#會議信息

第三屆中國集成電路設計創(chuàng)新大會暨無錫IC應用博覽會（ICDIA 2023）于7月13日至7月14日在無錫隆重開幕。

#會議詳情

本屆ICDIA展會以“應用引領集成電路產業(yè)高質量發(fā)展”為主題，圍繞EDA/IP與IC設計創(chuàng)新、ChatGPT與高算力芯片、汽車電子、射頻與無線通信技術、云端半導體、智能家電等內容，探討IC創(chuàng)新與未來產業(yè)應用，吸引了近200家展商參展，為現場2000多名專業(yè)觀眾帶來了一場IC設計與芯片應用的頂級盛會。

#君鑒科技參展

作為國內測試測量科技服務行業(yè)的龍頭公司，君鑒科技亮相本次IC博覽會，并展出了多套IC測試測量解決方案和產品，為IC相關硬科技企業(yè)研發(fā)測試提供一站式解決方案。

#解決方案亮相

芯片測試是芯片生產制造過程中非常重要的一環(huán)。通過芯片測試，可以有效地發(fā)現和解決芯片制造過程中的各種問題和缺陷，保證芯片的質量和可靠性，提高芯片的生產效率和經濟效益。

本次展會上，君鑒科技展出的高速數字及IC測試方案吸引了現場眾多專業(yè)觀眾參觀咨詢。其中高速數字測試方案以是德科技UXR0504A示波器為基礎，可為AI大模型、IC芯片的高速數據處理要求提供測試能力，滿足其嚴苛的數據傳輸速率和延時要求；基于羅德與施瓦茨FSW 85頻譜分析儀和SMW200A的IC測試方案，則可以提供射頻芯片組驗證、射頻芯片發(fā)射信號功率驗證、汽車毫米波雷達芯片等測試能力，滿足IC芯片測試的多方面要求。

#IC測試能力

據了解，君鑒科技多年來持續(xù)服務半導體&IC芯片產業(yè)，已積累深厚的測試測量技術服務經驗，可為客戶提供包括功率半導體器件特性測試、GPU&FPGA算力芯片信號完整性測試、I-V&C-V參數測試、射頻芯片S參數測試、高速數字接口芯片、汽車以太網芯片、DDR芯片的信號完整性測試等多種芯片相關測試方案。

#儀器信息服務平臺

展會現場，君鑒科技還展出了自主開發(fā)的一站式儀器信息與服務平臺“每日E問”，可為電子測試工程師、教師學生等群體提供包括儀器信息查詢、選型推薦、機型對比、行業(yè)資訊、應用方案、測試申請、知識交流等多種實用功能在內的一站式信息服務。

#君鑒科技介紹

深圳君鑒科技股份有限公司創(chuàng)立于2002年，是國內領先的測試儀器綜合服務商。公司成立以來，持續(xù)深耕芯片/半導體、通信、消費電子、汽車電子等多個產業(yè)。君鑒率先開創(chuàng)了測試儀器全生命周期服務模式，提供圍繞中高端測試儀器的成套測試方案科技租賃服務，包括測試儀器科技服務與租賃、測試儀器選型定型、定向采買銷售、測試解決方案制訂、儀器使用培訓、場景搭建、系統(tǒng)研發(fā)、共享實驗室、售后等，為硬科技企業(yè)提供靈活的測試能力。

目前，君鑒科技已建立起以深圳為總部，輻射北京、上海、西安、成都、武漢、蘇州、南京和杭州等17個重點城市的服務網絡，為客戶提供全面、專業(yè)、快捷的精細化、專業(yè)化、本土化服務，是行業(yè)內唯一一家實現了全國重點區(qū)域銷售與服務全覆蓋的測試儀器綜合服務商。

近年來，芯片產業(yè)在國內進入高速發(fā)展時期，產業(yè)環(huán)境持續(xù)優(yōu)化，國內IC芯片科研企業(yè)如雨后春筍一般涌現。在自主研發(fā)、國產化替代的高質量發(fā)展浪潮中，作為國家高新技術企業(yè)、深圳市專精特新中小企業(yè)，君鑒科技也將繼續(xù)深化IC芯片行業(yè)服務能力與技術水平，不斷優(yōu)化和完善各類芯片測試解決方案，提供高質量的研發(fā)測試服務，助力國內相關科研企業(yè)研發(fā)進程，為我國芯片產業(yè)的自主生產、自主替代、自主供需貢獻力量。