶反映小電流測試時電流跳變大測試不準？

①、小電流測試時推薦用戶使用三同軸電纜或者特氟龍等特殊材質的電纜，電纜漏電流性能很關鍵；

②、部分簡單的器件測試，如PIN、APD等，用戶可能會覺得使用特殊電纜麻煩，測試時請?zhí)嵝延脩?，兩根輸出線一定不能雙絞，輸出線間盡量遠離且都遠離金屬；

③、小電流測試時請務必將測量NPLC調到比較高的程度，因為容易受工頻干擾；

客戶反映小電壓測試時電壓跳變大測試不準？

小電壓測試時請務必將測量NPLC調到比較高的程度，因為容易受工頻干擾；

客戶測試二極管或三極管或MOS管提出要求200V／1A要求，是不是我們的直流源表就不符合性能要求？

①、二極管、三極管、MOS管測試時高壓往往是測試其擊穿電壓，此時電流一般在nA、uA級別；

②、二極管、三極管、MOS管大電流測試往往是在導通后測試，此時電壓一般都是小于10V的；

③、針對該類用戶請區(qū)分高電壓時的電流及大電流時候的電壓，避免聽到200V／1A直接放棄；

源表能否直接進行四探針測試？對線纜要求？

①、可以的，使用其四線測量模式；

②、四探針測試時一般是恒流測電壓，而所加的電流一般在mA級，所以對線纜基本沒有要求；

激光器LIV測試時需要幾臺源表？

①、激光器LIV測試時需要：一臺用作電流驅動源、一臺測試背光電流、一臺測試前光功率，三臺設備同步觸發(fā)測試。如果用戶有光功率計也可以將前光功率的測試儀表直接使用光功率計，前提是該光功率支持觸發(fā)掃描；

②、常規(guī)激光器LIV測試使用S100就夠用，但是請跟客戶確認后續(xù)是否需要用來進行APD測試，如需要請推薦S200；

測試PIN管或者APD需要幾臺源表？

常規(guī)PIN管或者APD測試只需要單臺源表即可，測試PIN管S100即可滿足要求；常規(guī)測試APD其耐壓值基本小于80V推薦S200即可；單光子APD耐壓值接近250V推薦S300；

設備對外有哪些通信接口？能否提供DLL驅動？是否有提供SCPI指令集？

①、儀表所有設備均支持串口、GPIB及以太網(wǎng)；

②、直流源表已能提供C＋＋及Labview的各通信接口驅動；

③、SCPI指令是儀表行業(yè)通用的指令格式，它約束了指令的語法結構，但是每家的SCPI指令集基本不相同，我司對外提供設備SCPI指令集；

目前上位機軟件已實現(xiàn)了哪些功能？

①、I－t、V－t、R－t測試；

②、序列掃描；

③、自定義序列掃描；

④、BJT掃描；

⑤、MOS掃描；

⑥、LIV測試；

相關功能均具有繪圖及數(shù)據(jù)保存功能。

審核編輯 黃昊宇