微軟將為 Azure AD 用戶(hù)認(rèn)證提供 99.99% 的正常運(yùn)行可靠性
外媒 MSPoweruser 報(bào)道，當(dāng)前微軟只為 Azure AD 用戶(hù)認(rèn)證提供 99.9% 的可靠性服務(wù)級(jí)別協(xié)議（SLA）。微軟近期宣布，將為 Azure AD 用戶(hù)認(rèn)證提供 99.99% 的正常運(yùn)行可靠性。
2021 年 4 月 1 日，微軟將更新其公共 SLA 以反映這一變化。微軟將在 2021 年初分享其對(duì) Azure AD 和 Azure AD B2C 的下一代彈性投資路線圖。
IT之家獲悉，微軟 Azure AD 是一項(xiàng)龐大的服務(wù)，月活躍用戶(hù)（MAU）超過(guò) 4 億。Azure AD 每天要處理數(shù)百億次的認(rèn)證。提高如此龐大的在線服務(wù)的可靠性是一項(xiàng)具有挑戰(zhàn)性的任務(wù)。在過(guò)去的幾個(gè)月里，微軟通過(guò)認(rèn)證服務(wù)轉(zhuǎn)移到 “蜂窩化架構(gòu)”、備份認(rèn)證服務(wù)、與區(qū)域認(rèn)證端點(diǎn)透明集成、持續(xù)投資服務(wù)可擴(kuò)展性和彈性、正在推出認(rèn)證系統(tǒng)創(chuàng)新等，提高了 Azure AD 的可靠性。
責(zé)任編輯：PSY
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
微軟
+關(guān)注
關(guān)注
4文章
6685瀏覽量
105734 -
用戶(hù)
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
60瀏覽量
14373 -
認(rèn)證
+關(guān)注
關(guān)注
1文章
420瀏覽量
18583
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
可靠性測(cè)試包括哪些測(cè)試和設(shè)備？
在當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的市場(chǎng)環(huán)境中，產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性成為了企業(yè)立足的根本。無(wú)論是電子產(chǎn)品、汽車(chē)零部件，還是智能家居設(shè)備，都需要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的可靠性測(cè)試，以確保在各種復(fù)雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運(yùn)行，為用戶(hù)
半導(dǎo)體測(cè)試可靠性測(cè)試設(shè)備
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中，可靠性測(cè)試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門(mén)員”，通過(guò)模擬各類(lèi)嚴(yán)苛環(huán)境，對(duì)半導(dǎo)體器件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評(píng)估，確保其在實(shí)際使用中能穩(wěn)定運(yùn)行。以下為你詳細(xì)介紹常見(jiàn)的半導(dǎo)體測(cè)試可靠性
提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試
隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升，可靠性要求與測(cè)試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級(jí)可靠性（Wafer Level Reliability, WLR）技術(shù)通過(guò)直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力，實(shí)現(xiàn)快速
發(fā)表于 05-07 20:34
電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)可靠性分析
方法。各種技術(shù)措施合理搭配才能有效地提高電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)的可靠性。
在電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)的研制過(guò)程中,系統(tǒng)的可靠性是一個(gè)很重要的問(wèn)題。一個(gè)系統(tǒng)調(diào)試完成后,往往可以在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)正常運(yùn)行,但卻
發(fā)表于 04-29 16:14
IGBT的應(yīng)用可靠性與失效分析
包括器件固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性問(wèn)題包括安全工作區(qū)、閂鎖效應(yīng)、雪崩耐量、短路能力及功耗等，使用可靠性問(wèn)題包括并聯(lián)均流、軟關(guān)斷、電磁干擾及散熱等。
電機(jī)控制器電子器件可靠性研究
的提高,在某些特定的武器裝備上,由于武器本身需要長(zhǎng)期處于儲(chǔ)存?zhèn)鋺?zhàn)狀態(tài),為了使武器能夠在隨時(shí)接到戰(zhàn)斗命令的時(shí)候各個(gè)系統(tǒng)處于高可靠性的正常運(yùn)行狀態(tài),需要對(duì)武器系統(tǒng)的儲(chǔ)存可靠性進(jìn)行研究,本文
發(fā)表于 04-17 22:31
電路可靠性設(shè)計(jì)與工程計(jì)算技能概述
學(xué)習(xí)？1提升產(chǎn)品質(zhì)量與性能：在現(xiàn)代電子產(chǎn)品中，可靠性和穩(wěn)定性是用戶(hù)體驗(yàn)和產(chǎn)品成功的關(guān)鍵因素。工程師學(xué)習(xí)電路可靠性設(shè)計(jì)與工程計(jì)算，可以掌握如何減少故障發(fā)生的概率，從
半導(dǎo)體集成電路的可靠性評(píng)價(jià)
半導(dǎo)體集成電路的可靠性評(píng)價(jià)是一個(gè)綜合性的過(guò)程，涉及多個(gè)關(guān)鍵技術(shù)和層面,本文分述如下：可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)概述、可靠性評(píng)價(jià)的技術(shù)特點(diǎn)、可靠性評(píng)價(jià)的測(cè)
極海再獲多張車(chē)規(guī)可靠性和功能安全產(chǎn)品認(rèn)證證書(shū)
G32A1465汽車(chē)通用MCU分別通過(guò)AEC-100 Grade1車(chē)規(guī)可靠性認(rèn)證、ISO 26262 ASIL-B 功能安全產(chǎn)品認(rèn)證，GALT61120汽車(chē)前燈LED矩陣控制芯片通過(guò)AEC-Q100 Grade1車(chē)規(guī)
AEC-Q104認(rèn)證：芯片模組的可靠性與質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)
在極端環(huán)境下的可靠性，AEC-Q104認(rèn)證應(yīng)運(yùn)而生，成為車(chē)規(guī)級(jí)電子產(chǎn)品的重要標(biāo)準(zhǔn)。AEC-Q104認(rèn)證概述AEC-Q104是汽車(chē)電子委員會(huì)（AutomotiveE
GND連接對(duì)系統(tǒng)可靠性的影響
GND（地線）連接對(duì)系統(tǒng)可靠性的影響是至關(guān)重要的。以下是對(duì)其影響的具體分析： 一、GND連接對(duì)電路獨(dú)立運(yùn)行能力的影響 電路系統(tǒng)之間，信號(hào)連接的部分越少，電路獨(dú)立運(yùn)行的能力越強(qiáng)；信號(hào)連接的部分越多
半導(dǎo)體封裝的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)
產(chǎn)品可靠性是指產(chǎn)品在規(guī)定的使用條件下和一定時(shí)間內(nèi)，能夠正常運(yùn)行而不發(fā)生故障的能力。它是衡量產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo)，對(duì)提高客戶(hù)滿(mǎn)意度和復(fù)購(gòu)率具有重要影響。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為一家提供檢測(cè)、鑒定、
PCB高可靠性化要求與發(fā)展——PCB高可靠性的影響因素（上）
在電子工業(yè)的快速發(fā)展中，印刷電路板（PCB）的可靠性始終是設(shè)計(jì)和制造的核心考量。隨著集成電路（IC）的集成度不斷提升，PCB不僅需要實(shí)現(xiàn)更高的組裝密度，還要應(yīng)對(duì)高頻信號(hào)傳輸?shù)奶魬?zhàn)。這些趨勢(shì)對(duì)PCB
針對(duì)高可靠性應(yīng)用的電壓轉(zhuǎn)換
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《針對(duì)高可靠性應(yīng)用的電壓轉(zhuǎn)換.pdf》資料免費(fèi)下載
發(fā)表于 09-18 14:46
?0次下載
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論