隨著我國(guó)經(jīng)濟(jì)由高速增長(zhǎng)階段轉(zhuǎn)向高質(zhì)量發(fā)展階段，電氣設(shè)備檢測(cè)作為質(zhì)量把控的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，對(duì)于各類電氣設(shè)備的性能驗(yàn)證有著十分重要的作用。由于對(duì)測(cè)試把控以及測(cè)試精度的要求越來(lái)越高，自動(dòng)化測(cè)試方式已成為眾多企業(yè)的不二之選。

ATECLOUD綜合自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

隨著手動(dòng)測(cè)試以及傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)逐漸無(wú)法滿足目前市場(chǎng)上的測(cè)試要求，全新的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)逐漸興起，ATECLOUD作為一款智能自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，為全面檢測(cè)各類電氣設(shè)備的性能和質(zhì)量提供集成化解決方案。

ATECLOUD自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

納米軟件在電測(cè)行業(yè)深耕16年，憑借多年的業(yè)務(wù)累積經(jīng)驗(yàn)以及對(duì)各類儀器儀表的深入了解，自主研發(fā)出了ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)，旨在解決傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)信息零散、數(shù)據(jù)孤島、無(wú)法靈活變更等痛點(diǎn)，全面、精準(zhǔn)、高效地檢測(cè)精密儀器以及各類電子設(shè)備，全面評(píng)估產(chǎn)品性能，讓測(cè)試變得簡(jiǎn)單、便捷。

測(cè)試記錄詳情，數(shù)據(jù)可追溯

ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)靈活性高、功能強(qiáng)大，從測(cè)試、測(cè)試記錄查看到測(cè)試報(bào)告自動(dòng)導(dǎo)出、數(shù)據(jù)分析，為產(chǎn)品測(cè)試提供一站式自動(dòng)化測(cè)試服務(wù)。

測(cè)試項(xiàng)目靈活維護(hù)

ATECLOUD重點(diǎn)應(yīng)用領(lǐng)域

目前，納米軟件ATECLOUD平臺(tái)專注于測(cè)試各類電源設(shè)備、電源管理芯片以及射頻器件：

1. 電源模塊

納米軟件在ATECLOUD平臺(tái)基礎(chǔ)上延伸了NSAT-8000電源模塊測(cè)試系統(tǒng)，專門為各類AC-DC、DC-DC電源模塊性能指標(biāo)測(cè)試提供自動(dòng)化解決方案，助力電源設(shè)備的研發(fā)優(yōu)化與質(zhì)量控制。目前，ATECLOUD已測(cè)試眾多客戶的電源，如：

軍品電源

磚式電源

開(kāi)關(guān)電源

礦用電源

2. 電源管理芯片

電源管理芯片測(cè)試系統(tǒng)適用于國(guó)產(chǎn)化微模塊4644系列產(chǎn)品測(cè)試，如4650、4630等，全面檢測(cè)電源芯片輸入輸出特性、效率等指標(biāo)，并自動(dòng)生成效率曲線，節(jié)省人工匯總分析數(shù)據(jù)的繁瑣步驟。

3. 射頻器件

ATECLOUD可以程控網(wǎng)分，測(cè)試射頻器件的S參數(shù)，如功分器、耦合器、合路器、衰減器、電橋等。此外，ATECLOUD兼容性強(qiáng)，還可與探針臺(tái)通訊，搭配網(wǎng)分，完成晶圓芯片S參數(shù)的自動(dòng)化測(cè)試。

定制開(kāi)發(fā)業(yè)務(wù)

除了電源模塊、電源管理芯片、射頻器件產(chǎn)品外，ATECLOUD還支持定制開(kāi)發(fā)儀器儀表相關(guān)測(cè)試，支持功能擴(kuò)展，滿足客戶的測(cè)試需求。以下是ATECLOUD部分定制開(kāi)發(fā)案例：

電機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試

新能源車內(nèi)連接器溫度測(cè)試

電池耐壓測(cè)試

半導(dǎo)體測(cè)試

瞬態(tài)爆壓自動(dòng)化測(cè)試

國(guó)產(chǎn)化測(cè)試軟件ATECLOUD以解決客戶痛點(diǎn)為導(dǎo)向，提供軟硬件一體化測(cè)試方案，為客戶帶來(lái)自動(dòng)化測(cè)試新體驗(yàn)，助力企業(yè)向自動(dòng)化測(cè)試轉(zhuǎn)型，提升核心競(jìng)爭(zhēng)力。

審核編輯 黃宇