測(cè)試產(chǎn)品：芯片半導(dǎo)體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)適用于二極管、三極管、絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管、結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽(yáng)二極管及多陣列器件等各類(lèi)半導(dǎo)體分立器件綜合性能自動(dòng)化測(cè)試。

被測(cè)項(xiàng)目：溫度測(cè)試、耐電壓測(cè)試、引腳可靠性測(cè)試、ESD抗干擾測(cè)試、運(yùn)行測(cè)試、X射線侵入測(cè)試等。

測(cè)試場(chǎng)景：研發(fā)測(cè)試、產(chǎn)線測(cè)試、老化測(cè)試、一測(cè)二測(cè)等。

ATECLOUD-IC可測(cè)試產(chǎn)品類(lèi)型

二極管、三極管、絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管、結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽(yáng)二極管及多陣列器件等各類(lèi)半導(dǎo)體分立器件自動(dòng)化測(cè)試

ATECLOUD-IC與傳統(tǒng)芯片測(cè)試系統(tǒng)區(qū)別

ATECLOUD-IC解決測(cè)試痛點(diǎn)

人工手動(dòng)測(cè)試，效率低，需要提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性；

測(cè)試產(chǎn)品種類(lèi)繁多，測(cè)試方法多樣，客戶需要靈活的解決方案，以適應(yīng)未來(lái)的變化和需求；

記錄測(cè)試數(shù)據(jù)量大，容易出錯(cuò)，需要提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性；

長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試，工作量大，需要降低測(cè)試成本；

現(xiàn)有軟件系統(tǒng)迭代繁瑣且耗時(shí)，不能持續(xù)兼容新產(chǎn)品；

需要滿足特定的測(cè)試需求，如外購(gòu)配件等；

需要符合自身芯片測(cè)試方法；

需要尋找國(guó)產(chǎn)化替代方案；

ATECLOUD-IC測(cè)試項(xiàng)目清單

ATECLOUD-IC測(cè)試儀器及配件

系統(tǒng)通過(guò)GPIB、RS232、LAN、USB等多種通訊方式集成多種類(lèi)測(cè)試儀器，系統(tǒng)兼容多種品牌儀器型號(hào)，全面降低企業(yè)產(chǎn)品測(cè)試成本，提高產(chǎn)品測(cè)試效率，測(cè)試數(shù)據(jù)智能分析，全面提高企業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量。

用戶儀器可自由選型：兼容2000多種不同廠家、型號(hào)的儀器，不會(huì)被固定硬件限制選擇，經(jīng)濟(jì)適用。

ATECLOUD-IC功能介紹

快速方案搭建，一鍵運(yùn)行測(cè)試

支持多種測(cè)試項(xiàng)目配置并可重復(fù)使用，批量測(cè)試

自動(dòng)存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)和圖片數(shù)據(jù)

具有設(shè)備自檢功能，提示甲方設(shè)備離線或不存在

測(cè)試過(guò)程實(shí)時(shí)觀測(cè)，自動(dòng)判別產(chǎn)品是否合格

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試平臺(tái)方案搭建界面

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試平臺(tái)運(yùn)行測(cè)試界面

記錄報(bào)告

歷史測(cè)試列表展示：已完成的歷史測(cè)試以列表形式展示，可按試驗(yàn)的關(guān)鍵信息、時(shí)間等條件進(jìn)行查詢。

詳細(xì)歷史試驗(yàn)信息：對(duì)每一次歷史試驗(yàn)，可查看試驗(yàn)基本信息、試驗(yàn)時(shí)間信息、試驗(yàn)報(bào)警記錄信息、試驗(yàn)數(shù)據(jù)監(jiān)測(cè)信息，并進(jìn)一步查詢每個(gè)監(jiān)測(cè)點(diǎn)的歷史記錄。

數(shù)據(jù)洞察，發(fā)揮數(shù)據(jù)無(wú)限價(jià)值

數(shù)據(jù)權(quán)限：為不同管理層創(chuàng)建數(shù)據(jù)看板，高效生產(chǎn)；

自定義分析圖表：甲方可自定義分析圖表，多層級(jí)、多維度展現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程；

數(shù)據(jù)導(dǎo)入與對(duì)接：支持系統(tǒng)與外部數(shù)據(jù)導(dǎo)入，與其他系統(tǒng)數(shù)據(jù)對(duì)接；

大數(shù)據(jù)和云計(jì)算：充分利用大數(shù)據(jù)和云計(jì)算，發(fā)揮數(shù)據(jù)的無(wú)限價(jià)值；

生成圖表：支持生成圖表，方便數(shù)據(jù)分析。

數(shù)據(jù)總覽示意圖

數(shù)據(jù)圖表示意圖

ATECLOUD-IC平臺(tái)部分合作客戶

ATECLOUD-IC平臺(tái)應(yīng)用案例

上海某電源管理芯片生產(chǎn)企業(yè)

被測(cè)產(chǎn)品：電源管理芯片

ATECLOUD-Power部分測(cè)試項(xiàng)目展示

審核編輯：湯梓紅