射頻芯片主要應(yīng)用于無(wú)線通信和雷達(dá)系統(tǒng)等領(lǐng)域，其性能直接影響到通信系統(tǒng)的質(zhì)量。而ATECLOUD-IC會(huì)針對(duì)芯片射頻自動(dòng)化測(cè)試提供一站式軟硬件解決方案，實(shí)現(xiàn)高效快速的自動(dòng)化測(cè)試，并且給予結(jié)果反饋。

芯片射頻自動(dòng)化測(cè)試的重要性

射頻芯片能實(shí)現(xiàn)無(wú)線信號(hào)的發(fā)送、接收、放大、濾波、解調(diào)等功能，被廣泛應(yīng)用在雷達(dá)、無(wú)線通信、衛(wèi)星通訊等領(lǐng)域。這種對(duì)于通信質(zhì)量要求很高，因此射頻芯片測(cè)試是非常重要的。而且射頻系統(tǒng)中信號(hào)的頻率、相位等參數(shù)對(duì)通信質(zhì)量影響很大，精度要求高，因此實(shí)現(xiàn)芯片射頻自動(dòng)化測(cè)試可以極大提高測(cè)試效率和可靠性。

ATECLOUD芯片射頻自動(dòng)化測(cè)試優(yōu)勢(shì)

ns級(jí)高精度同步測(cè)試

靈活多工位擴(kuò)展，高速并行測(cè)試，提高測(cè)試效率

支持批量測(cè)試

0代碼開(kāi)發(fā)，拖拽封裝指令搭建測(cè)試方案和項(xiàng)目，一鍵運(yùn)行，快速實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試

支持表征、功能評(píng)估和批量生產(chǎn)評(píng)估

數(shù)據(jù)分析功能，會(huì)以圖表形式展現(xiàn)匯總的數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)變化、波動(dòng)等清晰可見(jiàn)

根據(jù)所需的數(shù)據(jù)可以自定義數(shù)據(jù)報(bào)告并導(dǎo)出

芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

ATECLOUD-IC解決測(cè)試痛點(diǎn)

人工手動(dòng)測(cè)試，效率低，需要提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性;

測(cè)試產(chǎn)品種類繁多，測(cè)試方法多樣，客戶需要靈活的解決方案，以適應(yīng)未來(lái)的變化和需求;

記錄測(cè)試數(shù)據(jù)量大，容易出錯(cuò)，需要提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性;

長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試，工作量大，需要降低測(cè)試成本;

現(xiàn)有軟件系統(tǒng)迭代繁瑣且耗時(shí)，不能持續(xù)兼容新產(chǎn)品;

需要滿足特定的測(cè)試需求，如外購(gòu)配件等;

需要符合自身芯片測(cè)試方法;

需要尋找國(guó)產(chǎn)化替代方案。

天宇微納研發(fā)的ATECLOUD智能云平臺(tái)專注于各類儀器自動(dòng)化測(cè)試，該平臺(tái)簡(jiǎn)單、易上手操作，為用戶提供整體解決方案，并分析測(cè)試結(jié)果，給予反饋。

審核編輯 黃宇