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電源模塊過(guò)溫保護(hù)測(cè)試原理、測(cè)試步驟、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)詳解

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來(lái)源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-11-14 14:56 ? 次閱讀
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過(guò)溫保護(hù)測(cè)試是電源模塊保護(hù)功能測(cè)試項(xiàng)目之一,也是電源模塊測(cè)試的重要測(cè)試指標(biāo),以保證電源模塊過(guò)溫保護(hù)功能正常,確保電源模塊不受損壞。用ate測(cè)試軟件測(cè)試電源模塊過(guò)溫保護(hù),不僅可以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,還可以多維度分析數(shù)據(jù),指導(dǎo)電源的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)。

電源模塊過(guò)溫保護(hù)測(cè)試的原理

過(guò)溫保護(hù)是由電源模塊的溫度傳感器實(shí)現(xiàn)的。溫度傳感器會(huì)檢測(cè)電源模塊的溫度,并將其與設(shè)定的過(guò)熱保護(hù)溫度進(jìn)行比較。當(dāng)溫度超過(guò)設(shè)定的過(guò)溫保護(hù)溫度時(shí)就會(huì)觸發(fā)過(guò)溫保護(hù)機(jī)制,電源模塊會(huì)立即關(guān)閉輸出電路,進(jìn)入保護(hù)狀態(tài)。當(dāng)溫度降到安全范圍內(nèi)時(shí),電源模塊會(huì)自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行狀態(tài),重新啟動(dòng)輸出電路。

電源模塊過(guò)溫保護(hù)測(cè)試方法

電源模塊過(guò)溫保護(hù)測(cè)試是為了檢測(cè)電源模塊的過(guò)溫保護(hù)功能是否正常,從而確保電源模塊和電路不受過(guò)熱損壞,保證其穩(wěn)定運(yùn)行。過(guò)溫保護(hù)的測(cè)試方法如下:

測(cè)試準(zhǔn)備:在電源內(nèi)部關(guān)鍵元器件上粘貼溫度線,如開(kāi)關(guān)管、變壓器、電感、整流管等熱源及靠近熱源的電解電容等位置。在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中需要記錄溫度數(shù)據(jù)。

測(cè)試條件:設(shè)定SPEC.最小和最大輸入交/直流電壓,最小和最大交流頻率;輸出負(fù)載為滿載;溫度為常溫和最高工作溫度。

測(cè)試步驟:

1. 依SPEC.要求設(shè)定最小輸入電壓/頻率,將負(fù)載電流設(shè)為最大;

2. 從最高工作溫度開(kāi)始,以每30分鐘3~5?C的速度改變待測(cè)電源周邊環(huán)境溫度,待電源關(guān)機(jī)或輸出震蕩,測(cè)量并記錄輸出電壓及各信號(hào)線波形;

3. 將環(huán)境溫度調(diào)整到常溫,待電源冷卻后重新開(kāi)機(jī),測(cè)量輸出電壓;

4. 重復(fù)測(cè)試,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性;

5. 記錄和分析波形及數(shù)據(jù),判斷電源模塊是否可以及時(shí)啟動(dòng)保護(hù)關(guān)閉電路,并且溫度正常后是否可以恢復(fù)電路。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):

1.待測(cè)電源不可以損壞;

2.保護(hù)后重新開(kāi)機(jī),輸出電壓要符合輸出穩(wěn)壓要求;

3.元器件溫度不可超過(guò)額定值或符合單一故障條件下的安規(guī)要求;

4.若有時(shí)序要求,過(guò)溫保護(hù)時(shí)符合規(guī)格時(shí)序要求。

ate測(cè)試軟件的測(cè)試優(yōu)勢(shì)

ATECLOUD-POWER是納米軟件研發(fā)的智能ate測(cè)試軟件,在傳統(tǒng)和自動(dòng)化測(cè)試基礎(chǔ)上改善升級(jí),功能強(qiáng)大,解決測(cè)試難點(diǎn),滿足客戶測(cè)試需求。

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該軟件兼容各種測(cè)試儀器型號(hào),封裝全系列儀器指令,采用無(wú)代碼編程模式,可以靈活并快速組建各類測(cè)試項(xiàng)目,同時(shí)支持批量測(cè)試,提升測(cè)試效率300%。此外,數(shù)據(jù)洞察功能支持多工位零散測(cè)試信息綜合智能分析,可以輕松自定義數(shù)據(jù)看板模型,為用戶提供數(shù)據(jù)支撐,助力用戶用數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)增長(zhǎng)。

審核編輯:湯梓紅

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