測試產(chǎn)品：芯片半導(dǎo)體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)適用于二極管、三極管、絕緣柵型場效應(yīng)管、結(jié)型場效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類半導(dǎo)體分立器件綜合性能自動(dòng)化測試。

被測項(xiàng)目：溫度測試、耐電壓測試、引腳可靠性測試、ESD抗干擾測試、運(yùn)行測試、X射線侵入測試等。

測試場景：研發(fā)測試、產(chǎn)線測試、老化測試、一測二測等。

ATECLOUD-IC可測試產(chǎn)品類型

二極管、三極管、絕緣柵型場效應(yīng)管、結(jié)型場效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類半導(dǎo)體分立器件自動(dòng)化測試

ATECLOUD-IC與傳統(tǒng)芯片測試系統(tǒng)區(qū)別

ATECLOUD-IC解決測試痛點(diǎn)

人工手動(dòng)測試，效率低，需要提高測試效率和準(zhǔn)確性；

測試產(chǎn)品種類繁多，測試方法多樣，客戶需要靈活的解決方案，以適應(yīng)未來的變化和需求；

記錄測試數(shù)據(jù)量大，容易出錯(cuò)，需要提高測試效率和準(zhǔn)確性；

長時(shí)間測試，工作量大，需要降低測試成本；

現(xiàn)有軟件系統(tǒng)迭代繁瑣且耗時(shí)，不能持續(xù)兼容新產(chǎn)品；

需要滿足特定的測試需求，如外購配件等；

需要符合自身芯片測試方法；

需要尋找國產(chǎn)化替代方案；

ATECLOUD-IC測試項(xiàng)目清單

ATECLOUD-IC測試儀器及配件

系統(tǒng)通過GPIB、RS232、LAN、USB等多種通訊方式集成多種類測試儀器，系統(tǒng)兼容多種品牌儀器型號(hào)，全面降低企業(yè)產(chǎn)品測試成本，提高產(chǎn)品測試效率，測試數(shù)據(jù)智能分析，全面提高企業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量。

用戶儀器可自由選型：兼容2000多種不同廠家、型號(hào)的儀器，不會(huì)被固定硬件限制選擇，經(jīng)濟(jì)適用。

ATECLOUD-IC功能介紹

快速方案搭建，一鍵運(yùn)行測試

支持多種測試項(xiàng)目配置并可重復(fù)使用，批量測試

自動(dòng)存儲(chǔ)測試數(shù)據(jù)和圖片數(shù)據(jù)

具有設(shè)備自檢功能，提示甲方設(shè)備離線或不存在

測試過程實(shí)時(shí)觀測，自動(dòng)判別產(chǎn)品是否合格

ATECLOUD-IC芯片測試平臺(tái)方案搭建界面

ATECLOUD-IC芯片測試平臺(tái)運(yùn)行測試界面

記錄報(bào)告

歷史測試列表展示：已完成的歷史測試以列表形式展示，可按試驗(yàn)的關(guān)鍵信息、時(shí)間等條件進(jìn)行查詢。

詳細(xì)歷史試驗(yàn)信息：對(duì)每一次歷史試驗(yàn)，可查看試驗(yàn)基本信息、試驗(yàn)時(shí)間信息、試驗(yàn)報(bào)警記錄信息、試驗(yàn)數(shù)據(jù)監(jiān)測信息，并進(jìn)一步查詢每個(gè)監(jiān)測點(diǎn)的歷史記錄。

數(shù)據(jù)洞察，發(fā)揮數(shù)據(jù)無限價(jià)值

數(shù)據(jù)權(quán)限：為不同管理層創(chuàng)建數(shù)據(jù)看板，高效生產(chǎn)；

自定義分析圖表：甲方可自定義分析圖表，多層級(jí)、多維度展現(xiàn)生產(chǎn)過程；

數(shù)據(jù)導(dǎo)入與對(duì)接：支持系統(tǒng)與外部數(shù)據(jù)導(dǎo)入，與其他系統(tǒng)數(shù)據(jù)對(duì)接；

大數(shù)據(jù)和云計(jì)算：充分利用大數(shù)據(jù)和云計(jì)算，發(fā)揮數(shù)據(jù)的無限價(jià)值；

生成圖表：支持生成圖表，方便數(shù)據(jù)分析。

數(shù)據(jù)總覽示意圖

數(shù)據(jù)圖表示意圖

ATECLOUD-IC平臺(tái)部分合作客戶

ATECLOUD-IC平臺(tái)應(yīng)用案例

上海某電源管理芯片生產(chǎn)企業(yè)

被測產(chǎn)品：電源管理芯片

ATECLOUD-Power部分測試項(xiàng)目展示

審核編輯：湯梓紅