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燦芯半導體推出高精度16位逐次逼近型(16bit SAR)ADC

燦芯半導體BriteSemi ? 來源:燦芯半導體BriteSemi ? 作者:燦芯半導體BriteS ? 2022-06-09 09:15 ? 次閱讀
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中國上?!?022年6月9日——一站式定制芯片及IP供應商——燦芯半導體日前宣布推出高精度16位逐次逼近型(16bit SAR)ADC。該IP首個測試芯片基于中芯國際55nm工藝流片成功,現(xiàn)已完成EVB測試,可提供給客戶進行評估。

該IP采樣率為1MHz, ENOB(有效位)可達14bit,通常情況下其DNL(微分線性誤差)介于-0.4LSB至0.47LSB之間,INL(積分線性誤差)居于-1.8LSB至2.2LSB之間,其典型功耗是4.25mA,性能指標處于國內(nèi)領先水平。

燦芯半導體深耕高精度12/14/16 bit SAR ADC及高速(》150M) PIPELINE ADC,為工業(yè)級高精度應用提供了更豐富的選擇?;赟AR ADC技術的定制芯片累計出貨已近3000萬顆,可廣泛應用于工業(yè)控制、能源及AIoT等領域。

“16bit高精度SAR ADC的發(fā)布,對燦芯半導體而言,是技術層面上的又一次突破,” 燦芯半導體工程副總裁劉亞東表示,“另外,燦芯半導體還不斷拓展創(chuàng)新,將這個技術實施到SMIC 40nm工藝,同時不斷迭代優(yōu)化,減少面積功耗,提升采樣速率,力爭滿足客戶的多層次需求?!?/p>

關于燦芯半導體

燦芯半導體是一家提供一站式定制芯片及IP的高新技術企業(yè),為客戶提供從芯片架構設計到芯片成品的一站式服務,致力于為客戶提供高價值、差異化的解決方案。

燦芯半導體的“YOU”系列IP和YouSiP(Silicon-Platform)解決方案,經(jīng)過完整的流片測試驗證,可廣泛應用于5G、AI、高性能計算、云端及邊緣計算、網(wǎng)絡、物聯(lián)網(wǎng)、工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)及消費類電子等領域。其中YouSiP方案可以為系統(tǒng)公司、無廠半導體公司提供原型設計參考,從而快速贏得市場。

燦芯半導體成立于2008年,總部位于中國上海,在中國和美國設有5個設計研發(fā)中心和4個銷售辦事處,為全球客戶提供全方位的優(yōu)質服務。

審核編輯 :李倩

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原文標題:燦芯半導體推出高精度16位SAR ADC

文章出處:【微信號:BriteSemi,微信公眾號:燦芯半導體BriteSemi】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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