半透明雙層玻璃側(cè)厚的測量方案
要求測量半透明雙層透明玻璃測量
首先選擇立儀科技對射平臺，根據(jù)被測物體的厚度選擇適用的鏡頭，進行對心，當上下兩個鏡頭的光斑重合在一起的時候進行Dark,當把鏡頭調(diào)試好以后將產(chǎn)品雙層玻璃放到對射平臺。
半透明雙層玻璃側(cè)厚
半透明雙層玻璃側(cè)厚
如圖所示就得到對應的厚度值，光譜共焦位移傳感器作為新型的高精度非接觸的設(shè)備，其穩(wěn)定性，精度都遠超激光位移傳感器，非常適用于精度更高要求的零部件測量。
像段差、高度差、平面度掃描、高度、厚度、輪廓掃描等都有這廣泛的應用其精度可以達到亞微米級別。
審核編輯：符乾江
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
-
傳感器
+關(guān)注
關(guān)注
2576文章
54808瀏覽量
789239 -
光譜
+關(guān)注
關(guān)注
4文章
1028瀏覽量
36963
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
熱點推薦
PCB銅厚不達標怎么辦？從測量到成因分析
PCB銅厚不達標，首先要把“測準”與“判明責任邊界”做好，然后再追溯工藝成因、給出糾偏方案。下面Bamtone班通小編按“測量→成因→對策”給你梳一套工程化思路。建議收藏！一般常用外層/內(nèi)層銅
松下透明導電薄膜：先進的透明電磁屏蔽解決方案
松下透明導電薄膜：先進的透明電磁屏蔽解決方案 在電子設(shè)備日益普及的今天，電磁干擾（EMI）問題愈發(fā)突出，如何在保證設(shè)備透明度的同時有效屏蔽電磁干擾，成為了電子工程師們面臨的重要挑戰(zhàn)。松
應用案例 | 玻璃廠酒瓶生產(chǎn)線質(zhì)控升級：深視智能光譜共焦位移傳感器破解高透明與高反光材質(zhì)厚度測量難題
01啤酒瓶身厚度測量難點啤酒瓶作為典型的高透明曲面容器，其厚度檢測長期受限于材料特性與工業(yè)環(huán)境的雙重制約，具體難點包括：表面光學干擾：玻璃的高透明度導致傳統(tǒng)光學設(shè)備面臨"雙重困境&qu
【新啟航】玻璃晶圓 TTV 厚度測量數(shù)據(jù)異常的快速定位與解決方案
，研究玻璃晶圓 TTV 厚度測量數(shù)據(jù)異常的快速定位方法與解決方案，對保障生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量具有重要意義。
二、數(shù)據(jù)異常的常見類型
2.1 數(shù)據(jù)波動劇烈
測量
臺階儀精準測量薄膜工藝中的膜厚：制備薄膜理想臺階提高膜厚測量的準確性
致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準測量解決方案，F(xiàn)lexfilm探針式臺階儀可以精確多種薄膜樣品的薄膜厚度。臺階儀法需在薄膜表面制備臺階，通過測量臺階高度反推膜厚。然
臺階儀測量膜厚的方法改進：通過提高膜厚測量準確性優(yōu)化鍍膜工藝
隨著透明與非透明基板鍍膜工藝的發(fā)展，對膜層厚度的控制要求日益嚴格。臺階儀作為一種常用的膜厚測量設(shè)備，在實際使用中需通過刻蝕方式制備臺階結(jié)構(gòu)，通過測量
透明工件測量難？看光子精密 QM 系列閃測儀如何實現(xiàn)精準檢測
光子精密QM系列一鍵閃測儀破解透明工件檢測的行業(yè)痛點。從手機屏幕的玻璃蓋板、攝像頭模組的光學鏡片，到醫(yī)療輸液管、再到半導體封裝的透明載板，這些以玻璃、亞克力、硅膠、晶體等為材質(zhì)的
信宜寬厚檢測為何多用光電測寬激光測厚的組合式測量方法？
在板帶材的工業(yè)檢測中，寬厚參數(shù)（寬度與厚度）是衡量工件規(guī)格是否達標的關(guān)鍵指標，而檢測這兩種指標的方法確很多，為何工廠更常用光電測寬激光測厚的組合方式，下面就來看一下。
1、測量原理
測寬測量
發(fā)表于 08-07 14:44
半導體膜厚測量丨光譜反射法基于直接相位提取的膜厚測量技術(shù)
在現(xiàn)代半導體和顯示面板制造中，薄膜厚度的精確測量是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法如掃描電子顯微鏡（SEM）雖可靠，但無法用于在線檢測；橢圓偏振儀和光譜反射法（SR）雖能無損測量，卻受限于計算效率
基于像散光學輪廓儀與單點膜厚技術(shù)測量透明薄膜厚度
透明薄膜在生物醫(yī)學、半導體及光學器件等領(lǐng)域中具有重要應用，其厚度與光學特性直接影響器件性能。傳統(tǒng)接觸式測量方法（如觸針輪廓儀）易損傷樣品，而非接觸式光學方法中，像散光學輪廓儀（基于DVD激光頭
薄膜厚度高精度測量 | 光學干涉+PPS算法實現(xiàn)PCB/光學鍍膜/半導體膜厚高效測量
透明薄膜在光學器件、微電子封裝及光電子領(lǐng)域中具有關(guān)鍵作用，其厚度均勻性直接影響產(chǎn)品性能。然而，工業(yè)級微米級薄膜的快速測量面臨挑戰(zhàn)：傳統(tǒng)干涉法設(shè)備龐大、成本高，分光光度法易受噪聲干擾且依賴校準樣品
芯片制造中的膜厚檢測 | 多層膜厚及表面輪廓的高精度測量
隨著物聯(lián)網(wǎng)(IoT)和人工智能(AI)驅(qū)動的半導體器件微型化，對多層膜結(jié)構(gòu)的三維無損檢測需求急劇增長。傳統(tǒng)橢偏儀僅支持逐點膜厚測量，而白光干涉法等技術(shù)難以分離透明薄膜的多層反射信號。本文提出一種單次
透明幻境：用玻璃穹頂打造的樹莓派透明顯示器！
的VEEBProjects利用光學錯覺和玻璃穹頂制作了一個非?？岬?b class='flag-5'>透明顯示屏。這并不是我們報道的第一個利用“佩珀爾幻象”效果的RaspberryPi項目。我們最喜歡的例子之
技術(shù)應用案例：基于泓川科技白光干涉測厚傳感器的PS涂膠厚度高精度檢測系統(tǒng)
一、項目背景與需求分析 1. 檢測目標 某光學元件制造商需對透明基材（玻璃/PET）表面的丙烯酸樹脂（PS）涂膠層進行全自動厚度檢測，具體參數(shù)要求： 膜厚范圍 ：3μm~40μm 檢測光源 ：波長
半透明光伏組件在BIPV中的優(yōu)化應用研究
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《半透明光伏組件在BIPV中的優(yōu)化應用研究.pdf》資料免費下載
發(fā)表于 02-07 16:02
?1次下載
工商網(wǎng)監(jiān)
評論