chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

白光干涉儀對測量樣品的幾點要求

中圖儀器 ? 2023-09-28 15:38 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

wKgaomUVLUeAVANhAAElq1HYygs892.png

白光干涉儀對測量樣品的幾點要求:

1. 樣品厚度:白光干涉儀的測量精度受到樣品厚度的影響,一般要求樣品厚度在幾納米至幾百微米范圍內(nèi),過厚或過薄的樣品對測量精度都會產(chǎn)生較大的影響。

2. 樣品透明度:白光干涉儀可測量的透明材料的折射率與樣品的透光性相關(guān),要求樣品對白光具有一定的透光性,否則可能無法進行測量。

3. 樣品凈度:樣品表面的干凈程度對白光干涉儀的測量精度也有著較大的影響,必須保證樣品表面干凈并且不會出現(xiàn)劃痕、斑點等對測量結(jié)果產(chǎn)生影響的污漬。

4. 樣品幾何形狀:樣品的幾何形狀也對白光干涉儀的測量精度產(chǎn)生一定的影響,可測量的樣品形狀要求比較簡單,最好能夠保持平整且不發(fā)生變形。

在進行白光干涉儀的樣品測量時,需要依據(jù)所測量的樣品特性,合理選擇樣品的凈度、數(shù)量及厚度。同時,在實踐中還需要注意避免光路干擾、保證樣品的平整性等因素,以確保測量的準確性和可靠性。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 3D
    3D
    +關(guān)注

    關(guān)注

    9

    文章

    3004

    瀏覽量

    114388
  • 測量
    +關(guān)注

    關(guān)注

    10

    文章

    5579

    瀏覽量

    116485
  • 白光干涉儀
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    233

    瀏覽量

    3322
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    白光干涉儀在晶圓深腐蝕溝槽的 3D 輪廓測量

    摘要:本文研究白光干涉儀在晶圓深腐蝕溝槽 3D 輪廓測量中的應(yīng)用,分析其工作原理及適配深腐蝕溝槽特征的技術(shù)優(yōu)勢,通過實際案例驗證測量精度,為晶圓深腐蝕工藝的質(zhì)量控制與器件性能優(yōu)化提供技
    的頭像 發(fā)表于 10-30 14:22 ?266次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>在晶圓深腐蝕溝槽的 3D 輪廓<b class='flag-5'>測量</b>

    白光干涉儀在肖特基二極管晶圓的深溝槽 3D 輪廓測量

    摘要:本文研究白光干涉儀在肖特基二極管晶圓深溝槽 3D 輪廓測量中的應(yīng)用,分析其工作原理及適配深溝槽結(jié)構(gòu)的技術(shù)優(yōu)勢,通過實際案例驗證其測量精度,為肖特基二極管晶圓深溝槽制造的質(zhì)量控制與
    的頭像 發(fā)表于 10-20 11:13 ?303次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>在肖特基二極管晶圓的深溝槽 3D 輪廓<b class='flag-5'>測量</b>

    白光干涉儀與激光干涉儀的區(qū)別及應(yīng)用解析

    在精密測量領(lǐng)域,干涉儀作為基于光的干涉原理實現(xiàn)高精度檢測的儀器,被廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造、科研實驗等場景。其中,白光干涉儀與激光
    的頭像 發(fā)表于 09-20 11:16 ?1075次閱讀

    白光干涉儀與原子力顯微鏡測試粗糙度的區(qū)別解析

    表面粗糙度作為衡量材料表面微觀形貌的關(guān)鍵指標,其精準測量在精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域具有重要意義。白光干涉儀與原子力顯微鏡(AFM)是兩類常用的粗糙度測試工具,二者基于不同的測量原理,在
    的頭像 發(fā)表于 09-20 11:15 ?875次閱讀

    一文讀懂:白光干涉儀vs共聚焦顯微鏡的優(yōu)劣勢差異

    在半導(dǎo)體、鋰電、光伏、航空航天等高端制造領(lǐng)域,高精度光學(xué)測量技術(shù)是把控產(chǎn)品質(zhì)量、優(yōu)化生產(chǎn)工藝的核心支撐,直接關(guān)系到產(chǎn)業(yè)升級與技術(shù)創(chuàng)新進程。白光干涉儀與共聚焦顯微鏡是高端制造常用核心測量
    的頭像 發(fā)表于 09-11 18:16 ?667次閱讀
    一文讀懂:<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>vs共聚焦顯微鏡的優(yōu)劣勢差異

    引進白光干涉儀管控微流控芯片形貌,性能大幅提升

    白光干涉儀納米級管控微流控芯片表面粗糙度,以及微流道高度和寬度,提升微流控產(chǎn)品性能與質(zhì)量,滿足不同客戶需求。
    的頭像 發(fā)表于 05-29 17:34 ?604次閱讀
    引進<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>管控微流控芯片形貌,性能大幅提升

    VirtualLab Fusion:用于光學(xué)檢測的斐索干涉儀

    摘要 斐索干涉儀是工業(yè)上常見的光學(xué)計量設(shè)備,通常用于高精度測試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下,我們建立了一個Fizeau干涉儀,并將其用于測試不同的光學(xué)表面
    發(fā)表于 05-28 08:48

    FRED應(yīng)用:天文光干涉儀

    簡介 天文光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)恒星和星系的高角分辨率的測量。首次搭建的天文光干涉儀分別由菲索(1868)和邁克爾遜(1890)提出。邁克爾遜恒星干涉儀于1920年成功地測出參宿四的直徑。
    發(fā)表于 04-29 08:52

    納米級形貌快速測量,優(yōu)可測白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展

    研究摩擦學(xué),能帶來什么價值?從摩擦磨損到亞納米級精度,白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展?
    的頭像 發(fā)表于 04-21 12:02 ?1156次閱讀
    納米級形貌快速<b class='flag-5'>測量</b>,優(yōu)可測<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展

    一鍵對焦+一鍵調(diào)平,測量效率提升7倍 | 優(yōu)可測全新旗艦白光干涉儀發(fā)布

    測量精度小于1納米,性能進入全球一梯隊,優(yōu)可測旗艦白光干涉儀發(fā)布
    的頭像 發(fā)表于 03-27 11:03 ?1055次閱讀
    一鍵對焦+一鍵調(diào)平,<b class='flag-5'>測量</b>效率提升7倍 | 優(yōu)可測全新旗艦<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>發(fā)布

    白光干涉儀的膜厚測量模式原理

    白光干涉儀的膜厚測量模式原理主要基于光的干涉原理,通過測量反射光波的相位差或干涉條紋的變化來精確
    的頭像 發(fā)表于 02-08 14:24 ?508次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>的膜厚<b class='flag-5'>測量</b>模式原理

    白光干涉儀的光譜干涉模式原理

    白光干涉儀的光譜干涉模式原理主要基于光的干涉和光譜分析。以下是對該原理的詳細解釋: 一、基本原理 白光
    的頭像 發(fā)表于 02-07 15:11 ?563次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>的光譜<b class='flag-5'>干涉</b>模式原理

    白光干涉儀中的VSI和PSI以及VXI模式的區(qū)別

    白光干涉儀是一種高精度的光學(xué)測量儀器,它利用白光干涉原理來測量物體表面的形貌和高度等信息。在
    的頭像 發(fā)表于 02-06 10:39 ?541次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>中的VSI和PSI以及VXI模式的區(qū)別