chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

關于IGBT制造流程與模塊結構及老化簡介

旺材芯片 ? 來源:電力電子技術與新能源 ? 作者:電力電子技術與新 ? 2021-04-09 14:26 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

導讀:對于工程設計人員來講,IGBT芯片的性能,可以從規(guī)格書中很直觀地得到。但是,系統(tǒng)設計時,這些性能能夠發(fā)揮出來多少,就要看“封裝“了,畢竟夏天穿著棉襖工作任誰也扛不住,因此,對于怕熱的IGBT芯片來講,就是要穿得“涼快”。

電動汽車逆變器的應用上,國際大廠還是傾向于自主封裝的IGBT,追求散熱效率的同時,以最優(yōu)化空間布局,匹配系統(tǒng)需求。

IGBT制造流程

35daf0b6-987c-11eb-8b86-12bb97331649.jpg

晶圓生產:包含硅提煉及提純、單晶硅生長、晶圓成型三個步驟,目前國際主流是8英寸晶圓,部分晶圓廠12英寸產線逐步投產,晶圓尺寸越大,良品率越高,最終生產的單個器件成本越低,市場競爭力越大

芯片設計:IGBT制造的前期關鍵流程,目前主流的商業(yè)化產品基于Trench-FS設計,不同廠家設計的IGBT芯片特點不同,表現(xiàn)在性能上有一定差異

芯片制造:芯片制造高度依賴產線設備和工藝,全球能制造出頂尖光刻機的廠商不足五家;要把先進的芯片設計在工藝上實現(xiàn)有非常大的難度,尤其是薄片工藝和背面工藝,目前這方面國內還有一些差距

器件封裝:器件生產的后道工序,需要完整的封裝產線,核心設備依賴進口

IGBT芯片以英飛凌IGBT芯片發(fā)展歷程為例

35f68d3a-987c-11eb-8b86-12bb97331649.png

不同廠商技術路線略有不同IGBT封裝看圖:

361b94fe-987c-11eb-8b86-12bb97331649.jpg

IGBT模塊的典型封裝工序:芯片和DBC焊接綁線——》DBC和銅底板焊接——》安裝外殼——》灌注硅膠——》密封——》終測01 DBC(Direct Bonding Copper)DBC(覆銅陶瓷基板)的作用:絕緣、導熱,銅箔上可以刻蝕出各種圖形,方便走電流

3689e378-987c-11eb-8b86-12bb97331649.jpg

對導熱陶瓷的基本要求是導熱、絕緣和良好的機械性能,目前常用的導熱陶瓷材料參數(shù):

36a9b856-987c-11eb-8b86-12bb97331649.jpg

IGBT模塊常用的DBC散熱陶瓷材料是氧化鋁,應用最為成熟,為了繼續(xù)提升模塊的散熱性能,部分模塊廠商在高性能產品上采用氮化鋁或氮化硅陶瓷基板,顯著增加散熱效率,提升模塊的功率密度02 電流路徑剛開始接觸IGBT模塊的人,打開IGBT或許會有點迷惑,這里簡單普及一下對于模塊,為了提升通流能力,一般會采用多芯片并聯(lián)的方式

36b3887c-987c-11eb-8b86-12bb97331649.png36d0fb3c-987c-11eb-8b86-12bb97331649.jpg

03 散熱路徑單面散熱模塊散熱路徑如下圖所示,芯片為發(fā)熱源,通過DBC、銅底板傳導至散熱器

36e1f720-987c-11eb-8b86-12bb97331649.png

散熱路徑的熱阻越低越好,除了DBC采用熱導率更高的高導熱陶瓷材料之外,IGBT模塊制造商在焊接工藝上下了不少功夫目前最成熟的焊接工藝采用的焊料是錫,為了滿足高性能場合的應用,部分產品芯片與DBC的焊接部分采用銀燒結技術,增強散熱路徑的導熱性和可靠性對于單管方案,單管與散熱底板的燒結逐漸成為趨勢典型案例:

36fb7024-987c-11eb-8b86-12bb97331649.jpg

單管功率模組的散熱原理與模塊類似。Model 3的SiC單管與散熱器的焊接采用銀燒結的方式,與Model X相比,顯著提高了功率模塊散熱路徑的散熱效率和可靠性

老化失效一般采用加速老化試驗對IGBT模塊的可靠性進行驗證,功率循環(huán)(PC)試驗最為常用功率循環(huán)過程中,芯片結溫波動時,由于材料膨脹系數(shù)(coefficient of thermal expansion,CTE)不同產生熱應力,模塊長期工作在熱循環(huán)沖擊下導致材料疲勞和老化,最終導致模塊失效如鋁引線脫落、焊接層斷裂分層01 鍵合線失效一般通過PCsec(秒級功率循環(huán))試驗來驗證鍵合性能,循環(huán)次數(shù)越多越好,鍵合引線的疲勞老化通過飽和導通壓降Vcesat來評估,循環(huán)過程中,Vcesat會有輕微上升趨勢焊料層和鍵合引線及鍵合處受到功率循環(huán)產生的熱應力的反復沖擊,導致焊料層因材料疲勞出現(xiàn)裂紋,裂紋生長甚至出現(xiàn)分層(空洞或氣泡),導致鍵合引線的剝離、翹曲或熔斷功率模塊中各芯片均通過多根引線并聯(lián)引出。而實際運行中,一根引線的脫落會導致電流重新均流,加速其它引線相繼脫落

