芯片電源電流測(cè)試是為了測(cè)試S.M.P.S.的輸入電流有效值INPUT CURRENT。電流測(cè)試是芯片電源測(cè)試的項(xiàng)目之一，用來(lái)檢測(cè)電路或設(shè)備的電流負(fù)載是否正常，保證其正常工作防止過(guò)載，評(píng)估芯片電源的電氣特性。

如何測(cè)試芯片電源的輸入電流?

測(cè)試設(shè)備：交流電源、電子負(fù)載、功率表

測(cè)試條件：

輸入電流測(cè)試條件

測(cè)試回路圖：

輸入電流測(cè)試圖

測(cè)試方法：

1.依規(guī)格設(shè)定測(cè)試條件: 輸入電壓、頻率、輸出負(fù)載;

2.從功率計(jì)中記錄AC INPUT電流值

納米軟件ATECLOUD智能云平臺(tái)測(cè)試芯片電源電流

ATECLOUD是納米軟件研發(fā)的一款智能云自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，與傳統(tǒng)測(cè)試方法不同，該平臺(tái)針對(duì)電源模塊和芯片測(cè)試提供整體軟硬件解決方案，助力實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。

用ATECLOUD平臺(tái)測(cè)試芯片電源的電流，需要先將待測(cè)產(chǎn)品、邊緣計(jì)算設(shè)備ATEBOX、計(jì)算機(jī)以及測(cè)試設(shè)備連接好，進(jìn)入平臺(tái)后創(chuàng)建電流測(cè)試項(xiàng)目，搭建測(cè)試流程，設(shè)置好相應(yīng)的測(cè)試參數(shù)。完成后只需在運(yùn)行界面一鍵運(yùn)行測(cè)試即可，平臺(tái)會(huì)自動(dòng)記錄管理測(cè)試數(shù)據(jù)，并對(duì)所測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行多方位分析。

ATECLOUD采取無(wú)代碼模式，操作簡(jiǎn)單，只用拖拽相應(yīng)的指令便可快速完成測(cè)試流程的搭建。其中數(shù)據(jù)洞察功能會(huì)對(duì)所有測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行圖表分析，幫助企業(yè)減少數(shù)據(jù)采集和分析成本，提升測(cè)試效能。

審核編輯：湯梓紅