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如何防止碳化硅SiC MOSFET失效呢?

冬至子 ? 來源:華桑電子元器件 ? 作者:華桑電子元器件 ? 2023-12-05 17:14 ? 次閱讀
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有效的熱管理對于防止SiC MOSFET失效有很大的關(guān)系,環(huán)境過熱會降低設(shè)備的電氣特性并導(dǎo)致過早失效,充分散熱、正確放置導(dǎo)熱墊以及確保充足的氣流對于 MOSFET 散熱至關(guān)重要。

在指定的電壓和電流額定值范圍內(nèi)運行 SiC MOSFET可以有效的利用瞬態(tài)電壓抑制器、電流限制器和過流保護機制等保護電路可以有效保護 MOSFET 免受電壓和電流相關(guān)故障的影響。

SiC MOSFET需要精確且設(shè)計良好的柵極驅(qū)動電路,當(dāng)驅(qū)動電壓不足或柵極-源極電容不足會導(dǎo)致開關(guān)不完全,導(dǎo)致器件功耗過大和熱應(yīng)力過大,因此設(shè)計具有適當(dāng)電壓電平的柵極驅(qū)動電路、柵極電阻器和與SiC技術(shù)兼容的柵極驅(qū)動器對于MOSFET的可靠運行至關(guān)重要。

在器件處理、組裝和操作期間,應(yīng)遵循 ESD 安全協(xié)議并使用適當(dāng)?shù)?ESD 保護設(shè)備以防止靜電放電造成的損害。

SiC MOSFET可能會暴露在各種環(huán)境因素中,例如濕氣、濕氣、灰塵和腐蝕性氣體,具體取決于應(yīng)用,使用適當(dāng)?shù)耐鈿?、保形涂層或保護措施保護 MOSFET 免受這些不利環(huán)境條件的影響對于確保其長期可靠性和防止因環(huán)境因素導(dǎo)致的故障至關(guān)重要。

防止SiC MOSFET發(fā)生故障需要特別注意熱管理、電壓和電流限制、正確的柵極驅(qū)動電路設(shè)計、ESD 保護和環(huán)境考慮因素。

堅持最佳實踐并實施穩(wěn)健的保護措施將有助于SiC MOSFET在電力電子系統(tǒng)中的長期可靠性和最佳性能。

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