372dbf5c-987c-11eb-8b86-12bb97331649.png

02 焊接層疲勞般通過PCmin(分鐘級功率循環(huán))試驗來驗證焊接層性能,焊料層疲勞老化程度與結-殼熱阻Rthjc正相關功率模塊由異質材料構成多層結構,在熱循環(huán)過程中不同熱膨脹系數(shù)的材料會產生交變應力,使材料彎曲變形并發(fā)生蠕變疲勞,從而導致硅芯片與基板之間以及基板與底板之間的焊接層中產生裂紋并逐漸擴散,最終導致失效或分層

3737c524-987c-11eb-8b86-12bb97331649.png

總 結對于應用工程師來講,上邊的內容重點關注封裝及老化失效部分,怎么樣根據(jù)系統(tǒng)的需求選擇合適的IGBT模塊,怎么樣通過科學的散熱設計把系統(tǒng)效率和功率密度做的更高在做功率模塊設計的時候,應用工程師還是不要太受制于自己的經驗,要以物理第一性的原則去做理論上的最優(yōu)設計,以目標為導向去克服路徑上的困難,這樣才能不跟在別人屁股后邊走。
編輯:lyn

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 封裝
    +關注

    關注

    128

    文章

    9204

    瀏覽量

    148273
  • 逆變器
    +關注

    關注

    300

    文章

    5128

    瀏覽量

    215488
  • IGBT
    +關注

    關注

    1288

    文章

    4307

    瀏覽量

    261643

原文標題:技術 | IGBT模塊結構及老化簡介

文章出處:【微信號:wc_ysj,微信公眾號:旺材芯片】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    推拉力測試儀的工作原理及其在IGBT功率模塊推力檢測中的應用

    芯片互聯(lián)并封裝,這些連接點的機械強度是影響模塊長期穩(wěn)定運行的關鍵因素。在生產工藝、長期功率循環(huán)及溫度沖擊下,連接界面極易產生疲勞老化,導致導熱性能下降、接觸電阻增大,甚至引發(fā)模塊失效。 為確保
    的頭像 發(fā)表于 11-21 14:13 ?891次閱讀
    推拉力測試儀的工作原理及其在<b class='flag-5'>IGBT</b>功率<b class='flag-5'>模塊</b>推力檢測中的應用

    散熱底板對 IGBT 模塊功率循環(huán)老化壽命的影響

    摘要:功率半導體模塊通常采用減小結殼熱阻的方式來降低工作結溫,集成Pin-Fin基板代替平板基板是一種有效選擇。兩種封裝結構的熱阻抗特性不同,可能對其失效機理及應用壽命產生影響。該文針對平板基板
    的頭像 發(fā)表于 09-09 07:20 ?2159次閱讀
    散熱底板對 <b class='flag-5'>IGBT</b> <b class='flag-5'>模塊</b>功率循環(huán)<b class='flag-5'>老化</b>壽命的影響

    IGBT模塊的封裝形式類型

    不同封裝形式的IGBT模塊在熱性能上的差異主要體現(xiàn)在散熱路徑設計、材料導熱性、熱阻分布及溫度均勻性等方面。以下結合技術原理和應用場景進行系統(tǒng)分析。
    的頭像 發(fā)表于 09-05 09:50 ?2581次閱讀
    <b class='flag-5'>IGBT</b><b class='flag-5'>模塊</b>的封裝形式類型

    IGBT 模塊接觸熱阻增大與芯片表面平整度差關聯(lián)性

    一、引言 IGBT 模塊在現(xiàn)代電力電子系統(tǒng)中應用廣泛,其散熱性能直接關系到系統(tǒng)的可靠性與穩(wěn)定性。接觸熱阻作為影響 IGBT 模塊散熱的關鍵因素,受到諸多因素影響,其中芯片表面平整度不容
    的頭像 發(fā)表于 09-01 10:50 ?1676次閱讀
    <b class='flag-5'>IGBT</b> <b class='flag-5'>模塊</b>接觸熱阻增大與芯片表面平整度差關聯(lián)性

    普源MHO5000如何破解IGBT老化測試難題

    一、IGBT老化測試挑戰(zhàn) 1.1 老化現(xiàn)象及其影響 IGBT作為電力電子系統(tǒng)的核心器件,在長期使用中不可避免地會出現(xiàn)老化現(xiàn)象。其性能衰變主
    的頭像 發(fā)表于 07-01 18:01 ?1799次閱讀
    普源MHO5000如何破解<b class='flag-5'>IGBT</b><b class='flag-5'>老化</b>測試難題

    聚徽揭秘MES 看板:電子制造流程優(yōu)化的關鍵密碼

    效率與產品質量。制造執(zhí)行系統(tǒng)(MES)中的看板管理系統(tǒng),已然成為電子制造企業(yè)實現(xiàn)流程優(yōu)化、邁向智能制造的關鍵密碼。 MES 看板:電子制造
    的頭像 發(fā)表于 06-16 11:29 ?671次閱讀
    聚徽揭秘MES 看板:電子<b class='flag-5'>制造</b><b class='flag-5'>流程</b>優(yōu)化的關鍵密碼

    部分外資廠商IGBT模塊失效報告作假對中國功率模塊市場的深遠影響

    壟斷下的質量松懈 國際頭部IGBT模塊廠商長期壟斷高端市場,缺乏有效競爭導致部分企業(yè)為維持市場份額,通過篡改測試數(shù)據(jù)或簡化驗證流程掩蓋產品缺陷。此外,部分海外IGBT
    的頭像 發(fā)表于 05-23 08:37 ?842次閱讀
    部分外資廠商<b class='flag-5'>IGBT</b><b class='flag-5'>模塊</b>失效報告作假對中國功率<b class='flag-5'>模塊</b>市場的深遠影響

    大功率IGBT模塊你了解多少?結構特性是什么?主要應用在哪里?

    一、核心定義與結構特性 大功率IGBT模塊是以絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)為核心,集成續(xù)流二極管(FWD)的復合功率器件,通過多層封裝技術實現(xiàn)高電壓、大電流承載能力35。其典型
    的頭像 發(fā)表于 05-22 13:49 ?1392次閱讀
    大功率<b class='flag-5'>IGBT</b><b class='flag-5'>模塊</b>你了解多少?<b class='flag-5'>結構</b>特性是什么?主要應用在哪里?

    PanDao:簡化光學元件制造流程

    鏡片數(shù)量、系統(tǒng)尺寸、是否配置主動變焦機構、鏡片幾何構型、面形精度與表面粗糙度等要素。 接下來的關鍵步驟由光學制造設計師完成——將系統(tǒng)設計轉化為可執(zhí)行的制造流程鏈,包括粗加工、精加工、終加工、超精加工
    發(fā)表于 05-08 08:46

    功率半導體器件IGBT模塊:PPS注塑加工案例

    IGBT模塊是一種重要的功率半導體器件,具有結構簡單、容量大、損耗低等優(yōu)點,被廣泛應用于各種高功率電子設備中。絕緣柵極雙極晶體管(IGBT)功率模塊
    的頭像 發(fā)表于 04-16 08:06 ?1402次閱讀
    功率半導體器件<b class='flag-5'>IGBT</b><b class='flag-5'>模塊</b>:PPS注塑加工案例

    中國電力電子客戶不再迷信外資品牌的IGBT模塊和SiC模塊

    中國電力電子客戶逐漸擺脫對國外IGBT模塊(絕緣柵雙極型晶體管)和SiC功率模塊供應商的依賴,轉向國產替代產品IGBT模塊和SiC
    的頭像 發(fā)表于 03-28 09:50 ?780次閱讀

    IGBT模塊封裝:高效散熱,可靠性再升級!

    在電力電子領域,IGBT(絕緣柵雙極型晶體管)模塊作為關鍵的功率半導體器件,扮演著至關重要的角色。其封裝技術不僅直接影響到IGBT模塊的性能、可靠性和使用壽命,還關系到整個電力電子系統(tǒng)
    的頭像 發(fā)表于 03-18 10:14 ?1631次閱讀
    <b class='flag-5'>IGBT</b><b class='flag-5'>模塊</b>封裝:高效散熱,可靠性再升級!

    充電樁老化負載評估:保障安全與效率的關鍵路徑

    成為充電樁全生命周期管理的關鍵環(huán)節(jié)。 一、老化成因的多維解析 充電樁老化是多重因素疊加的漸進過程。電氣元件壽命衰減是首要因素:功率模塊中的IGBT器件在頻繁充放電中承受熱應力,開關損耗
    發(fā)表于 03-10 16:32

    突發(fā)脈沖磁場對IGBT模塊的干擾效應研究

    絕緣柵雙極晶體管(IGBT)通常在復雜的電磁環(huán)境中運行,然而,關于磁場干擾(MFI)對其性能和可靠性的影響的研究較少,尤其是在高功率應用中。本文提出了一種結合計算磁學方法和電路建模技術的混合方法
    的頭像 發(fā)表于 02-25 09:54 ?1767次閱讀
    突發(fā)脈沖磁場對<b class='flag-5'>IGBT</b><b class='flag-5'>模塊</b>的干擾效應研究

    BTP1521P解決IGBT模塊升級SiC模塊的正負驅動電壓

    SiC模塊在高頻高效、高溫耐受性、高電壓能力、系統(tǒng)經濟性以及應用場景適配性等方面的綜合優(yōu)勢,使其成為電力電子應用中的首選,推動了IGBT模塊向SiC模塊的升級趨勢。國產SiC
    的頭像 發(fā)表于 02-13 19:19 ?994次閱讀
    BTP1521P解決<b class='flag-5'>IGBT</b><b class='flag-5'>模塊</b>升級SiC<b class='flag-5'>模塊</b>的正負驅動電壓